固态硬盘测试治具的制作方法

1.本发明涉及测试治具技术领域，特别涉及一种固态硬盘测试治具。


背景技术：

2.固态硬盘(solid state drive，ssd)，又称固态驱动器，是用固态电子存储芯片阵列制成的硬盘。固态硬盘因其读取速度快、轻便以及低功耗等优点而备受市场欢迎，需求量越来越大。
3.然而，目前在生产固态硬盘的效率上存在一定的限制。比如在测试固态硬盘芯片的方式上，通常是人工将固态硬盘芯片对准测试口，确认无误后插入测试口，测试完成后再拔出固态硬盘芯片。这种人工插拔测试方式导致固态硬盘测试效率大大降低，满足不了实际生产需求。因此，提高固态硬盘芯片的测试效率十分重要。


技术实现要素：

4.本发明的主要目的在于提出一种固态硬盘测试治具，旨在解决现有固态硬盘芯片人工插拔测试所存在的效率低的技术问题。
5.为实现上述目的，本发明提出的固态硬盘测试治具，该固态硬盘测试治具包括：
6.载物台，所述载物台上间隔设置有多个容置腔，所述容置腔用于放置固态硬盘芯片；
7.测试组件，包括基板和多个测试接口，多个所述测试接口间隔设于所述基板朝向所述容置腔的一侧，并与所述基板电连接，所述基板与外部测试设备电连接；以及
8.升降机构，设于所述载物台的下方且与所述载物台连接，所述升降机构可带动所述载物台上下移动，使所述固态硬盘芯片与所述测试接口抵接或分离。
9.优选地，所述基板包括固定板和设于所述固定板底面的测试电路板，所述测试电路板的一面与多个所述测试接口连接，另一面连接有多个连接器，多个所述连接器与多个所述测试接口一一对应设置，所述连接器用于连接所述测试设备。
10.优选地，所述测试接口设有多个测试探针，所述固态硬盘芯片设有多个测试点，多个所述测试探针与多个所述测试点一一对应设置。
11.优选地，所述固定板间隔设有多个避位孔，多个所述避位孔与多个所述连接器一一对应设置，所述避位孔用于避开所述连接器。
12.优选地，所述载物台包括承载板和设于所述承载板上的载物板，所述承载板与所述升降机构连接，所述容置腔设于所述载物板上。
13.优选地，所述承载板上设有三个限位条，三个所述限位条形成限位槽，所述限位槽用于限位所述载物板。
14.优选地，所述升降机构包括传动组件、转轴和固定座，所述传动组件一端与所述载物台连接，另一端套设于所述转轴，所述固定座设于所述转轴的两端并与所述转轴转动连接。
15.优选地，所述传动组件为三个，三个所述传动组件沿所述转轴轴向间隔设于所述转轴上。
16.优选地，所述测试组件与所述固定座之间设有导向轴，所述载物台设有导向孔，所述导向轴一端连接所述测试组件，另一端穿过所述导向孔与所述固定座连接。
17.优选地，所述导向轴为四个，四个所述导向轴两两设于所述传动组件的两侧。
18.本发明技术方案中，升降机构可带动载物台向上移动，使载物台上多个待测固态硬盘芯片与多个测试接口抵接，通过测试设备可一次性对多个固态硬盘芯片的性能进行测试。本发明固态硬盘测试治具不仅可以提高固态硬盘芯片的测试效率，而且可以避免人工插拔固态硬盘芯片时刮伤手指或是造成固态硬盘芯片的损伤。
附图说明
19.图1为本发明固态硬盘测试治具一实施例的结构示意图；
20.图2为图1的爆炸视图；
21.图3为本发明一实施例中测试组件的结构示意图；
22.图4为图3的爆炸视图；
23.图5为本发明一实施例中测试接口的结构示意图；
24.图6为本发明一实施例中载物台的结构示意图。
25.附图标号说明
26.标号名称标号名称1载物台11容置腔2测试组件21基板22测试接口3升降机构211固定板212测试电路板23连接器221测试探针211a避位孔12承载板13载物板14限位条31传动组件32转轴33固定座34导向轴
27.本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
28.下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
29.需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
30.还需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件上时，它可以直接在另一个元件上或者可能同时存在居中元件。当一个元件被称为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接另一个元件或者可能同时存在居中元件。
31.另外，在本发明中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。
32.参照图1至图4，图1为本发明固态硬盘测试治具一实施例的结构示意图，图2为本发明一实施例中固态硬盘测试治具的爆炸视图，图3为本发明一实施例中测试组件2的结构示意图；图4为本发明一实施例中测试组件2的爆炸视图。
33.本发明实施例提出一种固态硬盘测试治具，该固态硬盘测试治具包括：
34.载物台1，载物台1上间隔设置有多个容置腔11，容置腔11用于放置固态硬盘芯片；
35.测试组件2，包括基板21和多个测试接口22，多个测试接口22间隔设于基板21朝向容置腔11的一侧，并与基板21电连接，基板21与外部测试设备电连接；以及
36.升降机构3，设于载物台1的下方且与载物台1连接，升降机构3可带动载物台1上下移动，使固态硬盘芯片与测试接口22抵接或分离。
37.本实施中，载物台1的上表面形成有多个容置腔11，多个容置腔11呈线形间隔设置。容置腔11主要用于放置固态硬盘芯片，其形状与固态硬盘的形状相匹配。容置腔11的数量可以根据实际测试需求设置，本实施中的容置腔11设置为六个，可一次性测试六个固态硬盘芯片。
38.本实施例的测试组件2主要用于测试固态硬盘芯片的性能。具体地，测试组件2位于载物台1的上方，测试组件2包括基板21和多个测试接口22，多个测试接口22设于基板21的下表面并朝向载物台1的容置腔11，多个测试接口22与多个容置腔11一一对应设置。测试接口22与基板21电连接，基板21与外部测试设备电连接，测试接口22可与位于容置腔11内的固态硬盘抵接，实现电性连接。
39.本实施例的升降机构3主要用于带动载物台1在竖直方向移动，载物台1上的固态硬盘芯片与测试接口22抵接，使固态硬盘芯片与测试接口22电性连通。升降机构3可以由气缸驱动、电机驱动或者人工拉动，只要能实现载物台1的升降功能即可，在此不作限制。
40.测试时，先将多个固态硬盘芯片放置于载物台1，通过升降机构3带动载物台1向上移动，载物台1上多个待测固态硬盘芯片与多个测试接口22抵接，固态硬盘芯片与测试接口22电性连通。然后通过测试设备可一次性对多个固态硬盘芯片的性能进行测试。本发明固态硬盘测试治具不仅可以提高固态硬盘芯片的测试效率，而且可以避免人工插拔固态硬盘芯片时刮伤手指或是造成固态硬盘芯片的损伤。
41.在一些实施例中，参照图4，基板21包括固定板211和设于固定板211底面的测试电路板212，测试电路板212的一面与多个测试接口22连接，另一面连接有多个连接器23，多个连接器23与多个测试接口22一一对应设置，连接器23用于连接测试设备。
42.本实施例中，基板21包括固定板211和测试电路板212，测试电路板212为印制电路
板(pcb printed circuit boards)。测试电路板212固定在固定板211的下表面，测试电路板212的一面与多个测试接口22电连接，另一面连接有多个连接器23，多个连接器23与多个测试接口22一一对应设置，连接器23用于连接外部测试设备。测试时测试接口22与固态硬盘电连接，连接器23与外部测试设备电连接，外部测试设备对固态硬盘芯片的性能进行测试。
43.在一些实施例中，参照图5，图5为本发明一实施例中测试接口22的结构示意图。测试接口22设有多个测试探针221，固态硬盘芯片设有多个测试点，多个测试探针221与多个测试点一一对应设置。
44.本实施例中，测试接口22朝向固态硬盘芯片的一侧设有多个测试探针221，固态硬盘芯片上设有多个测试点，每一测试点对应一测试探针221。测试探针221可与测试点抵接，实现固态硬盘与测试接口22电性连通。
45.在一些实施例中，参照图4，固定板211间隔设有多个避位孔211a，多个避位孔211a与多个连接器23一一对应设置，避位孔211a用于避开连接器23。
46.本实施例中，测试电路板212上连接有多个连接器23，连接器23凸出于测试电路板212的表面。因此，为了使连接器23能够与外部测试设备电连接，在固定板211上开设有多个避位孔211a，多个避位孔211a与多个连接器23一一对应设置。安装测试电路板212时，测试电路板212上的连接器23穿过避位孔211a，不会与固定板211产生挤压，从而避免测试电路板212损坏。进一步地，固定板211上的多个避位孔211a，使得材料用量大大减小，节省了成本费用。同时，避位孔211a的设置，增大了测试电路板212的散热面积，有利于测试电路板212的散热。
47.在一些实施例中，参照图6，图6为本发明一实施例中载物台1的结构示意图。载物台1包括承载板12和设于承载板12上的载物板13，承载板12与升降机构3连接，容置腔11设于载物板13上。
48.本实施例中，载物台1包括承载板12和载物板13，承载板12设于载物板13的下方，并与升降机构3连接。载物板13设于承载板12的上方，载物板13与承载板12的连接方式可以是固定连接，也可以是滑动连接或者是抵接。载物板13主要用于放置固态硬盘芯片，容置腔11设于载物板13上。
49.进一步地，承载板12上设有三个限位条14，三个限位条14形成限位槽，限位槽用于限位载物板13。具体地，三个限位条14形成的限位槽呈“u”型，“u”型限位槽将载物板13限位在承载板12上。载物板13朝向“u”型限位槽开口处的一侧设有拉槽，拉槽用于将载物板13拉出或推进承载板12。使用时，通过拉槽将载物板13拉出，将固态硬盘芯片放进载物板13上的容置腔11内，最后将载物板13推进限位槽内。
50.在一些实施例中，参照图2，升降机构3包括传动组件31、转轴32和固定座33，传动组件31一端与载物台1连接，另一端套设于转轴32，固定座33设于转轴32的两端并与转轴32转动连接。具体地，传动组件31包括第一连接块、第二连接块和连接座。第一连接块一端套设在转轴32上，另一端与第二连接块铰接，第二连接块与连接座铰接，连接座与载物台1固定连接。转轴32穿过第一连接块与固定座33转动连接。工作时，转轴32在外力的作用下转动，带动第一连接块转动，第一连接块带动第二连接块转动，第二连接块带动连接座上移，从而带动载物台1向上运动。需要说明的是，外力可以是由电机驱动，电机的输出端与转轴
32连接，带动转轴32转动。也可以是人工拉动，转轴32连接转杆，人工转动转杆从而带动转轴32转动。
51.进一步地，传动组件31为三个，三个传动组件31沿转轴32轴向间隔设于转轴32上。在载物台1升降过程中，为了使传动更平稳，可以设置多个传动组件31。本实施例优选设置三个传动组件31，三个传动组件31沿转轴32轴向间隔设于转轴32上。
52.在一些实施例中，参照图2，测试组件2与固定座33之间设有导向轴34，载物台1设有导向孔，导向轴34一端连接测试组件2，另一端穿过导向孔与固定座33连接。
53.本实施例中，导向轴34的一端固定设置固定座33上，另一端与测试组件2固定连接，载物台1则通过导向孔套设在导向轴34上。因此，载物台1在升降机构3的驱动下沿此导向轴34上下移动，避免载物台1在上下移动时发生偏离，从而提高载物台1上下移动的精度，保证测试结果的准确性。
54.进一步地，导向轴34为四个，四个导向轴34两两设于传动组件31的两侧。为了使载物台1上下移动时更加平稳，导向柱的数量设置为四个，且四个导向轴34两两设于传动组件31的两侧。此外，在载物台1与固定座33之间设有弹簧，弹簧套设在导向轴34上，弹簧一端与载物台1抵接，另一端与固定座33抵接。弹簧主要起到缓冲作用。完成测试后，载物台1受到弹簧的作用缓慢向下移动，避免急速下降从而造成固态硬盘芯片的损坏。
55.以上的仅为本发明的部分或优选实施例，无论是文字还是附图都不能因此限制本发明保护的范围，凡是在与本发明一个整体的构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明保护的范围内。