显示面板、显示装置及显示面板的裂纹检测方法与流程

1.本文涉及但不限于显示技术，尤指一种显示面板、显示装置及显示面板的裂纹检测方法。


背景技术：

2.对一些电子产品，例如电子穿戴产品，由于需要向显示面板提供相关电子信号，需要设置连接显示面板与电子信号提供方的走线区域，该区域俗称“表脖子”。在进行制备时，需要对“表脖子”上的多个区域进行倒角处理，可能会在这些区域产生裂纹，影响产品质量。一些技术中，对倒角区是否存在裂纹只能进行粗略检测，需要依靠人工镜检的方式确定裂纹的具体位置。这种方式得到的检测结果精度不高，耗费人力，且镜检可能对产品造成伤害。


技术实现要素：

3.以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
4.本公开实施例提供了一种显示面板、显示装置及显示面板的裂纹检测方法，以解决现有产品对倒角区裂纹检测不精确的问题。
5.第一方面，本公开实施例提供了一种显示面板，包括：显示区域及沿第二方向位于所述显示区域一侧的第二边框区域，所述显示区域包括多个检测显示单元组，每个检测显示单元组包括多个子像素。所述第二边框区域包括多个倒角区；所述显示面板包括：至少两条第一裂纹检测线及多个检测单元，其中：至少一条第一裂纹检测线穿过一个或两个倒角区，不同的第一裂纹检测线穿过的倒角区不同。所述第一裂纹检测线穿过一个倒角区的一端通过所述检测单元与一个检测显示单元组电连接，配置为在所述检测单元的控制下，向所述检测显示单元组提供所述第一裂纹检测线在所述倒角区传输的第一检测信号，以便根据所述检测显示单元组的显示结果来确定所述第一裂纹检测线所穿过的所述倒角区是否存在裂纹。不同的倒角区对应不同的检测显示单元组。
6.在一些示例性实施方式中，所述第一裂纹检测线穿过的两个倒角区沿第一方向排布，所述第一方向与所述第二方向交叉。
7.在一些示例性实施方式中，所述检测单元与测试控制线电连接，配置为在所述测试控制线的控制下，导通所连接的第一裂纹检测线与对应的检测显示单元组。
8.在一些示例性实施方式中，所述检测单元包括：检测晶体管，所述检测晶体管的控制极与所述测试控制线电连接，所述检测晶体管的第一极与所述第一裂纹检测线电连接，所述检测晶体管的第二极与所述检测显示单元组电连接。
9.在一些示例性实施方式中，所述检测晶体管为p型晶体管。
10.在一些示例性实施方式中，所述第一裂纹检测线与第一检测信号端电连接，所述第一检测信号端配置为给所述第一裂纹检测线提供所述第一检测信号，所述第一裂纹检测
线与所述第一检测信号端的连接位置位于所述第一裂纹检测线所穿过的两个倒角区之间。
11.在一些示例性实施方式中，所述多个倒角区包括：第一倒角区、第二倒角区、第三倒角区和第四倒角区；所述第三倒角区在所述第二方向上位于所述第一倒角区远离所述显示区域的一侧，所述第四倒角区在所述第二方向上位于所述第二倒角区远离所述显示区域的一侧；其中一条第一裂纹检测线穿过所述第一倒角区和所述第三倒角区中的一个以及所述第二倒角区和所述第四倒角区中的一个，另一条第一裂纹检测线穿过其余两个倒角区。
12.在一些示例性实施方式中，所述其中一条第一裂纹检测线连接的两个检测单元位于所述显示区域靠近所述第二边框区域的一侧，所述另一条第一裂纹检测线连接的两个检测单元位于所述显示区域远离所述第二边框区域的一侧。
13.在一些示例性实施方式中，所述其中一条第一裂纹检测线连接的两个检测单元、以及所述另一条第一裂纹检测线连接的一个检测单元位于所述显示区域靠近所述第二边框区域的一侧，所述另一条第一裂纹检测线连接的另一个检测单元位于所述显示区域远离所述第二边框区域的一侧。
14.在一些示例性实施方式中，所述第二边框区域包括弯折区域；所述多个倒角区分别位于所述弯折区域靠近显示区域的一侧以及远离所述显示区域的一侧。
15.在一些示例性实施方式中，所述显示面板还包括：环绕所述显示区域设置的至少一条第二裂纹检测线，配置为在所述检测单元的控制下，将第二检测信号传输给对应的检测显示单元组，以便根据该检测显示单元组的显示结果来确定对应于该检测显示单元组的所述第二裂纹检测线所在的显示面板是否存在裂纹；所述第二裂纹检测线通过不同的检测单元连接不同的检测显示单元组，与所述第二裂纹检测线连接的检测单元不同于与所述第一裂纹检测线连接的检测单元，与所述第二裂纹检测线对应的检测显示单元组不同于与所述第一裂纹检测线对应的检测显示单元组。
16.第二方面，本公开实施例还提供了一种显示装置，包括如上所述的显示面板。
17.第三方面，本公开实施例还提供了一种显示面板的裂纹检测方法，应用于对如上所述的显示面板进行检测，所述方法包括：向至少两条第一裂纹检测线输入第一检测信号，在检测单元的控制下，向与倒角区对应的检测显示单元组提供所述裂纹检测线在所述倒角区传输的第一检测信号；根据所述检测显示单元组的显示结果确定所述第一裂纹检测线所穿过的所述倒角区是否存在裂纹。
18.在一些示例性实施方式中，所述方法还包括：预先配置显示面板的倒角区与所述检测显示单元组的对应关系。
19.在一些示例性实施方式中，所述方法还包括：向至少一条第二裂纹检测线输入第二检测信号，在所述检测单元的控制下，将所述第二检测信号传输给对应的检测显示单元组；根据所述检测显示单元组的显示结果确定所述第二裂纹检测线所在的显示面板是否存在裂纹。
20.本公开实施例提供的显示面板中，设置至少两条第一裂纹检测线，每条第一裂纹检测线穿过一个或两个倒角区，穿过一个倒角区的一端电连接到显示区域上的检测显示单元组，不同的倒角区对应不同的检测显示单元组，根据检测显示单元组的显示结果就能够确定是哪个倒角区存在裂纹。解决了现有产品对倒角区裂纹检测不精确的问题。
21.本公开的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变
得显而易见，或者通过实施本公开而了解。本公开的其他优点可通过在说明书以及附图中所描述的方案来实现和获得。
22.在阅读并理解了附图和详细描述后，可以明白其他方面。
附图说明
23.附图用来提供对本公开技术方案的理解，并且构成说明书的一部分，与本公开的实施例一起用于解释本公开的技术方案，并不构成对本公开技术方案的限制。
24.图1一种显示装置的结构示意图；
25.图2为一种显示基板的平面结构示意图；
26.图3为一种像素驱动电路的等效电路示意图；
27.图4为一种像素驱动电路的工作时序图；
28.图5为一种示例性实施例中显示面板的结构示意图；
29.图6为一种示例性实施例中显示面板的线路布置示意图；
30.图7为又一示例性实施例中显示面板的线路布置示意图；
31.图8为再一示例性实施例中显示面板的线路布置示意图；
32.图9为另一示例性实施例中显示面板的线路布置示意图；
33.图10为一示例性实施例中包含第二裂纹检测线的显示面板的线路布置示意图。
具体实施方式
34.本公开描述了多个实施例，但是该描述是示例性的，而不是限制性的，并且对于本领域的普通技术人员来说显而易见的是，在本公开所描述的实施例包含的范围内可以有更多的实施例和实现方案。尽管在附图中示出了许多可能的特征组合，并在具体实施方式中进行了讨论，但是所公开的特征的许多其它组合方式也是可能的。除非特意加以限制的情况以外，任何实施例的任何特征或元件可以与任何其它实施例中的任何其他特征或元件结合使用，或可以替代任何其它实施例中的任何其他特征或元件。
35.本公开包括并设想了与本领域普通技术人员已知的特征和元件的组合。本公开已经公开的实施例、特征和元件也可以与任何常规特征或元件组合，以形成由权利要求限定的独特的发明方案。任何实施例的任何特征或元件也可以与来自其它发明方案的特征或元件组合，以形成另一个由权利要求限定的独特的发明方案。因此，应当理解，在本公开中示出和/或讨论的任何特征可以单独地或以任何适当的组合来实现。因此，除了根据所附权利要求及其等同替换所做的限制以外，实施例不受其它限制。此外，可以在所附权利要求的保护范围内进行各种修改和改变。
36.此外，在描述具有代表性的实施例时，说明书可能已经将方法和/或过程呈现为特定的步骤序列。然而，在该方法或过程不依赖于本文所述步骤的特定顺序的程度上，该方法或过程不应限于所述的特定顺序的步骤。如本领域普通技术人员将理解的，其它的步骤顺序也是可能的。因此，说明书中阐述的步骤的特定顺序不应被解释为对权利要求的限制。此外，针对该方法和/或过程的权利要求不应限于按照所写顺序执行它们的步骤，本领域技术人员可以容易地理解，这些顺序可以变化，并且仍然保持在本公开实施例的精神和范围内。
37.在附图中，有时为了明确起见，夸大表示了一个或多个构成要素的大小、层的厚度
或区域。因此，本公开的一个方式并不一定限定于该尺寸，附图中一个或多个部件的形状和大小不反映真实比例。此外，附图示意性地示出了理想的例子，本公开的一个方式不局限于附图所示的形状或数值等。
38.本说明书中的“第一”、“第二”、“第三”等序数词是为了避免构成要素的混同而设置，而不是为了在数量方面上进行限定的。本公开中的“多个”表示两个及以上的数量。
39.在本说明书中，为了方便起见，使用“中部”、“上”、“下”、“前”、“后”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示方位或位置关系的词句以参照附图说明构成要素的位置关系，仅是为了便于描述本说明书和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本公开的限制。构成要素的位置关系根据描述的构成要素的方向适当地改变。因此，不局限于在说明书中说明的词句，根据情况可以适当地更换。
40.在本说明书中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解。例如，可以是固定连接，或可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，或连接；可以是直接相连，或通过中间件间接相连，或两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据情况理解上述术语在本公开中的含义。
41.在本说明书中，晶体管是指至少包括栅电极(控制极)、漏电极以及源电极这三个端子的元件。晶体管在漏电极(漏电极端子、漏区域或漏极)与源电极(源电极端子、源区域或源极)之间具有沟道区域，并且电流能够流过漏电极、沟道区域以及源电极。注意，在本说明书中，沟道区域是指电流主要流过的区域。
42.在本说明书中，第一极可以为漏电极、第二极可以为源电极，或者第一极可以为源电极、第二极可以为漏电极。在使用极性相反的晶体管的情况或电路工作中的电流方向变化的情况等下，“源电极”及“漏电极”的功能有时互相调换。因此，在本说明书中，“源电极”和“漏电极”可以互相调换。
43.在本说明书中，“电连接”包括构成要素通过具有某种电作用的元件连接在一起的情况。“具有某种电作用的元件”只要可以进行连接的构成要素间的电信号的授受，就对其没有特别的限制。“具有某种电作用的元件”的例子不仅包括电极和布线，而且还包括晶体管等开关元件、电阻器、电感器、电容器、其它具有各种功能的元件等。
44.下面结合附图说明书本公开实施例的方案。
45.图1为一种显示装置的结构示意图。如图1所示，oled显示装置可以包括时序控制器、数据信号驱动器、扫描信号驱动器、发光信号驱动器和像素阵列，像素阵列可以包括多个扫描信号线(s1到sm)、多个数据信号线(d1到dn)、多个发光信号线(e1到eo)和多个子像素pxij。在示例性实施方式中，时序控制器可以将适合于数据信号驱动器的规格的灰度值和控制信号提供到数据信号驱动器，可以将适合于扫描信号驱动器的规格的时钟信号、扫描起始信号等提供到扫描信号驱动器，可以将适合于发光信号驱动器的规格的时钟信号、发射停止信号等提供到发光信号驱动器。数据信号驱动器可以利用从时序控制器接收的灰度值和控制信号来产生将提供到数据信号线d1、d2、d3、
……
和dn的数据电压。例如，数据信号驱动器可以利用时钟信号对灰度值进行采样，并且以像素行为单位将与灰度值对应的数据电压施加到数据信号线d1至dn，n可以是自然数。扫描信号驱动器可以通过从时序控制器接收时钟信号、扫描起始信号等来产生将提供到扫描信号线s1、s2、s3、
……
和sm的扫描信
号。例如，扫描信号驱动器可以将具有导通电平脉冲的扫描信号顺序地提供到扫描信号线s1至sm。例如，扫描信号驱动器可以被构造为移位寄存器的形式，并且可以以在时钟信号的控制下顺序地将以导通电平脉冲形式提供的扫描起始信号传输到下一级电路的方式产生扫描信号，m可以是自然数。发光信号驱动器可以通过从时序控制器接收时钟信号、发射停止信号等来产生将提供到发光信号线e1、e2、e3、
……
和eo的发射信号。例如，发光信号驱动器可以将具有截止电平脉冲的发射信号顺序地提供到发光信号线e1至eo。例如，发光信号驱动器可以被构造为移位寄存器的形式，并且可以以在时钟信号的控制下顺序地将以截止电平脉冲形式提供的发光停止信号传输到下一级电路的方式产生发光信号，o可以是自然数。像素阵列可以包括多个子像素pxij。每个子像素pxij可以连接到对应的数据信号线、对应的扫描信号线和对应的发光信号线，i和j可以是自然数。子像素pxij可以指其中晶体管连接到第i扫描信号线且连接到第j数据信号线的子像素。
46.图2为一种显示基板的平面结构示意图。如图2所示，显示基板可以包括以矩阵方式排布的多个像素单元p，多个像素单元p的至少一个包括出射第一颜色光线的第一子像素p1、出射第二颜色光线的第二子像素p2和出射第三颜色光线的第三子像素p3，第一子像素p1、第二子像素p2和第三子像素p3均包括像素驱动电路和发光器件。第一子像素p1、第二子像素p2和第三子像素p3中的像素驱动电路分别与扫描信号线、数据信号线和发光信号线连接，像素驱动电路被配置为在扫描信号线和发光信号线的控制下，接收数据信号线传输的数据电压，向所述发光器件输出相应的电流。第一子像素p1、第二子像素p2和第三子像素p3中的发光器件分别与所在子像素的像素驱动电路连接，发光器件被配置为响应所在子像素的像素驱动电路输出的电流发出相应亮度的光。
47.在示例性实施方式中，像素单元p中可以包括红色(r)子像素、绿色(g)子像素和蓝色(b)子像素，或者可以包括红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素和白色子像素，本公开在此不做限定。在示例性实施方式中，像素单元中子像素的形状可以是矩形状、菱形、五边形或六边形。像素单元包括三个子像素时，三个子像素可以采用水平并列、竖直并列或品字方式排列，像素单元包括四个子像素时，四个子像素可以采用水平并列、竖直并列或正方形(square)方式排列，本公开在此不做限定。
48.在示例性实施方式中，像素驱动电路可以是3t1c、4t1c、5t1c、5t2c、6t1c或7t1c结构。图3为一种像素驱动电路的等效电路示意图。如图3所示，像素驱动电路可以包括7个晶体管(第一晶体管t1到第七晶体管t7)、1个存储电容c和7个信号线(数据信号线d、第一扫描信号线s1、第二扫描信号线s2、发光信号线e、初始信号线init、第一电源线vdd和第二电源线vss)。
49.在示例性实施方式中，存储电容c的第一端与第一电源线vdd连接，存储电容c的第二端与第二节点n2连接，即存储电容c的第二端与第三晶体管t3的控制极连接。
50.第一晶体管t1的控制极与第二扫描信号线s2连接，第一晶体管t1的第一极与初始信号线init连接，第一晶体管的第二极与第二节点n2连接。当导通电平扫描信号施加到第二扫描信号线s2时，第一晶体管t1将初始化电压传输到第三晶体管t3的控制极，以使第三晶体管t3的控制极的电荷量初始化。
51.第二晶体管t2的控制极与第一扫描信号线s1连接，第二晶体管t2的第一极与第二节点n2连接，第二晶体管t2的第二极与第三节点n3连接。当导通电平扫描信号施加到第一
扫描信号线s1时，第二晶体管t2使第三晶体管t3的控制极与第二极连接。
52.第三晶体管t3的控制极与第二节点n2连接，即第三晶体管t3的控制极与存储电容c的第二端连接，第三晶体管t3的第一极与第一节点n1连接，第三晶体管t3的第二极与第三节点n3连接。第三晶体管t3可以称为驱动晶体管，第三晶体管t3根据其控制极与第一极之间的电位差来确定在第一电源线vdd与第二电源线vss之间流动的驱动电流的量。
53.第四晶体管t4的控制极与第一扫描信号线s1连接，第四晶体管t4的第一极与数据信号线d连接，第四晶体管t4的第二极与第一节点n1连接。第四晶体管t4可以称为开关晶体管、扫描晶体管等，当导通电平扫描信号施加到第一扫描信号线s1时，第四晶体管t4使数据信号线d的数据电压输入到像素驱动电路。
54.第五晶体管t5的控制极与发光信号线e连接，第五晶体管t5的第一极与第一电源线vdd连接，第五晶体管t5的第二极与第一节点n1连接。第六晶体管t6的控制极与发光信号线e连接，第六晶体管t6的第一极与第三节点n3连接，第六晶体管t6的第二极与发光器件的第一极连接。第五晶体管t5和第六晶体管t6可以称为发光晶体管。当导通电平发光信号施加到发光信号线e时，第五晶体管t5和第六晶体管t6通过在第一电源线vdd与第二电源线vss之间形成驱动电流路径而使发光器件发光。
55.第七晶体管t7的控制极与第一扫描信号线s1连接，第七晶体管t7的第一极与初始信号线init连接，第七晶体管t7的第二极与发光器件的第一极连接。当导通电平扫描信号施加到第一扫描信号线s1时，第七晶体管t7将初始化电压传输到发光器件的第一极，以使发光器件的第一极中累积的电荷量初始化或释放发光器件的第一极中累积的电荷量。
56.在示例性实施方式中，发光器件的第二极与第二电源线vss连接，第二电源线vss的信号为低电平信号，第一电源线vdd的信号为持续提供高电平信号。第一扫描信号线s1为本显示行像素驱动电路中的扫描信号线，第二扫描信号线s2为上一显示行像素驱动电路中的扫描信号线，即对于第n显示行，第一扫描信号线s1为s(n)，第二扫描信号线s2为s(n-1)，本显示行的第二扫描信号线s2与上一显示行像素驱动电路中的第一扫描信号线s1为同一信号线，可以减少显示面板的信号线，实现显示面板的窄边框。
57.在示例性实施方式中，第一晶体管t1到第七晶体管t7可以是p型晶体管，或者可以是n型晶体管。像素驱动电路中采用相同类型的晶体管可以简化工艺流程，减少显示面板的工艺难度，提高产品的良率。在一些可能的实现方式中，第一晶体管t1到第七晶体管t7可以包括p型晶体管和n型晶体管。
58.在示例性实施方式中，第一扫描信号线s1、第二扫描信号线s2、发光信号线e和初始信号线init沿水平方向延伸，第二电源线vss、第一电源线vdd和数据信号线d沿竖直方向延伸。
59.在示例性实施方式中，发光器件可以是有机电致发光二极管(oled)，包括叠设的第一极(阳极)、有机发光层和第二极(阴极)。
60.图4为一种像素驱动电路的工作时序图。下面通过图3示例的像素驱动电路的工作过程说明本公开示例性实施例，图3中的像素驱动电路包括7个晶体管(第一晶体管t1到第六晶体管t7)、1个存储电容c和7个信号线(数据信号线d、第一扫描信号线s1、第二扫描信号线s2、发光信号线e、初始信号线init、第一电源线vdd和第二电源线vss)，7个晶体管均为p型晶体管。
61.在示例性实施方式中，像素驱动电路的工作过程可以包括：
62.第一阶段a1，称为复位阶段，第二扫描信号线s2的信号为低电平信号，第一扫描信号线s1和发光信号线e的信号为高电平信号。第二扫描信号线s2的信号为低电平信号，使第一晶体管t1导通，初始信号线init的信号提供至第二节点n2，对存储电容c进行初始化，清除存储电容中原有数据电压。第一扫描信号线s1和发光信号线e的信号为高电平信号，使第二晶体管t2、第四晶体管t4、第五晶体管t5、第六晶体管t6和第七晶体管t7断开，此阶段oled不发光。
63.第二阶段a2、称为数据写入阶段或者阈值补偿阶段，第一扫描信号线s1的信号为低电平信号，第二扫描信号线s2和发光信号线e的信号为高电平信号，数据信号线d输出数据电压。此阶段由于存储电容c的第二端为低电平，因此第三晶体管t3导通。第一扫描信号线s1的信号为低电平信号使第二晶体管t2、第四晶体管t4和第七晶体管t7导通。第二晶体管t2和第四晶体管t4导通使得数据信号线d输出的数据电压经过第一节点n1、导通的第三晶体管t3、第三节点n3、导通的第二晶体管t2提供至第二节点n2，并将数据信号线d输出的数据电压与第三晶体管t3的阈值电压之差充入存储电容c，存储电容c的第二端(第二节点n2)的电压为vd-|vth|，vd为数据信号线d输出的数据电压，vth为第三晶体管t3的阈值电压。第七晶体管t7导通使得初始信号线init的初始电压提供至oled的第一极，对oled的第一极进行初始化(复位)，清空其内部的预存电压，完成初始化，确保oled不发光。第二扫描信号线s2的信号为高电平信号，使第一晶体管t1断开。发光信号线e的信号为高电平信号，使第五晶体管t5和第六晶体管t6断开。
64.第三阶段a3、称为发光阶段，发光信号线e的信号为低电平信号，第一扫描信号线s1和第二扫描信号线s2的信号为高电平信号。发光信号线e的信号为低电平信号，使第五晶体管t5和第六晶体管t6导通，第一电源线vdd输出的电源电压通过导通的第五晶体管t5、第三晶体管t3和第六晶体管t6向oled的第一极提供驱动电压，驱动oled发光。
65.在像素驱动电路驱动过程中，流过第三晶体管t3(驱动晶体管)的驱动电流由其栅电极和第一极之间的电压差决定。由于第二节点n2的电压为vdata-|vth|，因而第三晶体管t3的驱动电流为：
66.i＝k*(vgs-vth)2＝k*[(vdd-vd |vth|)-vth]2＝k*[(vdd-vd]2[0067]
其中，i为流过第三晶体管t3的驱动电流，也就是驱动oled的驱动电流，k为常数，vgs为第三晶体管t3的栅电极和第一极之间的电压差，vth为第三晶体管t3的阈值电压，vd为数据信号线d输出的数据电压，vdd为第一电源线vdd输出的电源电压。
[0068]
本公开实施例提供了一种显示面板，包括：显示区域及沿第二方向位于所述显示区域一侧的第二边框区域，所述显示区域包括多个检测显示单元组，每个检测显示单元组包括多个子像素。所述第二边框区域包括多个倒角区；所述显示面板包括：至少两条第一裂纹检测线及多个检测单元，其中：
[0069]
至少一条第一裂纹检测线穿过一个或两个倒角区，不同的第一裂纹检测线穿过的倒角区不同。所述第一裂纹检测线穿过一个倒角区的一端通过所述检测单元与一个检测显示单元组电连接，配置为在所述检测单元的控制下，向所述检测显示单元组提供所述第一裂纹检测线在所述倒角区传输的第一检测信号，以便根据所述检测显示单元组的显示结果来确定所述第一裂纹检测线所穿过的所述倒角区是否存在裂纹。不同的倒角区对应不同的
检测显示单元组。
[0070]
在本公开的实施例中，一个检测显示单元组包括多个子像素。该多个子像素可以在显示区域形成一定的图案，例如，该多个子像素可以是沿第二方向排布的多个子像素，当该检测显示单元组发光时，在显示基板上形成一条亮线。或者，一个检测显示单元组可以形成在显示区域其它图案，例如，沿任意方向延伸的一条或多条直线、一个或多个三角形、一个或多个多边形、一个或多个圆形或者其它任意形状，本公开对此不作限制。
[0071]
在本公开的实施例中，在一条第一裂纹检测线穿过一个倒角区的情况下，该第一裂纹检测线的一端可以用于接收第一检测信号，另一端可以通过检测单元与一个检测显示单元组电连接。在一条第一裂纹检测线穿过两个倒角区的情况下，该第一裂纹检测线的一端可以在穿过一个倒角区后通过检测单元与一个检测显示单元组电连接，该第一裂纹检测线的另一端可以在穿过另一个倒角区后通过另一个检测单元与另一个检测显示单元组电连接，可以将位于所穿过的两个倒角区之间的第一裂纹检测线配置为接收第一检测信号，使第一检测信号能够分别经过所穿过的两个倒角区后传输给这两个倒角区各自对应的检测显示单元组。
[0072]
本公开实施例提供的第一裂纹检测线显示面板中，设置至少两条第一裂纹检测线，每条第一裂纹检测线穿过一个或两个倒角区，穿过一个倒角区的一端电连接到显示区域上的检测显示单元组，不同的倒角区对应不同的检测显示单元组，根据检测显示单元组的显示结果就能够确定是哪个倒角区存在裂纹。检测结果准确，并且不需要人工镜检，节省了人力、避免了手工操作可能给产品带来的伤害。
[0073]
在一些示例性实施方式中，第一裂纹检测线可以为面板裂纹检测(pcd，panel crack detect)信号线。
[0074]
在一些示例性实施方式中，第一裂纹检测线穿过的两个倒角区沿第一方向排布，所述第一方向与所述第二方向交叉。
[0075]
在一些示例性实施方式中，所述检测单元与测试控制线电连接，配置为在所述测试控制线的控制下，导通所连接的第一裂纹检测线与对应的检测显示单元组。
[0076]
在一些示例性实施方式中，所述检测单元包括：检测晶体管，所述检测晶体管的控制极与所述测试控制线电连接，所述检测晶体管的第一极与所述第一裂纹检测线电连接，所述检测晶体管的第二极与所述检测显示单元组电连接。
[0077]
在一些示例性实施方式中，所述检测晶体管为p型晶体管。
[0078]
在一些示例性实施方式中，所述第一裂纹检测线与第一检测信号端电连接，所述第一检测信号端配置为给所述第一裂纹检测线提供所述第一检测信号，所述第一裂纹检测线与所述第一检测信号端的连接位置位于所述第一裂纹检测线所穿过的两个倒角区之间。
[0079]
在一些示例性实施方式中，所述多个倒角区包括：第一倒角区、第二倒角区、第三倒角区和第四倒角区；所述第三倒角区在所述第二方向上位于所述第一倒角区远离所述显示区域的一侧，所述第四倒角区在所述第二方向上位于所述第二倒角区远离所述显示区域的一侧。其中一条第一裂纹检测线穿过所述第一倒角区和所述第三倒角区中的一个以及所述第二倒角区和所述第四倒角区中的一个，另一条第一裂纹检测线穿过其余两个倒角区。
[0080]
在一些示例性实施方式中，所述其中一条第一裂纹检测线连接的两个检测单元位于所述显示区域靠近所述第二边框区域的一侧，所述另一条第一裂纹检测线连接的两个检
测单元位于所述显示区域远离所述第二边框区域的一侧。
[0081]
在一些示例性实施方式中，所述其中一条第一裂纹检测线连接的两个检测单元、以及所述另一条第一裂纹检测线连接的一个检测单元位于所述显示区域靠近所述第二边框区域的一侧，所述另一条第一裂纹检测线连接的另一个检测单元位于所述显示区域远离所述第二边框区域的一侧。
[0082]
在一些示例性实施方式中，所述第二边框区域包括弯折区域，所述弯折区域设置为将远离所述显示区域一侧的显示面板弯折到所述显示区域的背侧；所述多个倒角区分别位于所述弯折区域靠近显示区域的一侧以及远离所述显示区域的一侧。
[0083]
在一些示例性实施方式中，所述显示面板还包括：环绕所述显示区域设置的至少一条第二裂纹检测线，配置为在所述检测单元的控制下，将第二检测信号传输给对应的检测显示单元组，以便根据该检测显示单元组的显示结果来确定对应于该检测显示单元组的所述第二裂纹检测线所在的显示面板是否存在裂纹。所述第二裂纹检测线通过不同的检测单元连接不同的检测显示单元组，与所述第二裂纹检测线连接的检测单元不同于与所述第一裂纹检测线连接的检测单元，与所述第二裂纹检测线对应的检测显示单元组不同于与所述第一裂纹检测线对应的检测显示单元组。
[0084]
下面通过示例性实施例对本公开实施例提供的显示面板进行说明。
[0085]
图5为一种示例性实施例中显示面板的结构示意图。如图5所示，显示面板包括：显示区域10、围绕显示区域10的第一边框区域22、位于显示区域10一侧的第二边框区域。显示区域10包括多个像素及与多个像素相连的多条数据信号线。第二边框区域包括沿着远离显示区域10的方向(即第二方向y)依次设置的走线区域(表脖子)s1和信号接入区域23。走线区域s1位于第一边框区域22远离显示区域10的一侧。走线区域s1与第一边框区域22连通。走线区域s1内设置有弯折区域202。信号接入区域23位于走线区域s1远离显示区域10的一侧。信号接入区域23与走线区域s1连通。信号接入区域23包括：沿着远离显示区域10的方向(即第二方向y)依次设置的电路区204和绑定引脚区205。
[0086]
在本示例性实施例中，弯折区域202配置为使得远离显示区域10的部分走线区域s1、信号接入区域23弯折到显示区域10的背面。电路区204配置为设置相应的集成电路。绑定引脚区205配置为设置多个绑定引脚，多个绑定引脚可以绑定柔性电路板(fpc，flexible printed circuit)，使得多条信号引线(例如，驱动控制线、电源线、第一裂纹检测线、测试控制线、第二裂纹检测线等)通过多个绑定引脚与外部控制装置连接。多条信号引线经过走线区域s1后，沿第一边框区域22连接到显示区域10的对应位置。在一些示例中，电路区204设置的集成电路可以是触控与显示驱动器集成电路(tddi，touch and display driver integration)。然而，本公开对此并不限定。
[0087]
在本示例性实施例中，如图5所示，走线区域s1包括靠近显示区域10一侧的倒角区a(第一倒角区)、倒角区b(第二倒角区)，以及远离显示区域10一侧的倒角区c(第三倒角区)、倒角区d(第四倒角区)。其中，倒角区a、倒角区b沿第一方向x分布于走线区域s1的两端，且位于弯折区域202靠近显示区域10的一侧。倒角区c、倒角区d沿第一方向x分布于走线区域s1的两端，且位于弯折区域202远离显示区域10的一侧。在实际生产中，走线区域s1较窄，生成的倒角区容易存在裂纹，检测是否存在裂纹及裂纹的准确位置，对生产过程来说十分重要。第一方向x和第二方向y交叉，第一方向x和第二方向y可以相互垂直。
[0088]
图5所示的显示区域10为圆形。然而，本公开对此并不限定。例如，显示区域10可以为矩形、或者椭圆形等其它形状。图5中示意了显示面板存在四个倒角区的情况，可以根据实际需要设计走线区域s1的形状以及倒角区的数量，例如：可以将走线区域s1设计为多边的形状，并可以设置多个倒角区，本公开对此并不限定。
[0089]
图6为一种示例性实施例中显示面板的线路布置示意图。图6以图5所示结构的显示面板为例进行说明，图6中示意了显示区域10以及四个倒角区的位置，夸大示意了第一边框区域，省略示意其余结构。如图6所示，显示面板上设置有两条第一裂纹检测线，分别为第一裂纹检测线31、第一裂纹检测线32。在本实施例中，每条第一裂纹检测线均穿过两个不同的倒角区，在其他实施方式中，可以根据需要设置第一裂纹检测线穿过一个倒角区。如图6所示，第一裂纹检测线31穿过倒角区c和倒角区b，将倒角区c和倒角区b之间的第一裂纹检测线31设置为与第一检测信号端连接(图未示)，用于接收第一检测信号v1。第一裂纹检测线32穿过倒角区a和倒角区d，将倒角区a和倒角区d之间的第一裂纹检测线32设置为与第一检测信号端连接，用于接收第一检测信号v1。第一裂纹检测线31、第一裂纹检测线32的两端分别与不同的检测单元50连接，不同检测单元50可以与显示区域10的检测显示单元组电连接，用于将通过不同倒角区的第一检测信号v1传递给不同的检测显示单元组。检测单元50可以控制第一裂纹检测线与检测显示单元组之间信号传输的通断，如图6所示，不同的检测单元50可以将经过倒角区a的第一裂纹检测线32的一端与检测显示单元组13连接，将经过倒角区c的第一裂纹检测线31的一端与数据信号线11连接，将经过倒角区b的第一裂纹检测线31的一端与检测显示单元组12连接，将经过倒角区d的第一裂纹检测线32的一端与检测显示单元组14连接。通过将与第一检测信号端的连接位置设置在第一裂纹检测线上、且位于所穿过的倒角区之间的位置，使第一检测信号v1可以分别穿过不同的倒角区并传递到不同的数据信号线，实现在一条第一裂纹检测线穿过两个倒角区的情况下，也能够对这两个倒角区进行单独检测。在其他实施方式中，可以根据需要设置第一裂纹检测线的线端与检测显示单元组的连接关系，可以根据需要设置第一裂纹检测线穿过哪一个或哪两个倒角区，可以根据需要设置检测显示单元组的形状和位置，本公开对此不作限定。
[0090]
在本公开实施例中，可以将检测显示单元组设置为如图6所示的沿第二方向排布的一列子像素，通过亮线测试或者暗线测试来检测倒角区是否存在裂纹。亮线测试即控制与存在裂纹的倒角区对应的检测显示单元组发光，使在全黑的屏幕上出现亮线，由于检测显示单元组形成的亮线对应不同的倒角区，根据屏幕上亮线的位置可以确定哪个倒角区存在裂纹。暗线测试即控制与存在裂纹的倒角区对应的检测显示单元组不发光，使在明亮的屏幕上出现暗线，由于检测显示单元组形成的暗线对应不同的倒角区，根据屏幕上暗线的位置可以确定哪个倒角区存在裂纹。对于亮线测试和暗线测试的实现细节，在此不再赘述。
[0091]
一些技术中，只能区分位于走线区域左侧或者右侧的倒角区存在裂纹，而不能具体定位到是哪一个或哪几个倒角区存在裂纹，检测精度不高。当检测到存在裂纹时，需要依靠人工镜检确定裂纹的位置，人力成本高，且手工作业可能对产品品质造成影响。另外，在对产品沿弯折区域202进行弯折后，倒角区a和倒角区b将会被遮挡，从而无法对倒角区a和倒角区b进行镜检，存在漏检的情况，这可能带来产品的品质风险。而本公开实施例提供的显示面板，通过设置穿过不同倒角区的第一裂纹检测线的线端与不同的检测显示单元组连接，使得检测显示单元组的显示结果与倒角区一一对应，能够直观地展示哪个倒角区存在
裂纹，很好的解决了上述问题。
[0092]
图7为又一示例性实施例中显示面板的线路布置示意图。图7以图5所示结构的显示面板为例进行说明，图7中示意了显示区域10以及四个倒角区的位置，夸大示意了第一边框区域，省略示意其余结构。如图7所示，检测单元与测试控制线51电连接，测试控制线51可以环绕显示区域10设置，用于接收测试控制信号vc。检测单元可以包括检测晶体管，，检测晶体管可以为p型晶体管，p型晶体管的控制极连接测试控制线51，p型晶体管的第一极连接第一裂纹检测线，第二极连接检测显示单元组。在本实施例中，与倒角区a对应的检测晶体管可以包括：第三开关晶体管p3，与倒角区b对应的检测晶体管可以包括：第二开关晶体管p2，与倒角区c对应的检测晶体管可以包括：第一开关晶体管p1，与倒角区d对应的检测晶体管可以包括：第四开关晶体管p4。经过倒角区a的第一裂纹检测线32的一端可以通过第三开关晶体管p3与检测显示单元组13连接，经过倒角区c的第一裂纹检测线31的一端可以通过第一开关晶体管p1与检测显示单元组11连接，经过倒角区b的第一裂纹检测线31的一端可以通过第二开关晶体管p2与检测显示单元组12连接，经过倒角区d的第一裂纹检测线32的一端可以通过第四开关晶体管p4与检测显示单元组14连接。在其他实施方式中，可以设置多条测试控制线分别控制不同的检测晶体管，检测晶体管可以设置为n型晶体管或其它具备开关功能的元件，本公开对此不做限制。在本实施例中，像素驱动电路中可以采用p型晶体管，第一检测信号v1可以为高电平信号，测试控制信号vc可以为低电平信号。在进行亮线测试时，以第一开关晶体管p1为例，例如：第一开关晶体管p1的第二极可以与检测显示单元组11中每个子像素中第四晶体管t4的栅极连接，第一开关晶体管p1在接收到测试控制信号vc后导通，在倒角区c不存在裂纹的情况下，第一检测信号v1通入第四晶体管t4的栅极，由于第四晶体管t4为p型晶体管，在接收到第一检测信号v1(高电平信号)后不会导通，因此，检测显示单元组11不会被点亮；而在倒角区c存在裂纹的情况下，第一检测信号v1不会通入检测显示单元组11，第四晶体管t4能够被导通，检测显示单元组11将被点亮，在屏幕上形成亮线。其余开关晶体管与第一开关晶体管p1的检测原理类似，在此不再赘述。根据屏幕上亮线的位置即可确定存在裂纹的倒角区。
[0093]
图8为再一示例性实施例中显示面板的线路布置示意图。图8与图7中的线路布置基本相同，不同之处在于：第一裂纹检测线31和第一裂纹检测线32穿过的倒角区不同。在本实施例中，第一裂纹检测线31的一端穿过倒角区c后，经过第一开关晶体管p1与检测显示单元组11连接，第一裂纹检测线31的另一端穿过倒角区d后，经过第二开关晶体管p2与检测显示单元组12连接，第一裂纹检测线32的一端穿过倒角区a后，经过第三开关晶体管p3与检测显示单元组13连接，第一裂纹检测线32的另一端穿过倒角区b后，经过第四开关晶体管p4与检测显示单元组14连接。在其他实施方式中，可以根据需要设置第一裂纹检测线的数量及第一裂纹检测线穿过倒角区的方式，本公开对此不作限制。
[0094]
在图7和图8的走线设置中，第一裂纹检测线31和第一裂纹检测线32穿过的倒角区均是在第二方向y上不相邻的倒角区。在其他实施方式中，一条裂纹检测线可以设置为穿过在第二方向y上相邻的倒角区，例如：第一裂纹检测线31可以穿过倒角区a和倒角区c，第二裂纹检测线32可以穿过倒角区b和倒角区d。本公开对此不作限制。
[0095]
在图7和图8的走线设置中，第一裂纹检测线31的一端环绕显示区域10的左侧后连接第一开关晶体管p1，第一裂纹检测线31的另一端环绕显示区域10的右侧后连接第二开关
晶体管p2。即第一裂纹检测线31连接的两个检测单元位于显示区域10靠近第二边框区域的一侧，第一裂纹检测线32连接的两个检测单元位于显示区域10远离第二边框区域的一侧。这种设置使得第一裂纹检测线31绕过的区域更大，能够对显示面板周边区域的裂纹进行检测，更容易发现产品的缺陷。在其他实施方式中，也可以采用如第一裂纹检测线32的走线方式，使第一裂纹检测线31在经过倒角区后即与开关晶体管连接，或者可以采用其它的绕线方式，本公开对此不作限制。
[0096]
图9为另一示例性实施例中显示面板的线路布置示意图。图9与图7中的线路布置基本相同，不同之处在于：第一裂纹检测线31穿过倒角区b的一端与第二开关晶体管p2的连接位置发生改变。即第一裂纹检测线32连接的两个检测单元、以及第一裂纹检测线31连接的一个检测单元(p2)位于显示区域10靠近第二边框区域的一侧，第一裂纹检测线31连接的另一个检测单元(p1)位于显示区域10远离第二边框区域的一侧。在这种连接方式下，环绕显示区域10左侧的第一裂纹检测线31可以在与第一开关晶体管p1连接后，继续向右侧延伸，部分环绕显示区域10的右侧。这种设计使得第一裂纹检测线31检测面积更大，更容易发现显示产品是否存在裂纹。可以根据需要设置第一裂纹检测线的走线方式，本公开对此不作限制。
[0097]
图10为一示例性实施例中包含第二裂纹检测线的显示面板的线路布置示意图。图10中第一裂纹检测线与图7的线路布置相同，在此不再赘述。图10与图7的不同之处在于图10的显示面板中包含了一条第二裂纹检测线33及相关设置。如图10所示，第二裂纹检测线33设置为环绕显示区域10，用于从第二检测信号端(图未示)接收第二检测信号v2，检测单元可以包括检测晶体管，检测晶体管的控制极可以与测试控制线51连接，检测晶体管的第一极可以与第二裂纹检测线33连接，检测晶体管的第二极可以与检测显示单元组连接。检测晶体管可以为p型晶体管。第二裂纹检测线33通过不同的检测单元连接不同的检测显示单元组，与第二裂纹检测线33连接的检测单元不同于与第一裂纹检测线连接的检测单元，与第二裂纹检测线33对应的检测显示单元组不同于与第一裂纹检测线对应的检测显示单元组。图10中检测单元包括第一开关晶体管p5和第二开关晶体管p6。第一开关晶体管p5连接第二裂纹检测线33和检测显示单元组15，第二开关晶体管p6连接第二裂纹检测线33和检测显示单元组16。第二检测信号v2可以设置为高电平信号，第一检测信号v1和第二检测信号v2可以是相同的信号。在其他实施方式中，可以为与第二裂纹检测线33连接的检测单元设置单独的一条或多条控制线路，以控制检测单元将第二检测信号传输给对应的检测显示单元组，即与第二裂纹检测线33连接的检测单元可以不必受到测试控制线51的控制。检测单元可以设置为n型晶体管或其它具备开关功能的元件，可以根据需要设置检测单元的数量和位置，从而对显示面板边缘区域的裂纹进行检测，本公开对此不做限制。在包含第二裂纹检测线的显示面板中，第一裂纹检测线的线路布置方式可以采用如图8或图9所示，或者可以采用其它的布置形式，本公开对第一裂纹检测线及第二裂纹检测线的布置方式不作限制。进行面板裂纹检测的原理可以参见上述对倒角区进行裂纹检测的原理描述，在此不再赘述。通过本实施例的线路布置方式，可以同时进行面板裂纹检测和倒角区裂纹检测，节省了线路布置的空间，节约了测试时间，提升了测试效率。
[0098]
本公开实施例提供了一种显示装置，包括上述任一实施例中所述的显示面板。
[0099]
本公开实施例提供了一种显示面板的裂纹检测方法，应用于对上述显示面板进行
检测，所述方法包括：向至少两条第一裂纹检测线输入第一检测信号，在检测单元的控制下，向与倒角区对应的检测显示单元组提供所述裂纹检测线在所述倒角区传输的第一检测信号。根据所述检测显示单元组的显示结果确定所述第一裂纹检测线所穿过的所述倒角区是否存在裂纹。
[0100]
在一些示例性实施方式中，所述方法还包括：预先配置显示面板的倒角区与所述检测显示单元组的对应关系。
[0101]
在一些示例性实施方式中，所述方法还包括：向至少一条测试控制线输入测试控制信号。
[0102]
在一些示例性实施方式中，所述方法还包括：向至少一条第二裂纹检测线输入第二检测信号，在检测单元的控制下，将第二检测信号传输给对应的检测显示单元组。根据所述检测显示单元组的显示结果确定所述第二裂纹检测线所在的显示面板是否存在裂纹。
[0103]
本实施例的其它细节设置可以参照上述实施例的描述，在此不再赘述。