双卡测试装置、方法、设备及可读存储介质与流程

技术特征：
1.一种双卡测试装置，其特征在于，所述双卡测试装置包括主机、控制芯片和测试板，所述测试板包括测试母卡和测试子卡；所述控制芯片包括比对电路；其中，所述主机用于发送测试指令和存储测试数据，并将数据从主机中写入至所述测试板的测试母卡和测试子卡中和/或从所述测试板的测试母卡和测试子卡中读取数据；所述测试板用于承载所述测试母卡、测试子卡以及控制芯片；所述控制芯片用于控制将主机中的同一笔测试数据同时写入到测试母卡和测试子卡中以及从所述测试母卡和测试子卡中读取该数据并将其输入到所述比对电路中进行比对处理，得到所述测试子卡的测试结果。2.根据权利要求1所述的双卡测试装置，其特征在于，所述从所述测试母卡和测试子卡中读取该数据并将其输入到所述比对电路中进行比对处理，得到所述测试子卡的测试结果，包括：通过所述比对电路同时将读取到的所述主机写入到所述测试母卡和测试子卡的同一笔数据进行逐个字节的异或运算，生成异或运算累加结果；根据所述异或运算累加结果进行比对分析，分析得到所述测试子卡对应的测试结果。3.根据权利要求2所述的双卡测试装置，其特征在于，所述比对电路包括若干组串联的字节异或运算逻辑电路，每一组所述字节异或运算逻辑电路包括两个或非门和一个与门。4.根据权利要求2所述的双卡测试装置，其特征在于，所述根据所述异或运算累加结果进行比对分析，分析得到所述测试子卡对应的测试结果，包括：通过所述控制芯片对所述异或运算累加结果进行逐个字节的比对；当比对到所述异或运算累加结果中任一字节数值为1时，判定所述测试母卡和所述测试子卡中至少一张为不合格卡。5.根据权利要求4所述的双卡测试装置，其特征在于，在所述判定所述测试母卡和所述测试子卡中至少一张为不合格卡之后，还包括：通过所述控制芯片将所述同一笔测试数据分别与所述测试母卡读取的数据与所述测试子卡读取的数据再次进行比对处理，分别得到所述测试母卡和所述测试子卡对应的测试结果。6.根据权利要求1所述的双卡测试装置，其特征在于，在所述将同一笔测试数据分别写入至所述测试板的测试母卡和测试子卡中之前，还包括：通过所述主机将同一笔测试数据写入至所述控制芯片中的数据缓存区，所述数据缓存区包括写数据缓存区和读数据缓存区。7.一种双卡测试方法，其特征在于，执行于双卡测试装置，所述双卡测试装置包括主机、控制芯片和测试板，所述控制芯片包括比对电路；所述双卡测试方法包括：通过所述主机发送测试指令和存储测试数据，并将数据从主机中写入至所述测试板的测试母卡和测试子卡中和/或从所述测试板的测试母卡和测试子卡中读取数据；通过所述测试板承载所述测试母卡、测试子卡以及控制芯片；通过所述控制芯片控制将主机中的同一笔测试数据同时写入到测试母卡和测试子卡中以及从所述测试母卡和测试子卡中读取该数据并将其输入到所述比对电路中进行比对处理，得到所述测试子卡的测试结果。8.根据权利要求7所述的双卡测试方法，其特征在于，所述从所述测试母卡和测试子卡
中读取该数据并将其输入到所述比对电路中进行比对处理，得到所述测试子卡的测试结果，包括：通过所述比对电路同时将读取到的所述主机写入到所述测试母卡和测试子卡的同一笔数据进行逐个字节的异或运算，生成异或运算累加结果；根据所述异或运算累加结果进行比对分析，分析得到所述测试子卡对应的测试结果。9.根据权利要求8所述的双卡测试方法，其特征在于，所述比对电路包括若干组串联的字节异或运算逻辑电路，每一组所述字节异或运算逻辑电路包括两个或非门和一个与门。10.根据权利要求8所述的双卡测试方法，其特征在于，所述根据所述异或运算累加结果进行比对分析，分析得到所述测试子卡对应的测试结果，包括：通过所述控制芯片对所述异或运算累加结果进行逐个字节的比对；当比对到所述异或运算累加结果中任一字节数值为1时，判定所述测试母卡和所述测试子卡中至少一张为不合格卡。11.根据权利要求10所述的双卡测试方法，其特征在于，在所述判定所述测试母卡和所述测试子卡中至少一张为不合格卡之后，所述方法还包括：通过所述控制芯片将所述同一笔测试数据分别与所述测试母卡读取的数据与所述测试子卡读取的数据再次进行比对处理，分别得到所述测试母卡和所述测试子卡对应的测试结果。12.根据权利要求7所述的双卡测试方法，其特征在于，在所述将同一笔测试数据分别写入至所述测试板的测试母卡和测试子卡中之前，所述方法还包括：通过所述主机将同一笔测试数据写入至所述控制芯片中的数据缓存区，所述数据缓存区包括写数据缓存区和读数据缓存区。13.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求7至12中任一项所述的双卡测试方法的步骤。14.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求7至12中任一项所述的双卡测试方法的步骤。

技术总结
本申请提出了一种双卡测试装置、方法、设备及可读存储介质，该装置包括主机、控制芯片和测试板；其中，主机用于发送测试指令和存储测试数据，并将数据从主机中写入至测试板的测试母卡和测试子卡中和/或从测试板的测试母卡和测试子卡中读取数据；测试板用于承载测试母卡、测试子卡和控制芯片；控制芯片用于控制将主机中的同一笔测试数据同时写入到测试母卡和测试子卡中以及从测试母卡和测试子卡中读取该数据并将其输入到比对电路中进行比对处理，得到测试结果。本申请在将测试数据分别写入至测试母卡和测试子卡的同时，读取写入到测试母卡和测试子卡中的数据输入至比对电路进行比对处理，从而快速得到测试结果，有效提高测试效率，缩短测试流程。缩短测试流程。缩短测试流程。


技术研发人员：赖振楠 王嗣钧 余正涛
受保护的技术使用者：深圳宏芯宇电子股份有限公司
技术研发日：2022.01.20
技术公布日：2022/5/6