一种测试矢量生成装置及方法与流程

1.本技术涉及集成电路测试技术领域，尤其涉及一种测试矢量生成装置及方法。


背景技术：

2.存储器是集成电路的重要门类，是实现大容量数据存储和传输的重要媒介，主要用来存放数据、指令、程序等信息。现代移动存储技术和存储市场的不断发展，使得半导体存储器成为目前应用最广泛的存储器件，存储器测试在集成电路领域的测试地位越来越重要。存储器的测试一方面可用于判断产品质量是否合格，另一方面可通过测试获取数据用于改进存储器的制造工艺。
3.存储器芯片的复杂程度以及存储单元类型的多样化，进一步决定了测试的难度。存储器结构的特殊性也决定了对该类型芯片的测试不能采用直接的物理检测，而需要通过对存储单元不断地进行数据读写，并与理论数据状态进行对比，使得存储器的物理故障转化为逻辑可显示的形式。
4.存储器测试和其他数字电路一样，包含有直流参数测试、交流参数测试和功能测试。其中，最主要的测试是读写逻辑功能测试，以检测存储单元的故障，包括由于坏的金属连接、坏的元件、芯片逻辑错误等原因引起的功能故障。功能测试就是通过对存储器施加测试矢量进行检测，通过读写操作检测各类存储器故障缺陷，测试矢量代表被测存储器芯片的逻辑功能。而对于大容量的存储器，为确保其故障覆盖率，其功能测试所需测试矢量的数据量庞大，矢量生成过程所需时间较长，在很大程度上直接影响了存储器的测试效率。


技术实现要素：

5.为了解决测试矢量生成过程时间较长的技术问题，本技术提供了一种测试矢量生成装置及方法。
6.第一方面，本技术提供了一种测试矢量生成装置，包括：功能模型模块、测试图形算法模块、测试矢量描述模块、测试矢量计算模块和矢量数据输出模块；
7.所述功能模型模块用于从待测试存储器获取接口信息，根据所述接口信息建立所述待测试存储器的测试功能模型；
8.所述测试图形算法模块用于提供所述待测试存储器的测试图形计算逻辑；
9.所述测试矢量描述模块用于提供所述待测试存储器的一个存储地址的矢量数据信息，以及提供所述待测试存储器的引脚定义；
10.所述测试矢量计算模块用于根据所述一个存储地址的矢量数据信息和所述引脚定义提取所述待测试存储器的具体引脚信号，以及，根据所述待测试存储器的具体引脚信号、所述测试功能模型和所述测试图形计算逻辑计算所述待测试存储器的各个存储地址的测试矢量数据；
11.所述矢量数据输出模块用于输出所述待测试存储器的各个存储地址的测试矢量数据；
12.进一步，所述接口信息包括地址信息、数据信息和控制信息；
13.所述功能模型模块用于根据所述地址信息、所述数据信息和所述控制信息建立所述待测试存储器的测试功能模型；
14.进一步，所述功能模型模块包括：地址寄存单元、地址解码单元、数据寄存单元、读数据单元、写数据单元、数据存储阵列和控制逻辑单元；
15.所述地址寄存单元用于保存所述地址信息；
16.所述地址解码单元用于对所述地址信息进行解析和映射；
17.所述数据寄存单元用于寄存所述数据信息；
18.所述读数据单元用于完成所述待测试存储器读数据的驱动工作；
19.所述写数据单元用于完成所述待测试存储器写数据的驱动工作；
20.所述数据存储阵列用于存储所述数据信息，并通过对所述地址信息的映射，完成所述地址信息对应的所述存储地址的数据存储；
21.所述控制逻辑单元用于根据所述控制信息对所述待测试存储器的工作逻辑进行控制；
22.进一步，所述测试图形算法模块包括：测试图形算法库、图形算法发生器、控制单元、地址单元和数据单元；
23.所述测试图形算法库用于存储至少一个测试图形算法；
24.所述图形算法发生器用于在所述测试图形算法作用下输出测试图形序列，所述测试图形序列包括控制数据序列、地址数据序列和测试数据序列；
25.所述控制单元用于存储所述控制数据序列；
26.所述地址单元用于存储所述地址数据序列；
27.所述数据单元用于存储所述测试数据序列；
28.进一步，所述测试图形算法库包括全零全一测试图形算法、棋盘格测试图形算法、行进测试图形算法和漫游测试图形算法中的至少一种；
29.所述测试图形算法用于对所述待测试存储器的任一存储地址进行测试；
30.进一步，所述测试图形算法库还包括测试图形算法的扩展接口；
31.所述扩展接口用于增加和/或优化改进所述测试图形算法库中的所述测试图形算法；
32.进一步，所述具体引脚信号包括：控制端引脚信号、地址端引脚信号和数据端引脚信号；
33.所述具体引脚信号标定的顺序依次为控制端引脚信号、地址端引脚信号和数据端引脚信号；
34.进一步，所述控制端引脚信号包括输出使能引脚信号、读/写控制引脚信号和片选引脚信号；
35.所述控制端引脚信号标定的顺序依次为所述输出使能引脚信号、所述读/写控制引脚信号和所述片选引脚信号；
36.进一步，所述装置用于静态随机存储器测试。
37.第二方面，本技术提供了一种测试矢量生成方法，包括：
38.从待测试存储器获取接口信息，根据所述接口信息建立所述待测试存储器的测试
功能模型；
39.获取所述待测试存储器的测试图形计算逻辑；
40.获取所述待测试存储器的一个存储地址的矢量数据信息，以及获取所述待测试存储器的引脚定义；
41.根据所述一个存储地址的矢量数据信息和所述引脚定义提取所述待测试存储器的具体引脚信号，以及，根据所述待测试存储器的具体引脚信号、所述测试功能模型和所述测试图形计算逻辑计算所述待测试存储器的各个存储地址的测试矢量数据；
42.输出所述待测试存储器的各个存储地址的测试矢量数据。
43.第三方面，提供了一种电子设备，包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；
44.存储器，用于存放计算机程序；
45.处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现第二方面实施例所述的测试矢量生成方法的步骤。
46.第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第二方面实施例所述的测试矢量生成方法的步骤。
47.本技术实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：
48.本技术实施例提供的该测试矢量生成装置，利用所述装置的功能模型模块提取待测试存储器的接口信息，利用测试矢量描述模块提供的一个存储地址的矢量数据信息以及待测试存储器的引脚定义，结合测试图形算法模块提供测试图形计算逻辑，利用测试矢量计算模块标定待测试存储器的具体引脚信号，进而计算出不同测试图形算法作用下的各个存储地址的测试矢量数据，为完成存储器的功能测试方便快捷的提供了测试矢量数据源，从而大大节省了用户编写测试矢量的时间，解决了测试矢量生成过程时间较长的技术问题，提升了存储器的测试效率，节约测试成本。
附图说明
49.此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。
50.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
51.图1为本技术实施例提供的一种测试矢量生成装置的结构示意图；
52.图2为本技术实施例提供的一种功能模型模块的示意图；
53.图3为本技术实施例提供的一种测试图形算法模块的原理框图；
54.图4为本技术实施例提供的一种测试矢量生成方法的流程示意图；
55.图5为本技术实施例提供的另一种测试矢量生成方法的流程示意图；
56.图6为本技术实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
57.为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例
中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
58.本技术第一实施例提供了一种测试矢量生成装置，如图1，包括：功能模型模块101、测试图形算法模块102、测试矢量描述模块103、测试矢量计算模块104和矢量数据输出模块105。
59.其中，功能模型模块101用于从待测试存储器获取接口信息，根据接口信息建立待测试存储器的测试功能模型；测试图形算法模块102用于提供待测试存储器的测试图形计算逻辑；测试矢量描述模块103用于提供待测试存储器的一个存储地址的矢量数据信息，以及提供待测试存储器的引脚定义；测试矢量计算模块104用于根据一个存储地址的矢量数据信息和引脚定义提取待测试存储器的具体引脚信号，以及，根据待测试存储器的具体引脚信号、测试功能模型和测试图形计算逻辑计算待测试存储器的各个存储地址的测试矢量数据；矢量数据输出模块105用于输出待测试存储器的各个存储地址的测试矢量数据。存储地址，可以称为存储地址单元或者存储单元。
60.本实施例中，功能模型模块101、测试图形算法模块102和测试矢量描述模块103是测试矢量计算模块104的基础。测试图形计算逻辑根据测试图形算法得到。测试矢量描述模块103主要提供存储器的所有引脚定义、测试过程所用到的timing(时序)信息，以及测试矢量数据的主体部分读写行矢量数据，即一个存储地址在单一测试周期里的矢量写数据和期望响应数据行，为测试矢量计算模块提供存储器芯片引脚的信号标定功能，通过一个存储地址的矢量数据读写行，完成存储器引脚信号的标定功能，为测试图形算法模块提供的矢量图形算法导入提供引脚信号接口。存储器芯片引脚信号进一步包含存储器芯片的控制端引脚信号、地址端引脚信号和数据端引脚信号。
61.测试矢量计算模块104在测试矢量描述模块103标定的引脚信号基础上，结合功能模型模块101和测试图形算法模块102，计算待测存储器的测试矢量图形序列，即根据测试需求，相应选择存储器测试图形算法库中的一种图形算法，计算存储器芯片引脚所有存储单元不同地址顺序的测试输入数据和期望响应数据。其中，测试输入数据一般用0或1表示，期望响应数据一般用l或h或z或x表示。
62.矢量数据输出模块105将测试矢量计算模块产生的测试矢量图形序列形成数据文件，输出完整的待测存储器测试矢量数据文件。
63.本测试矢量生成装置，利用功能模型模块提取待测试存储器的接口信息，利用测试矢量描述模块提供的一个存储地址的矢量数据信息以及待测试存储器的引脚定义，结合测试图形算法模块提供测试图形计算逻辑，利用测试矢量计算模块标定待测试存储器的具体引脚信号，进而计算出不同测试图形算法作用下的各个存储地址的测试矢量数据，为完成存储器的功能测试方便快捷的提供了测试矢量数据源，从而大大节省了用户编写测试矢量的时间，解决了测试矢量生成过程时间较长的技术问题，提升了存储器的测试效率，节约测试成本。
64.一个实施例中，接口信息包括地址信息、数据信息和控制信息。功能模型模块用于根据地址信息、数据信息和控制信息建立待测试存储器的测试功能模型。
65.本实施例中，在存储器测试矢量生成时考虑通用性和便捷性，通过功能模型模块
提取控制信息、地址信息和数据信息，结合不同的测试图形算法，在单个存储地址矢量数据的读写行矢量基础上，能够快速扩展生成不同测试图形算法下的存储器测试矢量数据。本存储器的测试矢量生成装置配置简单，能够快速提升存储器测试矢量生成的效率，为用户完成存储器大规模矢量数据编写提供一种快速生成装置，为完成存储器功能测试提供复杂度高、数据规模庞大的测试矢量数据文件，大大提高存储器测试效率，节约测试成本。
66.其中，控制信息进一步可以包括使能控制、读/写控制和片选控制，通过使能信号、读/写控制信号和片选信号的配合实现存储器电路的读、写操作。
67.一个实施例中，如图2，功能模型模块101包括：地址寄存单元201、地址解码单元202、数据寄存单元203、读数据单元204、写数据单元205、数据存储阵列206和控制逻辑单元207。
68.其中，地址寄存单元201用于保存地址信息，地址解码单元202用于对地址信息进行解析和映射，数据寄存单元203用于寄存数据信息，读数据单元204用于完成待测试存储器读数据的驱动工作，写数据单元205用于完成待测试存储器写数据的驱动工作，数据存储阵列206用于存储数据信息，并通过对地址信息的映射，完成地址信息对应的存储地址的数据存储，控制逻辑单元207用于根据控制信息对待测试存储器的工作逻辑进行控制。
69.本实施例中，数据存储阵列206是存储器的数据存储核心，在存储器不掉电的情况下，其存储的数据信息不会丢失。地址解码单元202对地址寄存器中的地址信息进行解码，确定要存取单元或读取单元的地址信息；写数据单元205和读数据单元204基于控制逻辑单元的读/写控制逻辑，实现存储器的写和读操作，每一次读/写操作只能针对存储器的一个存储地址作用，所有待写入存储器和从存储器读取的数据都存储在数据寄存单元203中。
70.具体的，地址寄存单元201主要用于保存存储器的地址信息；地址解码单元202用于完成对存储器地址信息的解析和映射；数据寄存单元203用于完成存储器数据的存储功能，其中存储器数据进一步包含输入数据、期望响应数据和实际采集数据；读数据单元204和写数据单元205分别完成存储器读数据和写数据的驱动工作；数据存储阵列206主要用于数据信息的存储，通过对地址信息的映射，完成对应存储地址的数据存储；控制逻辑单元207主要实现对存储器芯片的工作逻辑控制功能，其中工作逻辑控制进一步包括存储器芯片的使能控制、读/写控制和片选逻辑控制。
71.一个实施例中，如图3，测试图形算法模块102包括：测试图形算法库301、图形算法发生器302、控制单元303、地址单元304和数据单元305。
72.测试图形算法库301用于存储至少一个测试图形算法；图形算法发生器302用于在测试图形算法作用下输出测试图形序列，测试图形序列包括控制数据序列、地址数据序列和测试数据序列；控制单元303用于存储控制数据序列；地址单元304用于存储地址数据序列；数据单元305用于存储测试数据序列。其中，测试数据序列包括输入数据序列和期望响应数据序列。
73.本实施例中，测试图形算法模块主要用于提供存储器测试矢量的测试图形算法库，产生不同测试图形算法作用下的测试图形序列。其中，测试图形算法能够有效检测存储器存在的固定故障、转换故障、地址译码故障和状态耦合故障。
74.控制单元303主要用于存储待测存储器芯片所有存储地址的控制数据序列；地址单元304主要用来存储被测存储器单元的存储地址数据序列；数据单元305主要用来产生存
储器对应存储地址的输入数据和期望响应数据序列。控制单元、地址单元和数据单元的数据序列共同组成测试图形序列。其中，控制数据、地址数据和数据模块的输入数据序列为写入存储器单元的数据，一般用0/1表示；期望响应数据为读取存储器数据的期望值，一般用l/h/z/x表示。通过提取待测存储器芯片的控制端引脚信息、地址端引脚信息和数据端引脚信息，并与测试图形算法产生的测试输入数据和期望响应数据对应结合，输出一系列代表存储器逻辑功能的测试矢量图形序列。
75.一个实施例中，如图3，测试图形算法库301包括全零全一测试图形算法、棋盘格测试图形算法、行进测试图形算法和漫游测试图形算法中的至少一种。
76.测试图形算法用于对待测存储器的全功能存储地址进行测试，全功能存储地址即所有存储地址单元，也就是说，待测存储器所有存储地址单元的数据都是根据测试图形算法计算所得，依据测试图形算法进行测试。
77.全零全一测试图形算法也称为mscan测试图形算法，棋盘格测试图形算法也称为checkboard测试图形算法，行进测试图形算法也称为march测试图形算法，漫游测试图形算法也称为galpat测试图形算法。
78.本实施例中，测试图形算法库包含mscan(全零全一，或称全0全1)测试图形算法、checkboard(棋盘格)测试图形算法、march(行进)测试图形算法和galpat(漫游)测试图形算法等，在使用中，可以选择任意一种，也可以选用多种测试图形算法。测试图形算法发生器在图形算法作用下输出的测试图形序列包含控制数据、地址数据和测试数据，分别存储于控制单元、地址单元和数据单元。
79.根据不同测试图形算法的工作流程，可产生存储器所有存储地址不同的单元地址顺序以及不同的测试数据，从而能够完成所有存储地址单元不同顺序的数据写入和读取测试，有效检测存储器的故障，完成存储器高效全面的功能测试。
80.一个实施例中，测试图形算法库还包括测试图形算法的扩展接口。扩展接口用于增加和/或优化改进测试图形算法库中的测试图形算法。
81.本实施例中，利用功能模型模块提取存储器的控制信息、地址信息和数据信息等接口信息，利用测试矢量描述模块建立的矢量读/写行标定存储器芯片的控制引脚信号、地址引脚信号和数据引脚信号，结合测试图形算法模块提供的不同测试图形算法，计算出在不同测试图形算法作用下的控制数据、地址数据和读写数据，形成涵盖存储器所有测试单元的一系列测试矢量图形序列，为完成存储器的功能测试提供测试矢量数据源，从而大大节省了用户编写测试矢量的时间，提升存储器的测试效率，节约测试成本。在四种测试图形算法作用下的测试矢量数据，可以检测不同的故障状态，同时提供测试图形算法的可扩展接口，为增加或改进测试图形算法预留空间，可以通过扩展接口，优化现有的测试图形算法，或者增加新的测试图形算法。
82.一个实施例中，具体引脚信号包括：控制端引脚信号、地址端引脚信号和数据端引脚信号，具体引脚信号标定的顺序依次为控制端引脚信号、地址端引脚信号和数据端引脚信号。
83.一个实施例中，控制端引脚信号包括输出使能引脚信号、读/写控制引脚信号和片选引脚信号，控制端引脚信号标定的顺序依次为输出使能引脚信号、读/写控制引脚信号和片选引脚信号。
84.一个实施例中，本测试矢量生成装置用于静态随机存储器测试。静态随机存储器，也叫静态随机存取存储器(static random-access memory，简称sram)是随机存取存储器的一种，所谓的“静态”，是指这种存储器只要保持通电，里面储存的数据就可以恒常保持。
85.本测试矢量生成装置适用于静态随机存储器芯片，可随机、随时写入或读取存储器中的所有存储地址的信息或者任意至少一个存储地址的信息。
86.基于同一构思，本技术第二实施例提供了一种测试矢量生成方法，如图4，包括：
87.步骤401，从待测试存储器获取接口信息，根据接口信息建立待测试存储器的测试功能模型。
88.步骤402，获取待测试存储器的测试图形计算逻辑。
89.步骤403，获取待测试存储器的一个存储地址的矢量数据信息，以及获取待测试存储器的引脚定义。
90.步骤404，根据一个存储地址的矢量数据信息和引脚定义提取待测试存储器的具体引脚信号，以及，根据待测试存储器的具体引脚信号、测试功能模型和测试图形计算逻辑计算待测试存储器的各个存储地址的测试矢量数据。
91.步骤405，输出待测试存储器的各个存储地址的测试矢量数据。
92.本测试矢量生成方法，通过获取接口信息，结合测试图形计算逻辑，根据引脚定义以及一个存储地址的矢量数据信息，标定待测试存储器的所有引脚，并扩展生成各个存储地址在测试图形计算逻辑下的测试矢量数据，进而输出测试矢量数据，从而大大节省了用户编写测试矢量的时间，解决了测试矢量生成过程时间较长的技术问题，提升了存储器的测试效率，节约测试成本。
93.一个实施例中，一种测试矢量生成方法，如图5，包括：
94.步骤501，根据存储器芯片手册建立存储器测试功能模型。
95.步骤502，从存储器测试功能模型提取接口信息。
96.步骤503，根据接口信息建立存储器矢量读/写示例行，并完成测试引脚信号的标定。
97.步骤504，从测试图形算法库中选择相应的测试图形算法。
98.步骤505，基于标定的引脚信号、矢量读/写示例行，结合测试图形算法，扩展存储器所有存储地址的测试矢量数据行，生成测试矢量数据文件。
99.步骤506，输出存储器测试矢量数据文件。
100.本实施例中，根据待测存储器芯片手册建立存储器功能模型，从功能模型提取存储器的接口信息(接口信息包括控制信息、地址信息和数据信息等)，根据接口信息建立存储器测试矢量读/写数据示例行，完成测试引脚信号的标定工作，从测试图形算法库中选择相应的测试图形算法，基于标定的引脚信号、测试图形算法和测试矢量读/写数据示例行扩展存储器所有存储地址的测试矢量数据读写行，生成测试矢量数据文件，输出存储器测试矢量数据文件，从而大大节省了用户编写测试矢量的时间，解决了测试矢量生成过程时间较长的技术问题，提升了存储器的测试效率，节约测试成本。
101.如图6所示，本技术第三实施例提供了一种电子设备，包括处理器111、通信接口112、存储器113和通信总线114，其中，处理器111，通信接口112，存储器113通过通信总线114完成相互间的通信，
102.存储器113，用于存放计算机程序；
103.在一个实施例中，处理器111，用于执行存储器113上所存放的程序时，实现前述任意一个方法实施例提供的测试矢量生成方法，其中，一种测试矢量生成方法包括：
104.从待测试存储器获取接口信息，根据所述接口信息建立所述待测试存储器的测试功能模型；
105.获取所述待测试存储器的测试图形计算逻辑；
106.获取所述待测试存储器的一个存储地址的矢量数据信息，以及获取所述待测试存储器的引脚定义；
107.根据所述一个存储地址的矢量数据信息和所述引脚定义提取所述待测试存储器的具体引脚信号，以及，根据所述待测试存储器的具体引脚信号、所述测试功能模型和所述测试图形计算逻辑计算所述待测试存储器的各个存储地址的测试矢量数据；
108.输出所述待测试存储器的各个存储地址的测试矢量数据。
109.上述终端提到的通信总线可以是外设部件互连标准(peripheral component interconnect，简称pci)总线或扩展工业标准结构(extended industry standard architecture，简称eisa)总线等。该通信总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。
110.通信接口用于上述终端与其他设备之间的通信。
111.存储器可以包括随机存取存储器(random access memory，简称ram)，也可以包括非易失性存储器(non-volatile memory)，例如至少一个磁盘存储器。可选的，存储器还可以是至少一个位于远离前述处理器的存储装置。
112.上述的处理器可以是通用处理器，包括中央处理器(central processing unit，简称cpu)、网络处理器(network processor，简称np)等；还可以是数字信号处理器(digital signal processing，简称dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit，简称asic)、现场可编程门阵列(field－programmable gate array，简称fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。
113.本技术第四实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如前述任意一个方法实施例提供的测试矢量生成方法的步骤。
114.在上述实施例中，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时，可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行所述计算机程序指令时，全部或部分地产生按照本技术实施例所述的流程或功能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、数字用户线(dsl))或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质，(例如，软盘、硬盘、磁带)、光介质(例如，dvd)、或者半导体介质(例如固态硬盘
solid state disk(ssd))等。
115.需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
116.以上所述仅是本发明的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。