技术特征:
1.一种磁记录介质基板用玻璃,其为sio2含量为54摩尔%以上62摩尔%以下、mgo含量为15摩尔%以上28摩尔%以下、li2o含量为0.2摩尔%以上、以及na2o含量为5摩尔%以下的非晶态玻璃。2.如权利要求1所述的磁记录介质基板用玻璃,其中,sio2与mgo的总含量相对于li2o含量的摩尔比、也即(sio2 mgo)/li2o为13以上。3.如权利要求1或2所述的磁记录介质基板用玻璃,其中,sio2、mgo、li2o、al2o3和cao的总含量、也即sio2 mgo li2o al2o3 cao为93摩尔%以上。4.如权利要求1~3中任一项所述的磁记录介质基板用玻璃,其中,al2o3与cao的总含量相对于mgo含量的摩尔比、也即(al2o3 cao)/mgo为0.55以上。5.如权利要求1~4中任一项所述的磁记录介质基板用玻璃,其中,mgo含量相对于cao含量的摩尔比、也即mgo/cao为6以上。6.一种磁记录介质基板,其由权利要求1~5中任一项所述的磁记录介质基板用玻璃构成。7.一种磁记录介质,其具有权利要求6所述的磁记录介质基板和磁记录层。8.一种磁记录再生装置用玻璃间隔物,其中,所述玻璃间隔物包含sio2含量为54摩尔%以上62摩尔%以下、mgo含量为15摩尔%以上28摩尔%以下、li2o含量为0.2摩尔%以上、以及na2o含量为5摩尔%以下的非晶态玻璃。9.一种磁记录再生装置,其包含权利要求7所述的磁记录介质和权利要求8所述的磁记录再生装置用玻璃间隔物中的至少一者。
技术总结
提供一种磁记录介质基板用玻璃,其为SiO2含量为54摩尔%以上62摩尔%以下、MgO含量为15摩尔%以上28摩尔%以下、Li2O含量为0.2摩尔%以上、以及Na2O含量为5摩尔%以下的非晶态玻璃。态玻璃。
技术研发人员:佐藤浩一 桥本和明
受保护的技术使用者:HOYA株式会社
技术研发日:2020.07.22
技术公布日:2022/3/4
再多了解一些
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