双卡测试装置、方法、设备及可读存储介质与流程

1.本技术涉及存储设备技术领域，具体涉及一种双卡测试装置、方法、设备及可读存储介质。


背景技术：

2.随着信息处理技术的发展，对于存储装置的需求日益增加，一些小型的存储装置(例如存储卡)由于具备携带方便、高数据储存量及易于存取的优点而广为使用。基于存储卡的需求增加，在存储卡量产阶段前，存储卡测试流程的重要性也随之相对提升，并进一步确保存储卡的效能及兼容性。因此，对系统制造商及设计者而言，如何低成本及高效能地完成存储卡测试成为一个重要的课题。
3.在传统存储卡测试时，需要测试人员手动逐步地处理测试，从而确保存储卡的操作。举例来说，需透过测试人员手动地插入或拔除每一张存储卡。进一步，在实际测试流程中，还需要各种不同的测试装置，用以确保存储卡的效能及兼容性。可见，传统所使用的存储卡测试流程不仅费时也昂贵。因此，需要一种能够节省成本及自动化执行的存储卡测试装置，毋须倚赖人力且能够提升测试效率，从而提供一种兼具成本考量、可靠且易实现的存储卡测试流程。
4.现有技术中对存储卡的测试原理是用同一笔数据写入到多个存储卡中，然后将数据读回来，验证读回来的数据和写入的数据的吻合度，以此来进行存储卡的操作。在构思及实现本技术过程中，本技术的发明人发现，现有技术存在一些缺陷，当待测试的存储设备为存储卡时，若存储卡的容量过大，则需要的待测试数据量非常大，导致整个测试流程时间过长；另外，待测试数据需要从主机11写入到多个待测试的存储设备，包括写入—读取—数据比对，以及再写入—擦除区块—读取—数据比对的过程，这类测试流程还需要反复多次，从而保证测试设备的存储数据的稳定性，导致测试过程不仅费时还需要大量资源，大大增加了测试成本，且测试效率较为低下。
5.前面的叙述在于提供一般的背景信息，并不一定构成现有技术。


技术实现要素：

6.针对上述技术问题，本技术提供一种双卡测试装置、方法、设备及可读存储介质，能够快速对测试卡进行测试，提高存储卡测试效率。
7.为解决上述技术问题，本技术提供一种双卡测试装置，所述双卡测试装置包括主机、控制芯片和测试板，所述测试板包括测试母卡和测试子卡；所述控制芯片包括比对电路；
8.其中，所述主机用于发送测试指令和存储测试数据，并将数据从主机中写入至所述测试板的测试母卡和测试子卡中和/或从所述测试板的测试母卡和测试子卡中读取数据；
9.所述测试板用于承载所述测试母卡、测试子卡以及控制芯片；
10.所述控制芯片用于控制将主机中的同一笔测试数据同时写入到测试母卡和测试子卡中以及从所述测试母卡和测试子卡中读取该数据并将其输入到所述比对电路中进行比对处理，得到所述测试子卡的测试结果。
11.可选地，所述从所述测试母卡和测试子卡中读取该数据并将其输入到所述比对电路中进行比对处理，得到所述测试子卡的测试结果，包括：
12.通过所述比对电路同时将读取到的所述主机写入到所述测试母卡和测试子卡的同一笔数据进行逐个字节的异或运算，生成异或运算累加结果；
13.根据所述异或运算累加结果进行比对分析，分析得到所述测试子卡对应的测试结果。
14.可选地，所述比对电路包括若干组串联的字节异或运算逻辑电路，每一组所述字节异或运算逻辑电路包括两个或非门和一个与门。
15.可选地，所述根据所述异或运算累加结果进行比对分析，分析得到所述测试子卡对应的测试结果，包括：
16.通过所述控制芯片对所述异或运算累加结果进行逐个字节的比对；
17.当比对到所述异或运算累加结果中任一字节数值为1时，判定所述测试母卡和所述测试子卡中至少一张为不合格卡。
18.可选地，在所述判定所述测试母卡和所述测试子卡中至少一张为不合格卡之后，还包括：
19.通过所述控制芯片将所述同一笔测试数据分别与所述测试母卡读取的数据与所述测试子卡读取的数据再次进行比对处理，分别得到所述测试母卡和所述测试子卡对应的测试结果。
20.可选地，在所述将同一笔测试数据分别写入至所述测试板的测试母卡和测试子卡中之前，还包括：
21.通过所述主机将同一笔测试数据写入至所述控制芯片中的数据缓存区，所述数据缓存区包括写数据缓存区和读数据缓存区。
22.相应地，本技术还提供了一种双卡测试方法，执行于双卡测试装置，所述双卡测试装置包括主机、控制芯片和测试板，所述控制芯片包括比对电路；所述双卡测试方法包括：
23.通过所述主机发送测试指令和存储测试数据，并将数据从主机中写入至所述测试板的测试母卡和测试子卡中和/或从所述测试板的测试母卡和测试子卡中读取数据；
24.通过所述测试板承载所述测试母卡、测试子卡以及控制芯片；
25.通过所述控制芯片控制将主机中的同一笔测试数据同时写入到测试母卡和测试子卡中以及从所述测试母卡和测试子卡中读取该数据并将其输入到所述比对电路中进行比对处理，得到所述测试子卡的测试结果。
26.本技术还提出了一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一项所述的双卡测试方法的步骤。
27.本技术还提出了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一项所述的双卡测试方法的步骤。
28.实施本技术实施例，具有如下有益效果：
29.如上所述，本技术提供的一种双卡测试装置、方法、设备及可读存储介质，该双卡
测试装置包括主机、控制芯片和测试板，测试板包括测试母卡和测试子卡；控制芯片包括比对电路；其中，上述主机用于发送测试指令和存储测试数据，并将数据从主机中写入至所述测试板的测试母卡和测试子卡中和/或从所述测试板的测试母卡和测试子卡中读取数据；上述测试板用于承载所述测试母卡、测试子卡以及控制芯片；上述控制芯片用于控制将主机中的同一笔测试数据同时写入到测试母卡和测试子卡中以及从所述测试母卡和测试子卡中读取该数据并将其输入到比对电路中进行比对处理，得到测试子卡的测试结果。本技术在通过主机将同一笔测试数据写入至测试母卡和测试子卡的同时，通过控制芯片读取写入到测试母卡和测试子卡中的同一笔数据，并输入至比对电路对测试母卡和测试子卡进行比对处理，从而实现对测试母卡和测试子卡的同时写入和同时读取的测试，快速有效得到测试卡的测试结果，从而无需测试卡在完全读取和完全写入测试之后才能够得到测试结果，极大提高存储卡的测试效率，缩短整个测试流程，减少测试时间和成本。
附图说明
30.此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本技术的实施例，并与说明书一起用于解释本技术的原理。为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
31.图1是本技术实施例提供的双卡测试装置的结构示意图；
32.图2是本技术实施例提供的双卡测试装置的具体架构示意图；
33.图3是本技术实施例提供的8位的异或电路图；
34.图4是本技术实施例提供的8位的异或电路逻辑图；
35.图5是本技术实施例提供的sram的结构示意图；
36.图6是本技术实施例提供的双卡测试方法的流程示意图；
37.图7是本技术实施例提供的计算机设备的结构示意框图。
38.本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。通过上述附图，已示出本技术明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本技术构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本技术的概念。
具体实施方式
39.这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本技术相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本技术的一些方面相一致的装置和方法的例子。
40.需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素，此外，本技术不同实施例中具
有同样命名的部件、特征、要素可能具有相同含义，也可能具有不同含义，其具体含义需以其在该具体实施例中的解释或者进一步结合该具体实施例中上下文进行确定。
41.应当理解，尽管在本文可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本文范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在
……
时”或“当
……
时”或“响应于确定”。再者，如同在本文中所使用的，单数形式“一”、“一个”和“该”旨在也包括复数形式，除非上下文中有相反的指示。应当进一步理解，术语“包含”、“包括”表明存在所述的特征、步骤、操作、元件、组件、项目、种类、和/或组，但不排除一个或多个其他特征、步骤、操作、元件、组件、项目、种类、和/或组的存在、出现或添加。本技术使用的术语“或”、“和/或”、“包括以下至少一个”等可被解释为包括性的，或意味着任一个或任何组合。例如，“包括以下至少一个：a、b、c”意味着“以下任一个：a；b；c；a和b；a和c；b和c；a和b和c”，再如，“a、b或c”或者“a、b和/或c”意味着“以下任一个：a；b；c；a和b；a和c；b和c；a和b和c”。仅当元件、功能、步骤或操作的组合在某些方式下内在地互相排斥时，才会出现该定义的例外。
42.应该理解的是，虽然本技术实施例中的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，其可以以其他的顺序执行。而且，图中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，其执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其他步骤或者其他步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
43.取决于语境，如在此所使用的词语“如果”、“若”可以被解释成为“在
……
时”或“当
……
时”或“响应于确定”或“响应于检测”。类似地，取决于语境，短语“如果确定”或“如果检测(陈述的条件或事件)”可以被解释成为“当确定时”或“响应于确定”或“当检测(陈述的条件或事件)时”或“响应于检测(陈述的条件或事件)”。
44.需要说明的是，在本文中，采用了诸如s10、s20等步骤代号，其目的是为了更清楚简要地表述相应内容，不构成顺序上的实质性限制，本领域技术人员在具体实施时，可能会先执行s20后执行s10等，但这些均应在本技术的保护范围之内。
45.应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
46.在后续的描述中，使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或者“单元”的后缀仅为了有利于本技术的说明，其本身没有特定的意义。因此，“模块”、“部件”或者“单元”可以混合地使用。
47.首先介绍本技术可以提供的应用场景，如提供一种双卡测试装置、方法、设备及可读存储介质，在将测试数据分别写入至测试母卡和测试子卡的同时，通过控制芯片读取写入到测试母卡和测试子卡中的同一笔数据输入至比对电路进行比对处理，从而快速得到测试卡的测试结果，有效提高测试效率。
48.请参阅图1，图1是本技术实施例提供的双卡测试装置的结构示意图。该双卡测试装置包括主机11、控制芯片12和测试板13，所述测试板13包括测试母卡和测试子卡(以下简称母卡/卡1和子卡/卡2)；所述控制芯片12包括比对电路；
49.其中，所述主机11用于发送测试指令和存储测试数据，并将测试数据从主机11中
写入至所述测试板13的母卡和子卡中和/或从所述测试板13的母卡和子卡中读取数据。
50.具体的，对于所述主机11，主机11可为任意型态的计算机系统。例如。主机11可为笔记本计算机、台式计算机、智能手机、平板计算机、工业计算机、游戏机、数码相机等各式电子系统。在本实施例中，主机11用于发送测试指令和存储测试数据，控制芯片12用于接收和解析该测试指令，从而根据该测试指令将同一笔测试数据从主机11中分别同时写入至双卡测试装置中的测试板中的母卡和子卡。例如在一个预设周期时间内将分成若干批次的测试数据同时写入至母卡和子卡中。
51.所述测试板13用于承载母卡、子卡以及控制芯片12。
52.具体的，对于所述测试板13，主要用于承载母卡、子卡以及控制芯片，测试板上设有卡槽，将需要测试的母卡和子卡插到测试板的卡槽。例如该测试板可以为usb集线器连接读卡器。usb集线器一端为usb接口，该usb接口和主机11连接；另一端包括多个独立usb接口，该多个独立usb接口可以连接多个对应的读卡器以连接上述母卡、子卡和控制芯片12。
53.所述控制芯片12用于控制将主机11中的测试数据同时写入到母卡和子卡中以及从上述母卡和子卡中读取该测试数据并将其输入到所述比对电路中进行比对处理，从而得到子卡的测试结果。
54.可选地，在一些实施例中，读取主机11写入到母卡和子卡的测试数据据并将其输入到所述比对电路中进行比对处理，得到子卡的测试结果，具体可以包括：
55.通过所述比对电路同时将读取到的主机11写入到母卡和子卡的测试数据进行逐个字节的异或运算，生成异或运算累加结果；
56.根据所述异或运算累加结果进行比对分析，分析得到所述子卡对应的测试结果。
57.具体的，对于上述控制芯片12，主要用于控制将主机11中的测试数据分别写入至测试板13的母卡和子卡中的同时，从母卡和子卡中同时读取测试数据，并将其输入至控制芯片12中的比对电路中进行异或运算，从而得到各个测试卡对应的测试结果。其中，所述比对电路具体为异或电路，由于数据是由多个字节组成的，因此比对电路实际上是一个字节异或累加电路，由于数据是连续的，当一个字节一个字节地异或运算时，实际上是一个累加的逻辑，而累加的硬件可以是寄存器。
58.在具体的实施例中，如图2所示，双卡测试装置包括主机11、控制芯片12和测试板13，首先主机11通过pcie/usb接口与控制芯片12连接，并将测试数据通过控制芯片12的sram缓存后写入至母卡/卡1和子卡/卡2中，同时，通过控制芯片12的比对电路读取卡1和卡2读取主机写11入的测试数据进行异或运算处理，将异或运算结果累加至第一寄存器，通过控制芯片12读取第一寄存器的异或运算结果进行比对识别，从而得到卡1和卡2的测试结果，只要出现一个字节异或运算结果为“1”，则表示至少有一个卡的测试结果是ng的。在实际测试过程中，主机11发出数据写入到各个卡中的指令，控制芯片12执行该指令，控制芯片12控制主机11的数据先缓存至缓存区sram中。其中，控制芯片12是指测试装置的控制芯片12，该控制芯片12焊接到一个pcb上，pcb一头有连接主机11的接口，另外一头有插接多个存储卡的卡槽，用以实现卡连接到测试板。
59.可选地，在一些实施例中，根据异或运算累加结果进行比对分析，分析得到子卡对应的测试结果，具体可以包括：
60.通过控制芯片12对异或运算累加结果进行逐个字节的比对；
61.当比对到异或运算累加结果中任一字节数值为1时，判定母卡和子卡中至少一张为不合格卡。
62.具体的，在测试过程中，由于是将同一笔数据写入到母卡和子卡中，因此控制芯片12控制从两个卡中同时读取数据，将各自读取出的数据放入到比对电路中进行异或运算。两个卡中的测试数据，数据表达方式是二进制的“0”“1”，用异或电路来对这些数据进行异或运算处理，若是该两个卡是ok的，那么对从两个卡中读取的数据进行异或运算，异或运算的结果就为“0”；若是两个卡中有一个卡是ng的，那么异或运算的结果就为“1”。
63.在具体的实施例中，由于是通过控制芯片12从存储卡中读取数据，其数据读取的方式是一个字节一个字节地读取；因此，数据对比即异或运算是逐字节对比，与存储卡的数据读写原理是相同的，同样是一个字节一个字节的读写，也可是逐一bit进行读取，可根据实际需求进行设置。因此，只要出现一个字节异或运算结果为“1”，则表示至少有一个卡的测试结果是ng的，从而得到存储卡的测试结果。
64.可选地，在一些实施例中，比对电路包括若干组串联的字节异或运算逻辑电路，每一组所述字节异或运算逻辑电路包括两个或非门和一个与门。
65.具体的，如图3和图4所示的8位的异或电路图和逻辑电路图，异或电路逻辑原理为a与b异或等价于a与b同或取反，即
[0066][0067]
对应逻辑电路为两个或非门和一个与门组成。对于8位二进制比较，通过将该逻辑电路串联8组即可。对应单个cmos异或门电路，通过将该逻辑电路串联8组即可。对应单个cmos异或门电路，由一级或非门和一级与或非门组成。对于输入a和b，首先经过或非门得(a b)-，再经过与或非门得到a和b异或输出。
[0068]
具体真值表如下表1所示，因此只有两张测试卡异或运算结果为“0”时，判定两张卡的读取结果一致；当出现一个字节异或运算结果为“1”，则表示至少有一个卡的测试结果是ng的。
[0069]
ab或非门输出与或非门输出0010010110011100
[0070]
表1
[0071]
以8位的异或电路运算举例，例如比对电路读取的母卡32位二进制数据为1001 1100 0011 0001 0101 1110 1011 0111，32位十六进制数据为9c 3 1 5e b 7；而子卡32位二进制数据为1001 1100 0011 0011 0101 1100 1011 0111，其32位十六进制数据为9c 3 3 5c b 7；再经过异或累加运算后，得到异或比对结果为0000 0000 0000 0010 0000 0010 0000 0000(二进制)或0 0 0 2 0 2 0 0(16进制)，从而比对发现第4个和第6个8bit位出现错误，则判定至少一张测试卡为ng。
[0072]
在具体的实施例中，首先将外部数据输入到sram的bulk fifo等待处理，再将fifo数据根据sram的读写要求(对其进行编译码操作，操作完成再返回sram中，根据需要重新存
储到usb或者其他操作。每次写入数据都会覆盖sram fifo之前数据。
[0073]
可选地，在一些实施例中，在判定母卡和子卡中至少一张为不合格卡之后，具体还可以包括：
[0074]
通过控制芯片12将同一笔测试数据分别与母卡读取的数据与子卡读取的数据再次进行比对处理，分别得到母卡和子卡对应的测试结果。
[0075]
具体的，当判定其中至少一张测试卡出现ng时，还需要分别对母卡和子卡进行二次比对处理，通过将测试数据分别与母卡读取的数据与子卡读取的数据再次进行比对处理，比对原理和之前母卡与子卡的比对过程一样，将静态随机存取存储器sram中的写数据缓冲区中的测试数据分别与读数据缓冲区中的母卡读取的数据和子卡读取的数据进行单独比对，从而准确得出哪一张测试卡ng或两张卡均ng的测试结果，进一步提高存储卡测试的准确性。
[0076]
可选地，在一些实施例中，在将同一笔测试数据分别写入至所述测试板13的母卡和子卡中之前，具体还可以包括：
[0077]
通过主机11将测试数据写入至控制芯片12中的数据缓存区，该数据缓存区包括写数据缓存区和读数据缓存区。
[0078]
具体的，在开始测试时，通过主机11将测试数据写入至控制芯片12中，通过控制芯片12将主机11发送的测试数据进行分段，将分段得到的w1、w2、w3和w4先写入至静态随机存取存储器sram中的写数据缓冲区，再将写数据缓冲区的w1、w2、w3和w4分别同时写入至母卡和子卡，以此来实现数据同时写入到各个测试卡中。
[0079]
如图5所示，静态随机存取存储器sram包括写数据缓存区和读数据缓存区，写数据缓存区用于缓存主机写入测试卡的测试数据，读数据缓存区用于缓存母卡和子卡读取主机写入的测试数据。
[0080]
在现有技术中，当待测试的存储设备为存储卡时，若存储卡的容量过大，则需要的待测试数据量非常大，导致整个测试流程时间过长；另外，待测试数据需要从主机11写入到多个待测试的存储设备，包括写入—读取—数据比对，以及再写入—擦除区块—读取—数据比对的过程，这类测试流程还需要反复多次，从而保证测试设备的存储数据的稳定性，导致测试过程不仅费时还需要大量资源，大大增加了测试成本，且测试效率较为低下。并且现有技术是通过不同周期将不同的测试数据分别写入到不同的测试存储端，导致写入和读取效率极为低下。
[0081]
而本技术实施例为了解决上述技术问题，提供一种双卡测试装置，包括主机11、控制芯片12和测试板14，其中，测试板13包括母卡和子卡；控制芯片12包括比对电路，主机11用于发送测试指令，并将测试数据分别写入至测试板13的母卡和子卡中；测试板13用于承载母卡、子卡以及控制芯片12；控制芯片12用于读取主机11写入到母卡和子卡中的测试数据并将其输入到比对电路中进行比对处理，得到子卡的测试结果。可见，本实施例首先通过主机将同一笔测试数据写入至母卡和子卡的同时，通过控制芯片读取写入到母卡和子卡中的测试数据，并输入至比对电路对母卡和子卡进行比对处理，从而实现对母卡和子卡的同时写入和同时读取的测试，快速有效得到测试卡的测试结果，从而无需测试卡在完全读取和完全写入测试之后才能够得到测试结果，极大提高存储卡的测试效率，缩短整个测试流程，减少测试时间和成本。
[0082]
相应地，如图6所示，本技术实施例还提供了一种双卡测试方法，执行于双卡测试装置，所述双卡测试装置包括主机、控制芯片和测试板，所述控制芯片包括比对电路；所述双卡测试方法包括：
[0083]
s10.通过主机发送测试指令，并将同一笔测试数据分别写入至测试板的测试母卡和测试子卡中。
[0084]
s20.通过测试板用于安装测试母卡、测试子卡以及控制芯片。
[0085]
s30.通过控制芯片读取主机写入到测试母卡和测试子卡中的同一笔数据并将其输入到比对电路中进行比对处理，得到测试子卡的测试结果。
[0086]
可选地，在一些实施例中，步骤s30具体可以包括：
[0087]
s31.通过比对电路同时将读取到的主机写入到测试母卡和测试子卡的同一笔数据进行逐个字节的异或运算，生成异或运算累加结果；
[0088]
s32.根据异或运算累加结果进行比对分析，分析得到测试子卡对应的测试结果。
[0089]
可选地，在一些实施例中，比对电路包括若干组串联的字节异或运算逻辑电路，每一组所述字节异或运算逻辑电路包括两个或非门和一个与门。
[0090]
可选地，在一些实施例中，步骤s32具体可以包括：
[0091]
s321.通过控制芯片对所述异或运算累加结果进行逐个字节的比对；
[0092]
s322.当比对到异或运算累加结果中任一字节数值为1时，判定测试母卡和测试子卡中至少一张为不合格卡。
[0093]
可选地，在一些实施例中，在步骤s322之后，该双卡测试方法具体还可以包括：
[0094]
s323.通过控制芯片将所述同一笔测试数据分别与测试母卡读取的数据与测试子卡读取的数据再次进行比对处理，分别得到测试母卡和测试子卡对应的测试结果。
[0095]
可选地，在一些实施例中，步骤s10具体还可以包括：
[0096]
通过主机将同一笔测试数据写入至控制芯片中的数据缓存区，该数据缓存区包括写数据缓存区和读数据缓存区。
[0097]
本技术实施例提供的一种双卡测试方法，执行于双卡测试装置，该双卡测试装置包括主机、控制芯片和测试板，控制芯片包括比对电路；上述双卡测试方法包括：通过主机发送测试指令，并将同一笔测试数据分别写入至测试板的母卡和子卡中；通过测试板用于承载母卡、子卡以及控制芯片；通过控制芯片读取主机写入到母卡和子卡中的测试数据并将其输入到比对电路中进行比对处理，得到测试子卡的测试结果。本技术实施例首先通过主机将测试数据写入至母卡和子卡的同时，通过控制芯片读取写入到母卡和子卡中的测试数据，并输入至比对电路对母卡和子卡进行比对处理，从而实现对母卡和子卡的同时写入和同时读取的测试，快速有效得到测试卡的测试结果，从而无需测试卡在完全读取和完全写入测试之后才能够得到测试结果，极大提高存储卡的测试效率，缩短整个测试流程，减少测试时间和成本。
[0098]
参照图7，本技术实施例中还提供一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构可以如图7所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口和数据库。其中，该计算机设计的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该
计算机设备的数据库用于储存双卡测试方法等数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种双卡测试方法，包括：通过主机发送测试指令，并将同一笔测试数据分别写入至测试板的母卡和子卡中；通过测试板承载母卡、子卡以及控制芯片；通过控制芯片读取主机写入到母卡和测试子卡中的测试数据并将其输入到比对电路中进行比对处理，得到子卡的测试结果。
[0099]
本技术一实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现一种双卡测试方法，包括步骤：通过主机发送测试指令，并将同一笔测试数据分别写入至测试板的母卡和子卡中；通过测试板承载母卡、子卡以及控制芯片；通过控制芯片读取主机写入到母卡和子卡中的测试数据并将其输入到比对电路中进行比对处理，得到子卡的测试结果。
[0100]
上述执行的双卡测试方法，本技术实施例首先通过主机将同一笔测试数据写入至母卡和子卡的同时，通过控制芯片读取写入到母卡和子卡中的测试数据，并输入至比对电路对母卡和子卡进行比对处理，从而实现对母卡和子卡的同时写入和同时读取的测试，快速有效得到测试卡的测试结果，从而无需测试卡在完全读取和完全写入测试之后才能够得到测试结果，极大提高存储卡的测试效率，缩短整个测试流程，减少测试时间和成本。
[0101]
可以理解，上述场景仅是作为示例，并不构成对于本技术实施例提供的技术方案的应用场景的限定，本技术的技术方案还可应用于其他场景。例如，本领域普通技术人员可知，随着系统架构的演变和新业务场景的出现，本技术实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。
[0102]
上述本技术实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
[0103]
本技术实施例方法中的步骤可以根据实际需要进行顺序调整、合并和删减。
[0104]
本技术实施例设备中的单元可以根据实际需要进行合并、划分和删减。
[0105]
在本技术中，对于相同或相似的术语概念、技术方案和/或应用场景描述，一般只在第一次出现时进行详细描述，后面再重复出现时，为了简洁，一般未再重复阐述，在理解本技术技术方案等内容时，对于在后未详细描述的相同或相似的术语概念、技术方案和/或应用场景描述等，可以参考其之前的相关详细描述。
[0106]
在本技术中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。
[0107]
本技术技术方案的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本技术记载的范围。
[0108]
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本技术的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上的一个存储介质(如rom/ram、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，被控终端，或者网络设备等)执行本技术每个实施例的方法。
[0109]
在上述实施例中，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时，可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。计算机程序产品
包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行计算机程序指令时，全部或部分地产生按照本技术实施例的流程或功能。计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络，或者其他可编程装置。计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、数字用户线)或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。可用介质可以是磁性介质，(例如，软盘、存储盘、磁带)、光介质(例如，dvd)，或者半导体介质(例如固态存储盘solid state disk(ssd))等。
[0110]
以上仅为本技术的优选实施例，并非因此限制本技术的专利范围，凡是利用本技术说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本技术的专利保护范围内。