粒子检测装置、信息处理装置、信息处理方法和粒子检测方法与流程

技术特征：
1.一种粒子检测装置，包括：多个光学检测器，被配置为检测来自粒子的光，其中至少一个光学检测器具有不同于其他光学检测器的施加电压系数；以及处理器，包括处理设备和存储指令的存储器，所述指令在由所述处理设备执行时使所述处理器：根据所述多个光学检测器的施加电压系数与预定施加电压系数之间的差，校正从所述粒子获得的光学数据。2.根据权利要求1所述的粒子检测装置，其中根据施加于所述多个光学检测器中的每个光学检测器的电压与从所述多个光学检测器中的每个光学检测器获得的光学数据的特征量之间的关系，确定所述施加电压系数。3.根据权利要求1所述的粒子检测装置，其中所述预定施加电压系数是所述多个光学检测器的施加电压系数中的最小施加电压系数。4.根据权利要求1所述的粒子检测装置，还包括存储器，所述存储器被配置为存储对所述光学数据进行校正而获得的校正数据。5.根据权利要求1所述的粒子检测装置，所述处理器根据所述多个光学检测器中的每个光学检测器的光学数据，重置所述施加电压系数。6.根据权利要求1所述的粒子检测装置，还包括存储器，所述存储器被配置为存储所述多个光学检测器中的每个光学检测器的光学数据与施加电压系数。7.根据权利要求1所述的粒子检测装置，其中，所述粒子为待分析粒子，并且所述处理器使用从单染色剂粒子获得的光学数据、和通过对所述待分析粒子的光学数据进行校正以调整的校正数据，进行荧光分离处理。8.根据权利要求7所述的粒子检测装置，其中，通过使用通过校正所述单染色剂粒子的光学数据而获得的校正数据，来执行所述荧光分离处理。9.根据权利要求1所述的粒子检测装置，其中所述多个光学检测器中的每个光学检测器检测通过以彼此不同的波长照射激发光而从所述粒子发射的光。10.根据权利要求1所述的粒子检测装置，其中所述多个光学检测器中的两个以上光学检测器检测通过以相同波长照射激发光而从所述粒子发射的光。11.一种信息处理装置，包括：处理器，包括处理设备和存储指令的存储器，所述指令在由所述处理设备执行时使所述处理器：根据多个光学检测器的施加电压系数与预定施加电压系数之间的差，校正由所述多个光学检测器从粒子检测的光的光学数据，其中至少一个光学检测器具有不同于其他光学检测器的施加电压系数。12.根据权利要求11所述的信息处理装置，其中所述粒子是单染色剂粒子，并且所述处理器通过使用从待分析粒子获得的光学数
据、和通过对所述单染色剂粒子的光学数据进行校正而获得的校正数据，来执行荧光分离处理。13.根据权利要求12所述的信息处理装置，其中对所述单染色剂粒子的光学数据进行校正，以调整为在所述预定施加电压系数下检测的所述待分析粒子的输出水平。14.根据权利要求12所述的信息处理装置，通过使用通过对所述待分析粒子的光学数据进行校正而获得的校正数据，来执行所述荧光分离处理。15.一种信息处理方法，包括：根据多个光学检测器的施加电压系数与预定施加电压系数之间的差，校正由所述多个光学检测器从粒子检测的光的光学数据，其中至少一个光学检测器具有不同于其他光学检测器的施加电压系数。16.一种粒子检测方法，包括：检测来自粒子的光，其中至少一个光学检测器具有不同于其他光学检测器的施加电压系数；以及根据多个光学检测器的施加电压系数与预定施加电压系数的差，校正从所述粒子获得的光学数据。

技术总结
一种粒子检测装置，包括：多个光学检测器，被配置为检测来自粒子的光，其中至少一个光学检测器具有不同于其他光学检测器的施加电压系数；以及处理器，包括处理设备和存储指令的存储器，指令在由处理设备执行时使处理器：根据多个光学检测器的施加电压系数与预定施加电压系数之间的差来校正从粒子获得的光学数据。据。据。


技术研发人员：田原克俊
受保护的技术使用者：索尼集团公司
技术研发日：2020.10.07
技术公布日：2022/6/4