眼宽量测装置及方法与流程

1.本发明涉及一种眼宽量测装置(eye width monitor，ewm)及其量测眼宽的方法，尤其涉及一种可用于时钟数据恢复(clock and data recovery，cdr)电路的眼宽量测装置以及针对时钟数据恢复电路的输入数据的眼宽进行量测的方法。


背景技术：

2.请参考图1，图1简易示出了一高速数据接收器10的电路结构。高速数据接收器10包括一均衡器(equalizer，eq)102及一时钟数据恢复(clock and data recovery，cdr)电路104。均衡器102可用来补偿信道上可能产生的信号损失。时钟数据恢复电路104可用来取出内嵌于所接收数据信号的时钟信号。高速数据接收器10可设置于包含在晶片中的集成电路(integrated circuit，ic)。
3.一般来说，可利用外部测试来取得高速数据接收器10的输入数据的眼宽。然而，位于高速数据接收器10内部的均衡器102和时钟数据恢复电路104之间的内部信号(如时钟数据恢复电路104的输入数据)的眼宽往往无法通过外部测试来取得。为了获得通过均衡之后的数据信号的眼宽，集成电路还需要加入一眼宽量测装置(eye width monitor，ewm)，用来侦测集成电路的内部信号，导致电路成本和复杂度提高。
4.一种较简单的眼宽量测方式为，利用延迟线来产生多个时钟相位，其只需要通过延迟电路和采样电路即可实现眼宽的量测。然而，延迟线的延迟大小容易受到工艺、电压、温度(pvt)变异的影响而产生误差。如此一来，难以准确量测集成电路的内部信号的眼宽。鉴于此，现有技术实有改进的必要。


技术实现要素：

5.因此，本发明的主要目的即在于提供一种新式的眼宽量测装置(eye width monitor，ewm)，以准确量测包含在集成电路(integrated circuit，ic)内部的时钟数据恢复(clock and data recovery，cdr)电路的数据信号的眼宽。
6.本发明的一实施例公开了一种眼宽量测装置，用于一时钟数据恢复电路。该眼宽量测装置包括一延迟电路、一第一多路复用器(multiplexer)及一校正电路。该延迟电路包括一输入端及一输出端。该第一多路复用器耦接于该延迟电路，其包括一第一输入端、一第二输入端及一输出端。该第一多路复用器的该第一输入端耦接于该眼宽量测装置的一时钟输入端，该第一多路复用器的该第二输入端耦接于该延迟电路的该输出端，该第一多路复用器的该输出端耦接于该延迟电路的该输入端。该校正电路耦接于该延迟电路，可用来从该延迟电路接收一振荡时钟，并接收一参考时钟，以藉由该参考时钟对该振荡时钟进行校正。
7.本发明的另一实施例公开了一种量测眼宽的方法，用于一时钟数据恢复电路。该方法包括下列步骤：将一延迟电路连接为一振荡器，以藉由一参考时钟对该延迟电路的一振荡时钟进行校正；决定对应于校正后的该振荡时钟的该延迟电路的一延迟设定；以及在
对应于校正后的该振荡时钟的该延迟设定之下，对该时钟数据恢复电路的一输入数据进行采样，以量测该时钟数据恢复电路的该输入数据的眼宽。
8.本发明的另一实施例公开了一种眼宽量测装置，用于一时钟数据恢复电路。该眼宽量测装置包括一延迟电路、一第一多路复用器及一频率比较器。该延迟电路包括一输入端及一输出端。该第一多路复用器耦接于该延迟电路，其包括一第一输入端、一第二输入端及一输出端。该第一多路复用器的该第一输入端耦接于该眼宽量测装置的一时钟输入端，该第一多路复用器的该第二输入端耦接于该延迟电路的该输出端，该第一多路复用器的该输出端耦接于该延迟电路的该输入端。该频率比较器耦接于该延迟电路，可用来从该延迟电路接收一振荡时钟，并接收一参考时钟，以判断该参考时钟的频率与该振荡时钟的频率的比例。
9.本发明的另一实施例公开了一种量测眼宽的方法，用于一时钟数据恢复电路。该方法包括下列步骤：将一延迟电路连接为一振荡器，以判断一参考时钟的频率与来自于该延迟电路的一振荡时钟的频率的比例；藉由该延迟电路的多个采样时钟对该时钟数据恢复电路的一输入数据进行采样，以取得一正确时钟数量；以及根据该比例及该正确时钟数量，计算该时钟数据恢复电路的该输入数据的眼宽。
附图说明
10.图1为一高速数据接收器的示意图。
11.图2为本发明实施例一数据接收器的示意图。
12.图3为本发明实施例一眼宽量测装置的示意图。
13.图4为图3的眼宽量测装置操作在时钟扫描模式的示意图。
14.图5为通过采样时钟对输入数据进行采样的示例性波形图。
15.图6为本发明实施例一眼宽量测流程的流程图。
16.图7为本发明另一实施例一眼宽量测装置的示意图。
17.图8为图7的眼宽量测装置操作在时钟扫描模式的示意图。
18.图9为通过采样时钟对输入数据进行采样的示例性波形图。
19.图10为本发明实施例一眼宽量测流程的流程图。
20.其中，附图标记说明如下：
21.10
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高速数据接收器
22.102、202
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均衡器
23.104、204、35、75
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时钟数据恢复电路
24.20
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数据接收器
25.206、30、70
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眼宽量测装置
26.302
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延迟电路
27.304
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校正电路
28.m1、m2
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多路复用器
29.dat
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输入数据
30.clk_cdr
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时钟数据恢复输出时钟
31.clk_trn
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输入训练时钟
32.clk_osc
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振荡时钟
33.clk_ref
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参考时钟
34.ctrl
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控制信号
35.i1
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反相器
36.310
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n对1多路复用器
37.312
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数据锁存器
38.314
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数据检查电路
39.ckd[1]～ckd[n]
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采样时钟
[0040]
60、100
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眼宽量测流程
[0041]
600～608、1000～1008
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步骤
[0042]
704
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频率比较器
[0043]
f_ref
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参考时钟频率
[0044]
f_osc
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振荡时钟频率
[0045]
320
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计算电路
[0046]
t_cell
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相移
[0047]
t_ew
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眼宽
[0048]
t_ui
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单位间隔
具体实施方式
[0049]
请参考图2，图2为本发明实施例一数据接收器20的示意图。如图2所示，数据接收器20包括一均衡器(equalizer，eq)202、一时钟数据恢复(clock and data recovery，cdr)电路204及一眼宽量测装置(eye width monitor，ewm)206。数据接收器20可以是具有接收高速数据信号能力的高速接收器，可实现于集成电路(integrated circuit，ic)并包含在晶片中。关于均衡器202及时钟数据恢复电路204的实施和运作方式类似于图1所示的均衡器102及时钟数据恢复电路104，在此不赘述。为了取得均衡器202与时钟数据恢复电路204之间的内部数据信号的信号品质，可加入眼宽量测装置206并将其耦接于均衡器202及时钟数据恢复电路204之间的节点，以监测数据信号。换句话说，眼宽量测装置206可侦测时钟数据恢复电路204的输入数据的眼宽。
[0050]
如上所述，延迟电路可提供较简易的眼宽量测的实施方式，但易受到工艺、电压、温度(pvt)变异的影响而产生误差。本发明的实施例提供了数种方案，可消除或减轻延迟电路的误差，从而提升眼宽量测的可行性及可靠度。
[0051]
请参考图3，图3为本发明实施例一眼宽量测装置30的示意图。如图3所示，眼宽量测装置30包括一延迟电路302、一校正电路304、及多路复用器(multiplexer，mux)m1及m2。眼宽量测装置30可实现于一高速数据接收器中，例如图2所示的眼宽量测装置206。眼宽量测装置30耦接于一时钟数据恢复电路35，用来量测时钟数据恢复电路35的一输入数据dat的眼宽。时钟数据恢复电路35可用来接收输入数据dat，并对应输出从输入数据dat取出的一时钟数据恢复输出时钟clk_cdr。另外，时钟数据恢复电路35还具有一时钟训练模式，其中，时钟数据恢复电路35接收一输入训练时钟clk_trn而不是输入数据dat。
[0052]
详细来说，延迟电路302可包括由多个反相器组成的延迟链，用来产生并输出具有
不同相位的多个采样时钟。校正电路304耦接于延迟电路302，可从延迟电路302接收一振荡时钟clk_osc，并通过来自于多路复用器m2的一参考时钟clk_ref对振荡时钟clk_osc进行校正。在校正过程中，校正电路304也可用来对延迟电路302的延迟进行控制。多路复用器m1耦接于延迟电路302，更明确来说，多路复用器m1的输出端耦接于延迟电路302的输入端；多路复用器m1的一第一输入端耦接于眼宽量测装置30的一时钟输入端，用来从时钟数据恢复电路35接收时钟数据恢复输出时钟clk_cdr；多路复用器m1的一第二输入端耦接于延迟电路302的输出端。多路复用器m1可接收一控制信号ctrl，以选择由第一输入端或第二输入端来传送信号。多路复用器m2耦接于校正电路304，更明确来说，多路复用器m2的输出端耦接于校正电路304；多路复用器m2的一第一输入端耦接于时钟数据恢复电路35的时钟输出端，用来接收来自于时钟数据恢复电路35的时钟数据恢复输出时钟clk_cdr；多路复用器m2的一第二输入端耦接于时钟数据恢复电路35的输入端，用来在时钟训练模式下接收输入训练时钟clk_trn。在此情况下，时钟数据恢复输出时钟clk_cdr和输入训练时钟clk_trn的其中一者可通过多路复用器m2进行传送，以作为用于校正的参考时钟clk_ref。
[0053]
图3示出了一校正模式，其中，控制信号ctrl可控制多路复用器m1选择将第二输入端耦接至其输出端。在此情况下，延迟电路302的输出端耦接于其输入端，使得延迟电路302连接为一振荡器。多路复用器m1的第二输入端与延迟电路302的输出端之间可选择性地设置一反相器i1，使信号产生振荡。
[0054]
在校正模式下，延迟电路302可进行振荡并输出振荡时钟clk_osc至校正电路304，校正电路304从而根据参考时钟clk_ref对振荡时钟clk_osc进行校正。在一实施例中，延迟电路302可由电压控制延迟线或数位控制延迟线来实现，而校正电路304可对应输出一电压信号或一数位信号至延迟电路302，以控制延迟电路302的延迟时间。
[0055]
在一实施例中，可将振荡时钟clk_osc校正为与参考时钟clk_ref具有相同频率。振荡时钟clk_osc的校正可藉由校正电路304的延迟控制来实现。更明确来说，校正电路304可控制延迟电路302的延迟设定，以调整振荡时钟clk_osc的频率。因此，在校正完成之后，振荡时钟clk_osc的频率相同于参考时钟clk_ref的频率，其可以是时钟数据恢复输出时钟clk_cdr的频率或时钟数据恢复电路204的输入训练时钟clk_trn的频率。
[0056]
当振荡时钟clk_osc完成校正之后，可取得延迟电路302的延迟设定(如每一延迟单元的延迟时间)。接着，眼宽量测装置30可切换至一时钟扫描模式，其中，控制信号ctrl可控制多路复用器m1选择将第一输入端耦接至其输出端。在此情况下，延迟电路302连接至时钟输入端，以从时钟数据恢复电路35接收时钟数据恢复输出时钟clk_cdr。延迟电路302在时钟扫描模式下可作为一延迟线，在校正模式下则作为一振荡器。
[0057]
请参考图4，图4为眼宽量测装置30操作在时钟扫描模式的示意图。如图4所示，眼宽量测装置30还包括一n对1多路复用器310、一数据锁存器312及一数据检查电路314。n对1多路复用器310可从延迟电路302接收不同相位的采样时钟ckd[1]～ckd[n]，其中，在校正模式下产生的校正后振荡时钟所对应的延迟设定之下，各采样时钟ckd[1]～ckd[n]之间的延迟时间(即相移(phase shift)，意即每一延迟单元的延迟电路302的延迟时间)为已知。数据锁存器312可接收时钟数据恢复电路35的输入数据dat，并依序从n对1多路复用器310接收采样时钟ckd[1]～ckd[n]。因此，采样时钟ckd[1]～ckd[n]可依序对输入数据dat进行采样，数据检查电路314从而判断每一采样时钟ckd[1]～ckd[n]所取得的采样值是否正确。
[0058]
图5为通过采样时钟ckd[1]～ckd[n]对输入数据dat进行采样的示例性波形图。如图5所示，正确的采样值可通过从ckd[a]到ckd[b]之间的采样时钟得到。需注意，延迟电路302的延迟设定是通过基于参考时钟clk_ref进行校正后得到的振荡时钟clk_osc来决定，且所设定的延迟时间使用于时钟扫描模式以对输入数据dat进行采样，由于各采样时钟之间的延迟时间已完成校正，因此可根据采样时钟ckd[1]～ckd[n]的采样结果，正确取得时钟数据恢复电路35的输入数据dat的眼宽。
[0059]
在习知使用延迟电路的眼宽量测方法中，延迟电路的延迟时间无法有效控制，即，延迟时间易受到工艺、电压、温度变异的影响而形成较大的偏移或误差。如此一来，难以在具有不稳定的延迟时间的采样时钟之下准确地进行眼宽判断。相较之下，在本发明的眼宽量测装置中，当利用采样时钟对输入数据进行采样之前，可先将延迟电路连接为振荡器以进行校正。振荡器所产生的振荡时钟被校正为与参考时钟具有相同频率，此参考时钟可以从例如时钟数据恢复电路的输出时钟或输入训练时钟当中选择而得，可据此决定延迟电路中每一延迟单元的延迟时间，延迟时间具有准确的数值且不受工艺、电压、温度变异的影响。换句话说，校正后的延迟电路的延迟时间可调整为对应于时钟数据恢复电路的输入数据信号的平均频率，接收电路知道平均频率的大小且能够准确取得校正后的平均频率值。
[0060]
上述关于眼宽量测装置30的运作方式可归纳为一眼宽量测流程60，如图6所示。眼宽量测流程60包括下列步骤：
[0061]
步骤600：开始。
[0062]
步骤602：将延迟电路302连接为一振荡器，以藉由参考时钟clk_ref对延迟电路302的振荡时钟clk_osc进行校正。
[0063]
步骤604：决定对应于校正后的振荡时钟clk_osc的延迟电路302的一延迟设定。
[0064]
步骤606：在对应于校正后的振荡时钟clk_osc的延迟设定之下，对时钟数据恢复电路35的输入数据dat进行采样，以量测时钟数据恢复电路35的输入数据dat的眼宽。
[0065]
步骤608：结束。
[0066]
关于眼宽量测流程60的详细实施方式及运作方式可参考前述段落的说明，在此不赘述。
[0067]
在另一实施例中，当延迟电路所产生的采样时钟ckd[1]～ckd[n]用来对输入数据dat进行采样之前，可预先取得振荡时钟clk_osc与参考时钟clk_ref之间的频率关系。请参考图7，图7为本发明另一实施例一眼宽量测装置70的示意图。如图7所示，眼宽量测装置70的电路结构类似于图3中的眼宽量测装置30的电路结构，故功能相似的信号或组件都以相同符号表示。眼宽量测装置70与眼宽量测装置30之间的差异在于，眼宽量测装置70包括一频率比较器704，用以取代眼宽量测装置30的校正电路304。频率比较器704耦接于延迟电路302，用来从延迟电路302接收振荡时钟clk_osc，并从多路复用器m2接收参考时钟clk_ref。因此，频率比较器704可比较振荡时钟clk_osc与参考时钟clk_ref，以判断参考时钟clk_ref的频率和振荡时钟clk_osc的频率之间的比例。
[0068]
同样地，眼宽量测装置70耦接于一时钟数据恢复电路75，用来量测时钟数据恢复电路75的一输入数据dat的眼宽。时钟数据恢复电路75可用来接收输入数据dat，并对应输出从输入数据dat取出的一时钟数据恢复输出时钟clk_cdr。另外，时钟数据恢复电路75还具有一时钟训练模式，其中，时钟数据恢复电路75接收一输入训练时钟clk_trn而不是输入
数据dat。根据多路复用器m2的运作，可选择时钟数据恢复输出时钟clk_cdr或输入训练时钟clk_trn作为参考时钟clk_ref。
[0069]
图7示出了一评估模式，其中，控制信号ctrl可控制多路复用器m1选择将第二输入端耦接至其输出端。在此情况下，延迟电路302的输出端耦接于其输入端，使得延迟电路302连接为一振荡器。在评估模式下，延迟电路302可进行振荡并输出振荡时钟clk_osc至频率比较器704，频率比较器704从而对振荡时钟clk_osc和参考时钟clk_ref进行比较。
[0070]
相较于校正模式下延迟电路302的延迟时间是藉由校正流程进行调整，评估模式不控制或调整延迟时间，而是利用频率比较器704对振荡时钟clk_osc和参考时钟clk_ref之间的频率比例进行比较及评估。
[0071]
在一实施例中，参考时钟clk_ref的频率(f_ref)是振荡时钟clk_osc的频率(f_osc)的m倍，即，
[0072]
f_ref＝m
×
f_osc；
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(1)
[0073]
其中，m为任意的正数，如整数或分数。眼宽量测装置70可记录此数值以用于后续计算。
[0074]
当眼宽量测装置70取得频率比例m之后，可进一步切换至一时钟扫描模式，其中，控制信号ctrl可控制多路复用器m1选择将第一输入端耦接至其输出端。在此情况下，延迟电路302连接至时钟输入端，以从时钟数据恢复电路75接收时钟数据恢复输出时钟clk_cdr。延迟电路302在时钟扫描模式下可作为一延迟线，在评估模式下则作为一振荡器。
[0075]
请参考图8，图8为眼宽量测装置70操作在时钟扫描模式的示意图。如图8所示，眼宽量测装置70的电路结构类似于图4中的眼宽量测装置30的电路结构，故功能相似的信号或组件都以相同符号表示。眼宽量测装置70与眼宽量测装置30之间的差异在于，眼宽量测装置70还包括一计算电路320。计算电路320耦接于数据检查电路314，可用来计算时钟数据恢复电路75的输入数据dat的眼宽。
[0076]
同样地，n对1多路复用器310可从延迟电路302接收不同相位的采样时钟ckd[1]～ckd[n]。数据锁存器312可接收时钟数据恢复电路75的输入数据dat，并依序从n对1多路复用器310接收采样时钟ckd[1]～ckd[n]。因此，采样时钟ckd[1]～ckd[n]可依序对输入数据dat进行采样，数据检查电路314从而判断每一采样时钟ckd[1]～ckd[n]所取得的采样值是否正确，相关的采样结果可进一步传送至计算电路320。
[0077]
如图8所示，延迟电路302中的延迟链是由2
×
n个反相器组成，而延迟电路302可用来输出具有不同相位的n个采样时钟ckd[1]～ckd[n](n为大于1的整数)。因此，每两个连续的采样时钟之间的相移t_cell(即ckd[i]和ckd[i 1]之间的延迟时间)等于：
[0078][0079]
其中，t_osc代表振荡时钟clk_osc的振荡周期长，其为振荡时钟clk_osc的频率f_osc的倒数。
[0080]
图9为通过采样时钟ckd[1]～ckd[n]对输入数据dat进行采样的示例性波形图。如图9所示，通过采样时钟ckd[a]到ckd[b]可取得正确的采样值。因此，数据检查电路314可得到一正确时钟数量，其等于采样时钟ckd[a]到ckd[b]之间的数量。
[0081]
如此一来，计算电路320可根据参考时钟clk_ref的频率与振荡时钟clk_osc的频
率之间的比例并根据正确时钟数量来计算输入数据dat的眼宽。在此例中，输入数据dat的眼宽t_ew等于：
[0082]
t_ew＝(b-a)
×
t_cell。
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(3)
[0083]
将方程式(3)结合方程式(1)、(2)可取得眼宽t_ew如下：
[0084][0085]
其中，t_ui为输入数据dat的单位间隔，其等于参考时钟clk_ref的频率f_ref的倒数。
[0086]
由此可知，m是评估模式下通过频率比较器704取得的频率比例，而(b-a)为正确时钟数量，其代表具有正确采样值的采样时钟数量。此外，n是基于延迟电路302结构之下的已知数值，且t_ui的数值可藉由从传输端接收相关信息或通过外部侦测器进行侦测而轻易取得。通过上述信息和计算，可正确取得时钟数据恢复电路75的输入数据dat的眼宽t_ew。
[0087]
在此例中，可在评估模式下取得延迟电路302连接为振荡器之下的振荡频率f_osc与时钟数据恢复电路的参考时钟频率f_ref之间的关系。随后，在时钟扫描模式之下，延迟电路302所产生的采样时钟ckd[1]～ckd[n]可依序对输入数据dat进行采样，以判断正确时钟数量。每两个连续的采样时钟之间的相移与延迟电路302的振荡频率f_osc相关，也因此相关于参考时钟频率f_ref以及输入数据dat的单位间隔t_ui。在完成计算之后，即可根据上述信息取得对应于单位间隔t_ui的眼宽t_ew。
[0088]
上述关于眼宽量测装置70的运作方式可归纳为一眼宽量测流程100，如图10所示。眼宽量测流程100包括下列步骤：
[0089]
步骤1000：开始。
[0090]
步骤1002：将延迟电路302连接为一振荡器，以判断参考时钟clk_ref的频率与来自于延迟电路302的振荡时钟clk_osc的频率的比例。
[0091]
步骤1004：藉由延迟电路302的采样时钟ckd[1]～ckd[n]对时钟数据恢复电路75的输入数据dat进行采样，以取得一正确时钟数量。
[0092]
步骤1006：根据该比例及正确时钟数量，计算时钟数据恢复电路75的输入数据dat的眼宽。
[0093]
步骤1008：结束。
[0094]
关于眼宽量测流程100的详细实施方式及运作方式可参考前述段落的说明，在此不赘述。
[0095]
值得注意的是，本发明实施例的目的在于提供一种可准确量测集成电路内部信号(如时钟数据恢复电路的输入数据信号)眼宽的眼宽量测装置。本领域技术人员当可据此进行修饰或变化，而不限于此。举例来说，在上述实施例中，延迟电路是由包括多个反相器的延迟链所构成；但在另一实施例中，延迟电路也可通过其它方式来实现，只要延迟电路能够产生多个不同相位的采样时钟即可。此外，在上述采样操作中，也可通过任意方式来判断正确的采样值。在一实施例中，每一采样时钟ckd[1]～ckd[n]可用来对输入数据dat进行采样以判断其正确性，数据检查电路314可据此产生采样结果。在另一实施例中，可将输入数据dat的序列传送到眼宽量测装置以进行眼宽量测，而每一采样时钟ckd[1]～ckd[n]可用来对输入数据dat序列进行采样。通过这样的方式，可藉由输入数据dat序列的采样来得到每
一采样时钟ckd[1]～ckd[n]的误比特率(bit error rate，ber)。数据检查电路314从而根据误比特率来判断每一采样时钟ckd[1]～ckd[n]是否可产生正确的采样值。举例来说，若误比特率小于一临界值时可视为采样值正确。通过输入数据dat序列进行的眼宽量测可达到较高的准确度和可靠度。
[0096]
综上所述，本发明提供了一种新式的眼宽量测装置以及量测集成电路内部信号眼宽的方法。在本发明的实施例中，可利用由包括多个反相器的延迟链所组成的延迟电路来产生多个采样时钟。在一实施例中，当采样时钟用来对输入数据采样以进行眼宽量测之前，可先将延迟电路连接为一振荡器，并且对振荡器的振荡时钟进行校正使其具有相同于一参考时钟的频率，此参考时钟可以从时钟数据恢复电路的输出时钟或输入训练时钟当中选择而得。眼宽量测装置可包括一校正电路，用来在校正过程中调整延迟电路的延迟时间，此延迟时间的信息即可用来产生用于输入数据采样的采样时钟。在一实施例中，当采样时钟用来对输入数据采样以进行眼宽量测之前，可先将延迟电路连接为一振荡器，并取得振荡器的振荡时钟与一参考时钟之间的频率关系，此参考时钟可以从时钟数据恢复电路的输出时钟或输入训练时钟当中选择而得。眼宽量测装置可包括一频率比较器，用来判断参考时钟的频率和振荡时钟的频率之间的比例。此外，眼宽量测装置还可包括一计算电路，用来根据上述频率的比例并根据通过采样操作所取得的正确时钟数量来计算眼宽。如此一来，眼宽信息可通过校正后的延迟电路的延迟时间来取得，或基于时钟数据恢复的操作频率和延迟电路的振荡时钟之间的频率关系来取得。因此，本发明的眼宽量测装置及量测眼宽的方法可实现准确的量测结果，并免除工艺、电压、温度变异的影响。
[0097]
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。