显示面板的制作方法

1.本技术涉及显示技术领域，尤其是涉及一种显示面板。


背景技术：

2.在显示面板的制造过程中，常存在搬运、对位夹持、点灯等需要与显示面板接触的动作，如果动作时使得显示面板受到过大的应力作用，面板边缘会容易出现破损现象。超过规格破损的显示面板应该被判定为报废，但如果未能及时发现面板边缘破损，仍将破损面板继续投入制程，容易发生破片污染机台的情况，同时报废面板投入生产也会导致后段制程与材料的浪费，使成本增加。当前，由于面板破损规格卡控较严以及人工检查存在盲区等因素，使得破损面板的漏放几率较高，容易流入下道工序，造成不良影响。
3.所以，现有的显示面板存在面板边缘破损难以检出的技术问题，需要改进。


技术实现要素：

4.本技术实施例提供一种显示面板，用以缓解现有显示面板中面板边缘破损难以检出的技术问题。
5.本技术实施例提供一种显示面板，包括显示区和端子区，所述端子区内设置有至少一个破损测试端子对，所述破损测试端子对包括相互独立的两个破损测试端子，所述两个破损测试端子通过破损测试线连接，所述破损测试线围绕所述显示面板的至少一个边缘内侧设置。
6.在一种实施例中，所述显示面板包括第一破损测试端子对，所述第一破损测试端子对包括第一破损测试端子和第二破损测试端子，所述第一破损测试端子和所述第二破损测试端子设置在所述端子区的相对侧，通过第一破损测试线连接，所述显示面板包括位于所述显示区的至少一个第一边缘和位于所述端子区的第二边缘，所述第一破损测试线围绕至少一个所述第一边缘内侧和/或所述第二边缘内侧设置。
7.在一种实施例中，所述显示面板包括第二破损测试端子对，所述第二破损测试端子对包括第三破损测试端子和第四破损测试端子，所述第三破损测试端子和所述第四破损测试端子设置在所述端子区的相对侧，通过第二破损测试线连接，所述第一破损测试线和所述第二破损测试线中的其中一者围绕至少一个所述第一边缘内侧设置，另一者围绕所述第二边缘内侧设置。
8.在一种实施例中，所述显示面板包括第一破损测试端子对，所述第一破损测试端子对包括第一破损测试端子和第二破损测试端子，所述第一破损测试端子和所述第二破损测试端子设置在所述端子区的相同侧，通过第一破损测试线连接，所述显示面板包括位于所述显示区的至少一个第一边缘和位于所述端子区的第二边缘，所述第一破损测试线围绕至少一个所述第一边缘内侧设置，或者同时围绕所述至少一个第一边缘和所述第二边缘设置。
9.在一种实施例中，所述显示面板包括第二破损测试端子对，所述第二破损测试端
子对包括第三破损测试端子和第四破损测试端子，所述第三破损测试端子和所述第四破损测试端子设置在所述端子区的相同侧，通过第二破损测试线连接，所述第一破损测试端子对和所述第二破损测试端子对设置在所述端子区的相对侧，所述第一破损测试线和所述第二破损测试线分别围绕至少一个所述第一边缘内侧设置。
10.在一种实施例中，所述显示面板包括第三破损测试端子对，所述第三破损测试端子对包括第五破损测试端子和第六破损测试端子，所述第五破损测试端子和所述第六破损测试端子设置在所述端子区的相对侧，通过第三破损测试线连接，所述第三破损测试线围绕所述第二边缘内侧设置。
11.在一种实施例中，所述破损测试线包括至少两个相互连接的第一测试线段和第二测试线段，所述第一测试线段和所述第二测试线段围绕同一边缘内侧设置，所述第一测试线段和所述第二测试线段设置在所述显示面板内的不同层。
12.在一种实施例中，所述显示面板包括阵列层和对置层，所述阵列层设置在所述显示区和所述端子段内，所述对置层设置在所述显示区内，所述破损测试端子设置在所述阵列层顶面，所述破损测试线设置在所述显示面板内部。
13.在一种实施例中，所述显示面板还包括设置在所述端子区内的点灯测试端子，所述破损测试线与所述点灯测试端子之间的距离大于第一阈值。
14.在一种实施例中，不同破损测试端子对的距离大于第二阈值。
15.有益效果：本技术提供一种显示面板，显示面板包括显示区和端子区，端子区内设置有至少一个破损测试端子对，破损测试端子对包括相互独立的两个破损测试端子，两个破损测试端子通过破损测试线连接，破损测试线围绕显示面板的至少一个边缘内侧设置。本技术的显示面板由于设置有围绕边缘的破损测试线和相互独立的两个破损测试端子，可以通过对两个破损测试端子进行开路和短路测试来判断面板边缘是否出现了破损，当两个破损测试端子之间电阻无穷大时，表示破损测试线存在断点，面板边缘出现了破损，当两个破损测试端子之间电阻非无穷大时，表示破损测试线闭合，面板边缘没有出现破损，因此本技术提高了破损面板的检出率，降低了破损面板流入下道工序的风险。
附图说明
16.下面结合附图，通过对本技术的具体实施方式详细描述，将使本技术的技术方案及其它有益效果显而易见。
17.图1为本技术实施例提供的显示面板的第一种平面结构示意图。
18.图2为本技术实施例提供的显示面板的第二种平面结构示意图。
19.图3为本技术实施例提供的显示面板的第三种平面结构示意图。
20.图4为本技术实施例提供的显示面板的第四种平面结构示意图。
21.图5为本技术实施例提供的显示面板的第五种平面结构示意图。
22.图6为本技术实施例提供的显示面板的第六种平面结构示意图。
23.图7为本技术实施例提供的显示面板的第七种平面结构示意图。
24.图8为本技术实施例提供的显示面板的第八种平面结构示意图。
25.图9为本技术实施例提供的显示面板的膜层结构示意图。
具体实施方式
26.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
27.在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
28.在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
29.在本技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
30.下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本技术的不同结构。为了简化本技术的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本技术。此外，本技术可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本技术提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。
31.本技术实施例提供一种显示面板，用以缓解现有显示面板中面板边缘破损难以检出的技术问题。
32.如图1至图8所示，本技术实施例提供一种显示面板，包括显示区100和端子区200，端子区200内设置有至少一个破损测试端子对，破损测试端子对包括相互独立的两个破损测试端子，两个破损测试端子通过破损测试线连接，破损测试线围绕显示面板的至少一个边缘内侧设置。
33.在端子区200内设置有点灯测试端子30，点灯测试端子30与显示面板内部的各信号线连接，通过点灯测试冶具接触各点灯测试端子30，可以对显示面板内各子像素进行点灯测试，通过显示情况判断是否有异常。然而，点灯测试仅能测试显示面板中各子像素的异
常情况，但当面板边缘存在破损时，则无法通过点灯测试的方式检出对应的缺陷。
34.因此，本技术在端子区200内设置有至少一个破损测试端子对，每个破损测试端子对包括两个破损测试端子，且两个破损测试端子之间相互独立，在显示面板内部形成有至少一条破损测试线，每条破损测试线的第一端与破损测试端子对中的其中一个破损测试端子连接，第二端与该破损测试端子对中的另一个破损测试端子连接。每条破损测试线在显示面板中均沿着显示面板的至少一个边缘内侧设置，与各边缘的距离依产品的破损判定规格确定，如某个显示面板边缘破损深度达到h视为破损，则该破损测试线与对应边缘的距离应大于或等于h。
35.在需要对显示面板的边缘破损情况进行检查时，采用破损测试冶具对破损测试端子对中的两个破损测试端子进行开路和短路检测，输入电信号，如果测得两者之间的电阻无穷大，表示对应的破损测试线在某处有断开，使得线路无法导通，则在设置有破损测试线的边缘某处发生了破损，需要避免该显示面板流入下到工序。如果测得两者之间的电阻非无穷大，表示对应的破损测试线连接正常，在设置有破损测试线的边缘未发生破损或破损规格在可接受范围内，可以正常流入下道工序。因此，本技术的显示面板提高了破损面板的检出率，降低了破损面板流入下道工序的风险。
36.在显示面板中，各破损测试端子对和对应的破损测试线的设置方式可以有多种，不同种设置方式可以检测不同边缘的破损情况。
37.如图1至图3所示，显示面板包括第一破损测试端子对，第一破损测试端子对包括第一破损测试端子11和第二破损测试端子12，第一破损测试端子11和第二破损测试端子12设置在端子区200的相对侧，通过第一破损测试线101连接，显示面板包括位于显示区100的至少一个第一边缘10和位于端子区200的第二边缘20，第一破损测试线101围绕至少一个第一边缘10内侧和/或第二边缘20内侧设置。
38.本技术以显示面板为矩阵显示面板为例进行说明，则包括四个边缘，端子区200位于显示区100的一侧，则第二边缘20数量为一个，第一边缘10数量为3个。当然，本技术不以此为限，还可以是异形显示面板，则第一边缘10的数量可以是其他数量。
39.第一破损测试端子11和第二破损测试端子12设置在端子区200的相对侧，该相对侧指沿着端子区200与显示区100交界线方向的两侧，具体为图1至图3中的左侧和右侧。
40.第一破损测试线101可以围绕至少一个第一边缘10内侧和/或第二边缘20内侧设置。具体地，如图1所示，第一破损测试线101从左侧的第一破损测试端子11开始，依次围绕三个第一边缘10内侧设置，直至与右侧的第二破损测试端子12连接，此种设置方式下，可以对三个第一边缘10的破损情况进行测试。如图2所示，第一破损测试线101从左侧的第一破损测试端子11开始，沿着第二边缘20内侧设置，直至与右侧的第二破损测试端子12连接，此种设置方式下，可以对一个第二边缘20的破损情况进行测试。如图3所示，第一破损测试线101从左侧的第一破损测试端子11开始，沿着左侧第一边缘10内侧向上延伸，然后再次沿着左侧第一边缘10内侧向下延伸，最后沿着第二边缘20内侧向右延伸，直至与右侧的第二破损测试端子12连接，此种设置方式下，可以对左侧第一边缘10和第二边缘20的破损情况进行测试。
41.需要说明的是，以上仅为第一破损测试端子11和第二破损测试端子12设置在端子区200的相对侧时，第一破损测试线101的其中几种测试情况，基于不同的测试需求，还可以
有更多设置方式，如图3中围绕左侧的第一边缘10内侧设置了两次，还可以进一步延伸至上侧的第一边缘10内侧也设置两次，然后沿第二边缘20内侧延伸至与第二破损测试端子12连接等。通过对第一破损测试线101的延伸路径进行不同设置，可实现对各边缘破损情况的灵活检测。
42.在图1或图2的基础上，如图4所示，显示面板还可以包括第二破损测试端子对，第二破损测试端子对包括第三破损测试端子21和第四破损测试端子22，第三破损测试端子21和第四破损测试端子22设置在端子区200的相对侧，通过第二破损测试线102连接，第一破损测试线101和第二破损测试线102中的其中一者围绕至少一个第一边缘10内侧设置，另一者围绕第二边缘20内侧设置。此种设置方式可以实现对第一边缘10和第二边缘20破损情况的分别测试，以进一步缩小对面板破损位置的定位范围。
43.图4中示出了第一破损测试线101围绕三个第一边缘10内侧设置，第二破损测试线102围绕第二边缘20内侧设置，可实现对四个边缘破损情况进行测试，且可以根据第一破损测试线101的开路与短路情况对第一边缘10的破损进行判断，根据第二破损测试线102的开路与短路情况对第二边缘20的破损进行判断，两条线路相互独立，互不影响，每条线路仅负责自身所围绕边缘的破损情况检测。
44.以上实施例中，以第一破损测试端子对中的两个破损测试端子位于端子区200的相对侧为例进行了说明，两个破损测试端子还可以有其他设置方式。
45.如图5至图6所示，显示面板包括第一破损测试端子对，第一破损测试端子对包括第一破损测试端子11和第二破损测试端子12，第一破损测试端子11和第二破损测试端子12设置在端子区200的相同侧，通过第一破损测试线101连接，显示面板包括位于显示区100的至少一个第一边缘10和位于端子区200的第二边缘20，第一破损测试线101围绕至少一个第一边缘10内侧设置，或者同时围绕至少一个第一边缘10和第二边缘20设置。
46.第一破损测试端子11和第二破损测试端子12设置在端子区200的相同侧，该相同侧指沿着端子区200与显示区100交界线方向的一侧，具体为图5和图6中的左侧或者右侧。
47.第一破损测试线101可以围绕至少一个第一边缘10内侧设置，或者同时围绕至少一个第一边缘10和第二边缘20设置。具体地，如图5所示，第一破损测试线101从左侧的第一破损测试端子11开始，依次围绕三个第一边缘10内侧设置，然后自右向左沿第二边缘20内侧设置，直至与左侧的第二破损测试端子12连接，此种设置方式下，可以同时对三个第一边缘10和第二边缘20的破损情况进行测试。如图6所示，第一破损测试线101从左侧的第一破损测试端子11开始，沿着左侧第一边缘10内侧向上延伸，然后再次沿着左侧第一边缘10内侧向下延伸，直至与左侧的第二破损测试端子12连接，此种设置方式下，可以对左侧第一边缘10的破损情况进行单独测试。
48.需要说明的是，以上仅为第一破损测试端子11和第二破损测试端子12设置在端子区200的相同侧时，第一破损测试线101的其中几种测试情况，基于不同的测试需求，还可以有更多设置方式，如图6中围绕左侧的第一边缘10内侧设置了两次，还可以进一步延伸至上侧的第一边缘10内侧也设置两次，然后与左侧的第二破损测试端子12连接等。通过对第一破损测试线101的延伸路径进行不同设置，可实现对各边缘破损情况的灵活检测。
49.在图6的基础上，如图7所示，显示面板还可以包括第二破损测试端子对，第二破损测试端子对包括第三破损测试端子21和第四破损测试端子22，第三破损测试端子21和第四
破损测试端子22设置在端子区200的相同侧，通过第二破损测试线102连接，第一破损测试端子对和第二破损测试端子对设置在端子区200的相对侧，第一破损测试线101和第二破损测试线102分别围绕至少一个第一边缘10内侧设置。此种设置方式可以实现对两个不同的第一边缘10的破损情况进行分别测试，以进一步缩小对面板破损位置的定位范围。
50.第一破损测试端子对和第二破损测试端子对设置在端子区200的相对侧，该相对侧指沿着端子区200与显示区100交界线方向的两侧，具体地，当第一破损测试端子对在左侧时，第二破损测试端子对在右侧，或者当第一破损测试端子对在右侧时，第二破损测试端子对在左侧。
51.图7中示出了第一破损测试线101围绕左侧第一边缘10内侧设置，第二破损测试线102围绕右侧第一边缘10内侧设置，可实现对相对的两个第一边缘10的破损情况进行测试，且可以根据第一破损测试线101的开路与短路情况对左侧第一边缘10的破损进行判断，根据第二破损测试线102的开路与短路情况对右侧第一边缘10的破损进行判断，两条线路相互独立，互不影响，每条线路仅负责自身所围绕边缘的破损情况检测。
52.在图7的基础上，如图8所示，显示面板还可以包括第三破损测试端子对，第三破损测试端子对包括第五破损测试端子31和第六破损测试端子32，第五破损测试端子31和第六破损测试端子32设置在端子区200的相对侧，通过第三破损测试线103连接，第三破损测试线103围绕第二边缘20内侧设置。此种设置方式可以实现对左侧第一边缘10、右侧第一边缘10以及第二边缘20的分别测试，进一步提高对面板边缘破损位置的定位精度。
53.在一种实施例中，破损测试线包括至少两个相互连接的第一测试线段和第二测试线段，第一测试线段和第二测试线段围绕同一边缘内侧设置，第一测试线段和第二测试线段设置在显示面板内的不同层。在上述各实施例中，根据各破损测试端子的设置位置不同，对于破损测试线的走线方式也不同，在一些实施例中，破损测试线仅沿着对应边缘内侧设置一次，如图1、图2、图4、图5中所示，在一些实施例中，破损测试线可能会沿着某个边缘内侧设置了两次或多次，如图3和图6中的第一破损测试线101沿着左侧第一边缘10设置了两次，此时，两次围绕的线段分别作为第一测试线段和第二测试线段，第一测试线段和第二测试线段相互连接，且两者设置在显示面板内的不同走线层中，两个走线层相互绝缘，形成的第一测试线段和第二测试线段通过过孔进行连接，第一测试线段和第二测试线段与左侧第一边缘10的距离可以相等。此种设置方式可以使得两个线段不会占用过多的边缘空间，避免了并排设置使得内侧线段过于靠近显示区100的信号线而产生不良影响。
54.在一种实施例中，显示面板包括阵列层和对置层，阵列层设置在显示区和端子段内，对置层设置在显示区内，破损测试端子设置在阵列层顶面，破损测试线设置在显示面板内部。本技术的显示面板可以是液晶显示面板或者oled显示面板，如图9所示，显示面板包括阵列层50和对置层60，阵列层50包括位于显示区100和端子区200的两部分，对置层60位于显示区100内，破损测试端子70对位于端子区200内，且位于阵列层50的顶面，暴露在外。当显示面板为液晶显示面板时，对置层60包括彩膜基板，当显示面板为oled显示面板时，对置层为发光功能层。
55.阵列层50包括多个信号线层，各信号线层形成晶体管和信号线，组成驱动子像素发光的像素驱动电路，信号线可以包括扫描线、数据线、电源线等各类走线。破损测试线80可以设置在显示面板内部，具体为设置在各信号线层中的至少一层中，没有暴露在显示面
板外部，从而可以防止外部工艺刮伤线路，造成破损测试失效或出错。
56.在一种实施例中，破损测试线与点灯测试端子30之间的距离大于第一阈值。由于破损测试端子和点灯测试端子30均设置在端子区200内，而各点灯测试端子30之间需要保证相互独立，因此，当破损测试线在端子区200内沿第二边缘20内侧设置时，需要与各点灯测试端子30之间均保持一定的安全距离，以避免破损测试线与点灯测试端子30之间短路，进而造成各点灯测试端子30之间短路，在点灯测试时损伤显示面板。因此，该第一阈值为确保破损测试线与点灯测试端子30不会短路的最小安全距离。
57.在一种实施例中，不同破损测试端子对的距离大于第二阈值。在设置有多个破损测试端子对时，由于各破损测试端子与连接的破损测试线形成一个单独的线路，各线路之间需要单独进行开路与短路测试，且相互应该不干扰。因此，不同破损测试端子对之间也需保证一定的安全距离，避免两个破损测试端子之间短路而影响测试结果。因此，该第二阈值为确保不同破损测试端子对不会短路的最小安全距离。
58.根据上述实施例可知：
59.本技术提供一种显示面板，显示面板包括显示区和端子区，端子区内设置有至少一个破损测试端子对，破损测试端子对包括相互独立的两个破损测试端子，两个破损测试端子通过破损测试线连接，破损测试线围绕显示面板的至少一个边缘内侧设置。本技术的显示面板由于设置有围绕边缘的破损测试线和相互独立的两个破损测试端子，可以通过对两个破损测试端子进行开路和短路测试来判断面板边缘是否出现了破损，当两个破损测试端子之间电阻无穷大时，表示破损测试线存在断点，面板边缘出现了破损，当两个破损测试端子之间电阻非无穷大时，表示破损测试线闭合，面板边缘没有出现破损，因此本技术提高了破损面板的检出率，降低了破损面板流入下道工序的风险。
60.在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
61.以上对本技术实施例所提供的一种显示面板进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本技术的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本技术的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本技术各实施例的技术方案的范围。