粒子检测装置、信息处理装置、信息处理方法和粒子检测方法与流程

粒子检测装置、信息处理装置、信息处理方法和粒子检测方法
1.相关申请的交叉引用
2.本技术要求于2019年10月10日提交的日本优先权专利申请jp2019-186782号的权益，将其全部内容通过引用结合于此。
技术领域
3.本技术涉及粒子检测装置(particle detection apparatus)。更具体地，本技术涉及用于光学检测粒子的特性的信息处理装置、粒子检测装置、信息处理方法和粒子检测方法。


背景技术：

4.近年来，正在研发用于使如细胞或微生物的生物微粒、如微珠的微粒等在流动通路中流动，并且用于单独检测粒子等，或者在流动过程中分析或分选所检测的粒子等的技术，作为分析技术的改进的结果。
5.作为用于分析或分选粒子的这种技术的代表性实例，称为流式细胞术的分析技术在技术上迅速改进。流式细胞术是用于通过使待分析的粒子在流体中对齐的状态下流动并且使用激光束等照射粒子以检测已经从每个粒子发射的荧光或散射光来分析或分选粒子的分析技术。
6.例如，在检测到细胞的荧光的情况下，用具有适当波长和强度的激发光(如激光束)照射标记有荧光染料的细胞。然后，通过使用透镜等聚集从荧光染料发射的荧光，通过使用如滤波器或二向色镜的波长选择元件选择合适的波长范围的光，并且通过使用如光电倍增管(pmt)的光接收元件检测选择的光。此时，通过组合多个波长选择元件和多个光接收元件，来自已标记细胞的多种荧光染料的射线也可被同时检测和分析。此外，通过组合具有多个波长的激发光的射线，可分析的荧光染料的数量也可增加。
7.在流式细胞术中检测荧光的方法的实例，包括通过使用诸如滤波器的波长选择元件选择在不连续波长范围内的多条射线并检测每个波长范围内的光的强度的方法，以及用于检测作为荧光光谱的连续波长范围内的光的强度的方法。在能够检测荧光光谱的光谱型流式细胞术中，通过使用诸如棱镜或光栅的光谱元件对从粒子发射的荧光进行光谱分散。然后，通过使用通过配置在检测波长范围内不同的多个光接收元件而获得的光接收元件阵列来检测光谱分散的荧光。作为光接收元件阵列，使用pmt阵列或通过一维布置诸如pmt或光电二极管的光接收元件获得的光电二极管阵列，或通过布置诸如二维光接收元件(例如，ccd或cmos)的多个独立检测通道获得的阵列。
8.在通过流式细胞术等表示的粒子分析中，经常使用用于使用激光等的光照射待分析的粒子并且检测从粒子发射的荧光或散射光的光学技术。然后，通过使用用于分析的计算机和软件，基于检测到的光学数据来提取直方图，并且执行分析。
9.在粒子的光学分析中，在一些情况下，在用作待检查的实际目标的粒子的光学检测之前，为了验证光学检测的精度等、确认和标准化设备的操作等的目的，执行质量控制
(qc)。在该质量控制中，通常，使用具有彼此不同的荧光强度的标记有荧光染料的多个珠(例如，3峰珠、6峰珠、8峰珠等)、获得宽范围光谱的一种类型的珠(例如，对准检查珠或超彩虹荧光粒子)等。
10.作为用于在多个荧光染料之间的检测中执行荧光补偿的技术，例如，ptl1公开了一种技术，其中，通过研发程序，该程序用于从通过流式细胞仪获得的待测试的荧光标记细胞的二维相关图计算与待测试的荧光标记细胞相关的荧光组的质心值，并且通过使用荧光值和预定决定簇对与质心值对应的待测试的荧光标记细胞的荧光值执行校正计算，可在多个荧光染料之间或在通过使用多个激光束检测荧光中执行荧光补偿，并且甚至在完成用于检测待测试的细胞的处理之后，可在不重新处理样本的情况下执行荧光补偿。
11.引用列表
12.专利文献
13.ptl1：jp 2003-83894 a
14.ptl2：wo 2017/126170 a1。


技术实现要素：

15.[技术问题]
[0016]
诸如pmt的光学检测器在个体的基础上具有灵敏度的差异，并且即使使用相同的光学检测器，随着时间也产生灵敏度的差异。这种灵敏度差异的原因的实例是光学检测器的灵敏度的变化。在一些情况下，即使设置了相同的电压值，由于个体差异或时间流逝，灵敏度的变化也会改变几十倍或更多。这直接且主要地反映在设备的输出水平的差异中。因此，即使在设备之间执行相同的设置，或者即使在设备中执行与先前检测中的设置相同的设置，也会产生输出水平的差异。
[0017]
因而，例如在ptl 2中，通过使用与预定的输出脉冲的特征量对应的施加电压系数，能够高精度地校正来自被设定为相同施加电压系数的检测单元的输出的水平差。然而，该技术是用于共同改变所有检测器的施加电压系数的方法，并且存在进一步改进的要求。
[0018]
因此，期望本技术主要提供一种用于精确校正来自检测单元的输出水平之间的差异的技术，该检测单元被设置为在施加电压系数方面不同。
[0019]
[问题的解决方案]
[0020]
根据本技术，首先，提供了一种粒子检测装置，包括被配置为检测来自粒子的光的光学检测器，其中至少一个光学检测器具有不同于其他光学检测器的施加电压系数；以及
[0021]
处理器，包括处理设备和存储指令的存储器，所述指令在由所述处理设备执行时使所述处理器：根据多个光学检测器的施加电压系数与预定施加电压系数之间的差来校正从粒子获得的光学数据。
[0022]
根据本技术，接下来，提供了一种信息处理装置，包括：处理器，包括处理设备和存储指令的存储器，当通过处理设备执行指令时，指令使处理器：根据多个光学检测器的施加电压系数与预定施加电压系数之间的差，校正通过多个光学检测器从粒子检测的光的光学数据，其中，至少一个光学检测器具有不同于其他光学检测器的施加电压系数。
[0023]
根据本技术，进一步提供了一种信息处理方法，包括：根据多个光学检测器的施加电压系数与预定施加电压系数之间的差，校正由多个光学检测器从粒子检测的光的光学数
据，其中，至少一个光学检测器具有不同于其他光学检测器的施加电压系数。
[0024]
根据本技术，还提供了一种粒子检测方法，包括：检测来自粒子的光，其中至少一个光学检测器具有不同于其他光学液检测器的施加电压系数；根据多个光学检测器的施加电压系数和预定施加电压系数的差，校正从粒子获得的光学数据。
[0025]
在本技术中，假设“粒子”包括宽范围，包括如细胞的生物相关微粒、微生物或脂质体、合成粒子如胶乳粒子、凝胶粒子或工业粒子等。
[0026]
生物相关微粒包括构成各种细胞的染色体、脂质体、线粒体、细胞器等。细胞包括动物细胞(例如，血细胞等)和植物细胞。微生物包括诸如大肠杆菌的细菌、诸如烟草花叶病毒的病毒、诸如酵母的真菌等。此外，生物相关微粒还可以包括生物相关聚合物，如核酸、蛋白质、或核酸和蛋白质的复合物。此外，工业粒子可以是，例如，有机或无机聚合物材料、金属等。有机聚合物材料包括聚苯乙烯、苯乙烯-二乙烯苯共聚物、聚甲基丙烯酸甲酯等。无机聚合物材料包括玻璃、二氧化硅、磁性材料等。金属包括金胶体、铝等。这些粒子的形状总体上是球形的。然而，在本技术中，这些粒子的形状可以是非球面的，并且这些粒子中的每一个的尺寸、质量等不受具体限制。
附图说明
[0027]
[图1]图1是示意性地示出可以使用根据本技术的信息处理装置1的粒子检测装置2的第一实施方式的示意性概念图。
[0028]
[图2]图2是示意性地示出可以使用根据本技术的信息处理装置1的粒子检测系统3的第一实施方式的示意性概念图。
[0029]
[图3]图3是示意性地示出可以使用根据本技术的信息处理装置1的粒子检测装置2的第二实施方式的示意性概念图。
[0030]
[图4]图4是示意性地示出可以使用根据本技术的信息处理装置1的粒子检测系统3的第二实施例的示意性概念图。
[0031]
[图5]图5是替代示出了在假设垂直轴表示log hv并且水平轴表示st的情况下的线性关系的一个实例的示图的曲线图。
[0032]
[图6]图6是替代示出了在假设垂直轴表示log hv并且水平轴表示st的情况下的线性关系的一个实例的示图的曲线图。
[0033]
[图7]图7a是替代示出在所有检测器的施加电压系数(st值)被统一设置的情况下从粒子获得的光学数据水平的示图的曲线图，并且图7b是替代示出在针对激发光的每个波长设置施加电压系数(st值)的情况下从粒子获得的光学数据水平的示图的曲线图。
[0034]
[图8]图8a是表示在对波长1和波长2设定相同的施加电压系数(例如，st值：3)的情况下的从荧光参考粒子(单染色剂)获得的特征部分的示图的曲线图，以及图8b是表示对激发光的各波长设定施加电压系数(st值)的情况下的从荧光参考粒子(单染色剂)获得的特征部分的示图的曲线图。
[0035]
[图9]图9a是替代示出在对波长1和波长2设置相同的施加电压系数(例如，st值：3)的情况下从实际样本获得的光学数据水平的示图的曲线图，以及图9b是替代示出在对激发光的每个波长设置施加电压系数(st值)的情况下从实际样本获得的光学数据水平的示图的曲线图。
[0036]
[图10]图10a是替代示出在对各波长的情况下的所有pmt设定相同的施加电压系数(例如，st值：3)的情况下从荧光参考粒子(单染色剂)获得的特征部分的示图的曲线图，以及图10b是替代示出在波长1的情况下pmt 1和2的施加电压系数(st值)已经增加的情况下从荧光参考粒子(单染色剂)获得的特征部分的示图的曲线图。
[0037]
[图11]图11是示出对荧光参考粒子(单染色剂)数据执行的处理的流程的一个实例的流程图。
[0038]
[图12]图12是示出对实际样本数据执行的处理的流程的一个实例的流程图。
[0039]
[图13]图13是示出对实际样本数据执行的处理的流程的变形例的流程图。
[0040]
[图14]图14是替代示出门的设置的一个实例的示图的曲线图。
具体实施方式
[0041]
下面参考附图描述本技术的优选实施方式。以下描述的实施方式指示本技术的代表性实施方式的实例，并且不应被解释为对本技术的范围的限制。注意，将按照以下描述的顺序进行描述。
[0042]
1.信息处理装置1、粒子检测装置2和粒子检测系统3
[0043]
(1)流动通路p
[0044]
(2)光照射单元21
[0045]
(3)光学检测单元22
[0046]
(4)信息处理装置1(信息处理单元11)
[0047]
(4-1)校正单元111
[0048]
(4-2)设置单元12(112)
[0049]
(4-3)荧光分离处理单元13(113)
[0050]
(4-4)存储器14(114)
[0051]
(4-5)显示单元15(115)
[0052]
(4-6)用户接口16(116)
[0053]
(5)分选单元23
[0054]
2.信息处理方法及粒子检测方法
[0055]
3.计算机程序
[0056]
《1.信息处理装置1、粒子检测装置2以及粒子检测系统3》
[0057]
根据本技术的信息处理装置1是在检测从流动通路p中流动的样本液体中的粒子发出的荧光时处理检测的光学数据的装置，并且至少包括校正单元111。此外，根据需要，可以包括设置单元12、荧光分离处理单元13、存储器14、显示单元15、用户接口16等。
[0058]
图1是示意性地示出可以使用根据本技术的信息处理装置1的粒子检测装置2的第一实施方式的示意性概念图。图2是示意性地示出可以使用根据本技术的信息处理装置1的粒子检测系统3的第一实施方式的示意性概念图。图3是示意性地示出可以使用根据本技术的信息处理装置1的粒子检测装置2的第二实施方式的示意性概念图。图4是示意性地示出可以使用根据本技术的信息处理装置1的粒子检测系统3的第二实施例的示意性概念图。根据本技术的粒子检测装置2和粒子检测系统至少包括光学检测单元22和信息处理单元11，并且信息处理单元11至少包括校正单元111。此外，根据需要，可以包括流动通路p、光照射
单元21、设置单元112、荧光分离处理单元113、存储器114、显示单元115、用户接口116、分选单元23等。
[0059]
要注意的是，校正单元111、设置单元12(112)、荧光分离处理单元13(113)、存储器14(114)、显示单元15(115)、用户接口16(116)等可设置在信息处理单元11内，如根据在图1中的第一实施方式的粒子检测装置2所示。可替换地，如图2所示，粒子检测系统3可以包括信息处理装置1和粒子检测装置2，信息处理装置1包括校正单元111、设置单元12、荧光分离处理单元13、存储器14、显示单元15和用户接口16。此外，如根据图3中的第二实施方式的粒子检测装置2所示，可以彼此独立地设置信息处理单元11、设置单元12、荧光分离处理单元13、存储器14、显示单元15和用户接口16。可替换地，如图4所示，在粒子检测系统3中，彼此独立的信息处理单元11、设置单元12、荧光分离处理单元13、存储器14、显示单元15和用户接口16可经由网络与粒子检测装置2的光学检测单元22连接。
[0060]
此外，信息处理单元11(校正单元111)、设置单元12(112)、荧光分离处理单元13(113)、存储器14(114)和显示单元15(115)可以设置在云环境中，并且可以经由网络与粒子检测装置2连接。更优选地，校正单元111和设置单元12(112)可以设置在信息处理单元11中，并且荧光分离处理单元13(113)、存储器14(114)和显示单元15(115)可以设置在云环境中，并且可以经由网络与粒子检测装置2连接。在这种情况下，由校正单元111执行的校正处理的记录、设置单元12(112)的设置条件的记录、由荧光分离处理单元13(113)执行的荧光分离处理的记录等可存储在存储器14(114)中，并且存储在存储器14(114)中的各种类型的信息可由多个用户共享。
[0061]
下面沿着检测的时间序列描述各个单元的细节。
[0062]
(1)流动通路p
[0063]
根据本技术的粒子检测装置2可通过检测从流动池(流动通路p)中已排列成一行的粒子获得的光学数据来分析或分选粒子。
[0064]
流动通路p可以预先设置在粒子检测装置2中，或者可以将市售的流动通路p、设置有流动通路p的一次性使用的芯片等设置在粒子检测装置2中以执行分析或分选。
[0065]
流动通路p的形式没有具体限制，并且可以自由设计。例如，不仅如图1、图2、和图4所示，在塑料、玻璃等的二维或三维基板t中形成的流动通路p，而且如图3所示，在现有技术的流式细胞仪中使用的流动通路p可以用于粒子检测装置2中。
[0066]
此外，如果流动通路p具有能够形成层流的形式并且可以自由设计，则流动通路p的流路宽度、流路深度和流路截面形状不受具体限制。例如，具有1mm或更小的流路宽度的微通道也可以用于粒子检测装置2中。具体地，具有范围从约10μm至约1mm(含)的流路宽度的微通道可以适当地用于本技术中。
[0067]
用于供给粒子的方法没有具体限制，并且可根据待使用的流动通路p的形式使粒子在流动通路p中流动。例如，描述了形成在图1、图2、和图4中示出的基板t中的流动通路p的情况。将包含粒子的样本液体引入样本液体流动通路p11中，并且将鞘液引入两个鞘液流动通路p12a和p12b中的每个中。样本液体流动通路p11和鞘液流动通路p12a和p12b彼此接合以形成主流动通路p13。供给到样本液体流动通路p11中的样本液体层流和供给到鞘液流动通路p12a和p12b中的鞘液层流在主流动通路p13中彼此连接，并且可以形成样本液体层流夹在鞘液层流之间的鞘流。
[0068]
被致使流过流动通路p的粒子可用一种或两种以上类型的染料(诸如荧光染料)标记。在这种情况下，可用于本技术的荧光染料的实例包括级联蓝(cascade blue)、太平洋蓝、异硫氰酸荧光素(fitc)、藻红蛋白(pe)、碘化丙啶(pi)、德克萨斯红(tr)、哌啶素叶绿素蛋白(percp)、别藻蓝蛋白(apc)、4’，6-二脒基-2-苯基吲哚(dapi)、cy3、cy5、cy7、亮紫(bv421)等。
[0069]
(2)光照射单元21
[0070]
根据本技术的粒子检测装置2和粒子检测系统3可以包括光照射单元21。光照射单元21用光照射流过流动通路p的粒子。可以从根据本技术的粒子检测装置2中省略光照射单元21，并且可以通过使用外部光照射设备等用光照射流过流动通路p的粒子。
[0071]
光照射单元21可包括多个光源，以能够用具有彼此不同的波长的激发光的射线照射。
[0072]
从光照射单元21发射的光的类型没有具体限制；然而，为了可靠地从粒子产生荧光或散射光，期望光方向、波长和光强度恒定的光。实例包括激光器、led等。在使用激光器的情况下，激光器的类型不受具体限制。然而，氩离子(ar)激光器、氦氖(he-ne)激光器、染料激光器、氪(cr)激光器、半导体激光器、通过组合半导体激光器和波长转换光学元件而获得的固态激光器等中的一种或两种以上类型的激光器可被自由组合并且可被使用。
[0073]
(3)光学检测单元22
[0074]
光学检测单元22光学地检测在流动通路p中流动的粒子。在本技术中，光学检测单元22包括多个光学检测器。此外，光学检测单元可以包括用于将由多个光学检测器获得的电信号转换成数字信号的信号处理单元。通过信号处理单元的转换获得的数字信号可被传输至信息处理单元。信号数据可以作为光学数据在信息处理单元中进行。光学数据可以包括荧光数据。更具体地，光学数据可以是包括荧光强度数据(前，高度、面积、宽度)光强度数据。可以针对多个光学检测器设置彼此不同的施加电压系数(在下文中，也称为“st值”)。在此，施加电压系数(st值)是根据施加至光学检测器的电压和来自光学检测器的光学数据的特征量计算的值。例如，基于从光学检测器获得的特征量(诸如高度中值)和hv之间的对应关系使用log高压(hv)和log高度中值作为轴进行绘图，如图5和图6所示，并获得线性函数。此时，log高度中值可以定义为施加电压系数(st值)。应注意，光学数据(前，高度、面积、宽度)来代替特征量。
[0075]
多个光学检测器可分别接收由于具有彼此不同的波长的激发光的射线照射而从粒子发射的光的射线。此外，多个光学检测器能够接收由于具有相同波长的激发光的照射而从粒子发射的光。
[0076]
在本技术中，如果光学检测器可以检测来自粒子的光信号，则可以用于光学检测单元22中的光学检测器的具体光学检测方法没有具体限制，并且可以自由选择和采用在公知的光学检测器中使用的光学检测方法。例如，可以采用在荧光检测仪器、散射光检测仪器、透射光检测仪器、反射光检测仪器、衍射光检测仪器、紫外光谱仪、红外光谱仪、拉曼光谱仪、fret检测仪器、fish检测仪器、各种其他光谱检测仪器、通过一维布置诸如pmt或光电二极管的光接收元件获得的pmt阵列或光电二极管阵列、多个布置的独立检测通道诸如ccd、cmos等的二维光接收元件等中使用的光学检测方法中的一种光学检测方法或两种以上光学检测方法的自由组合。
[0077]
此外，在可以检测到来自粒子的光信号的情况下，在根据本技术的粒子检测装置2中设置光学检测单元22的位置不受具体限制，并且可以自由设计。例如，如图1至图4所示，优选的是，光学检测单元22布置在与光照射单元21的一侧不同的侧上，其中流动通路p介于光学检测单元22与光照射单元21之间。这是因为通过将光学检测单元22布置在与光照射单元21的一侧不同的侧上，使得流动通路p介于光学检测单元22与光照射单元21之间，光照射单元21和光学检测单元22可布置成具有较高自由度的构造。此外，例如，荧光也在与照射光的入射方向不同的方向上发射，因此，光学检测单元22可相对于流动通路p布置在与光照射单元21的一侧相同的一侧上，或者布置在光学检测单元22和光照射单元21形成90度的角度的一侧上。
[0078]
(4)信息处理装置1(信息处理单元11)
[0079]
在本技术中，信息处理装置1(信息处理单元11)对来自荧光的光学数据执行信息处理，该荧光已经通过光学检测单元22从粒子检测。下面描述信息处理方法的细节。
[0080]
(4-1)校正单元111
[0081]
校正单元111进行校正以使来自荧光的光学数据与在相同的施加电压系数下检测的输出水平匹配，其中，荧光由多个光学检测器从粒子检测，多个光学检测器被设置为在施加电压系数方面不同。
[0082]
例如，在所有检测器的施加电压系数(st值)被统一设置的情况下，如在现有技术中，在优先给予亮染料的状态下控制要施加的电压以避免饱和。在这种情况下，如图7a所示，在暗染料(在图7a中，波长2)的情况下的水平为低，并且因此在一些情况下s/n值降低。相反，如图7b所示，通过采用本技术并增加要在检测由于具有波长2的激发光的照射而从粒子发射的光的光学检测器中设置的施加电压系数(st值)，在波长2的情况下的水平可增加。如上所述，通过提高低染色水平的区域的施加电压系数(st值)来进行检测，能够在全部区域中生成s/n比良好的状态。
[0083]
要注意的是，在图7b中，为激发光的每个波长设置施加电压系数(st值)。但是，在由多个光学检测器接收以相同波长的照射激发光而从粒子发出的光的情况下，如后所述，能够对每个光学检测器设定施加电压系数(st值)。
[0084]
接下来，执行重新计算以使得如上所述检测到的光学数据与在相同施加电压系数(st值)处检测到的输出水平匹配。在这种情况下，优选地，执行校正以匹配在最小施加电压系数下检测的输出水平。在从每个状态重新计算水平的情况下，由于归一化已经计算施加电压系数(st值)与输出水平之间的相关性，并且因此可以使用相关性。
[0085]
根据本技术的这种校正方法可以用于检测发射具有预定波长带宽的荧光的荧光参考粒子，并且还可以用于检测待分析的粒子。
[0086]
如上所述，通过采用本技术，即使在检测到发射具有预定波长带宽的荧光的荧光参考粒子或待分析的粒子之前已经改变施加电压系数(st值)的情况下，也不需要再次执行检测，并且可以执行稍后描述的荧光分离处理(解混)。此外，对于稍后描述的补偿，类似地，不需要再次执行校正。此外，在连续波长范围内的光的强度被检测为荧光光谱的情况下，存在无需手动控制所施加电压的优点。
[0087]
下面参考使用彼此不同的两条激发光射线执行流式细胞术的实例来描述更具体的方法。
[0088]
(a)多个光学检测器被设置为在每个激发光的施加电压系数方面不同的情况
[0089]
(a-1)荧光参考粒子(单染色剂)的检测
[0090]
例如，如图8a所示，在针对波长1和波长2设置了相同的施加电压系数(例如，st值：3)的情况下，并且在波长1的情况下的特征部分的水平较低的情况下，如果增大波长1的施加电压系数(st值)(例如，st值：5)，则如图8b所示，在波长1的情况下的特征部分的水平增大，s/n比提高，并且能够使特征部分变得明显。这改善了荧光参考粒子(单染色剂)的分离性能。
[0091]
接下来，进行校正以匹配与相同的施加电压系数(相同的st值)(例如，最低的st值)对应的水平，并且计算荧光参考粒子(单染色剂)的相对光谱形状。在图8a和图8b的实例中，波长1的数据被计算为对应于3的st值，并且荧光参考粒子(单染色剂)的连续光谱形状被计算。
[0092]
(a-2)待分析的粒子的检测(实际样本)
[0093]
例如，如图9a所示，在针对波长1和波长2设置了相同的施加电压系数(例如，st值：3)的情况下，并且在波长1的情况下的水平较低的情况下，针对波长1的施加电压系数(st值)增加(例如，st值：5)，并且在该状态下检测实际样本(参见图9b)。
[0094]
接下来，执行校正以匹配与相同的施加电压系数(相同的st值)(例如，最低st值)对应的水平，并且计算实际样本的光谱。在图9a和图9b的实例中，波长1的数据被计算为对应于3的st值，并且实际样本的光谱被计算。
[0095]
(a-3)荧光分离处理(解混)
[0096]
通过使用在上述(a-1)中获得的荧光参考粒子(单染色剂)的光谱形状，对在上述(a-2)中获得的实际样本的光谱执行荧光分离处理(解混)。
[0097]
在荧光分离处理(解混)之后，可以重新计算在波长1的情况下的水平，以对应于5的st值，并且可以显示结果。
[0098]
(b)为每个光学检测器设置施加电压系数(st值)的情况
[0099]
在上述(a)中，对激发光的各波长设置施加电压系数(st值)。但是，在通过多个光学检测器从粒子接收由于以相同波长照射激发光而发出的光的情况下，能够对多个光学检测器分别设置施加电压系数(st值)。例如，通过使用为每个pmt改变施加电压系数(st值)的情况提供以下描述。
[0100]
(b-1)荧光参考粒子(单染色剂)的检测
[0101]
例如，如图10a所示，在各个波长的情况下针对所有的pmt设定了相同的施加电压系数(例如，st值：3)的情况下，在波长1的情况下pmt 1和2的特征部分的水平较低的情况下，如果增大在波长1的情况下pmt 1和2的施加电压系数(st值)(例如，st值：5)，则如图10b所示，在波长1的情况下特征部分的水平增大，s/n比提高，并且能够使特征部分变得明显。这改善了荧光参考粒子(单染色剂)的分离性能。
[0102]
接下来，进行校正以匹配与相同的施加电压系数(相同的st值)(例如，最低的st值)对应的水平，并且计算荧光参考粒子(单染色剂)的相对光谱形状。在图10a和图10b的实例中，在波长1的情况下pmt 1和2的数据被计算为对应于3的st值，并且计算荧光参考粒子(单染色剂)的连续光谱形状。
[0103]
(b-2)待分析的粒子的检测(实际样本)
[0104]
类似于上述(a-1)与上述(a-2)之间的关系，在波长1的情况下pmt1和2的施加电压系数(st值)增加(例如，st值：5)，并且在该状态下检测实际样本。
[0105]
接下来，执行校正以匹配与相同的施加电压系数(相同的st值)(例如，最低st值)对应的水平，并且计算实际样本的光谱。在图10a和图10b的实例中，在波长1的情况下pmt 1和2的数据被计算为对应于3的st值，并且计算实际样本的光谱。
[0106]
(b-3)荧光分离处理(解混)
[0107]
通过使用在上述(b-1)中获得的荧光参考粒子(单染色剂)的光谱形状，对在上述实际样本的(b-2)中获得的光谱进行荧光分离处理(解混)。
[0108]
在荧光分离处理(解混)之后，可以重新计算在波长1的情况下的水平以对应于为5的st值，并且可以显示结果。
[0109]
总结以上描述，并且对荧光参考粒子(单染色剂)数据执行的处理的流程和对实际样本数据执行的处理的流程在图11和图12中示出。要注意的是，在对实际样本数据执行的处理中，还可使用与对实际样本数据执行的处理的流程的上述实例不同的变形(见图13)。
[0110]
(对荧光参考粒子(单染色剂)数据进行的处理的流程(参见图11))
[0111]
首先，针对激发光的每个波长或针对每个光学检测器设置施加电压系数(st值)，并且检测来自荧光参考粒子(单染色剂)的荧光(s1)。
[0112]
接下来，校正获得的数据以匹配与相同的施加电压系数(相同的st值)(例如，最低st值)对应的水平，并且执行重新计算(s2)。
[0113]
将重新计算中获得的荧光参考粒子(单染色剂)的连续光谱形状存储为荧光参考粒子(单染色剂)的光谱形状(s3)。
[0114]
(对实际样本数据执行的处理的流程(见图12))
[0115]
首先，针对激发光的每个波长或针对每个光学检测器设置施加电压系数(st值)，并且检测来自实际样本的荧光(s4)。
[0116]
接下来，校正获得的数据以匹配与相同的施加电压系数(相同的st值)(例如，最低st值)对应的水平，并且执行重新计算(s5)。
[0117]
通过使用存储在上述s3中的荧光参考粒子(单染色剂)的光谱形状，对在实际样本的重新计算中获得的光谱执行荧光分离处理(解混)(s6)。
[0118]
在荧光分离处理(解混)之后，再次对实际样本的光谱数据进行重新计算，以对应于已经在上述s4中设置的施加电压系数(st值)(s7)。
[0119]
显示实际样本的重新计算的光谱数据的结果(s8)。
[0120]
(对实际样本数据执行的处理的流程的变型(见图13))
[0121]
首先，针对激发光的每个波长或针对每个光学检测器设置施加电压系数(st值)，并且检测来自实际样本的荧光(s4)。
[0122]
接下来，对上述s3中存储的荧光参考粒子(单染色剂)的光谱形状进行重新计算，以与在上述s4中设置的施加电压系数(st值)相对应(s9)。此时，在s4中设置的施加电压系数(st值)的设定根据激发光的各波长或根据各光学检测器而变化的情况下，通过使用与最低施加电压系数(最低st值)的差来校正上述s3中存储的荧光参考粒子(单染色剂)的数据，因此重新计算光谱形状。通过使用该方法，即使在没有存储荧光参考粒子(单染色剂)的施加电压系数(st值)的情况下，也可以校正荧光参考粒子(单染色剂)以对应于实际的样本数
据。在荧光参考粒子(单染色剂)的施加电压系数(st值)已经存储在存储器中的情况下，对上述s3中存储的荧光参考粒子(单染色剂)的光谱形状进行重新计算，以与在上述s4中设置的施加电压系数(st值)相对应。
[0123]
通过使用在上述s9中重新计算的荧光参考粒子(单染色剂)的光谱形状，对在实际样本的s4中获得的光谱进行荧光分离处理(解混)(s10)。
[0124]
显示在荧光分离处理(解混)之后实际样本的光谱数据的结果(s11)。
[0125]
如本变形例所示，通过使用由被设置为在施加电压系数方面不同的多个光学检测器从实际样本获得的光学数据、和通过对通过校正从荧光参考粒子(单染色剂)获得的光学数据而获得的值进行重新计算以匹配在相同的施加电压系数下检测的输出水平，以匹配在从实际样本发射的荧光的检测中被设定为不同的施加电压系数处检测的输出水平而获得的值，进行荧光分离处理。这使得能够显示结果，而不执行在荧光分离处理(解混)之后对实际样本的光谱数据再次执行重新计算的处理，以对应于已经在上述s4中设置的施加电压系数(st值)(s7的处理)。
[0126]
(4-2)设置单元12(112)
[0127]
根据本技术的信息处理装置1、粒子检测装置2和粒子检测系统3可以包括设置单元12(112)。设置单元12(112)根据光学检测单元22中的光学检测器的输出水平设置施加电压值(st值)。在本技术中，可以省略该设置单元12(112)，并且用户可以手动设置所施加的电压系数(st值)。然而，通过提供设置单元12(112)，可以根据光学检测器的输出水平自动设置施加电压系数(st值)。
[0128]
(4-3)荧光分离处理单元13(113)
[0129]
根据本技术的信息处理装置1、粒子检测装置2和粒子检测系统3可以包括荧光分离处理单元13(113)。荧光分离处理单元13(113)通过使用通过校正从荧光参考粒子(单染色剂)获得的光学数据以与在相同的施加电压系数处检测的输出水平匹配而获得的值和通过校正从待分析的粒子(实际样本)获得的光学数据以与在相同的施加电压系数下检测的输出水平匹配而获得的值，执行荧光分离处理(解混)(参见上面描述的[对实际样本数据执行的处理的流程(参见图12)])。
[0130]
此外，荧光分离处理单元13(113)通过使用已经由多个光学检测器从待分析的粒子(实际样本)获得的光学数据和通过对通过校正从荧光参考粒子(单染色剂)获得的光学数据以匹配在从待分析的粒子(实际样本)发射的荧光的检测中已经被设置为不同的施加电压系数下检测的输出水平而获得的值而执行重新计算获得的值，来执行荧光分离处理(解混)，该多个光学检测器被设置为在施加电压系数方面不同(参见[对实际样本数据执行的处理的流程的变形(参见图13)])。
[0131]
应注意，在本技术中，可以省略荧光分离处理单元13(113)，并且可以通过使用外部信息处理装置等执行荧光分离处理(解混)。
[0132]
(4-4)存储器14(114)
[0133]
根据本技术的信息处理装置1、粒子检测装置2和粒子检测系统3可以包括存储各种类型的数据的存储器14(114)。存储器14(114)可以存储与检测有关的任何事项，诸如与光学检测单元22已经检测的粒子有关的光学数据、校正单元111执行的校正处理的记录、设置单元12(112)中的设置条件的记录、或者荧光分离处理单元13(113)执行的荧光分离处理
(解混)的记录。
[0134]
此外，如上所述，在本技术中，存储器14(114)可被设置在云环境中，并且因此各个用户可经由网络共享已被记录在云上的存储器14(114)中的各种类型的信息。
[0135]
具体地，在本技术中获得的归一化数据存储在云上的存储器14(114)中，并且由拥有彼此不同的设备的用户共享。这使得能够重新使用数据，并且这可有助于可用性的改进。
[0136]
更具体地，例如，在荧光参考粒子(单染色剂)的归一化之后的波形数据(光谱参考数据)被记录在云上的存储器14(114)中，使得用户可以共享波形数据。这使得每个用户能够从云上的存储器14(114)选择将在实验中使用的荧光的光谱参考数据，并且在光谱参考数据和每个设备的实验数据之间执行荧光分离处理。利用这种配置，每个用户不需要每次检测荧光参考粒子(单染色剂)。
[0137]
此外，归一化之前的光谱参考数据与施加电压系数(st值)一起可预先记录在云上的存储器14(114)中，并且在荧光分离处理之前，可执行用于对与在每个装置中获得的实验数据对应的施加电压系数(st值)进行校正的处理。
[0138]
应注意，在本技术中，可以省略存储器14(114)，并且可以通过使用外部存储设备等存储各种类型的数据。
[0139]
(4-5)显示单元15(115)
[0140]
根据本技术的信息处理装置1、粒子检测装置2和粒子检测系统3可以包括显示各种类型的信息的显示单元15(115)。显示单元15(115)可以显示与检测有关的任何事项，诸如与光学检测单元22已检测的粒子有关的光学数据、校正单元111已校正的各种类型的数据、或荧光分离处理单元13(113)执行的荧光分离处理(解混)的结果。
[0141]
在本技术中，可以省略显示单元15(115)，并且可以连接外部显示装置。例如，可以使用显示器、打印机等作为显示单元15(115)。
[0142]
(4-6)用户接口16(116)
[0143]
根据本技术的信息处理装置1、粒子检测装置2和粒子检测系统3可以进一步包括用户接口16(116)，该用户接口用作由用户用来执行操作的部分。用户可以经由用户接口16(116)访问各个单元，并且可以控制各个单元。
[0144]
在本技术中，可省略用户接口16(116)，并且可连接外部操作装置。例如，可以使用鼠标、键盘等作为用户接口16(116)。
[0145]
(5)分选单元23
[0146]
根据本技术的信息处理装置1、粒子检测装置2和粒子检测系统3可以包括分选单元23。分选单元23基于由光学检测单元22检测的光学数据来分选粒子。例如，分选单元23可基于已经从光学数据中分析的粒子的尺寸、形式、内部结构等的分析结果，分选流动通路p的下游侧上的粒子。下面描述根据每个实施方式的分类方法。
[0147]
例如，在图2和图3所示的实施方式中，通过使用例如以预定频率振动的振动元件23a对主流动通路p13的全部或部分施加振动，这使得从主流动通路p13的排出口产生液滴。注意，在这种情况下，所使用的振动元件23a不受具体限制，并且可以自由选择和使用公知的振动元件。实例包括压电振动元件等。此外，通过调节供给到样本液体流动通路p11、鞘液流动通路p12a和p12b以及主流动通路p13的液体的量、排出口的直径、振动元件的频率等，可以调节液滴的尺寸，并且可以产生各自包括固定数量的粒子的液滴。
[0148]
接下来，基于根据由光学检测单元22检测的光学数据而分析的粒子的尺寸、形式、内部结构等，施加正电荷或负电荷(见图2和图3中的参考标记23b)。然后，带电荷液滴的路线通过施加电压的对电极23c沿期望方向改变，并且对带电荷液滴进行分类。
[0149]
此外，例如，在图4所示的实施方式中，分选流动通路p14和处置流动通路p15a和p15b的三个分支流动通路设置在形成在基板t上的主流动通路p13的下游侧。已经被确定为满足预定光学特性并且用作分选目标的粒子被带入分选流动通路p14中，并且被确定为不满足预定光学特性并且不用作分选目标的粒子被使得流入两个处置流动通路p15a和p15b中的任一个中而不被带入分选流动通路p14中。这使得能够进行分类。
[0150]
通过使用公知的方法，可以将用作分选目标的粒子带入分选流动通路p14中。例如，通过使振动元件23a(诸如压电元件)在分选流动通路p14中产生负压并且通过使用该负压将包括用作分选目标的粒子或鞘液的样本液吸入到分选流动通路p14中，用作分选目标的粒子可被吸入到分选流动通路p14中。此外，尽管未示出，通过使用阀电磁力、流体流(气体或液体)等在层流方向上进行控制或改变，用作分选目标的粒子可被带入分选流动通路p14中。
[0151]
在图4所示的实施方式中，样本液体存储部b1、鞘液存储部b2、分选液体存储部b3和废液存储部b4a和b4b分别可连通地连接至样本液体流动通路p11、鞘液流动通路p12a和p12b、分选流动通路p14和处置流动通路p15a和p15b，因此能够形成完全封闭型分选设备。例如，在用作分选目标的粒子是例如用于细胞制备的细胞等的情况下，为了保持无菌环境并防止污染，优选设计完全封闭型设备(与外部环境隔离)，如图4的实施方式所示。
[0152]
以上已经描述的根据本技术的信息处理装置1、粒子检测装置2和粒子检测系统3可应用于以下描述的自动水平调节、补偿、门的设置等。
[0153]
(自动水平调整)
[0154]
所获得的数据的光学数据由于光学检测器的高压(hv)而发生变化。在现有技术中，已经根据用户的感觉手动地设置光学数据水平以匹配目标值，并且已经准备了用于该目的的样本。相反，在归一化状态下，可以基于已经设置的施加电压系数(st值)和获得的光学数据水平计算引起饱和的施加电压系数(st值)。这允许通过使用已经检测到一次的数据将施加电压系数(st值)调整到目标水平，并且可以进行设置以获得期望的光学数据水平。在图14中示出了自动水平调整的流程。
[0155]
如图14所示，首先，为激发光的每个波长设置施加电压系数(st值)，然后检测来自粒子的荧光。
[0156]
接着，在指定的数据中，获得各波长处的最大值。在这种情况下，指定数据指的是门中的多个样本的数据。
[0157]
然后，以使得每个波长处的最大值与目标值(例如，饱和度的一半)匹配的方式重置施加电压系数(st值)。
[0158]
应注意，图14示出了针对激发光的每个波长设置施加电压系数(st值)的情况，但是在针对每个光学检测器设置施加电压系数(st值)的情况下，可以针对每个光学检测器设置施加电压系数(st值)以获得目标值。
[0159]
(补偿应用)
[0160]
在设置光学检测器的高压(hv)之后，基于染料的溢出量的比率设置补偿。因此，如
果光学检测器的高压(hv)改变，则要求再次设置补偿。然而，通过改变归一化的施加电压系数(st值)，还可以计算光学数据水平的变化量，因此可以自动执行再补偿。
[0161]
例如，在已经执行一次补偿之后改变光学检测器的施加电压系数(st值)的情况下，可以基于施加电压系数(st值)再次重新计算补偿。
[0162]
作为具体实例，例如，以这样的方式确定补偿系数：pmt 1的施加电压系数(st值)是3并且pmt 2的施加电压系数(st值)是3，如下面描述的表1中所描述的。
[0163]
[表1]
[0164][0165]
此后，例如，为了改善s/n比，假设pmt 2的施加电压系数(st值)已经变成4。
[0166]
在现有技术中，已经再次设置了补偿。然而，已知由施加电压系数(st值)的变化引起的光学数据水平的变化量(在以st值4的光学数据水平是st值3的光学数据水平的十倍的方式进行设置的情况下)，因此，可以通过执行计算使得fitc-pmt2_pe_st4＝7*10＝70获得补偿系数(参见表2)。
[0167]
此外，在pe-pmt1_fitc中，实际上，pe-pmt2_pe_st4的水平大十倍，但是pe-pmt1_fitc_st3的水平相对降低。因此，通过执行计算可以获得补偿系数，使得pe_pmt1＝30/10＝3(参见表2)。
[0168]
[表2]
[0169][0170]
(设置门的情况)
[0171]
如果针对激发光的每个波长改变施加电压系数(st值)，则改变光学数据水平。因此，再次计算在初始实验中设定的门。因此，由于水平的变化而再次限定门(gate)。例如，在图14的实例中，在pmt1_fitc_st3/pmt2_pe_st3中，两个轴上的水平是pmt1_fitc_st4/pmt2_pe_st4中的水平的1/10。如上所述，这允许通过乘以1/10来重置门。
[0172]
如上所述，通过采用本技术，在用于单独设置要施加至每个光学检测器的电压并且检测每个波长范围内的光的强度的方法的情况下，即使在改变要施加的电压的设置的情况下，也可以防止输出水平偏离门。
[0173]
《2.信息处理方法和粒子检测方法》
[0174]
根据本技术的信息处理方法是用于在检测从流动通路p中流动的样本液体中的粒子发出的荧光时处理检测的光学数据的方法，并且至少执行校正处理。此外，根据需要，可以进行设置处理、荧光分离处理、存储处理、显示处理等。在根据本技术的粒子检测方法中，至少执行光学检测处理和信息处理过程，并且在信息处理过程中，至少执行校正处理。此外，可以根据需要进行光照射处理、设置处理、荧光分离处理、存储处理、显示处理、分选处
理等。应注意，各个处理与上面已经描述的根据本技术的信息处理装置1、粒子检测装置2和粒子检测系统3的各个单元所执行的处理相同，因此，此处省略对各个处理的细节描述。
[0175]
《3.计算机程序》
[0176]
根据本技术的计算机程序是在从流动通路p中流动的样本液体中的粒子发出的荧光的检测中对所检测的光学数据执行的处理中所使用的程序，并且是使计算机具有校正功能的程序，该校正功能对已经被设置为在施加电压系数方面不同的多个光学检测器从粒子中检测的荧光的光学数据进行校正，以与在相同的施加电压系数处检测的输出水平匹配。
[0177]
根据本技术的计算机程序记录在适当的记录介质中。此外，根据本技术的计算机程序可存储在云环境等中，并且用户可经由网络在个人计算机等中下载计算机程序，并且可使用该计算机程序。应注意，根据本技术的计算机程序中的校正功能与上面已描述的信息处理装置1、粒子检测装置2和粒子检测系统3的校正单元111的校正功能相同，因此这里省略其描述。
[0178]
应注意，本技术还可采用以下描述的配置。
[0179]
(1)一种信息处理装置，包括：
[0180]
校正单元，对已通过多个光学检测器从粒子检测的荧光的光学数据执行校正，以与在相同的施加电压系数处检测的输出水平匹配，所述多个光学检测器被设定为在施加电压系数方面不同。
[0181]
(2)
[0182]
根据(1)的信息处理装置，
[0183]
其中，根据施加至所述多个光学检测器中的每个的电压和来自所述多个光学检测器中的每个的光学数据的特征量，计算所述施加电压系数。
[0184]
(3)
[0185]
根据(1)至(2)中任一项的信息处理装置，
[0186]
其中，校正单元对光学数据执行校正以与在最小施加电压系数处检测的输出水平匹配。
[0187]
(4)
[0188]
根据(1)至(3)中任一项的信息处理装置，进一步包括：
[0189]
设置单元，根据所述多个光学检测器中每一个的输出水平设置施加电压系数。
[0190]
(5)
[0191]
根据(1)至(4)中任一项的信息处理装置，
[0192]
其中，粒子包括发射具有预定波长带宽的荧光的荧光参考粒子。
[0193]
(6)
[0194]
根据(5)的信息处理装置，
[0195]
其中，粒子是待分析的粒子。
[0196]
(7)
[0197]
根据(6)的信息处理装置，进一步包括：
[0198]
荧光分离处理单元，通过使用以下内容执行荧光分离处理：
[0199]
通过对从所述荧光参考粒子获得的光学数据执行所述校正而获得的值，以及
[0200]
通过对从所述待分析的粒子获得的光学数据执行所述校正而获得的值。
[0201]
(8)
[0202]
根据(5)的信息处理装置，进一步包括：
[0203]
荧光分离处理单元，通过使用以下内容执行荧光分离处理：
[0204]
从被设置为在施加电压系数方面不同的多个光学检测器分析的粒子中获得的光学数据，以及
[0205]
通过重新计算通过对从该荧光参考粒子获得的光学数据执行校正而获得的值以与在施加电压系数处检测到的输出水平相匹配而获得的值，这些施加电压系数已被设置为在从由待分析的粒子发出的荧光的检测中不同。
[0206]
(9)
[0207]
一种粒子检测装置，包括：
[0208]
光学检测单元，包括检测从粒子发出的荧光的多个光学检测器；以及
[0209]
信息处理单元，处理从所述光学检测单元获得的光学数据，
[0210]
其中，信息处理单元包括：
[0211]
校正单元，对上述多个光学检测器检测的光学数据执行校正，以与在相同的施加电压系数下检测的输出水平匹配，多个光学检测器在施加电压系数方面不同。
[0212]
(10)
[0213]
根据(9)的粒子检测装置，
[0214]
其中，所述多个光学检测器分别接收由于具有彼此不同的波长的激发光的射线照射而从所述粒子发射的光的射线。
[0215]
(11)
[0216]
根据(9)或(10)的粒子检测装置，
[0217]
其中，校正单元对由多个光学检测器检测出的光学数据执行所述校正，以使在相同的施加电压系数下检测的输出水平匹配，其中，所述多个光学检测器针对具有彼此不同的波长的各激发光射线被设置为所述施加电压系数方面不同。
[0218]
(12)
[0219]
根据(9)至(11)中任一项的粒子检测装置，
[0220]
其中，多个光学检测器接收由于具有相同波长的激发光的照射而从粒子发射的光。
[0221]
(13)
[0222]
根据(12)的粒子检测装置，
[0223]
其中，为所述多个光学检测器中的每个设置施加电压系数。
[0224]
(14)
[0225]
一种信息处理方法，包括：
[0226]
对通过多个光学检测器从粒子检测的荧光的光学数据执行校正，以匹配在相同的施加电压系数下检测的输出水平，所述多个光学检测器已经被设置为在施加电压系数方面不同。
[0227]
(15)
[0228]
一种粒子检测方法，包括：
[0229]
通过使用多个光学检测器检测从粒子发射的荧光；以及
[0230]
处理在所述检测中获得的光学数据，
[0231]
其中，处理包括
[0232]
对多个光学检测器检测的光学数据进行校正，以与在相同的施加电压系数下所检测的输出水平匹配，多个光学检测器被设置为在施加电压系数方面不同。
[0233]
(16)
[0234]
一种计算机程序，使计算机对来自已经由多个光学检测器从粒子检测的荧光的光学数据执行校正，以匹配在相同的施加电压系数下检测的输出水平，所述多个光学检测器已经被设置为在施加电压系数方面不同。
[0235]
(17)
[0236]
一种粒子检测装置，包括：
[0237]
多个光学检测器，被配置为检测来自粒子的光，其中至少一个光学检测器具有不同于其他光学检测器的施加电压系数；以及
[0238]
处理器，包括处理设备和存储指令的存储器，所述指令在由所述处理设备执行时使所述处理器：
[0239]
根据所述多个光学检测器的施加电压系数与预定施加电压系数之间的差，校正从粒子获得的光学数据。
[0240]
(18)
[0241]
根据(17)的粒子检测装置，其中根据施加于所述多个光学检测器中的每个光学检测器的电压与从所述多个光学检测器中的每个光学检测器获得的光学数据的特征量之间的关系，确定施加电压系数。
[0242]
(19)
[0243]
根据(17)或(18)的粒子检测装置，其中所述预定施加电压系数是多个光学检测器的施加电压系数中的最小施加电压系数。
[0244]
(20)
[0245]
根据(17)至(19)中任一项的粒子检测装置，还包括：存储器，被配置为存储通过校正所述光学数据而获得的校正数据。
[0246]
(21)
[0247]
根据(17)至(20)中任一项的粒子检测装置，所述处理器根据所述多个光学检测器中的每一个的光学数据，重置施加电压系数。
[0248]
(22)
[0249]
根据(17)至(21)中任一项的粒子检测装置，还具备存储器，所述存储器针对多个光学检测器中的每个光学检测器存储具有施加电压系数的光学数据。
[0250]
(23)
[0251]
根据(17)至(22)中任一项的粒子检测装置，其中所述粒子为待分析粒子，并且所述处理器使用从单染色剂粒子获得的光学数据和通过对所述待分析粒子的所述光学数据进行校正调整的校正数据进行荧光分离处理。
[0252]
(24)
[0253]
根据(23)的粒子检测装置，其中通过使用通过校正所述单染色剂粒子的所述光学数据的校正数据来执行所述荧光分离处理。
[0254]
(25)
[0255]
根据(17)至(24)中任一项的粒子检测装置，其中所述多个光学检测器中的每个光学检测器检测通过以彼此不同的波长照射激发光而从粒子发射的光。
[0256]
(26)
[0257]
根据(17)至(24)中任一项的粒子检测装置，其中所述多个光学检测器中的两个以上检测通过照射具有相同波长的激发光从微粒发射的光。
[0258]
(27)
[0259]
一种信息处理装置，包括：
[0260]
处理器，包括处理设备和存储指令的存储器，所述指令在由所述处理设备执行时使所述处理器：
[0261]
根据所述多个光学检测器的施加电压系数与预定施加电压系数之间的差，校正由所述多个光学检测器从粒子检测的光的光学数据，
[0262]
其中至少一个光学检测器具有不同于其他光学检测器的施加电压系数。
[0263]
(28)
[0264]
根据(27)的信息处理装置，其中所述粒子是单染色剂粒子，并且所述处理器通过使用从待分析的粒子获得的光学数据和通过校正所述单染色剂粒子的所述光学数据而校正的数据来执行荧光分离处理。
[0265]
(29)
[0266]
根据(28)的信息处理装置，
[0267]
其中对所述单染色剂粒子的所述光学数据进行校正，以调整为在所述预定施加电压系数下检测的待分析粒子的输出水平。
[0268]
(30)
[0269]
根据(28)或(29)的信息处理装置，通过使用校正待分析粒子的光学数据的校正数据进行荧光分离处理。
[0270]
(31)
[0271]
一种信息处理方法，包括：
[0272]
根据所述多个光学检测器的施加电压系数与预定施加电压系数之间的差，校正由所述多个光学检测器从粒子检测的光的光学数据，
[0273]
其中至少一个光学检测器具有不同于其他光学检测器的施加电压系数。
[0274]
(32)
[0275]
一种粒子检测方法，包括：
[0276]
检测来自粒子的光，其中至少一个光学检测器具有不同于其他光学检测器的施加电压系数；
[0277]
根据所述多个光学检测器的施加电压系数和预定施加电压系数的差，校正从所述粒子获得的光学数据。
[0278]
本领域技术人员应理解，根据设计需求和其他因素，可进行各种修改、组合、子组合和改变，只要它们在所附权利要求或其等同物的范围内即可。
[0279]
[参考标号列表]
[0280]
1 信息处理装置
[0281]
2 粒子检测装置
[0282]
3 粒子检测系统
[0283]
p 流动通路
[0284]
21 光照射单元
[0285]
22 光学检测单元
[0286]
11 信息处理单元
[0287]
111 校正单元
[0288]
12，112 设置单元
[0289]
13，113 荧光分离处理单元
[0290]
14，114 存储器
[0291]
15，115 显示单元
[0292]
16，116 用户接口
[0293]
23 分选单元。