测试装置及其操作方法与流程

1.本发明关于一种测试装置，特别是关于一种测试装置及其操作方法。


背景技术：

2.一般来说，测试装置中的测试规格通常都是由测试者以人工输入方式进行设置并存储。然而，人工输入方式容易产生错误，且错误的测试规格也会造成测试产品的良品率降低。另一方面，测试装置中的测试规格也可能在某些原因(例如良品率不佳)下遭到人为修改，以变更或放宽测试规格，而造成测试产品的品质无法保证，如此会产生测试安全性上的疑虑。
3.因此，如何有效地增加测试装置的测试安全性、测试良品率以及使用上的便利性是当前重要的课题。


技术实现要素：

4.本发明提供一种测试装置及其操作方法，借以增加测试安全性、测试良品率以及使用上的便利性。
5.本发明提供一种测试装置，包括基准测试板、第一存储单元、待测元件与控制单元。第一存储单元存储预设测试参数。控制单元具有第二存储单元。控制单元对基准测试板进行第一测试，以取得基准测试板所产生的第一测试结果，并将第一测试结果存储至第二存储单元。控制单元读取第一存储单元的预设测试参数与待测元件的识别码，以决定是否对待测元件进行第二测试。
6.本发明提供一种测试装置的操作方法，包括下列步骤。提供基准测试板。提供第一存储单元，存储预设测试参数。提供待测元件。通过控制单元对基准测试板进行第一测试，以取得基准测试板所产生的第一测试结果，并将第一测试结果存储至第二存储单元。控制单元读取第一存储单元的预设测试参数与待测元件的识别码，以决定是否对待测元件进行第二测试。
7.本发明所揭露的测试装置及其操作方法，通过控制单元对基准测试板进行第一测试，以取得基准测试板所产生的第一测试结果，并将第一测试结果存储至控制单元的第二存储单元，控制单元读取第一存储单元的预设测试参数与待测元件的识别码，以决定是否对待测元件进行第二测试。如此一来，可以有效地增加测试安全性、测试良品率以及使用上的便利性。
附图说明
8.图1为依据本发明的一实施例的测试装置的示意图。
9.图2为本发明的另一实施例的测试装置的示意图。
10.图3为依据本发明的一实施例的测试装置的操作方法的流程图。
11.图4为依据本发明的另一实施例的测试装置的操作方法的流程图。
12.【符号说明】
13.100,200:测试装置
14.110:基准测试板
15.120:第一存储单元
16.130:待测元件
17.140:控制单元
18.141:第二存储单元
19.210:数据收集单元
20.220:测试主机
21.s302～s312,s402～s406:步骤
具体实施方式
22.在以下所列举的各实施例中，将以相同的标号代表相同或相似的元件或组件。
23.图1为依据本发明的一实施例的测试装置的示意图。请参考图1，测试装置100可以包括基准测试板110、第一存储单元120、待测元件130与控制单元140。
24.基准测试板110上可以设置一基准测试元件，且基准测试元件的测试结果可以作为待测元件130的测试规格标准。
25.第一存储单元120可以存储预设测试参数。在本实施例中，第一存储单元120可以是随机存储器、快闪存储器、硬盘、u盘或固态硬盘等，但本发明实施例不限于此。另外，上述预设测试参数例如包括预设测试时间、预设测试通过数量与预设识别码。此外，预设识别码例如可存储于一查找表中。
26.控制单元140可以具有第二存储单元141。在本实施例中，控制单元140可以是一微控制器(mocro control unit,mcu)，但本发明实施例不限于此。第二存储单元141可以随机存储器、快闪存储器等，但本发明实施例不限于此。
27.控制单元140可以对基准测试板110进行第一测试，以取得基准测试板110所产生的第一测试结果，并将第一测试结果存储至第二存储单元141。举例来说，控制单元140可以执行第一测试程序，以对基准测试板110上的基准测试元件进行第一测试。接着，基准测试板110可以产生对应基准测试元件的第一测试结果。之后，控制单元140可以从基准测试板110取得第一测试结果，并将第一测试结果存储于第二存储单元141中。
28.在本实施例中，第一测试结果例如包括温度、湿度、电气特性参数等，但本发明实施例不限于此。进一步来说，在一些实施例中，控制单元140可以直接将第一测试结果存储至第二存储单元141。在一些实施例中，控制单元140可以将第一测试结果进行运算(例如第一测试结果加上预设误差量)，并将运算后的第一测试结果存储至第二存储单元141。
29.举例来说，假设第一测试结果为温度且为25度，控制单元140将25度的第一测试结果存储于第二存储单元141，或控制单元140将25度的第一测试结果加上预设误差量(例如
±
2度)，并将运算后的第一测试结果(例如23度～27度)存储至第二存储单元141。假设第一测试结果为温度且为30度，控制单元140将30度的第一测试结果存储于第二存储单元141，或控制单元140将30度的第一测试结果加上预设误差量(例如
±
2度)，并将运算后的第一测试结果(例如28度～32度)存储至第二存储单元141。其余则类推。
30.另外，第一测试结果为湿度或电气特性参数的存储方式可参考如上说明，故在此不再赘述。此外，存储于第二存储单元141中的第一测试结果可以作为待测元件130的测试规格标准。如此一来，可以有效地避免人为错误输入测试规格标准或测试规格标准被人为修改，以增加测试安全性及良品率以及使用上的便利性。
31.在将基准测试板110所产生的第一测试结果存储于第二存储单元141后，控制单元110可以读取第一存储单元120的预设测试参数与待测元件130的识别码，并依据第一存储单元120的预设测试参数与待测元件130的识别码，以决定是否对待测元件130进行第二测试。
32.在本实施例中，控制单元140还可进一步由第一存储单元120取得当前测试时间、当前测试通过数量。其中，当前测试时间例如为测试装置100准备对型待测元件130进行测试的实际中原标准时间，当前测试通过数量例如为测试装置100已经对待测元件130进行测试，且待测元件130为测试通过的数量。
33.接着，控制单元140可以比对当前测试时间是否超过预设测试时间、比对当前测试通过数量是否达到预设测试通过数量以及比对识别码是否与预设识别码相符，以决定是否对待测元件130进行第二测试。
34.举例来说，假设预设测试时间为“2020年12月5日23时59分59秒”，预设测试通过数量为“1000”，预设识别码为“k1”，但本发明实施例不限于此。使用者也可视其需求，调整预设测试时间、预设测试通过数量、预设识别码，都属于本发明的保护范畴。当控制单元140取得当前测试时间时，控制单元140可以比对当前测试时间与预设测试时间，以确定当前测试时间是否超过预设测试时间。假设当前测试时间为“2020年12月3日10时30时5秒”，控制单元140可以确定当前测试时间未超过预设测试时间。假设当前测试时间为“2020年12月7日14时5时10秒”，控制单元140可以确定当前测试时间已经超过预设测试时间。
35.当控制单元140取得当前测试通过数量时，控制单元140可以比对当前测试通过数量与预设测试通过数量，以确定当前测试通过数量是否达到预设测试通过数量。假设当前测试通过数量为“800”，控制单元140可以确定前测试通过数量未达到预设测试通过数量。假设当前测试通过数量为“1000”，控制单元140可以确定当前测试时间已经达到超过预设测试通过数量。
36.当控制单元140取得待测元件130的识别码时，控制单元140可以比对待测元件130的识别码与预设识别码，以确定待测元件130的识别码是否与预设识别码相符，也即待测元件130是否符合合法身分测试。如此，可以避免测试装置100对不合法的待测元件130进行测试。假设待测元件130的识别码为“a2”，控制单元140可以确定待测元件130的识别码与预设识别码不相符。假设待测元件130的识别码为“k1”，控制单元140可以确定待测元件130的识别码与预设识别码相符。
37.接着，当控制单元140确定当前测试时间超过预设测试时间、当前测试通过数量达到预设测试通过数量或识别码与预设识别码不相符时，控制单元140决定不对待测元件130进行第二测试。也就是说，当控制单元140确认当前测试时间、当前测试通过数量与识别码的其中一者未通过时，控制单元140不会进行测试。如此一来，可以有效地对测试装置100的测试时间、元件测试数量及元件有效性进行控管，以增加使用上的便利性。
38.另一方面，当控制单元140确定当前测试时间未超过预设测试时间、当前测试通过
数量未达到预设测试通过数量以及待测元件130的识别码与预设识别码相符时，控制单元140决定对待测元件130进行第二测试。也就是说，当控制单元140确认当前测试时间、当前测试通过数量与识别码的三者都通过时，控制单元140才会对待测元件130进行第二测试。
39.之后，当控制单元140确定可以对待测元件130进行第二测试时，控制单元140例如可执行第二测试程序，以对待测元件130件进行第二测试。接着，待测元件130可以产生对应的第二测试结果。之后，控制单元140可以从待测元件130取得第二测试结果。
40.在取得第二测试结果后，控制单元140可以从第二存储单元141读取第一测试结果。接着，控制单元140可以将第二测试结果与第一测试结果进行比对，以确定待测元件130的测试状态。
41.举例来说，假设以温度测试为例，且存储于第二存储单元141的第一测试结果为25度或是存储于第二存储单元141的运算后的第一测试结果为23～27度。接着，当控制单元140取得第二测试结果时，控制单元140可以将第二测试结果与第一测试结果(例如25度或23～27度)进行比对，以确定待测元件130的测试状态。当控制单元140确定第二测试结果对应的温度为25度或是落在23～27度的范围内时，控制单元140可以确定待测元件130的测试状态为通过(pass)。当控制单元140确定第二测试结果对应的温度不为25度或是不落在23～27度的范围内时，控制单元140可以确定待测元件130的测试状态为未通过(fail)。另外，第一测试结果与第二测试结果为湿度或电气特性参数的比对方式可参考如上说明，故在此不再赘述。
42.在本实施例中，第一存储单元120与基准测试板110例如是可插拔地设置于测试装置100中。也就是说，使用者可视其需求更换测试装置100中的第一存储单元120及/或基准测试板110，以便更新预设测试参数及/或第一测试结果，进而对各种不同类型的待测元件130进行测试，可以有效地增加使用上的便利性。
43.另外，在一些实施例中，使用者也可以于第一存储单元120存储预设测试规格。并且，在控制单元140取得第一测试结果并将第一测试结果存储于第二存储单元141后，控制单元140可以比对预设测试规格与第一测试结果，以确定预设测试规格是否为合适。
44.当控制单元140比对预设测试规格与第一测试结果相符时，控制单元140可以确定预设测试规格为合适。当控制单元140比对预设测试规格与第一测试结果不相符时，控制单元140可以确定预设测试规格为不合适，并可以发出警报信号，以告知使用者此预设规格为不合适。也就是说，若是控制单元140仍依据不合适的预设测试规格，对待测元件130进行测试，可能会造成待测元件130的测试状态都为不通过，而产生低的测试良品率。
45.因此，控制单元140可以依据基准测试板110所产生的第一测试结果，对待测元件130进行测试。如此一来，不论测试环境如何改变，测试规格(例如基准测试板110所产生的第一测试结果)都能动态改变以符合现况，以有效地增加测试的良品率及使用上的便利性。
46.图2为本发明的另一实施例的测试装置的示意图。请参考图2，测试装置200可以包括基准测试板110、第一存储单元120、待测元件130、控制单元140、数据收集单元210与测试主机220。在本实施例中，基准测试板110、第一存储单元120、待测元件130和控制单元140与图1的包括基准测试板110、第一存储单元120、待测元件130和控制单元140相同或相似，可参考图1的实施例的说明，故在此不再赘述。
47.数据收集单元210可以对待测元件130的生产数据进行收集。在本实施例中，数据
收集单元210可以包括分类机(handler)或针测机(prober)，但本发明实施例不限于此。另外，生产数据可以包括待测元件130的数量、编号、通过或不通过等信息，但本发明实施例不限于此。
48.测试主机220可以从数据收集单元210取得生产数据，并将生产数据通过控制单元140存储于第一存储单元110。使用者便可从测试主机220读取第一存储单元110中的生产数据，以便得知待测元件130的相关信息。另外，使用者也可以将第一存储单元110拆下，并装设于另一电子装置中，并通过另一电子装置读取第一存储单元110中的生产数据，以便得知待测元件130的相关信息。
49.在图1或图2中，待测元件130的数量绘示为1个，但本发明实施例不限于此。待测元件130的数量也可为2个或2个以上，并且2个或2个以上的待测元件的测试方式可参考图1或图2的实施例的说明，故在此不再赘述。
50.通过如上实施例的说明，本发明实施例提供一种测试装置的操作方法。图3为依据本发明的一实施例的测试装置的操作方法的流程图。在步骤s302中，提供基准测试板。在步骤s304中，提供第一存储单元，存储预设测试参数。在步骤s306中，提供待测元件。
51.在步骤s308中，提供控制单元，具有第二存储单元。在步骤s310中，通过控制单元对基准测试板进行第一测试，以取得基准测试板所产生的第一测试结果，并将第一测试结果存储至第二存储单元。在步骤s312中，控制单元读取第一存储单元的预设测试参数与待测元件的识别码，以决定是否对待测元件进行第二测试。在本实施例中，预设测试参数包括预设测试时间、预设测试通过数量与预设识别码。第一测试结果包括温度、湿度、电气特性参数。第一存储单元与基准测试板是可插拔地设置于测试装置中。
52.图4为依据本发明的另一实施例的测试装置的操作方法的流程图。在本实施例中，步骤s302～s312与图3的步骤s302～s312相同或相似，可参考图3的实施例的说明，故在此不再赘述。
53.在步骤s402中，当控制单元决定对待测元件进行第二测试时，控制单元对待测元件进行第二测试，以取得待测元件的第二测试结果。在步骤s404中，控制单元将第二测试结果与第一测试结果进行比对，以确定待测元件的测试状态。在步骤s406中，当控制单元决定不对待测元件进行第二测试时，控制单元不对待测元件进行第二测试。
54.值得注意的是，图3及图4的步骤的顺序仅用以作为说明的目的，不用于限制本发明实施例的步骤的顺序，且上述步骤的顺序可由使用者视其需求而改变。并且，在不脱离本发明的精神以及范围内，可增加额外的步骤或者使用更少的步骤。
55.综上所述，本发明所揭露的测试装置及其操作方法，通过控制单元对基准测试板进行第一测试，以取得基准测试板所产生的第一测试结果，并将第一测试结果存储至控制单元的第二存储单元，控制单元读取第一存储单元的预设测试参数与待测元件的识别码，以决定是否对待测元件进行第二测试。另外，本实施例的控制单元可以进一步对待测元件进行第二测试，以取得待测元件的第二测试结果，并将第二测试结果与第一测试结果进行比对，以确定待测元件的测试状态。如此一来，可以有效地增加测试安全性、测试良品率以及使用上的便利性。
56.本发明虽以实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明的范围，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可做些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围
当视权利要求所界定者为准。