一种助听器芯片测试装置的制作方法

1.本实用新型属于芯片测试技术领域，具体涉及一种助听器芯片测试装置。


背景技术：

2.芯片测试装置通常包含一用于承载芯片的载物台，载物台上的芯片与测试板连接，测试板上设有信号传输接口，信号传输接口与测试平台连接，测试平台对信号进行计算处理。
3.现有的芯片测试装置存在以下不足：(1)芯片与测试板之间的连接结构比较复杂，不便于使用；(2)用于承载芯片的载物台结构不合理，在固定芯片时容易对芯片造成损坏。


技术实现要素：

4.为解决上述问题，本实用新型提供一种使用方便，结构更合理的助听器芯片测试装置。
5.具体地，本实用新型的技术方案是：
6.一种助听器芯片测试装置，包括第一载物台、测试板和第二载物台，第一载物台和测试板设置在第二载物台上；第一载物台包括底座和压盖；底座的顶面设有第一限位凹槽，第一限位凹槽内设有可弹性远离和靠近第一限位凹槽槽底移动的第三载物台，第三载物台的顶面设有用于放置芯片的第二限位凹槽，第二限位凹槽底部活动穿设有用于连接测试板和芯片的测试针；压盖的底面设有第三限位凹槽，第三限位凹槽内设有可弹性远离和靠近第三限位凹槽槽底移动的压块，压块上设有与第二限位凹槽匹配的凸块；压盖可在打开位置和关闭位置之间切换，压盖切换至关闭位置时，凸块压住芯片。
7.优选地，所述压块与第三限位凹槽的槽底之间设有第一弹性件，用于使压块可弹性远离和靠近第三限位凹槽槽底移动。
8.优选地，还包括第一限位件，第一限位件插设固定在压盖上，用于限制压块远离第三限位凹槽槽底移动的最远距离。
9.优选地，所述第三载物台与第一限位凹槽的槽底之间设有第二弹性件，用于使第三载物台可弹性远离和靠近第一限位凹槽槽底移动。
10.优选地，还包括第二限位件，第二限位件插设固定在底座上，用于限制第三载物台远离第一限位凹槽槽底移动的最远距离。
11.优选地，所述底座的第一端设有第一轴杆，压盖的第一端与第一轴杆转动连接，使压盖可在打开位置和关闭位置之间切换；第一轴杆上套设有扭簧，压盖切换至关闭位置时，扭簧被压盖和底座扭转，压盖的第二端与底座的第二端通过固定件连接。
12.优选地，所述固定件包括卡爪和凸起，凸起设在底座的第二端；压盖的第二端设有第二轴杆，卡爪的第二端转动套设在第二轴杆上；压盖切换至关闭位置时，卡爪的第一端勾住凸起。
13.优选地，所述第三载物台未受压盖作用力时，测试针用于接触芯片的端部低于第
二限位凹槽的槽底。
14.优选地，还包括电池；第二载物台包括载物台主体和底盖，第一载物台设在载物台主体的顶面，载物台主体的底面设有安装槽，测试板和电池设在安装槽内，底盖盖在载物台主体的底面。
15.优选地，所述第二限位凹槽的侧壁设有让位槽。
16.本实用新型提供的助听器芯片测试装置通过测试针连接芯片和测试板，结构简单，使用方便。关闭压盖时，第三载物台可弹性靠近第一限位凹槽槽底移动，压块可弹性靠近第三限位凹槽槽底移动，提供缓冲，防止损坏芯片。
附图说明
17.图1为一种助听器芯片测试装置的结构图；
18.图2为图1所示助听器芯片测试装置压盖打开后的结构图；
19.图3为图1所示助听器芯片测试装置的爆炸图；
20.图4为图3中a部分的爆炸图；
21.图5为图3中a部分另一视角的爆炸图；
22.图6为图3中b部分装载芯片后的爆炸图；
23.图7为图6中c部分的爆炸图；
24.图8为图6中c部分隐藏芯片后的结构图；
25.图9为图8中d部分的放大图；
26.图10为图6中c部分隐藏芯片后的爆炸图；
27.图11为图6中c部分隐藏芯片后另一视角的爆炸图。
具体实施方式
28.下面结合附图及具体实施例对本实用新型作进一步详细说明。
29.实施例一：
30.如图1至11所示，一种助听器芯片测试装置，包括第一载物台1、第二载物台2和测试板(未示出)，第一载物台1和测试板都设置在第二载物台2上；第一载物台1包括底座(如图8、10、11所示)和压盖(如图4、5所示)，底座的顶面设有第一限位凹槽11，第一限位凹槽11内设有可弹性远离和靠近第一限位凹槽11槽底移动的第三载物台12，第三载物台12的顶面设有用于放置芯片3的第二限位凹槽121，第二限位凹槽121底部活动穿设有用于连接测试板和芯片3的测试针14；压盖的底面设有第三限位凹槽15，第三限位凹槽15内设有可弹性远离和靠近第三限位凹槽15槽底移动的压块16，压块16上设有与第二限位凹槽121匹配的凸块161；压盖可在打开位置和关闭位置之间切换，压盖切换至关闭位置时，凸块161压住芯片3。
31.上述助听器芯片测试装置通过测试针14连接芯片3和测试板，结构简单，使用方便。关闭压盖时，第三载物台12可弹性靠近第一限位凹槽11槽底移动，压块16可弹性靠近第三限位凹槽15槽底移动，提供缓冲，防止损坏芯片3。
32.在本实施例中，压块16与第三限位凹槽15的槽底之间设有第一弹性件17，用于使压块16可弹性远离和靠近第三限位凹槽15槽底移动。具体地，第一弹性件17为压缩弹簧，第
三限位凹槽15的槽底和压块16的顶面分别设有限位槽，用于防止第一弹性件17移位，第一弹性件17的两端分别设在第三限位凹槽15槽底的限位槽和压块16顶面的限位槽内。
33.进一步地，在本实施例中，第一限位件18插设固定在压盖上，用于限制压块16远离第三限位凹槽15槽底移动的最远距离。具体地，第一限位件18的第一端设有外螺纹，压盖上设有螺孔，第一限位件18与压盖螺纹连接，第一限位件18的第二端与压块16上的凹槽配合，对压块进行限位。
34.在本实施例中，第三载物台12与第一限位凹槽11的槽底之间设有第二弹性件13，用于使第三载物台12可弹性远离和靠近第一限位凹槽11槽底移动。具体地，第二弹性件13为压缩弹簧，第一限位凹槽11的槽底和第三载物台12的底面分别设有限位槽，防止第二弹性件13移位，第二弹性件13的两端分别设在第一限位凹槽11槽底的限位槽和第三载物台12底面的限位槽内。
35.进一步地，在本实施例中，第二限位件19插设固定在底座上，用于限制第三载物台12远离第一限位凹槽11槽底移动的最远距离。具体地，第二限位件19的第一端设有外螺纹，底座上设有螺孔，第二限位件19与底座螺纹连接，第二限位件19的第二端与第三载物台12上的凹槽配合，对第三载物台12进行限位。
36.在其它实施例中，也可将第二弹性件13的两端分别固定在压盖和第三限位凹槽15上，通过第二弹性件13的弹力限制压块16远离第三限位凹槽15槽底移动的最远距离。
37.在本实施例中，压盖与底座可转动连接。具体地，底座的第一端设有第一轴杆101，压盖的第一端与第一轴杆101转动连接，使压盖可在打开位置和关闭位置之间切换；第一轴杆101上套设有扭簧102，压盖切换至关闭位置时，扭簧102被压盖和底座扭转，压盖的第二端与底座的第二端通过固定件连接。解除固定件对压盖和底座的固定时，扭簧102可将压盖撑起，无需手动转动压盖，也无需在取放芯片3时用手或工具撑住压盖，便于使用。在其它实施例中，压盖也可通过螺钉可拆卸地固定在底座上。
38.在本实施例中，固定件包括卡爪103和凸起104，凸起104设在底座的第二端；压盖的第二端设有第二轴杆105，卡爪103的第二端转动套设在第二轴杆105上；压盖切换至关闭位置时，卡爪103的第一端勾住凸起104。通过转动卡爪103将压盖固定在底座上和解除压盖与底座之间的固定，操作方便，在其它实施例中，固定件也可以为其它结构的固定件，例如螺钉。
39.在本实施例中，第三载物台12未受压盖作用力时，测试针14用于接触芯片3的端部低于第二限位凹槽121的槽底，使芯片3断电，安全性高。具体地，测试针14用于接触测试板的端部固定在测试板上，第三载物台12可相对测试针14远离和靠近第一限位凹槽11槽底移动，压盖切换至关闭位置时，压块16压迫第三载物台12，使第三载物台12靠近第一限位凹槽11槽底移动，以至第二限位凹槽121的槽底低于测试针14用于接触芯片3的端部，同时，压块16上的凸块161压迫芯片3，使芯片3与测试针14用于接触芯片3的端部紧密接触；压盖切换至打开位置时，第三载物台12在第一弹性件17的弹力作用下远离第一限位凹槽11槽底移动，使第二限位凹槽121的槽底高于测试针14用于接触芯片3的端部，芯片3与测试针14的连接断开，芯片3断电。
40.在本实施例中，第二载物台2包括载物台主体21和底盖22，第一载物台1设在载物台主体21的顶面，载物台主体21的底面设有安装槽211，安装槽211的结构与测试板和电池
匹配。测试板和电池(未示出)设在安装槽211内，底盖22盖在载物台主体21的底面，便于组装。
41.在本实施例中，载物台主体21的顶面设有电池盖23，电池盖23设在电池上方，可拆卸地固定在载物台主体21上，打开电池盖23后，可从第二载物台2上方更换电池，便于使用。在其它实施例中，也可拆卸底盖22，从第二载物台2下方更换电池。
42.在本实施例中，第二限位凹槽121的侧壁设有让位槽106，便于取放芯片3。
43.以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并非对本实用新型的限制。应当指出，本领域的技术人员在阅读完本说明书后，凡在本实用新型的精神和原则之内所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。