一种磁共振设备的故障位置检测方法、装置及电子设备与流程

1.本技术涉及磁共振设备技术领域，尤其涉及一种磁共振设备的故障位置检测方法、装置及电子设备。


背景技术：

2.磁共振成像设备是基于磁共振成像技术的断层扫描成像的一种，因其图像分辨率高、无电离辐射而得到广泛应用，磁共振成像设备一般被放置在屏蔽间中，在发射射频脉冲时，位于磁共振成像设备的磁体腔内的射频线圈作为发射部件，储存大量能量，同时用来选层和空间编码的梯度线圈也需要产生快速切换变化的梯度场，因此，当磁共振成像设备内部的个别器件出现损坏、接触不良或由于设备长时间使用而导致铁磁性物质(如硬币、铁钉等)被吸入梯度线圈与射频线圈、梯度线圈与磁体腔之间等状况时，由于瞬时放电或电势差会导致扫描过程中出现打火(如伴有电火花)现象，这种情况不仅影响图像质量，若频繁出现而不予处理，还有可能进一步造成设备损坏或人身伤害。但是，由于磁共振设备在安装完毕后形成一个封闭空间，因此导致上述故障通常无法直接观测到。
3.现有技术中，一般在发现磁共振设备生成的磁共振图像存在异常时，会通过拆除外壳后执行测量驻波比、检查接线、清理磁体腔等操作来处理此类故障，但是现有技术中的方法耗时长且无针对性，无法确保故障检出率。


技术实现要素：

4.有鉴于此，本技术的目的在于至少提供一种磁共振设备的故障位置检测方法、装置及电子设备，通过可拆卸检测线圈确定磁共振设备的故障位置，使用户能够针对性的对磁共振设备进行维修处理，减少耗时的同时，保证了故障检出率。
5.本技术主要包括以下几个方面：
6.第一方面，本技术实施例提供一种磁共振设备的故障位置检测方法，故障位置检测方法包括：向磁共振设备发送启动信号，以控制磁共振设备启动，磁共振设备上布置有多个可拆卸检测线圈；通过数据采集装置确定每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间；根据每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间以及各可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置，确定磁共振设备的故障位置。
7.在一种可能的实施方式中，每个可拆卸检测线圈通过数据线分别连接到数据采集装置的接口，其中，数据采集装置通过以下方式确定每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间：针对每个可拆卸检测线圈，获取该可拆卸检测线圈对故障信号的接收时间；针对每个可拆卸检测线圈，计算该可拆卸检测线圈的接收时间与预设起始时间之间的差值，将差值确定为该可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间，其中，各可拆卸检测线圈对应的预设起始时间相同。
8.在一种可能的实施方式中，多个可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置包括以下项中的至少一项：位于磁共振设备的容纳腔的覆盖外壳上，位于磁共振设备的主磁体
外壳上，和/或，每个可拆卸检测线圈由无磁性金属材料制成。
9.在一种可能的实施方式中，根据每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间以及各可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置，确定磁共振设备的故障位置的步骤包括：针对每个可拆卸检测线圈，根据该可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间，确定该可拆卸检测线圈在所述磁共振设备上的布置位置与故障信号的产生位置之间的计算距离；在所述磁共振设备上的布置位置，根据该可拆卸检测线圈对应的计算距离以及布置位置，确定磁共振设备的故障位置。
10.在一种可能的实施方式中，通过以下方式确定每个可拆卸检测线圈与在所述磁共振设备上的布置位置与故障信号的产生位置之间的计算距离：确定响应时间列矩阵，响应时间列矩阵中的每个元素表示对应的一个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间；根据响应时间列矩阵以及光速，确定计算距离矩阵，计算距离矩阵中的每个元素表示对应的一个可拆卸检测线圈在所述磁共振设备上的布置位置与故障信号的产生位置之间的计算距离；其中，通过以下方式确定所述磁共振设备的故障位置：确定布置位置矩阵，布置位置矩阵中的每个矩阵行表示对应的一个可拆卸检测线圈的布置位置；根据计算距离矩阵和布置位置矩阵，确定故障位置。
11.在一种可能的实施方式中，通过以下公式确定所述磁共振设备的故障位置：
[0012][0013]
其中，d表示故障位置，d＝(x,y,z)，其中x表示故障位置的横坐标，y表示故障位置的纵坐标，z表示故障位置的竖坐标，d
t
＝(x,y,z)
t
，表示故障位置的转置，
[0014]
w表示布置位置矩阵，其中，wi＝(xi,yi,zi)，wi表示第i个可拆卸检测线圈在所述磁共振设备上的布置位置，xi表示第i个可拆卸检测线圈在所述磁共振设备上的横坐标，yi表示第i个可拆卸检测线圈在所述磁共振设备上的纵坐标，zi表示第i个可拆卸检测线圈在所述磁共振设备上的竖坐标，3≤i≤n，n为正整数，表示在所述磁共振设备上布置的可拆卸检测线圈的总数量，表示第i个可拆卸检测线圈在所述磁共振设备上的布置位置的转置，c表示光速，t＝(t1,ti,
…
,tn)
t
，t表示响应时间列矩阵，其中，ti表示第i个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间。
[0015]
第二方面，本技术实施例还提供一种磁共振设备的故障位置检测装置，故障位置检测装置包括：启动模块，向磁共振设备发送启动信号，以控制磁共振设备启动，磁共振设备上布置有多个可拆卸检测线圈；采集模块，通过数据采集装置确定每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间；确定模块，根据每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间以及各可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置，确定磁共振设备的故障位置。
[0016]
在一种可能的实施方式中，确定模块还用于：根据每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间，确定各可拆卸检测线圈与故障位置之间的计算距离；根据各可拆卸检
测线圈与故障位置之间的计算距离以及各可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置，确定磁共振设备的故障位置。
[0017]
第三方面，本技术实施例还提供一种电子设备，包括：处理器、存储器和总线，存储器存储有处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，处理器与存储器之间通过总线进行通信，机器可读指令被处理器运行时执行上述第一方面或第一方面中任一种可能的实施方式中的磁共振设备的故障位置检测方法的步骤。
[0018]
第四方面，本技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器运行时执行上述第一方面或第一方面中任一种可能的实施方式中的磁共振设备的故障位置检测的步骤。
[0019]
本技术实施例提供的一种磁共振设备的故障位置检测方法、装置及电子设备，故障位置检测方法包括：向磁共振设备发送启动信号，以控制磁共振设备启动，磁共振设备上布置有多个可拆卸检测线圈；通过数据采集装置确定每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间；根据每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间以及各可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置，确定磁共振设备的故障位置。通过可拆卸检测线圈获取磁共振设备的故障位置，能够针对性的检测出磁共振设备的故障位置，减少耗时的同时，保证了故障检出率。
[0020]
为使本技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
[0021]
为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0022]
图1示出了本技术实施例所提供的一种可拆卸线圈安装位置示意图；
[0023]
图2示出了本技术实施例所提供的一种磁共振设备的故障位置检测方法的步骤的流程图；
[0024]
图3示出了本技术实施例所提供的一种可拆卸检测线圈示意图；
[0025]
图4示出了本技术实施例所提供的一种磁共振设备的故障位置检测装置的结构示意图；
[0026]
图5示出了本技术实施例所提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0027]
为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，应当理解，本技术中的附图仅起到说明和描述的目的，并不用于限定本技术的保护范围。另外，应当理解，示意性的附图并未按实物比例绘制。本技术中使用的流程图示出了根据本技术的一些实施例实现的操作。应当理解，流程图的操作可以不按顺序实现，没有逻辑的上下文关系的步骤可以反转顺序或者同时实施。此外，本领域技术人员在本技术内容的指引下，可以向流程图添加一个
或多个其他操作，也可以从流程图中移除一个或多个操作。
[0028]
另外，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的全部其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0029]
现有技术中，一般在发现磁共振设备的图像出现异常情况时，厂家工程师会通过拆除磁共振外壳后测量驻波比、检查接线、清理磁体腔等操作来处理此类问题。但是该方法耗时长且无针对性，无法确保故障检出率。
[0030]
基于此，本技术实施例提供了一种磁共振设备的故障位置检测方法、装置及电子设备，通过可拆卸检测线圈确定磁共振设备的故障位置，使用户能够针对性的对磁共振设备进行维修处理，减少耗时的同时，保证了故障检出率，具体如下：
[0031]
请参阅图1，图1示出了本技术实施例所提供的一种可拆卸线圈安装位置示意图。如图1所示，磁共振设备主要包括主磁体1、梯度线圈2和射频线圈3，其中射频线圈3置于梯度线圈2内，梯度线圈2置于主磁体构成的腔体内，整个磁共振设备在加装外壳后是一个封闭腔体，磁共振设备置于屏蔽间6内，屏蔽间6是一个封闭的房间，磁共振设备在进行扫描工作时，主机4通过谱仪5发出控制命令，磁共振设备产生的信号经谱仪5处理后回传给主机4并最终成像。
[0032]
在本技术一具体实施例中，当磁共振设备中的个别器件出现损坏、接触不良或设备长时间使用而导致铁磁性物质(如硬币、铁钉等)被吸入梯度线圈2与射频线圈3、梯度线圈2与主磁体1的腔体之间等状况时，会出现瞬时放电或电势差，导致扫描过程中出现磁共振设备的打火(如伴有电火花)现象，这种情况下图像质量会受到影响，一般在发现磁共振设备的扫描图像出现异常时，可以使用本技术的故障位置检测方法快速锁定故障位置。
[0033]
请参阅图2，图2示出了本技术实施例所提供的一种磁共振设备的故障位置检测方法的步骤的流程图，如图2所示，故障位置检测方法应用于主机4，故障位置检测方法包括：
[0034]
s100、向磁共振设备发送启动信号，以控制磁共振设备启动。
[0035]
具体的，磁共振设备上布置有多个可拆卸检测线圈，优选的，当用户通过磁共振设备的扫描图像观察到磁共振设备发生故障时，可以在磁共振设备上安装可拆卸检测线圈来获取故障位置，请参阅图3，示出了本技术实施例所提供的一种可拆卸检测线圈示意图，如图3所示，可拆卸检测线圈7由线圈部分71和引出线部分72组成，其中，线圈部分71为一圆形铜环，每个可拆卸检测线圈7由无磁性金属材料制成，可拆卸检测线圈7的引出线部分72的一端连接到线圈部分71，引出线部分72的另一端连接到数据线的一端，可拆卸检测线圈7可以接收到位置发出的故障信号。
[0036]
在一优选实施例中，多个可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置包括以下项中的至少一项：位于磁共振设备的容纳腔的覆盖外壳上，位于磁共振设备的主磁体外壳上，磁共振设备的容纳腔的覆盖外壳上即射频线圈3的覆盖外壳上，如图1所示，为多个可拆卸检测线圈7的一种布置方式，各可拆卸检测线圈7的大小和接收效能尽量保持一致，且可拆卸检测线圈7大小一般不要太大，可拆卸检测线圈7的数量要大于3个，具体的，可以根据实际情况选择可拆卸检测线圈7的数量、大小以及形状，本技术对可拆卸检测线圈7的形状不
做具体限制。
[0037]
返回图2，s200、通过数据采集装置确定每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间。
[0038]
具体的，每个可拆卸检测线圈通过数据线分别连接到数据采集装置的接口，即可拆卸检测线圈可以将接收到的信号通过数据线传递给数据采集装置，数据采集装置的类型可以为板载采集卡、即插即用采集卡等，可拆卸检测线圈通过数据线与数据采集装置上的smb接口或者其它接口相连接，数据采集装置的采样率需要达到1gs/s，可拆卸检测线圈的数量通常受数据采集装置的接口的数量的限制，如图1所示，数据采集装置8可以安装在主机上。
[0039]
在一优选实施例中，数据采集装置通过以下方式确定每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间：
[0040]
针对每个可拆卸检测线圈，获取该可拆卸检测线圈对故障信号的接收时间，针对每个可拆卸检测线圈，计算该可拆卸检测线圈的接收时间与预设起始时间之间的差值，将差值确定为该可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间。
[0041]
在一具体实施例中，当磁共振设备启动后，磁共振设备的故障位置会产生故障信号，产生的故障信号会以接近光速的速度传播到布置在磁共振设备上的各可拆卸检测线圈，每个可拆卸检测线圈接收到故障信号后，会通过数据线将故障信号发送到数据采集装置，数据采集装置会立刻获取每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的接收时间，数据采集装置的每个接口均存在一个预设起始时间，且每个接口对应的预设起始时间都相同，也就是说，各可拆卸检测线圈对应的预设起始时间相同，针对每个可拆卸检测线圈，该可拆卸检测线圈的接收时间与预设起始时间之间的差值即为该可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间。
[0042]
返回图2，s300、根据每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间以及各可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置，确定磁共振设备的故障位置。
[0043]
在一优选实施例中，根据每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间以及各可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置，确定磁共振设备的故障位置的步骤包括：
[0044]
针对每个可拆卸检测线圈，根据该可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间，确定该可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置与故障信号的产生位置之间的计算距离。
[0045]
具体的，通过以下方式确定每个可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置与故障信号的产生位置之间的计算距离：
[0046]
确定响应时间列矩阵，响应时间列矩阵中的每个元素表示对应的一个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间；根据响应时间列矩阵以及光速，确定计算距离矩阵，计算距离矩阵中的每个元素表示对应的一个可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置与故障信号的产生位置之间的计算距离。
[0047]
具体的，针对每个可拆卸检测线圈，将光速与该可拆卸检测线圈对应的接收到故障信号的响应时间的乘积，确定为该可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置与故障信号的产生位置之间的计算距离。
[0048]
针对每个可拆卸检测线圈，根据该可拆卸检测线圈对应的计算距离以及布置位
置，确定磁共振设备的故障位置。
[0049]
在一具体实施例中，通过以下方式确定磁共振设备的故障位置：
[0050]
确定布置位置矩阵，布置位置矩阵中的每个矩阵行表示对应的一个可拆卸检测线圈的布置位置。
[0051]
具体的，可以预先设定一个基准点，该基准点可以为磁共振设备的磁体腔的中心点，也可以根据使用者自身习惯进行设定，这里对于基准点的设置不做具体限制，设定好基准点后，即可以测量获取每个可拆卸检测线圈相对基准点的布置位置，每个可拆卸检测线圈相对基准点的布置位置可以通过该可拆卸检测线圈相对基准点的横坐标、纵坐标和竖坐标来表示。
[0052]
根据计算距离矩阵和布置位置矩阵，确定故障位置。
[0053]
在一具体实施例中，通过以下公式确定磁共振设备的故障位置：
[0054][0055]
其中，d表示故障位置，d＝(x,y,z)，其中x表示故障位置的横坐标，y表示故障位置的纵坐标，z表示故障位置的竖坐标，d
t
＝(x,y,z)
t
，表示故障位置的转置，
[0056]
w表示布置位置矩阵，其中，wi＝(xi,yi,zi)，wi表示第i个可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置，xi表示第i个可拆卸检测线圈在磁共振设备上的横坐标，yi表示第i个可拆卸检测线圈在磁共振设备上的纵坐标，zi表示第i个可拆卸检测线圈在磁共振设备上的竖坐标，3≤i≤n，n为正整数，表示在磁共振设备上布置的可拆卸检测线圈的总数量，表示第i个可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置的转置，c表示光速，t＝(t1,ti,
…
,tn)
t
，t表示响应时间列矩阵，其中，ti表示第i个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间。
[0057]
在另一具体实施例中，还可以通过以下公式确定磁共振设备的故障位置：
[0058]
dd
t-2wd
t
diag(ww
t
)＝c2t2[0059]
在该公式中，d表示故障位置，d＝(x,y,z)，x表示故障位置的横坐标，y表示故障位置的纵坐标，z表示故障位置的竖坐标，d
t
＝(x,y,z)
t
，表示故障位置的转置，
[0060]
w表示布置位置矩阵，其中，wi＝(xi,yi,zi)，wi表示第i个可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置，xi表示第i个可拆卸检测线圈在磁共振设备上的横坐标，yi表示第i个可拆卸检测线圈在磁共振设备上的纵坐标，zi表示第i个可拆卸检测线圈在磁共振设备上的竖坐标，3≤i≤n，n为正整数，表示在磁共振设备上布置的可拆卸检测线圈的总数量，w
t
表示布置位置矩阵w的转置矩阵，diag(ww
t
)表示取ww
t
乘积项的主对角线元素，
c表示光速，t＝(t1,ti,
…
,tn)
t
，t表示响应时间行矩阵，其中，ti表示第i个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间。
[0061]
通过该公式，即可获取故障位置d＝(x,y,z)，如图1所示，本技术的可检测范围包括整个主磁体1、梯度线圈2、射频线圈3及屏蔽间6内的所有与磁共振设备产生接线的位置处，根据获取到的故障位置，即可针对性的拆卸磁共振设备，对故障位置进行维修处理。
[0062]
基于同一申请构思，本技术实施例中还提供了与上述实施例提供的磁共振设备的故障位置检测方法对应的磁共振设备的故障位置检测装置，由于本技术实施例中的装置解决问题的原理与本技术上述实施例的磁共振设备的故障位置检测方法相似，因此装置的实施可以参见方法的实施，重复之处不再赘述。
[0063]
请参阅图4，图4示出了本技术实施例提供的一种磁共振设备的故障位置检测装置的结构示意图，如图4所示，所述故障位置检测装置包括：
[0064]
启动模块400，向磁共振设备发送启动信号，以控制磁共振设备启动，磁共振设备上布置有多个可拆卸检测线圈；
[0065]
采集模块410，通过数据采集装置确定每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间；
[0066]
确定模块420，根据每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间以及各可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置，确定磁共振设备的故障位置。
[0067]
可选地，确定模块420还用于：针对每个可拆卸检测线圈，根据该可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间，确定该可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置与故障信号的产生位置之间的计算距离；针对每个可拆卸检测线圈，根据该可拆卸检测线圈对应的计算距离以及布置位置，确定磁共振设备的故障位置。
[0068]
可选地，每个可拆卸检测线圈通过数据线分别连接到数据采集装置的接口，其中，数据采集装置通过以下方式确定每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间：针对每个可拆卸检测线圈，获取该可拆卸检测线圈对故障信号的接收时间；针对每个可拆卸检测线圈，计算该可拆卸检测线圈接收时间与预设起始时间之间的差值，将差值确定为该可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间，其中，各可拆卸检测线圈对应的预设起始时间相同。
[0069]
可选地，多个可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置包括以下项中的至少一项：位于磁共振设备的容纳腔的覆盖外壳上，位于磁共振设备的主磁体外壳上，和/或，每个可拆卸检测线圈由无磁性金属材料制成。
[0070]
可选地，确定模块420还用于：针对每个可拆卸检测线圈，根据该可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间，确定该可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置与故障信号的产生位置之间的计算距离；针对每个可拆卸检测线圈，根据该可拆卸检测线圈对应的计算距离以及布置位置，确定磁共振设备的故障位置。
[0071]
可选地，确定模块420还用于：确定响应时间列矩阵，响应时间列矩阵中的每个元素表示对应的一个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间；根据响应时间列矩阵以及光速，确定计算距离矩阵，计算距离矩阵中的每个元素表示对应的一个可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置与故障信号的产生位置之间的计算距离；确定布置位置矩阵，布置位置矩阵中的每个矩阵行表示对应的一个可拆卸检测线圈的布置位置；根据计算距离矩
阵和布置位置矩阵，确定故障位置。
[0072]
可选地，确定模块420还用于：通过以下公式确定所述磁共振设备的故障位置：
[0073][0074]
其中，d表示故障位置，d＝(x,y,z)，其中x表示故障位置的横坐标，y表示故障位置的纵坐标，z表示故障位置的竖坐标，d
t
＝(x,y,z)
t
，表示故障位置的转置，
[0075]
w表示布置位置矩阵，其中，wi＝(xi,yi,zi)，wi表示第i个可拆卸检测线圈在所述磁共振设备上的布置位置，xi表示第i个可拆卸检测线圈在所述磁共振设备上的横坐标，yi表示第i个可拆卸检测线圈在所述磁共振设备上的纵坐标，zi表示第i个可拆卸检测线圈在所述磁共振设备上的竖坐标，3≤i≤n，n为正整数，表示在所述磁共振设备上布置的可拆卸检测线圈的总数量，表示第i个可拆卸检测线圈在所述磁共振设备上的布置位置的转置，c表示光速，t＝(t1,ti,
…
,tn)
t
，t表示响应时间列矩阵，其中，ti表示第i个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间。
[0076]
基于同一申请构思，参见图5所示，为本技术实施例提供的一种电子设备500的结构示意图，包括：处理器510、存储器520和总线530，所述存储器520存储有所述处理器510可执行的机器可读指令，当电子设备500运行时，所述处理器510与所述存储器520之间通过所述总线530进行通信，所述机器可读指令被所述处理器510运行时执行如上述实施例中任一所述的磁共振设备的故障位置检测方法的步骤。
[0077]
基于同一申请构思，本技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行上述实施例提供的磁共振设备的故障位置检测方法的步骤。
[0078]
具体地，所述存储介质能够为通用的存储介质，如移动磁盘、硬盘等，所述存储介质上的计算机程序被运行时，能够执行上述磁共振设备的故障位置检测方法。
[0079]
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统和装置的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。在本技术所提供的几个实施例中，应所述理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
[0080]
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目
的。
[0081]
另外，在本技术各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
[0082]
所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个处理器可执行的非易失的计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本技术的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者所述技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，所述计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本技术各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(read-only memory，rom)、随机存取存储器(random access memory，ram)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0083]
以上仅为本技术的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此，本技术的保护范围应以权利要求的保护范围为准。