一种针对M.2接口接入设备的测试转接系统及转接方法与流程

一种针对m.2接口接入设备的测试转接系统及转接方法
技术领域
1.本发明涉及m.2接口测试技术领域，尤其是指一种针对m.2接口接入设备的测试转接系统及转接方法。


背景技术：

2.m.2接口既可以接入高速的pci-e(peripheral component interconnect express周边器件高速互联)ssd(solid state drive固态硬盘)；也可以接入sata(serial advanced technology attachment,串行高级技术附件)ssd两种不同的存储设备，且其结构紧凑、占用空间小等优点因而应用将越来越广泛。
3.电脑或服务器主板在出厂前需要对其上设计的m.2接口对上述两种接入设备进行全面的功能测试，但一个m.2接口同时只能插入一个设备，如果要同时测试两个设备，就只能靠人工对接入设备的拔插，这样会造成测试效率低，测试成本高的缺点，如果此时使用机械代替人工进行拔插设备，根据m.2接口的特点，其接入设备的插入方向与水平固定方向成20
°
的角度，用机械来选择不同插入设备插入与拔出，机械的设计复杂，成本高，且主板的测试系统空间有限，很难实现。
4.现有技术专利公告号为：cn206931082u、专利名称为：一种多类型结构的m.2设备扩展卡，公开了一种多类型接口的m.2设备扩展卡，包括m.2连接器单元、m.2金手指接口单元，该现有技术的扩展卡可以接插于m.2连接器，接口类型灵活，适用于不同空间要求的系统；
5.但是由于m.2的pci-e通道，理论带宽达到了32gbps，采用延长线的接入方式或者上述机械继电器简单分时切换高速信号线，都会造成高速信号线波形失真，使测试失败。


技术实现要素：

6.为此，本发明所要解决的技术问题在于克服现有技术中m.2接口无法同时接入多个测试设备的问题，提供一种针对m.2接口接入设备的测试转接系统及转接方法，采用一个m.2接口同时接入多个测试设备，通过电子开关单元和机械开关单元控制分时切换，从而解决m.2接口多功能测试的问题。
7.为解决上述技术问题，本发明提供了一种针对m.2接口接入设备的测试转接系统，用于连接外部主板与测试设备，包括：
8.金手指接口单元，与外部主板连接；
9.测试设备接口单元，包括多个连接器接口，通过多个连接器接口与多个测试设备连接；
10.电子开关单元和机械开关单元，设置在金手指接口单元与测试设备接口单元之间，通过所述电子开关单元和机械开关单元实现不同测试设备与外部主板的连接和切换；
11.系统控制单元，与电子开关单元和机械开关单元电连接，向所述电子开关单元和机械开关单元发出控制信号。
12.在本发明的一个实施例中，所述外部主板通过金手指接口单元中的m.2_sel线信号的高或低状态识别接入的测试设备。
13.在本发明的一个实施例中，所述测试设备连接器接口单元包括第一连接器接口和第二连接器接口，所述第一连接器接口定义为sata接口，在所述sata接口中插入sata设备，所述第二连接器接口定义为pcie接口，在所述pcie接口中插入pcie设备。
14.在本发明的一个实施例中，所述电子开关单元的输入端与金手指接口单元通过高速差分总线连接，所述电子开关单元的输出端通过系统控制单元的控制，分时与sata接口或pcie接口连接。
15.在本发明的一个实施例中，所述电子开关单元为双通道开关max4888c。
16.在本发明的一个实施例中，所述机械开关单元包括连接在测试设备接口单元和金手指接口单元之间的第一控制开关和连接在电子开关单元与金手指接口单元之间的第二控制开关，所述第一控制开关控制金手指接口单元与不同测试设备接入时信号线的切换，所述第二控制开关控制电子开关单元的切换动作。
17.在本发明的一个实施例中，所述金手指接口单元与所述第一控制开关的之间设置有i2c_scl、i2c_sda总线，所述第一控制开关与不同的连接器接口之间设置有i2c_scl、i2c_sda分线。
18.在本发明的一个实施例中，所述电子开关单元与所述第二控制开关之间sel_nc_no信号线，通过控制sel_nc_no信号线通断控制电子开关单元的切换。
19.在本发明的一个实施例中，所述第一控制开关和第二控制开关均为双刀双掷型继电器。
20.为解决上述技术问题，本发明还提供了一种针对m.2接口接入设备的测试转接方法，采用上述针对m.2接口接入设备的测试转接系统实现不同测试设备通过同一m.2接口与外部主板的转接切换，包括以下步骤：
21.s1、将外部主板与金手指接口单元连接，将不同的测试设备与测试设备接口单元连接；
22.s2、通过系统控制单元向电子开关单元和机械开关单元发出控制信号，通过电子开关单元和机械开关单元的同步切换，使外部主板分别与不同的测试设备分时连接。
23.本发明的上述技术方案相比现有技术具有以下优点：
24.本发明所述的针对m.2接口接入设备的测试转接系统，用于连接外部主板与测试设备，在金手指接口单元与测试设备接口单元之间设置电子开关单元和机械开关单元，通过电子开关单元和机械开关单元实现不同测试设备与外部主板的连接和切换，采用一个m.2接口同时接入多个测试设备，通过电子开关单元和机械开关单元控制分时切换，从而解决m.2接口多功能测试的问题；并且，相比于传统的机械继电器切换技术，通过电子开关切换，更适用于切换高速差分信号，防止高速差分信号波形失真。
附图说明
25.为了使本发明的内容更容易被清楚的理解，下面根据本发明的具体实施例并结合附图，对本发明作进一步详细的说明，其中
26.图1是本发明的针对m.2接口接入设备的测试转接系统的电路原理图；
27.图2是本发明的针对m.2接口接入设备的测试转接方法的步骤图。
具体实施方式
28.下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本发明并能予以实施，但所举实施例不作为对本发明的限定。
29.实施例1
30.参照图1所示，本发明的一种针对m.2接口接入设备的测试转接系统，用于连接外部主板与测试设备，包括：
31.金手指接口单元，与外部主板连接；
32.测试设备接口单元，包括多个连接器接口，通过多个连接器接口与多个测试设备连接；
33.电子开关单元和机械开关单元，设置在金手指接口单元与测试设备接口单元之间，通过所述电子开关单元和机械开关单元实现不同测试设备与外部主板的连接和切换；
34.系统控制单元，与电子开关单元和机械开关单元连接，向所述电子开关单元和机械开关单元发出控制信号。
35.本实施例的针对m.2接口接入设备的测试转接系统，用于连接外部主板与测试设备，在金手指接口单元与测试设备接口单元之间设置电子开关单元和机械开关单元，通过电子开关单元和机械开关单元实现不同测试设备与外部主板的连接和切换，采用一个m.2接口同时接入多个测试设备，通过电子开关单元和机械开关单元控制分时切换，从而解决m.2接口多功能测试的问题；并且，相比于传统的机械继电器切换技术，通过电子开关切换，更适用于切换高速差分信号，防止高速差分信号波形失真。
36.本实施例中，在对m.2接口测试时，主要接入两个测试设备，即高速的pci-e ssd和sata ssd两种不同的存储设备，为了能够接入这两个测试设备，参照图1所示，所述测试设备连接器接口单元包括第一连接器接口和第二连接器接口，所述第一连接器接口定义为sata接口，在所述sata接口中插入sata sdd设备，所述第二连接器接口定义为pcie接口，在所述pcie接口中插入pcie sdd设备；由于pcie sdd设备所用到的pci-e3.0x4通道，理论带宽达到了32gbps，所以需要用高速差分总线来连接，其分时切换不能采用普通机械开关来执行，在此基础上本实施例采用电子开关单元；
37.具体地，所述电子开关单元的输入端与金手指接口单元通过高速差分总线连接，所述电子开关单元的输出端通过系统控制单元的控制，分时与sata接口或pcie接口连接。
38.参照图1所示，所述机械开关单元包括连接在测试设备接口单元和金手指接口单元之间的第一控制开关，所述第一控制开关控制金手指接口单元与不同测试设备接入时信号线的切换；
39.具体地，所述金手指接口单元与测试设备接口单元中不同的连接器接口之间设置有多根信号线，i2c_scl、i2c_sda总线、100m信号线、差分总线、p3v3信号线、gnd线、m.2_sel信号线，在实现金手指接口单元与不同连接器接口连接切换时，有些总线需要进行切换，如i2c_scl、i2c_sda总线、差分总线需要切换，有些总线不需要进行切换，直接并联连接到不同的连接器接口中，如100m信号线、p3v3信号线、gnd线、m.2_sel信号线，在需要进行切换的信号线中，只有差分总线需要采用电子开关单元来切换，其他的信号线切换可以采用传统
的机械开关切换；
40.具体地，为了实现i2c_scl、i2c_sda总线的切换，所述金手指接口单元与所述第一控制开关的之间设置有i2c_scl、i2c_sda总线，所述第一控制开关与不同的连接器接口之间设置有i2c_scl、i2c_sda分线，所述i2c_scl分线包括与sata接口连接的i2c_scl_sata和与pcie接口连接的i2c_scl_pcie，所述i2c_sda分线包括与sata接口连接的i2c_sda_sata和与pcie接口连接的i2c_sda_pcie；
41.在电子开关单元与所述sata接口连接时，所述第一控制开关控制i2c_scl总线与i2c_scl_sata连接、控制i2c_sda总线与i2c_sda_sata连接，在电子开关单元与所述pcie接口连接时，所述第一控制开关控制i2c_scl总线与i2c_scl_pcie连接、控制i2c_sda总线与i2c_sda_pcie连接。
42.本实施例的所述电子开关单元为双通道开关max4888c，所述max4888c都具有切换pcie等高速差分信号的能力，所述电子开关单元需要控制开关实现切换，因此，所述机械开关单元还包括连接在电子开关单元与金手指接口单元之间的第二控制开关，所述第二控制开关控制电子开关单元的切换动作，所述电子开关单元与所述第二控制开关之间sel_nc_no信号线，通过控制sel_nc_no信号线通断控制电子开关单元的切换。
43.具体地，所述第一控制开关和第二控制开关均为双刀双掷型继电器，所述第一控制开关和第二控制开关的型号可选取g6k-2f-24vdc的小型继电器。
44.具体地，所述外部主板通过金手指接口单元中的信号线的高或低状态识别接入的测试设备，本实施例中，用于高或低状态识别的信号线为m.2_sel信号线。
45.实施例2
46.参照图2所示，本发明的一种针对m.2接口接入设备的测试转接方法，采用上述针对m.2接口接入设备的测试转接系统实现不同测试设备通过同一m.2接口与外部主板的转接切换，包括以下步骤：
47.s1、将外部主板与金手指接口单元连接，将不同的测试设备与测试设备接口单元连接；
48.s2、通过系统控制单元向电子开关单元和机械开关单元发出控制信号，通过电子开关单元和机械开关单元的同步切换，使外部主板分别与不同的测试设备分时连接。
49.本领域内的技术人员应明白，本技术的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本技术可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本技术可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、cd-rom、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
50.本技术是参照根据本技术实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
51.这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特
定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
52.这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
53.显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。