一种适用于高可靠度芯片测试的吸盘的制作方法

1.本实用新型涉及芯片检测技术领域，更具体地说，涉及一种适用于高可靠度芯片测试的吸盘。


背景技术：

2.芯片在封装厂封装完成后，要进行成品的最终测试。目前，常用的测试方法是在自动测试设备上进行测试。在测试过程中，通常是通过转移装置自动获取送料机构上的芯片，然后再将芯片放至测试模块中进行测试。芯片在进行测试前需要通过吸盘将芯片吸附固定后在进行测试工作。目前用于芯片测试的吸盘通常都是通过与外部负压机连接，通过吸力吸附芯片，但吸力一旦取消时，芯片会自动滑落，容易对芯片表面造成损伤，现有技术公开号为cn213381230u的专利文献提供一种适用于高可靠度芯片测试的吸盘，该装置包括吸盘本体，吸盘本体的上端面对称开设有两个限位槽，每个限位槽的侧壁内均固定安装有伺服电机，伺服电机的输出端固定安装有螺纹杆，每个螺纹杆上螺纹连接有螺纹块，螺纹块的上端固定安装有固定块，两个固定块相对的一侧分别固定安装有两个连接板，每个连接板的下端面均固定安装有伸缩气缸，每个伸缩气缸均通过活塞杆固定安装有安装板。
3.虽然该装置有益效果较多，但依然存在下列问题：该装置通过压板压住芯片的表面防止掉落，但压板会影响芯片的测试，且若压板力度控制不当，容易对芯片表面造成损伤，同时压板在压住芯片时需要来回运动，影响工作效率，导致实用性较差。鉴于此，我们提出一种适用于高可靠度芯片测试的吸盘。


技术实现要素：

4.1.要解决的技术问题
5.本实用新型的目的在于提供一种适用于高可靠度芯片测试的吸盘，以解决上述背景技术中提出的问题。
6.2.技术方案
7.一种适用于高可靠度芯片测试的吸盘，包括测试台，所述测试台顶面中部开设有多个负压孔，所述测试台顶面中部固定连接有密封垫圈，所述密封垫圈下侧设有负压盒，所述负压盒底面中部固定连接有负压管，所述负压管右端穿过测试台延伸至外侧，且所述负压管内设有单向阀，所述单向阀包括限位环a，所述限位环a右部抵接配合有限位球，所述限位球右部固定连接有弹簧a，所述负压盒左壁固定连接有泄压管，所述泄压管内设有泄压机构，所述泄压机构包括限位环b，所述限位环b上部抵接配合有泄压塞，所述泄压塞顶面中部固定连接有连杆，所述连杆外部套设有弹簧b，所述连杆上端穿过泄压管延伸至外侧并滑动连接有调节板，所述调节板通过转动座与测试台转动连接。
8.优选地，所述负压盒顶面与测试台内顶面连接固定。
9.优选地，限位环a、弹簧a均与负压管内壁连接固定。
10.优选地，所述泄压管呈l字型结构，且所述泄压管顶面开设有多个泄压孔，所述泄
压管上端与测试台连接固定。
11.优选地，所述限位环b与泄压管内壁连接固定，所述连杆与泄压管上端滑动连接。
12.3.有益效果
13.相比于现有技术，本实用新型的优点在于：
14.1、本实用新型通过当负压盒内形成负压吸取芯片固定时，按压调节板前端，调节板后部带动连杆在泄压管内向上运动，连杆带动泄压阀与限位环b的抵接取消，通过泄压孔慢慢地向负压盒内填充空气，使得负压盒的负压吸力逐渐减少，同时密封垫圈能够有效的防止芯片脱落，从而可方便的将芯片取下，操作简单，提高效率。
15.2、本实用新型通过当负压盒内的负压达到一定程度时密封垫圈能够牢牢的将芯片吸附住，同时在负压管内设置的单向阀使得负压盒内能够长期保持负压状态，从而减少外部负压机的工作输出，节能减排。
附图说明
16.图1为本实用新型的整体结构示意图；
17.图2为本实用新型的测试台内部结构示意图；
18.图3为本实用新型的泄压机构、泄压管解剖结构示意图；
19.图4为本实用新型中a处结构解剖放大示意图；
20.图中标号说明：1、测试台；2、负压孔；3、密封垫圈；4、负压盒；5、负压管；6、单向阀；601、限位环a；602、限位球；603、弹簧a；7、泄压管；701、泄压孔；8、泄压机构；801、限位环b；802、泄压塞；803、连杆；804、弹簧b；805、调节板；9、转动座。
具体实施方式
21.在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
22.在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
23.在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“套设/接”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
24.请参阅图1-4,本实用新型提供一种技术方案：
25.一种适用于高可靠度芯片测试的吸盘，包括测试台1，测试台1顶面中部开设有多个负压孔2，测试台1顶面中部固定连接有密封垫圈3，密封垫圈3下侧设有负压盒4，负压盒4底面中部固定连接有负压管5，负压管5右端穿过测试台1延伸至外侧，且负压管5内设有单向阀6，单向阀6包括限位环a601，限位环a601右部抵接配合有限位球602，限位球602右部固
定连接有弹簧a603，负压盒4左壁固定连接有泄压管7，泄压管7内设有泄压机构8，泄压机构8包括限位环b801，限位环b801上部抵接配合有泄压塞802，泄压塞802顶面中部固定连接有连杆803，连杆803外部套设有弹簧b804，连杆803上端穿过泄压管7延伸至外侧并滑动连接有调节板805，调节板805通过转动座9与测试台1转动连接。本实用新型中的负压管5右端与外部的负压机连接，在使用时，将芯片放置与密封垫圈3上，负压机将负压盒4内抽呈负压状态将芯片吸住，此时负压机可停止输出，弹簧a603带动限位球602与限位环a601抵接，可保持负压盒4内的负压状态，按压调节板805前端，调节板805后部带动连杆803在泄压管7内向上运动，连杆803带动泄压阀802与限位环b801的抵接取消，通过泄压孔701慢慢地向负压盒4内填充空气，使得负压盒4的负压吸力逐渐减少，从而将芯片取下。
26.具体的，负压盒4顶面与测试台1内顶面连接固定。
27.进一步的，限位环a601、弹簧a603均与负压管5内壁连接固定。
28.再进一步的，泄压管7呈l字型结构，且泄压管7顶面开设有多个泄压孔701，泄压管7上端与测试台1连接固定。
29.更进一步的，限位环b801与泄压管7内壁连接固定，连杆803与泄压管7上端滑动连接。
30.工作原理：本实用新型在使用时，通过负压管5右端与外部的负压机连接，在使用时，将芯片放置与密封垫圈3上，负压机将负压盒4内抽呈负压状态，负压盒4内的负压与密封垫圈3配合将芯片牢牢的吸住，此时负压机可停止输出，弹簧a603带动限位球602与限位环a601抵接，可保持负压盒4内的负压状态，向下按压调节板805前端，调节板805后部带动连杆803在泄压管7内向上运动，连杆803带动泄压阀802与限位环b801的抵接取消，通过泄压孔701慢慢地向负压盒4内填充空气，使得负压盒4的负压吸力逐渐减少，从而将芯片取下。
31.以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例，并不用来限制本实用新型，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。