单臂压制式导电体测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及半导体、晶圆或主被动元件等导电体的测试设备领域，特别是关于一种单臂压制式导电体测试装置，系通过一第一支臂上的特殊设计由导电体顶面的中央部位平均地下压，而能避免电气连接时的信号传输错误以及其表面损坏。


背景技术：

2.一般如：半导体、晶圆或主被动元件等导电体于制作完成后，必须经过许多的电气测试方能确保其品质，以市面上常见的测试装置来说，多半是采用测试套座的设计，其电气连接于一测试电路板上，以将该导电体置入该测试套座内，再利用该测试套座所设置的压制结构来压制稳定该导电体，这些结构设计大多采用可活动的一盖体及复数压制臂结合后，于该导电体置入的过程中，该盖体受压制而使该复数压制臂打开供置入该导电体，当放置完毕后，该复数压制臂会以二点或是四点压制的方式，压制于该导电体的相对二侧或是其四周，使其充分与该测试套座内的复数电气探针完成电气连接。
3.然而，由于ic的插置对位需经过导引对位，因此每次测试都必须依照该导电体的规格尺寸来设计，由于各式导电体的规格尺寸众多，操作前都必须进行更换，相对也会影响到该复数压制臂压制的位置而产生偏差，使得被压制处的应力较集中，其受力不平均的情况下也有可能影响到测试结果，甚至其压制的力道也会磨损其表面的花纹，故有必要加以改良。


技术实现要素：

4.有鉴于此，本实用新型的一目的，旨在提供一种单臂压制式导电体测试装置，利用单一支臂前端延伸设有一压制盖及其内部具有活动性的一压制块，从一导电体顶面的中央部位进行压制，而能有效提升测试时的正确性，以及避免该导电体表面纹路的磨损等功效。
5.为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：
6.一种单臂压制式导电体测试装置，用来在一测试电路板上安装并完成电性连接，以供测试该导电体，其特征在于，包括：
7.一安装座，用以安装于该测试电路板上，且该安装座中央形成有一容置空间，并由该容置空间延伸至该安装座底面而设有一容置槽；
8.一测试座，安装于该容置槽内，使该测试座形成夹设于该测试电路板及该安装座之间的形态，且该测试座内部设有复数电气探针，每一该电气导电探针二端分别对应该导电体及该测试电路板；
9.一活动盖，限位活动设置于该安装座的上方，使该活动盖能够相对该安装座往复上下移动，且该活动盖的中央呈镂空状；
10.一第一弹力组，包含复数个第一弹簧，且该第一弹力组夹设于该安装座及该活动盖之间，使该活动盖常态保持顶高的状态；及
11.一连动支臂组，包含一第一支臂、一第二支臂及两个第三支臂，该第一支臂及该第
二支臂的一端分别活动连接于该活动盖的二相对侧以形成对称设置，以及该两个第三支臂的一端分别活动连接于该第一支臂及该第二支臂中段位置，该两个第三支臂的另一端则分别活动连接于该安装座的两个相对侧，使该第一支臂与该一第三支臂形成连动，该第二支臂与另一该第三支臂形成连动，该第一支臂的另一端设有一压制盖，并在该压制盖的内部活动设有一压制块，使该压制块的位置对应于该测试座的中央位置。
12.所述的单臂压制式导电体测试装置，其中，该第一支臂一端设有一第一枢轴，该第二支臂一端设有一第二枢轴，并在该活动盖二侧分别设有一第一枢接部，凭借该第一枢轴及该第二枢轴以将该第一支臂及该第二支臂分别活动枢设于该活动盖。
13.所述的单臂压制式导电体测试装置，其中，该第三支臂一端设有一第三枢轴，该安装座二侧分别设有一第三枢接部，凭借二该第三枢轴以将该两个第三支臂分别活动枢设于该安装座。
14.所述的单臂压制式导电体测试装置，其中，该第一支臂中段位置设有一第一枢接部，该第二支臂中段位置设有一第二枢接部，并在该每一第三支臂另一端设有一第四枢轴，凭借该两个第四枢轴以将该两个第三支臂分别对应活动枢设于该第一支臂及该第二支臂。
15.所述的单臂压制式导电体测试装置，其中，该测试座包含一底板、一中板、该复数电气探针、一第二弹力组及一上板，该底板叠合设置于该中板的一侧，在底板间形成有复数个供放置复数电气探针的穿孔，该第二弹力组由复数第二弹簧构成并夹设于该上板及该中板之间，该上板凭借该第二弹力组的回复弹力间隔设于该中板的另一侧，使该上板能够在该容置槽及该中板之间往复升降，该上板中央对应该导电体的尺寸形状而设有一定位开口，以将该导电体定位容置于该定位开口内。
16.所述的单臂压制式导电体测试装置，其中，该中板对应该复数第二弹簧而设有复数个定位孔，以将该复数第二弹簧分别容置设于该复数定位孔内。
17.所述的单臂压制式导电体测试装置，其中，该压制块上设有一呈长椭圆形的第一限位孔，该压制盖上设有一第四枢接部以供穿设一第五枢轴，使该第五枢轴穿设于该第一限位孔内，该压制块顶部与该压制盖之间设有一第三弹簧，使该压制块能够在该压制盖内进行往复升降及导正偏摆的动作。
18.所述的单臂压制式导电体测试装置，其中，该活动盖除设有该两个第一枢接部的其余二面分别设有一对第二限位孔，在该安装座对应该一对第二限位孔而设有复数限位柱，该活动盖能够相对该安装座进行限位高度的往复上下移动。
19.本实用新型在操作时，该导电体由一吸取头吸附并移动至该测试座的过程中，首先会由该吸取头压制该活动盖向下移动，连动该连动支臂组分别朝二侧向外翻开，接着，当该导电体定位置入该测试座后，该连动支臂组会重新复位，使该第一支臂上的该压制块下压该导电体的顶面中央部位而进行测试，能够达到提升测试时的正确性，以及避免该导电体表面纹路的磨损的目的。
附图说明
20.图1为本实用新型较佳实施例的立体分解图。
21.图2为本实用新型较佳实施例正常状态的外观示意图。
22.图3为本实用新型较佳实施例受压制状态的外观示意图。
23.图4为本实用新型较佳实施例操作时的状态示意图(一)。
24.图5为本实用新型较佳实施例操作时的状态示意图(二)。
25.图6为本实用新型较佳实施例操作时的状态示意图(三)。
26.附图标记说明：1-单臂压制式导电体测试装置；11-安装座；111-容置空间；112-容置槽；113-装置孔；114-第三枢接部；115-限位住；12-测试座；121-电气探针；122-底板；1221-穿孔；123-中板；1231-定位孔；124-第二弹力组；1241-第二弹簧；125-上板；1251-定位开口；13-活动盖；131-第一枢接部；132-第二限位孔；14-第一弹力组；141-第一弹簧；15-连动支臂组；151-第一支臂；1511-压制盖；15111-第四枢接部；15112-第五枢轴；1512-压制块；15121-第一限位孔；1513-第一枢轴；1514-第一枢接部；1515-第三弹簧；152-第二支臂；1521-第二枢轴；1522-第二枢接部；153-第三支臂；1531-第三枢轴；1532-第四枢轴；2-测试电路板；3-导电体；4-吸取头。
具体实施方式
27.为使能清楚了解本实用新型的内容，仅以下列说明搭配图式，敬请参阅。
28.请参阅图1，及图2～图3，以及图4～图6，是本实用新型较佳实施例立体分解图及其各种状态的外观示意图，以及其操作时的各个状态示意图。如以下各图所示，本实用新型的单臂压制式导电体测试装置1包括一安装座11、一测试座12、一活动盖13、一第一弹力组14及一连动支臂组15，用来安装并完成电性连接于一测试电路板2上，以供测试如：晶片、晶圆及主被动元件等的该导电体3。
29.其中该安装座11用以安装于该测试电路板2上，且该安装座11中央形成有一容置空间111，并由该容置空间111延伸至该安装座11底面而设有一容置槽112；应注意的是，该安装座11的四周分别对应该第一弹力组14而设有复数个装置孔113。
30.该测试座12安装于该容置槽112内，使该测试座12形成夹设于该测试电路板2及该安装座11之间的形态，且该测试座12内部设有复数电气探针121，该每一电气导电探针121二端分别对应该导电体3及该测试电路板2；于此实施例中，该测试座12包含一底板122、一中板123、该复数电气探针121、一第二弹力组124及一上板125，该底板122叠合设置于该中板123的一侧而在其间形成有复数个供放置复数电气探针121的穿孔1221，以及该第二弹力组124由复数第二弹簧1241构成并夹设于该上板125及该中板123之间，该上板125凭借该第二弹力组124的回复弹力间隔设于该中板123的另一侧，使该上板125可于该容置槽112及该中板123之间往复升降，另该上板125中央对应该导电体3的尺寸形状而设有一定位开口1251，以将该导电体3定位容置于其内，该中板123对应该复数第二弹簧1241而设有复数个定位孔1231，以将该复数第二弹簧1241分别容置设于该复数定位孔1231内。
31.该活动盖13系限位活动设置于该安装座11的上方，使该活动盖13可相对该安装座11往复上下移动，且该活动盖13的中央呈镂空状。
32.该第一弹力组14包含复数个第一弹簧141，且该第一弹力组14夹设于该安装座11及该活动盖13之间，使该活动盖13常态保持顶高的状态。
33.该连动支臂组15包含一第一支臂151、一第二支臂152及两个第三支臂153，该第一支臂151及该第二支臂152的一端分别活动连接于该活动盖13的二相对侧以形成对称设置，以及该两个第三支臂153的一端分别活动连接于该第一支臂151及该第二支臂152之中段位
置，该两个第三支臂153的另一端则分别活动连接于该安装座11的二相对侧，使该第一支臂151与该一第三支臂153形成连动，以及该第二支臂152与该另一第三支臂153形成连动，另该第一支臂151的另一端设有一压制盖1511，并于该压制盖1511的内部活动设有一压制块1512，使该压制块1512的位置对应于该测试座12的中央位置。于此实施例中，本实用新型的该第一支臂151一端设有一第一枢轴1513，以及该第二支臂152一端设有一第二枢轴1521，并于该活动盖13二侧分别设有一第一枢接部131，凭借该第一枢轴1513及该第二枢轴1521以将该第一支臂151及该第二支臂152分别活动枢设于该活动盖13，该第三支臂153一端设有一第三枢轴1531，以及该安装座11二侧分别设有一第三枢接部114，凭借二该第三枢轴114以将该两个第三支臂153分别活动枢设于该安装座11，该第一支臂151中段位置设有一第一枢接部1514，以及该第二支臂152中段位置设有一第二枢接部1522，并于该每一第三支臂153另一端设有一第四枢轴1532，凭借该两个第四枢轴1532以将该两个第三支臂153分别对应活动枢设于该第一支臂151及该第二支臂152上。另外，应注意的是，本实用新型的自动导正设计在于利用该压制块1512上设有一呈长椭圆形的第一限位孔15121，以及该压制盖1511上设有一第四枢接部15111以供穿设一第五枢轴15112，使该第五枢轴15112穿设于该第一限位孔15121内，另该压制块1512顶部与该压制盖1511之间设有一第三弹簧1515，使该压制块1512可于该压制盖1511内进行往复升降及导正偏摆等动作。另外，该活动盖13除设有该两个第一枢接部131的其余二面分别设有一对第二限位孔132，以及于该安装座11对应该一对第二限位孔132而设有复数限位柱115，故该活动盖13可相对该安装座11进行限位高度的往复上下移动。
34.综上，本实用新型的该单臂压制式导电体测试装置1在操作时，该导电体3由一吸取头4吸附并移动至该测试座12的过程中；首先，该吸取头吸附该导电体3并带动其移动至对应该测试座12的位置，下降的过程中同时压制该活动盖13向下移动，使该连动支臂组15受连动而分别朝二侧向外翻开；接着，当该导电体3会被定位置入该测试座12后，使该连动支臂组15凭借该第一弹力组14的回复弹力而重新复位，使该第一支臂151上的该压制块1512下压该导电体3的顶面中央部位而进行测试，实际状况是在压制该导电体3时，该压制块1512凭借该第三弹簧1515的回复弹力及该第一限位孔15121的设计，使该压制块1512任一角度靠触该导电体3后，会自动偏摆并导正角度，使其以完整的平面压制在该导电体3的表面，以达到提升测试时的正确性，以及避免该导电体表面纹路的磨损等目的。
35.以上说明对本实用新型而言只是说明性的，而非限制性的，本领域普通技术人员理解，在不脱离权利要求所限定的精神和范围的情况下，可作出许多修改、变化或等效，但都将落入本实用新型的保护范围之内。