1.本实用新型涉及半导体测试设备技术领域，具体涉及对半导体测试片的改进。
背景技术：
2.随着社会各行各业的快速发展，各种类型的半导体产品的需求量日益增大。半导体厂家在生产过程中，为了保证半导体的质量，需要在整个生产过程中不断的对半导体进行检测。但是现有技术中的半导体测试基座对半导体进行测试时，难以一次性完成准确的测试，需要重复测试，才能判定结果，导致测试效率低下。
技术实现要素：
3.本实用新型针对以上问题，提供了一种结构简单，能够提高半导体测试准确性和工作效率的半导体产品的测试组件。
4.本实用新型的技术方案是：半导体产品的测试组件，若干个所述测试组件均匀的固定在测试台的顶面，所述测试组件包括上测试片、下测试片和绝缘隔板；
5.所述上测试片的前段为上测试段、后段为上固定段，所述上固定段固定在所述绝缘隔板的正面；
6.所述下测试片的前段为下测试段、后段为下固定段，所述下固定段固定在所述绝缘隔板的背面；
7.所述上测试段和所述下测试段同向；
8.所述上测试段前端设有朝上的上凸台，所述下测试段前端设有朝上的下凸台，所述下凸台的顶面和所述上凸台的顶面平齐，所述下凸台位于所述上凸台的外侧。
9.所述上固定段和所述下固定段的两侧均设有定位块，
10.所述绝缘隔板的正面和背面均设有凹槽，所述凹槽与所述上固定段和下固定段适配。
11.所述上固定段和下固定段上设有至少两个大小不一致、前后布置的定位安装孔。
12.所述上凸台和所述下凸台的顶面均设有坡面，且两个所述坡面形成“v”字形。
13.在所述上测试段和下测试段的前段分别设有轴向的上贯穿槽和下贯穿槽，所述上贯穿槽和下贯穿槽分别对应等分所述上测试段和下测试段。
14.本实用新型将上测试片和下测试片混合搭配，遵循开尔文四线法测试法则，上测试片和下测试片同时接触，增加了半导体引脚接触时的测试面积，有效保证电流在更短的时间内通过半导体，从而测试出相对应的结果，完成测试。
15.本实用新型具有测试导向、定位的作业，使半导体引脚能准确的落到测试点位，从而快速、准确的完成测试。
附图说明
16.图1是本实用新型的应用示意图，
17.图2是图1的仰视图，
18.图3是本实用新型的立体示意图，
19.图4是本实用新型的结构示意图，
20.图5是图4的仰视图，
21.图6是本实用新型中下测试片的立体示意图。
22.图中1是上测试片，11是上凸台，2是下测试片，21是下凸台，3是绝缘隔板，31是凹槽，4是定位块，5是定位安装孔，6是上贯穿槽或下贯穿槽，7是半导体。
具体实施方式
23.以下结合附图1-进一步说明本实用新型，若干个测试组件均匀的固定在测试台的顶面，测试组件包括上测试片1、下测试片2和绝缘隔板3；
24.上测试片1的前段为上测试段、后段为上固定段，上固定段固定在绝缘隔板3的正面；
25.下测试片2的前段为下测试段、后段为下固定段，下固定段固定在绝缘隔板3的背面；
26.上测试段和下测试段同向；
27.上测试段前端设有朝上的上凸台11，下测试段前端设有朝上的下凸台21，下凸台21的顶面和上凸台11的顶面平齐，下凸台21位于上凸台11的外侧。
28.本实用新型将上测试片1和下测试片2混合搭配，遵循开尔文四线法测试法则，上测试片1和下测试片2同时接触，增加了半导体7引脚接触时的测试面积，有效保证电流在更短的时间内通过半导体7，从而测试出相对应的结果，完成测试。
29.本实用新型具有测试导向、定位的作业，使半导体7引脚能准确的落到测试点位，从而快速、准确的完成测试。
30.上固定段和下固定段的两侧均设有定位块4，
31.绝缘隔板3的正面和背面均设有凹槽31，凹槽31与上固定段和下固定段适配，定位块4能便于上测试片1和下测试片2快速、准备的安装到凹槽31内，且不会轴向滑动。
32.上固定段和下固定段上设有至少两个大小不一致、前后布置的定位安装孔5，定位安装孔5具有防呆作用，可以避免安装错误。
33.上凸台和下凸台的顶面均设有坡面，且两个坡面形成“v”字形，能使半导体7产品在测试时自由的放置、滑动到最佳的测试位置。
34.在上测试段和下测试段的前段分别设有轴向的上贯穿槽6和下贯穿槽6，上贯穿槽6和下贯穿槽6分别对应等分上测试段和下测试段，将上测试段和下测试段等分成两份有两点好处：1、测试设备的下压头顶住半导体时，由于上测试段和下测试段的宽度减半，测试片的屈服力减小，半导体引脚受到的反作用力也随之减小，避免引脚发生变形；2、可以轮流使用两瓣的上测试段和下测试段，能延迟上测试片1和下测试片2的使用寿命。
技术特征：
1.半导体产品的测试组件，若干个所述测试组件均匀的固定在测试台的顶面，其特征在于，所述测试组件包括上测试片、下测试片和绝缘隔板；所述上测试片的前段为上测试段、后段为上固定段，所述上固定段固定在所述绝缘隔板的正面；所述下测试片的前段为下测试段、后段为下固定段，所述下固定段固定在所述绝缘隔板的背面；所述上测试段和所述下测试段同向；所述上测试段前端设有朝上的上凸台，所述下测试段前端设有朝上的下凸台，所述下凸台的顶面和所述上凸台的顶面平齐，所述下凸台位于所述上凸台的外侧。2.根据权利要求1所述的半导体产品的测试组件，其特征在于，所述上固定段和所述下固定段的两侧均设有定位块，所述绝缘隔板的正面和背面均设有凹槽，所述凹槽与所述上固定段和下固定段适配。3.根据权利要求1所述的半导体产品的测试组件，其特征在于，所述上固定段和下固定段上设有至少两个大小不一致、前后布置的定位安装孔。4.根据权利要求1所述的半导体产品的测试组件，其特征在于，所述上凸台和所述下凸台的顶面均设有坡面，且两个所述坡面形成“v”字形。5.根据权利要求1所述的半导体产品的测试组件，其特征在于，在所述上测试段和下测试段的前段分别设有轴向的上贯穿槽和下贯穿槽，所述上贯穿槽和下贯穿槽分别对应等分所述上测试段和下测试段。
技术总结
半导体产品的测试组件。涉及半导体测试设备技术领域，具体涉及对半导体测试片的改进。若干个所述测试组件均匀的固定在测试台的顶面，所述测试组件包括上测试片、下测试片和绝缘隔板；所述上测试片的前段为上测试段、后段为上固定段，所述上固定段固定在所述绝缘隔板的正面；所述下测试片的前段为下测试段、后段为下固定段，所述下固定段固定在所述绝缘隔板的背面；所述上测试段和所述下测试段同向。本实用新型具有测试导向、定位的作业，使半导体引脚能准确的落到测试点位，从而快速、准确的完成测试。完成测试。完成测试。
技术研发人员：张杰 王毅
受保护的技术使用者：扬州扬杰电子科技股份有限公司
技术研发日：2021.12.30
技术公布日：2022/5/29
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