一种扁电磁线直线击穿电压的检测装置及检测方法与流程

1.本技术涉及击穿电压检测装置技术领域，更具体地说，尤其涉及一种扁电磁线直线击穿电压的检测装置及检测方法。


背景技术：

2.扁电磁线广泛应用于电机和变压器线圈领域，扁电磁线一般由导电体和外圈的绝缘层组成，绝缘层的主要作用是使扁电磁线中的导电体与周围环境或相邻导体间相互绝缘，扁电磁线的绝缘层的击穿电压水平直接影响电机和变压器线圈的绝缘品质，为了符合扁电磁线的合格规范，在生产的过程中往往需要对扁电磁线击穿电压试验。
3.扁电磁线直线击穿电压检测装置如图1所示，扁电磁线直线状试样001一端的绝缘层去除，露出里面的导电体004，将导电体004与高压电源005相连，作为试验正极，扁电磁线直线状试样001的外圈设有一圈铝箔纸002，将铝箔纸002接地，作为接地电极，在正极和接地电极之间施加电压，直至试样外圈的绝缘层003被击穿。
4.但是由于铝箔纸在裁剪下料时易存在尖棱、尖角、锐边及毛刺，击穿测试时容易在铝箔纸尖端和边缘产生放电，烧蚀绝缘，导致直线击穿电压数据失真，不能准确有效识别扁电磁线上的绝缘薄弱点。
5.因此，亟需一种扁电磁线直线击穿电压的检测装置及检测方法，在进行击穿电压检测时不会产生尖端和边缘放电以致烧蚀绝缘，确保试样击穿电压数据可靠。


技术实现要素：

6.为解决上述技术问题，本技术提供一种扁电磁线直线击穿电压的检测装置及检测方法，在进行击穿电压检测时不会产生尖端和边缘放电以致烧蚀绝缘，确保试样击穿电压数据可靠。
7.本技术提供的技术方案如下：
8.一种扁电磁线直线击穿电压的检测装置，包括：
9.上端设置有开口的电极盒；
10.贯穿所述电极盒相对两侧的侧板，用于水平放置扁电磁线直线试样的通孔；
11.收容于所述电极盒内的导电球体，所述导电球体接地，所述扁电磁线直线试样的导电端与电源相连。
12.优选地，所述电极盒，还包括，
13.沿所述侧板的高度方向设置，垂直于所述扁电磁线直线试样的第一盲孔，且所述第一盲孔与所述通孔连通；
14.插入所述第一盲孔，与所述扁电磁线直线试样的上表面抵接的第一定位块。
15.优选地，所述电极盒，还包括，
16.设置在所述侧板的一侧，垂直于所述扁电磁线直线试样的第二盲孔，所述第二盲孔与所述通孔连通；
17.插入所述第二盲孔，与所述扁电磁线直线试样的侧面抵接的第二定位块。
18.优选地，所述电极盒，还包括，
19.设置在所述第二定位块与所述扁电磁线直线试样抵接的一端的u形槽，所述第一定位块卡在所述u形槽内，且所述u形槽的端面与所述扁电磁线直线试样的侧面抵接。
20.优选地，所述第一盲孔与所述第一定位块之间，所述第二盲孔与所述第二定位块之间均为间隙配合。
21.优选地，所述导电球体采用金属材料制成。
22.优选地，所述电极盒采用绝缘材料制成。
23.一种扁电磁线直线击穿电压的检测方法，包括以下步骤：
24.步骤一、将扁电磁线直线试样贯穿电极盒两侧的通孔放置；
25.步骤二、往电极盒内倒入导电球体直至所述导电球体淹没扁电磁线直线试样的上表面；
26.步骤三、将导电球体接地，所述扁电磁线直线试样的导电端与电源相连，直至扁电磁线直线试样的绝缘层被击穿，确定所述扁电磁线直线试样的击穿电压。
27.优选地，在将扁电磁线直线试样贯穿电极盒两侧的通孔放置步骤之后且往电极盒内倒入导电球体步骤之前，还包括下述步骤：
28.将第一定位块插入第一盲孔内，以使得所述第一定位块与所述扁电磁线直线试样的上表面抵接。
29.优选地，在将第一定位块插入第一盲孔内步骤之后且往电极盒内倒入导电球体步骤之前，还包括下述步骤：
30.将第二定位块插入第二盲孔内，以使得所述第二定位块与所述扁电磁线直线试样的侧面抵接。
31.本发明提供的扁电磁线直线击穿电压的检测装置及检测方法，首先由于设置有电极盒、通孔以及导电球体，其中，电极盒的顶部设置有开口，通孔设置在电极盒相对的两块侧板上，扁电磁线直线试样贯穿电极盒并放置在通孔上，导电球体收容于电极盒内，并将导电球体接地设置，扁电磁线直线试样的导电端与电源相连，增加电源的电压直至扁电磁线直线试样表面的绝缘层被击穿。
32.现有技术中的接地电极一般采用铝箔纸，铝箔纸在裁剪下料时易存在尖棱、尖角、锐边及毛刺，在击穿电压测试时容易在尖端或者边缘处产生放电，烧蚀绝缘层，本技术中由于采用导电球体作为接地电极，导电球体的表面十分光滑，升压过程中不会产生尖端和边缘放电，从而确保击穿电压数据的可靠性。由此可见，与现有技术相比，本发明实施例中的扁电磁线直线击穿电压的检测装置及检测方法，在进行击穿电压检测时不会产生尖端和边缘放电以致烧蚀绝缘，确保试样击穿电压数据可靠。
附图说明
33.为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
34.图1为现有技术中的扁电磁线直线击穿电压检测装置的一种结构示意图；
35.图2为本发明实施例提供的扁电磁线直线击穿电压的检测装置的一种结构示意图；
36.图3为本发明实施例提供的检测装置的主视图；
37.图4为本发明实施例提供的检测装置的左视图；
38.图5为本发明实施例提供的检测装置的俯视图；
39.图6为图3中a处的检测装置的局部放大图；
40.图7为本发明实施例提供的侧板的一种结构示意图；
41.图8为本发明实施例提供的侧板的另一种结构示意图。
42.现有技术附图标记：001、扁电磁线直线状试样；002、铝箔纸；003、绝缘层；004、导电体；005、电源；
43.本技术附图标记：1、电极盒；2、扁电磁线直线试样；3、通孔；4、导电球体；5、电源；11、侧板；12、第一盲孔；13、第一定位块；14、第二盲孔；15、第二定位块；16、u形槽；21、导电端；22、绝缘层。
具体实施方式
44.为了使本领域的技术人员更好地理解本技术中的技术方案，下面将对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
45.需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件上，它可以直接在另一个元件上或者间接设置在另一个元件上；当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至另一个元件上。
46.需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
47.此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，多个”、“若干个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
48.须知，本说明书附图所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本技术所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。
49.本发明实施例采用递进的方式撰写。
50.请如图2至图8所示，本发明实施例提供一种扁电磁线直线击穿电压的检测装置，包括：顶部设置有开口的电极盒1；设置在电极盒1相对的两侧板11上，以使得扁电磁线直线
试样2贯穿电极盒1的通孔3；收容于电极盒1内的导电球体4，导电球体4接地，扁电磁线直线试样2的导电端21与电源5相连。
51.本发明提供的扁电磁线直线击穿电压的检测装置及检测方法，首先由于设置有电极盒1、通孔3以及导电球体4，其中，电极盒1的顶部设置有开口，通孔3设置在电极盒1相对的两块侧板11上，扁电磁线直线试样2贯穿电极盒1并放置在通孔3上，导电球体4收容于电极盒1内，并将导电球体4接地设置，扁电磁线直线试样2的导电端21与电源5相连，增加电源5的电压直至扁电磁线直线试样2表面的绝缘层22被击穿。
52.现有技术中的接地电极一般采用铝箔纸，请如图1所示，铝箔纸002在裁剪下料时易存在尖棱、尖角、锐边及毛刺，在击穿电压测试时容易在尖端或者边缘处产生放电，烧蚀绝缘层003，本技术中由于采用导电球体4作为接地电极，导电球体4的表面十分光滑，升压过程中不会产生尖端和边缘放电，从而确保击穿电压数据的可靠性。由此可见，与现有技术相比，本发明实施例中的扁电磁线直线击穿电压的检测装置及检测方法，在进行击穿电压检测时不会产生尖端和边缘放电以致烧蚀绝缘，确保试样击穿电压数据可靠。
53.在上述结构中，由于扁电磁线直线试样的横截面形状为近似矩形的形状，作为一种更加优选的实施方式，为了适配试样的形状，本发明实施例中的通孔3的截面形状优选为矩形。
54.在上述结构中，为了确保扁电磁线直线试样2能够从通孔3内贯穿，通孔3的尺寸往往大于扁电磁线直线试样2的尺寸，当往电极盒1中放导电球体4的过程中，若导电球体4的尺寸小于扁电磁线直线试样2与通孔3之间的配合间隙，则导电球体4容易从配合间隙处漏出，从而影响测试。
55.在上述结构中，作为一种更加优选的实施方式，本发明实施例中的电极盒1还包括第一盲孔12以及第一定位块13，其中，第一盲孔12沿侧板11的高度方向设置，且第一盲孔12与通孔3连通，第一盲孔12设置的方向与扁电磁线直线试样2的长度方向垂直，第一定位块13插入到第一盲孔12内，且第一定位块13与扁电磁线直线试样2的上表面抵接，通过第一定位块13堵住位于扁电磁线直线试样2上端的通孔，以防导电球体4从扁电磁线直线试样2与通孔3的上方的配合间隙处漏出。
56.在上述结构中，第一盲孔12以及第一定位块13设置有两组，分别设置在两块侧板11上。在上述结构中，作为一种更加具体地实施方式，本发明实施例中的第一盲孔12的截面形状为矩形，第一定位块13为长方体形状。
57.在上述结构中，作为一种更加优选的实施方式，本发明实施例中的电极盒1还包括第二盲孔14以及第二定位块15，其中，第二盲孔14设置在侧板11的一侧，第二盲孔14与通孔3连通，且第二盲孔14设置的方向垂直于扁电磁线直线试样2，第二定位块15插入到第二盲孔14内，且与扁电磁线直线试样2的侧面抵接，通过第二定位块15堵住位于扁电磁线直线试样2侧边的通孔，以防导电球体4从扁电磁线直线试样2与通孔3的侧边的配合间隙处漏出。
58.在上述结构中，本发明实施例中的侧板2的结构设置有两种，作为其中一种实施方式，请如图7所示，本发明实施例中的第二盲孔14以及第二定位块15设置有两组，分别设置在电极盒两侧的侧板11上。通过第一定位块13、第二定位块15、通孔3的底面以及通孔的侧面将扁电磁线直线试样2固定在通孔3内，第一定位块13和第二定位块15堵住通孔3与扁电磁线直线试样2之间的配合间隙。
59.作为另外一种实施方式，如图8所示，本发明实施例中的第二盲孔14以及第二定位块15设置有四组，两组第二盲孔14和第二定位块15分别设置在一侧板11的通孔3的两侧，将第二定位块15插入第二盲孔14内，使得两组第二定位块15分别与扁电磁线直线试样2的两侧面抵接，通过扁电磁线直线试样2上方的第一定位块13以及两侧的第二定位块堵住通孔3与扁电磁线直线试样2之间的配合间隙。
60.在上述结构中，作为一种更加具体的实施方式，本发明实施例中的第二盲孔14的截面形状为矩形，第二定位块15为长方体形状。
61.当第一定位块13的宽度大于扁电磁线直线试样2的宽度时，第二定位块15插入第二盲孔14后，第二定位块15的端面与第一定位块13抵接，而不会直接与扁电磁线直线试样2的侧边接触，扁电磁线直线试样2与第二定位块15之间存在配合间隙，导电球体4容易从配合间隙处漏出，影响测试。
62.在上述结构中，作为一种更加优选的实施方式，本发明实施例中的电极盒1还包括u形槽16，第二定位块15插入到第二盲孔14内时，第一定位块13卡在u形槽16内，且u形槽16的端部与扁电磁线直线试样2的侧边抵接，由于设置有u形槽16，通过u形槽16的开口部容纳第一定位块13的端部，通过u形槽16插入扁电磁线直线试样2与通孔3两侧的配合间隙间，放置导电球体4漏出，影响测试。
63.在上述结构中，作为另外一种实施方式，本发明实施例中的u形槽16也可以设置在第一定位块13与扁电磁线直线试样2抵接的一端，第一定位块13插入第一盲孔12内时，第二定位块15卡在u形槽16内，且u形槽16的端部与扁电磁线直线试样2的上表面抵接，也可以达到同样的技术效果。
64.在上述结构中，作为一种更加优选的实施方式，本发明实施例中的第一盲孔12和第一定位块13之间，第二盲孔14和第二定位块15之间均为间隙配合。并通过电极盒1对导电球体4进行收纳，使得电极盒1内的导电球体4形成整个接地电极。
65.在上述结构中，作为一种更加优选的实施方式，本发明实施例中的导电球体4采用金属材料制成。具体地，本发明实施例中的导电球体4的材料为不锈钢、镍、镀镍、镀铬中的一种。
66.在上述结构中，作为一种更加优选的实施方式，本发明实施例中的电极盒1采用绝缘材料制成，在升压试验的过程中不会产生尖端和边缘放电。且电极盒1能够配合导电球体4多次使用，更加节约成本。
67.本技术还提供了一种扁电磁线直线击穿电压的检测方法，包括以下步骤：
68.步骤一、将扁电磁线直线试样2贯穿电极盒1两侧的通孔3放置；步骤二、往电极盒1内倒入导电球体4直至导电球体4淹没扁电磁线直线试样2的上表面；步骤三、将导电球体4接地，扁电磁线直线试样2的导电端21与电源5相连，直至扁电磁线直线试样2的绝缘层22被击穿，确定扁电磁线直线试样2的击穿电压。
69.由于导电球体4的表面十分光滑，升压过程中不会产生尖端和边缘放电，从而确保击穿电压数据的可靠性。由此可见，与现有技术相比，本发明实施例中的扁电磁线直线击穿电压的检测方法，在进行击穿电压检测时不会产生尖端和边缘放电以致烧蚀绝缘，确保试样击穿电压数据可靠。
70.在上述方法中，作为一种更加优选的实施方式，本发明实施例中，在将扁电磁线直
线试样2贯穿电极盒1两侧的通孔3放置步骤之后且往电极盒1内倒入导电球体4步骤之前，包括以下步骤：将第一定位块13插入第一盲孔12内，以使得第一定位块13与扁电磁线直线试样2的上表面抵接。通过扁电磁线直线试样2上方的第一定位块13以及两侧的第二定位块堵住通孔3与扁电磁线直线试样2之间的配合间隙。
71.在上述方法中，本发明实施例中的对扁电磁线直线试样2进行定位，还包括以下步骤：将第二定位块15插入第二盲孔14内，以使得第二定位块15与扁电磁线直线试样2的侧面抵接；通过第二定位块15堵住位于扁电磁线直线试样2侧边的通孔，以防导电球体4从扁电磁线直线试样2与通孔3的侧边的配合间隙处漏出。
72.在上述方法中，若u形槽16设置在第二定位块15上，可按上述步骤进行操作，通过u形槽16的开口部容纳第一定位块13的端部，通过u形槽16插入扁电磁线直线试样2与通孔3两侧的配合间隙间，放置导电球体4漏出，影响测试。
73.但是若u形槽16设置在第一定位块13时，本发明实施例中的对扁电磁线直线试样2进行定位时，先将第二定位块15插入到第二盲孔14内，再将第一定位块13插入到第一盲孔12内，也可以达到同样的技术效果。
74.对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。