一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱的制作方法

一种用于测试电子元件的uv紫外线老化试验箱
技术领域
1.本实用新型涉及试验箱领域，尤其是涉及一种用于测试电子元件的uv紫外线老化试验箱。


背景技术：

2.试验箱采用荧光紫外灯为光源，通过模拟自然阳光中的紫外辐射和冷凝，对材料进行加速耐候性试验，以获得材料耐候性的结果。可模拟自然气候中的紫外、雨淋、高温、高湿、凝露、黑暗等环境条件，通过重现这些条件，合并成一个循环，并让它自动执行完成循环次数，然而现有技术中电子元件置放于uv紫外线老化试验箱内部中存在取拿不方便的问题，为此提出一种用于测试电子元件的uv紫外线老化试验箱。


技术实现要素：

3.本实用新型为克服上述情况不足，旨在提供一种能解决上述问题的技术方案。
4.一种用于测试电子元件的uv紫外线老化试验箱，包括箱体，所述箱体内部横向设置有置物板，且置物板成型有若干个第三通孔，并且若干个第三通孔分布于置物板表面，所述置物板表面的左右两侧设置有第一滑轨，且第一滑轨之间滑动设置有第一隔板，并且第一隔板与置物板之间相互平行，所述第一隔板表面成型若干个第一覆盖位，且若干个第一覆盖位分别覆盖于若干个第三通孔上，并且若干个第一覆盖位表面分别成型有第一通孔，所述置物板底面的左右两侧设置有第二滑轨，且第二滑轨之间滑动设置有第二隔板，并且第二隔板与置物板之间相互平行，所述第二隔板表面成型若干个第二覆盖位，且若干个第二覆盖位分别位于若干个第三通孔的底端处，并且若干个第二覆盖位底面分别成型有第二通孔。
5.优选的，所述箱体内部左右两侧分别竖直设置有保护壳，且保护壳内部设置有驱动器，并且驱动器设置于箱体内部的侧面，所述驱动器的侧面横向驱动设置有旋转杆，且旋转杆的另一端分别与置物板的两侧进行连接，进而通过驱动器驱动置物板进行旋转。
6.优选的，所述箱体内部顶端设置有荧光紫外灯，且荧光紫外灯顶端电性连接有导线，所述导线的另一端电性连接有显示灯，且显示灯位于箱体外部的顶端处。
7.优选的，所述箱体内部底端设置有蓄水箱，且蓄水箱顶端管路连接有导管，所述导管的另一端管路设置有喷雾器，且喷雾器位于箱体内部底端处。
8.优选的，所述蓄水箱设置有进水管口，且进水管口位于蓄水箱向前一面，并且通过进水管口使得外部的水源进入蓄水箱内部。
9.优选的，所述箱体外部向前一面设置有防护门，且防护门经过镀铬处理，所述箱体外部向前一面的底端设置有散热器，且散热器与箱体外部向前一面呈同一竖直面，并且通过散热器进行散热。
10.优选的，所述箱体底端设置有支撑架，且支撑架经过加固处理，并且通过支撑架增加箱体的稳定性，所述箱体外部的左侧处电性设置有控制面板，且控制面板分别与箱体内
部的电器进行电性连接。
11.与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过第一隔板和第二隔板将电子元件置放于若干个第三通孔内部，且第一隔板和第二隔板分别从第一滑轨和第二滑轨滑出，进而使得电子元件从若干个第三通孔取出，从而解决了现有技术中电子元件置放于uv紫外线老化试验箱内部中取拿不方便的问题。
12.本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。
附图说明
13.为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
14.图1为一种用于测试电子元件的uv紫外线老化试验箱的结构示意图；
15.图2为一种用于测试电子元件的uv紫外线老化试验箱的另一结构示意图；
16.图3为一种用于测试电子元件的uv紫外线老化试验箱的又一结构示意图；
17.图4为第一隔板的结构示意图；
18.图5为第二隔板的结构示意图；
19.图6为第一隔板的另一结构示意图；
20.图7为第二隔板的另一结构示意图；
21.图8为置物板的结构示意图；
22.图9为置物板的另一结构示意图。
23.图中所示：1、箱体，2、防护门，3、支撑架，4、散热器，5、控制面板，6、保护壳，7、旋转杆，8、显示灯，9、荧光紫外灯，10、置物板，11、喷雾器，12、导线，13、驱动器，14、导管，15、蓄水箱，16、进水管口，17、第一隔板，18、第一覆盖位，19、第一通孔，20、第一滑轨，21、第二隔板，22、第二覆盖位，23、第二通孔，24、第二滑轨，25、第三通孔。
具体实施方式
24.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
25.请参阅图1-9，本实用新型实施例中，一种用于测试电子元件的uv紫外线老化试验箱，包括箱体1，所述箱体1内部横向设置有置物板10，且置物板10成型有若干个第三通孔25，并且若干个第三通孔25分布于置物板10表面，进而通过若干个第三通孔25使得待检测的电子元件进行置放，所述置物板10表面的左右两侧设置有第一滑轨20，且第一滑轨20之间滑动设置有第一隔板17，并且第一隔板17与置物板10之间相互平行，所述第一隔板17表面成型若干个第一覆盖位18，且若干个第一覆盖位18分别覆盖于若干个第三通孔25上，并且若干个第一覆盖位18表面分别成型有第一通孔19，进而通过第一通孔19使得紫外辐射通
过并辐射于若干个第三通孔25内部的电子元件，所述置物板10底面的左右两侧设置有第二滑轨24，且第二滑轨24之间滑动设置有第二隔板21，并且第二隔板21与置物板10之间相互平行，所述第二隔板21表面成型若干个第二覆盖位22，且若干个第二覆盖位22分别位于若干个第三通孔25的底端处，并且若干个第二覆盖位22底面分别成型有第二通孔19，进而通过第一通孔19使得紫外辐射通过并辐射于若干个第三通孔25内部的电子元件，进而通过第一隔板17和第二隔板21将电子元件置放于若干个第三通孔25内部，从而解决了现有技术中电子元件置放于uv紫外线老化试验箱内部中取拿不方便的问题。
26.所述箱体1内部左右两侧分别竖直设置有保护壳6，且保护壳6内部设置有驱动器13，并且驱动器13设置于箱体1内部的侧面，所述驱动器13的侧面横向驱动设置有旋转杆7，且旋转杆7的另一端分别与置物板10的两侧进行连接，进而通过驱动器13驱动置物板10进行旋转，从而使得置物板10内部的电子元件能够全方面受到紫外辐射。
27.所述箱体1内部顶端设置有荧光紫外灯9，且荧光紫外灯9顶端电性连接有导线12，所述导线12的另一端电性连接有显示灯8，且显示灯8位于箱体1外部的顶端处，并且通过荧光紫外灯9模拟自然阳光中的紫外辐射和冷凝以及通过显示灯8进行显示英光紫外灯9的亮度。
28.所述箱体1内部底端设置有蓄水箱15，且蓄水箱15顶端管路连接有导管14，所述导管14的另一端管路设置有喷雾器11，且喷雾器11位于箱体1内部底端处，并且通过喷雾器11模拟自然空气中的雾气，从而对置物板10内部的电子元件进行腐蚀。
29.所述蓄水箱15设置有进水管口16，且进水管口16位于蓄水箱15向前一面，并且通过进水管口16使得外部的水源进入蓄水箱15内部。
30.所述箱体1外部向前一面设置有防护门2，且防护门2经过镀铬处理，并且通过防护门2使得电子元件进行测试时不会受到外部影响，所述箱体1外部向前一面的底端设置有散热器4，且散热器4与箱体1外部向前一面呈同一竖直面，并且通过散热器4进行散热。
31.所述箱体1底端设置有支撑架3，且支撑架3经过加固处理，并且通过支撑架3增加箱体1的稳定性，所述箱体1外部的左侧处电性设置有控制面板5，且控制面板5分别与箱体1内部的电器进行电性连接，进而对其进行控制。
32.对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。