加工诊断装置、系统、方法以及存储介质和计算机装置与流程

技术特征：
1.一种加工诊断装置，其中具备接收部，用于接收与对象装置运转中的动作相对应的运转信息、以及随着所述对象装置的动作而变化的物理量的检测信号；取出部，用于根据所述运转信息，取出所述检测信号之中所述对象装置运转中的运转检测信号；提取部，用于提取所述运转检测信号的特征信息；选择部，用于从所述特征信息中，选择与成为基准的基准特征信息进行比较的对象特征信息；以及判断部，用于根据多个所述基准特征信息以及所述对象特征信息，判断所述对象装置的处理区间。2.根据权利要求1所述的加工诊断装置，其中，所述选择部进一步根据所述特征信息生成所述多个基准特征信息。3.根据权利要求1或2所述的加工诊断装置，其中，进一步具备计算部，用于根据所述多个基准特征信息以及所述对象特征信息，计算所述对象装置的处理区间相似度，所述判断部根据所述处理区间相似度，判断所述处理区间。4.根据权利要求1至3中任一项所述的加工诊断装置，其中，当从不再取得所述对象装置的去路的过程中获得的所述运转信息开始，到取得所述对象装置的回路的过程中获得的所述运转信息为止的所述对象装置停止的时间，为预设时间以下，并且，所述对象装置处于指定运转状态时，所述取出部执行结合处理，将所述去路的过程中获得的运转信息和所述回路的过程中获得的运转信息结合起来。5.根据权利要求4所述的加工诊断装置，其中，所述结合处理是将所述去路以及所述回路各自的从开始到结束所获得的所述运转信息结合起来的处理，或者是将在所述去路和所述回路各自的加工区间所获得的所述运转信息的处理。6.根据权利要求2所述的加工诊断装置，其中，所述选择部根据所述多个基准特征信息之中的一个所述基准特征信息，生成另一个所述基准特征信息。7.根据权利要求3所述的加工诊断装置，其中，所述计算部对所述多个基准特征信息的每一个组合，进行所述处理区间相似度的计算。8.根据权利要求3所述的加工诊断装置，其中，所述计算部对每个所述基准特征信息，进行所述处理区间相似度的计算。9.一种加工诊断系统，其中具备第一取得部，用于取得与对象装置运转中的动作相对应的运转信息；第二取得部，用于取得随着所述对象装置的动作而变化的物理量的检测信号；取出部，用于根据所述运转信息，取出所述检测信号之中所述对象装置运转中的运转检测信号；提取部，用于提取所述运转检测信号的特征信息；选择部，用于从所述特征信息中，选择与成为基准的基准特征信息进行比较的对象特征信息；以及判断部，用于根据多个所述基准特征信息以及所述对象特征信息，判断所述对象装置
的处理区间。10.一种供加工诊断装置执行的加工诊断方法，其中包括接收步骤，接收与对象装置运转中的动作相对应的运转信息、以及随着所述对象装置的动作而变化的物理量的检测信号；取出步骤，根据所述运转信息，取出所述检测信号之中所述对象装置运转中的运转检测信号；提取步骤，提取所述运转检测信号的特征信息；选择步骤，从所述特征信息中，选择与成为基准的基准特征信息进行比较的对象特征信息；以及判断步骤，根据多个所述基准特征信息以及所述对象特征信息，判断所述对象装置的处理区间。11.一种计算机可读的存储价值，其中保存可供计算机具有以下功能的程序，接收部，用于接收与对象装置运转中的动作相对应的运转信息、以及随着所述对象装置的动作而变化的物理量的检测信号；取出部，用于根据所述运转信息，取出所述检测信号之中所述对象装置运转中的运转检测信号；提取部，用于提取所述运转检测信号的特征信息；选择部，用于从所述特征信息中，选择与成为基准的基准特征信息进行比较的对象特征信息；以及判断部，用于根据多个所述基准特征信息以及所述对象特征信息，判断所述对象装置的处理区间。。12.一种计算机装置，其中具备保存了程序的存储装置以及处理器，通过所述处理器执行所述程序，实现以下功能，接收部，用于接收与对象装置运转中的动作相对应的运转信息、以及随着所述对象装置的动作而变化的物理量的检测信号；取出部，用于根据所述运转信息，取出所述检测信号之中所述对象装置运转中的运转检测信号；提取部，用于提取所述运转检测信号的特征信息；选择部，用于从所述特征信息中，选择与成为基准的基准特征信息进行比较的对象特征信息；以及判断部，用于根据多个所述基准特征信息以及所述对象特征信息，判断所述对象装置的处理区间。

技术总结
本发明涉及一种加工诊断装置、加工诊断系统、加工诊断方法、存储介质以及计算机装置，其目的是能够在进给信号中包含多个模态的情况下高精度地判断机床加工区间。本发明的加工诊断装置(2)具备接收部(201)，用于接收与对象装置运转中的动作相对应的运转信息、以及随着对象装置的动作而变化的物理量的检测信号；取出部(201)，用于根据运转信息，取出检测信号之中对象装置运转中的运转检测信号；提取部(202)，用于提取运转检测信号的特征信息；选择部(203)，用于从特征信息中，选择与成为基准的基准特征信息进行比较的对象特征信息；以及判断部(205)，用于根据多个基准特征信息以及对象特征信息，判断对象装置的处理区间。判断对象装置的处理区间。判断对象装置的处理区间。


技术研发人员：大泽修一 鹰见淳一 梅泽知纪 堀尾尚史
受保护的技术使用者：株式会社理光
技术研发日：2021.11.24
技术公布日：2022/6/4