用于全自动微流控免疫分析仪的测量室的制作方法

1.本实用新型属于医疗设备技术领域，尤其是涉及一种用于全自动微流控免疫分析仪的测量室。


背景技术：

2.化学发光免疫分析，是利用化学发光技术的高灵敏度与免疫学方法的高特异性进行结合，来检测分析各种抗体、抗原、激素、酶和药物等的技术。化学发光免疫分析是以化学发光物质作为其标记物，具有快速、简便、重复性好、无放射性污染等优点。化学发光免疫分析技术发展至今已成为一种先进并且成熟的检测技术，在检验医学领域形成了巨大市场。
3.在中国专利文献cn107843737a中，公开了一种全自动微流控化学发光免疫检测仪，包括依次安装在平台上的tip固定架、样本模块、试剂模块和tip废料收集箱，所述tip废料收集箱的右侧平台上安装有盘片旋转模块，所述盘片旋转模块的上端连接有上盖模块，所述上盖模块后方的平台上安装有用于移动取样的三轴加样机械臂，所述三轴加样机械臂包括x轴机械臂、y轴机械臂和z轴机械臂，所述平台为水平底板和垂直于基础平面上门型结构组成，所述x轴加样机械臂固定于门型结构上，所述门型结构背面设置有控制器。还包括有光子检测模块，所述光子检测模块包含光电倍增管(pmt)和pmt收光窗口上装设准直管、遮光片等，反应物透过化学发光原理产生光子再由pmt接收转换成电子脉冲信号，脉冲信号经电子电路处理后将光子计数值上传处理计算机进行数值分析。
4.但是上述技术方案中采用的光子检测模块进行检测，避光性不够好，且光源强度不稳定。


技术实现要素：

5.本实用新型要解决的技术问题是提供一种用于全自动微流控免疫分析仪的测量室，使用了双光路检测组件，测量过程中可以调节光源的强弱，保证光源强度稳定在标准区间；该测量室结构简单，实现了密闭不透光，防止了对测量结果造成的干扰，使测量结果更加准确，检测更加高效，耗时少。
6.为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是，该用于全自动化学发光免疫分析仪包括外壳，还包括芯片测量固定仓、芯片固定仓运动组件、双光路检测组件和遮光门，所述外壳上设有芯片入口，所述遮光门设有所述芯片入口的外侧，用于测量时避光；所述芯片固定仓运动组件用于驱动芯片测量固定仓运动，从而实现芯片的进样；所述双光路检测组件用于测量芯片中的样本。
7.采用上述技方案，化学发光免疫分析测量时所有与外界接触的都需避光处理，防止对测量结果造成干扰，该测量室通过外壳进行避光，在外壳上设置避光门用于进出芯片，通过芯片固定仓运动组件驱动芯片测量固定仓运动，芯片测量固定仓向外伸出接收芯片的同时顶开遮光门，在装载好芯片后芯片测量固定仓回退到测量室内，遮光门自动关闭；芯片测量固定仓继续运动将芯片运动到测试位置后，双光路检测组件开始工作，芯片测量固定
仓的下方光源发射部发射光源，芯片上方的光源检测部实施反馈光源强弱从而调节发射光源的强弱。
8.作为本实用新型的优选技术方案，所述芯片测试固定仓上设有芯片卡位，所述芯片卡位中设有透光区；所述芯片卡位的一侧设有固定仓侧板，所述固定仓侧板上设有轴承；所述双光路检测组件包括光源发射部和光源检测部，所述光源发射部设在所述芯片测量固定仓的下方，所述光源检测部设在所述芯片固定的上方，所述光源发射部用于发射检测光源并透过透光区由光源检测部反馈光源强弱并进行调解。所述芯片卡位用于放置芯片，轴承减少遮光门开关时的摩擦。
9.作为本实用新型的优选技术方案，所述遮光门通过自动回弹部与所述外壳相连接，实现自动开门和关闭；所述自动回弹部包括扭簧、合页和转轴，所述合页与所述转轴相连接，所述扭簧设在所述转轴上。扭簧、转轴和合页的配合在芯片固定仓回退时自动关闭遮光门；芯片测量固定仓运动，向外伸出接收芯片的同时通过轴承顶开遮光门，待芯片放置在芯片测量固定仓上进入测量室后，遮光门通过扭簧、合页自动关闭。
10.作为本实用新型的优选技术方案，所述光源发射部包括光电倍增管和透镜，所述透镜与所述光电倍增管之间设有倍增管支架，所述光电倍增管设在所述倍增管支架的下方，所述透镜通过接受支架设在光电倍增管的上方，所述倍增管支架与所述接受支架上均设有光路孔；所述透镜在远离光电倍增管的一侧的上方设有滤光板。所述透镜通过透镜隔环一与所述接受支架相连接，滤光板设在透镜隔环一上，滤光板的上方还设有滤光片压板，所述透镜为平凸透镜。
11.作为本实用新型的优选技术方案，所述光源检测部包括平透镜、光电二极管、发射端压块和光源固定块，所述发射端压块上设有透光孔，所述平透镜设在所述发射端压块的透光孔上，通过透镜隔环进行固定，所述发射端压块与所述光源固定块相连接，所述光电二极管设在所述光源固定块上，所述光源检测部通过光路固定块与测量室底板相连接。所述平透镜的数量为2个，2个所述平透镜之间设有滤光片，所述光源固定块上设有圆形光源板，所述光电二极管的外侧设有封板。光源检测部，可实时反馈光源强弱，调节光源发射光强弱，保证光源强度稳定在标准区间。
12.作为本实用新型的优选技术方案，该用于全自动微流控免疫分析仪的测量室还包括芯片收集口，所述芯片收集口设在所述测量室底板的下方，且所述芯片收集口处设有遮光滑板。遮光滑板的设置是用于在测量室进行测量室对收集口进行遮光。
13.作为本实用新型的优选技术方案，该用于全自动微流控免疫分析仪的测量室还包括测量勾手和勾手移动组件，所述勾手移动组件驱动所述测量勾手移动并将芯片拨动至芯片收集口上方。测量完成后芯片被测量勾手运输到芯片收集口上方，悬空的芯片掉落到芯片收集口上，通过芯片收集口的滑板滑落到垃圾桶中。
14.作为本实用新型的优选技术方案，所述芯片固定仓运动组件包括固定仓直线电机、固定仓电机丝杆、固定仓直线导轨、固定仓滑块和x轴支架，所述芯片测量固定仓与所述x轴支架相连接且与所述固定仓滑块相连接，所述固定仓滑块与所述固定仓直线导轨相连接，所述x轴支架通过所述固定仓电机丝杆与所述固定仓直线电机相连接，从而所述固定仓直线电机驱动所述芯片测量固定仓沿所述固定仓直线导轨运动。所述x轴支架与固定仓侧板相连接。固定仓直线电机运动，带动固定仓电机丝杆运动，固定仓电机丝杆带动x轴支架
运动，从而带动与x轴支架相连接的固定仓滑块和芯片测量固定仓沿固定仓直线导轨运动，实现芯片的进入。
15.作为本实用新型的优选技术方案，所述勾手移动组件包括勾手直线电机、勾手电机丝杆、勾手直线导轨、勾手滑块和侧板导向板，所述侧板导向板的一端通过勾手固定块与所述测量勾手相连接，所述侧板导向板的另一端分别与所述勾手滑块和所述勾手电机丝杆相连接，所述勾手滑块与所述勾手仓直线导轨相连接，所述勾手电机丝杆与所述勾手直线电机相连接，从而所述勾手直线电机驱动所述测量勾手运动；所述勾手固定块的一侧设有导向块。所述勾手直线导轨设在导轨固定板上，所述导轨固定板上还设有光电传感器，用于定位。勾手直线电机运动，带动勾手电机丝杆运动，勾手电机丝杆带动侧板导向板运动，从而带动与侧板导向板相连接的勾手滑块和测量勾手沿勾手直线导轨运动，使测量勾手拨动芯片运动至芯片收集口的上方。
16.作为本实用新型的优选技术方案，所述外壳包括上层外壳和下盖板，所述上层外壳设在所述测量室底板的上方，所述下盖板设在所述测量室底板下方，从而使该测量室实现避光；所述测量室底板的下方设有下罩固定支架，所述下盖板通过下罩固定支架与所述测量室底板相连接。
17.与现有技术相比，该用于全自动微流控免疫分析仪的测量室，使用了双光路检测组件，测量过程中可以调节光源的强弱，保证光源强度稳定在标准区间；其测量过程是通过高灵敏性的光电倍增管在测量室内进行的，该测量室结构简单，实现了密闭不透光，防止了对测量结果造成的干扰，使测量结果更加准确，检测更加高效，耗时少。
附图说明
18.下面结合附图和本实用新型的实施方式进一步详细说明：
19.图1是本实用新型的用于全自动微流控免疫分析仪的测量室的立体结构图一；
20.图2是本实用新型的用于全自动微流控免疫分析仪的测量室的立体结构图二(其中遮光门是打开的状态)；
21.图3是本实用新型的图2中的a圈的局部放大结构图；
22.图4是本实用新型的用于全自动微流控免疫分析仪的测量室的立体结构图三(其中遮光门是关闭的状态)；
23.图5是本实用新型的用于全自动微流控免疫分析仪的测量室的双光路检测组件中光源发射部的结构图；
24.图6是本实用新型的用于全自动微流控免疫分析仪的测量室的双光路检测组件中光源发射部的截面结构图；
25.图7是本实用新型的用于全自动微流控免疫分析仪的测量室的双光路检测组件中光源检测部的结构图；
26.图8是本实用新型的用于全自动微流控免疫分析仪的测量室的双光路检测组件中光源检测部的截面结构图；
27.图9是本实用新型的用于全自动微流控免疫分析仪的测量室的立体放大图四；
28.其中：1-外壳；101-芯片入口；102-上层外壳；103-下盖板；104-下罩固定支架；2-芯片测量固定仓；201-芯片卡位；202-透光区；203-固定仓侧板；204-轴承；3-芯片固定仓运
动组件；301-固定仓直线电机；302-固定仓电机丝杆；303
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固定仓直线导轨；304-固定仓滑块；305-x轴支架；306-导轨固定板；4-双光路检测组件；401-光源发射部；4011-光电倍增管；4012-透镜；4013-倍增管支架； 4014-接受支架；4015-滤光板；4016-透镜隔环一；4017-滤光片压板；402-光源检测部；4021-平透镜；4022-光电二极管；4023-发射端压块；4024-光源固定块； 4025-透镜隔环；4026-光路固定块；4027-滤光片；4028-圆形光源板；4029-封板； 5-遮光门；501-扭簧；502-合页；503-转轴；6-测量室底板；7-芯片收集口；8
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遮光滑板；9-勾手移动组件；901-勾手直线电机；902-勾手电机丝杆；903-勾手直线导轨；904-勾手滑块；905-侧板导向板；906-导向块；907-导轨固定板；908
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光电传感器；10-测量勾手；1001-勾手固定块。
具体实施方式
29.实施例：如图1～9所示，该用于全自动微流控免疫分析仪的测量室包括外壳 1，还包括芯片测量固定仓2、芯片固定仓运动组件3、双光路检测组件4和遮光门5，所述外壳1上设有芯片入口101，所述遮光门5设有所述芯片入口101的外侧，用于测量时避光；所述芯片固定仓运动组件3用于驱动芯片测量固定仓2 运动，从而实现芯片的进样；所述双光路检测组件4用于测量芯片中的样本；所述芯片测试固定仓2上设有芯片卡位201，所述芯片卡位201中设有透光区202；所述双光路检测组件4包括光源发射部401和光源检测部402，所述光源发射部 401设在所述芯片测量固定仓2的下方，所述光源检测部402设在所述芯片测量固定仓2的上方，所述光源发射部401用于发射检测光源并透过透光区202由光源检测部402反馈光源强弱并进行调解；芯片卡位201用于放置芯片，芯片卡位201的一侧设有固定仓侧板203，所述固定仓侧板203上设有轴承204；所述遮光门5通过自动回弹部与所述外壳1相连接，实现自动开门和关闭；所述自动回弹部包括扭簧501、合页502和转轴503，所述遮光门5通过所述合页502与所述外壳1相连接，所述合页502与所述转轴503相连接，所述扭簧501设在所述转轴503上；芯片固定仓运动组件3驱动芯片测量固定仓2运动，向外伸出接收芯片的同时通过轴承204顶开遮光门5，待芯片放置在芯片测量固定仓2上进入测量室后，遮光门5通过扭簧501、合页502自动关闭；所述光源发射部401包括光电倍增管4011和透镜4012，所述透镜4012与所述光电倍增管4011之间设有倍增管支架4013，所述光电倍增管4011设在所述倍增管支架4013的下方，所述透镜4012通过接受支架4014设在光电倍增管4011的上方，所述倍增管支架4013与所述接受支架4014上均设有光路孔；所述透镜4012在远离光电倍增管4011的一侧的上方设有滤光板4015；所述透镜4012通过透镜隔环一4016与所述接受支架4014相连接，滤光板4015设在透镜隔环一4016上，滤光板4015 的上方还设有滤光片压板4017，所述透镜4012为平凸透镜；所述光源检测部402 包括平透镜4021、光电二极管4022、发射端压块4023和光源固定块4024，所述发射端压块4023上设有透光孔，所述平透镜4021设在所述发射端压块4023 的透光孔上，通过透镜隔环4025进行固定，所述发射端压块4023与所述光源固定块4024相连接，所述光电二极管4022设在所述光源固定块4024上，所述光源检测部402通过光路固定块4026与测量室底板6相连接；所述平透镜4021 的数量为2个，2个所述平透镜4021之间设有滤光片4027，所述光源固定块4024 上设有圆形光源板4028，所述光电二极管4022的外侧设有封板4029；该用于全自动微流控免疫分析仪的测量室还包括芯片收集口7，所述芯片收集口7设在所述测量室底板6的下方，且所述芯片收集口7处设有
遮光滑板8；该用于全自动微流控免疫分析仪的测量室还包括测量勾手10和勾手移动组件9，所述勾手移动组件9驱动所述测量勾手10移动并将芯片拨动至芯片收集口7上方；所述测量勾手10的数量为2个，所述测量勾手设在所述芯片卡位远离固定仓侧板203 的一侧；所述芯片固定仓运动组件3包括固定仓直线电机301、固定仓电机丝杆 302、固定仓直线导轨303、固定仓滑块304和x轴支架305，所述芯片测量固定仓2与所述x轴支架305相连接且与所述固定仓滑块304相连接，所述固定仓滑块304与所述固定仓直线导轨303相连接，所述x轴支架305通过所述固定仓电机丝杆302与所述固定仓直线电机301相连接，从而所述固定仓直线电机 301驱动所述芯片测量固定仓2沿所述固定仓直线导轨303运动；所述x轴支架 305与固定仓侧板203相连接；固定仓直线电机301运动，带动固定仓电机丝杆 302运动，固定仓电机丝杆302带动x轴支架305运动，从而带动与x轴支架 305相连接的固定仓滑块304和芯片测量固定仓2沿固定仓直线导轨302运动，实现芯片的进入；所述勾手移动组件9包括勾手直线电机901、勾手电机丝杆902、勾手直线导轨903、勾手滑块904和侧板导向板905，所述侧板导向板905的一端通过勾手固定块1001与所述测量勾手10相连接，所述侧板导向板905的另一端分别与所述勾手滑块904和所述勾手电机丝杆902相连接，所述勾手滑块904 与所述勾手仓直线导轨903相连接，所述勾手电机丝杆902与所述勾手直线电机 901相连接，从而所述勾手直线电机901驱动所述测量勾手10运动；所述勾手固定块1001的一侧设有导向块906；所述勾手直线导轨903设在导轨固定板907 上，所述导轨固定板907上还设有光电传感器908，用于定位；勾手直线电机901 运动，带动勾手电机丝杆902运动，勾手电机丝杆902带动侧板导向板905运动，从而带动与侧板导向板905相连接的勾手滑块904和测量勾手10沿勾手直线导轨903运动，使测量勾手10拨动芯片运动至芯片收集口7的上方；所述外壳1 包括上层外壳102和下盖板103，所述上层外壳102设在所述测量室底板6的上方，所述下盖板103设在所述测量室底板6的下方，从而使测量室实现避光；所述测量室底板6的下方设有下罩固定支架104。
30.工作原理：芯片固定仓运动组件3驱动芯片测量固定仓2运动，芯片测量固定仓2向外伸出接收芯片的同时通过轴承204顶开遮光门5，待装载好芯片后芯片测量固定仓2通过芯片固定仓运动组件3带动回退到测量室内，遮光门5通过扭簧501、合页502自动关闭；芯片测量固定仓2继续运动将芯片运动到测试位置后，双光路检测组件4开始工作，芯片测量固定仓2的下方的光源发射部401 通过光电倍增管4011发射光源，通过透镜4012聚焦穿过透光区202，芯片上方的光源检测部402实施反馈光源强弱从而调节发射光源的强弱；测量完成后，芯片被测量勾手10运输到芯片收集口7的上方，悬空的芯片掉落到芯片收集口7 上，通过芯片收集口7的滑板滑落到垃圾桶中。
31.以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征及优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，例如芯片固定仓运动组件、双光路检测组件中透镜的数量、测量勾手的数量等做一些其它微略的调整，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。