磁开关测试系统、方法及装置与流程

1.本发明属于开关测试技术领域，涉及一种测试系统，尤其涉及一种磁开关测试系统、方法及装置。


背景技术：

2.磁开关传感器是工业应用中被大量使用到的感知器件，随着数字化时代及物联网的普及，磁开关传感器芯片也是取得了飞速的发展。但现有传统的磁芯片大部分是运用的霍尔原理，而霍尔原理器件存在灵敏度低，输出信号幅度小，功耗高，信噪比低的特点，且传统的霍尔效应传感器只能感应垂直于霍尔效应元件表面；目前有一种amr（各向异性磁阻，anisotropic magnetoresistive sensor,简称amr）磁开关传感器，amr器件全极性感应，其灵敏度比霍尔元件高很多，但是其线性范围窄，容易磁饱和，同时以amr为敏感元件的磁开关传感器需要设置set/reset线圈对其进行预设/复位操作，由于amr磁开关传感器能感测平面内360
°
磁场强弱，为了验证性能和测试功能，在测试时需要更多测试配置方法和处理步骤，从磁场方向（一种为单磁场方向线性扫描，一种为双磁场任意方向xy磁场矢量合成扫描），到磁场测试步进步长，到自动识别磁场返回点，在配合不同的测试序列，每一种方法都会影响芯片的bop（工作点）/brp（释放点），现有测试技术对于不同的验证测试，往往需要在原有的测试系统基础上做大量修改，配置不同的参数和程序结构，费时费力，缺乏一个统一的全项目测试系统和方法。
3.有鉴于此，如今迫切需要设计一种新的磁开关传感器测试方式，以便克服现有磁开关传感器测试方式存在的上述至少部分缺陷。


技术实现要素：

4.本发明提供一种磁开关测试系统、方法及装置，可测试磁开关的多种性能，提高工作效率，节省开发时间。
5.为解决上述技术问题，根据本发明的一个方面，采用如下技术方案：一种磁开关测试系统，所述磁开关测试系统包括：验证性测试模块，所述验证性测试模块包括：测试动作选择单元，用于选择待测试动作；所述测试动作选择单元可选择的待测试动作包括正向磁化、反向磁化、正向磁场扫描、反向磁场扫描、先正后反磁场扫描和/或先反后正磁场扫描中的至少一种；第一组参数设置单元，用于设置测试所需的第一组参数，所述第一组参数包括是否找到切换点即返回、bop上限、bop下限、brp上限和brp下限；第一运行单元，用于根据选择的测试动作和设置的第一组参数运行相应的指令；以及第一测试结果显示单元，用于显示验证性测试结果，所述验证性测试结果包括不同磁场扫描方式下的bop值和brp值。
6.作为本发明的一种实施方式，所述磁开关测试系统还包括二维磁场测试模块，所述二维磁场测试模块包括：第二组参数设置单元，用于设置测试所需的第二组参数，所述第二组参数包括测试角度、步进角度、最大磁场强度、是否单路输出、是否记录bop/brp和是否旋转扫描；参数配置单元，用于根据所述第二组参数设置单元设置的第二组参数生成簇类型文件；第二运行单元，用于根据设置的第二组参数运行相应的指令；以及第二测试结果显示单元，用于显示二维磁场测试结果，所述二维磁场测试结果包括当前测试角度、第一当前输出、第二当前输出、x轴磁场和y轴磁场。
7.作为本发明的一种实施方式，所述第二测试结果显示单元还用以显示磁开关的输出线性精度，当待测磁开关是双路输出时，对磁开关的输出线性精度进行显示。
8.作为本发明的一种实施方式，所述磁开关测试系统还包括功能测试模块，所述功能测试模块包括：第三组参数设置单元，用于设置测试所需的第三组参数，所述第三组参数包括磁场方向选择、测试项目选择、bop阈值范围、brp阈值范围、bhys阈值范围、磁场系数、磁场最大值、静电电流标准值和待测磁开关工作电压值；第三运行单元，用于根据设置的第三组参数运行相应的指令；以及第三测试结果显示单元，用于显示磁场当前值、bop、brp、bhys、输出电压和静态电流。
9.根据本发明的另一个方面，采用如下技术方案：一种磁开关测试方法，所述磁开关测试方法包括验证性测试方法，所述验证性测试方法包括：步骤a1、选择待测试动作；可选择的待测试动作包括正向磁化、反向磁化、正向磁场扫描、反向磁场扫描、先正后反磁场扫描和/或先反后正磁场扫描中的至少一种；设置测试所需的第一组参数，所述第一组参数包括是否找到切换点即返回、bop上限、bop下限、brp上限和brp下限；步骤a2、根据选择的测试动作和设置的第一组参数运行相应的指令；以及步骤a3、显示验证性测试结果，所述验证性测试结果包括不同磁场扫描方式下的bop值和brp值。
10.作为本发明的一种实施方式，所述步骤a1进一步包括：选择运行次序，根据列表框已有的测试动作配置测试内容和顺序，利用事件结构读取列表框属性节点，触发事件设置为按钮控件值改变或列表框鼠标双击事件；生成状态机枚举列表，根据选择的测试序列生成状态机循环结构的枚举数据，作为循环的输入；所述步骤a2进一步包括：配置磁场返回点磁场扫描，首先需先调用磁场返回点信息，配置为找到bop/brp即返回或到达最大磁场返回，读取用户设置的参数并调用设置的参数，将用户设置的参数转换为字符串指令，循环输出信号至磁场驱动电源以控制磁场，每次输出信号至磁场驱动电源后再发送采集指令至采集设备并读取输出返回值，直到完成0gs~磁场返回点~0gs的一个周期扫描，此时完成状态机的第一个枚举值测试序列，然后移位寄存器会读取第二个枚举值进行下次扫描直至所有测试序列均完成；所述步骤a3进一步包括：对应的bop/brp会以二维数组形式显示在表格控件中，测
试完成后初始化磁场及数字电源。
11.作为本发明的一种实施方式，所述磁开关测试方法还包括二维磁场测试方法，所述二维磁场测试方法包括：参数配置，获取用于设置的第二组参数，将参数统一放在簇类型文件中，所述簇类型文件包含dbl类型、布尔类型以及字符串类型，dbl类型设置值有二维磁场扫描角度、步进角度和最大磁场强度，布尔类型包含判断是否需要进行旋转扫描测试、是否芯片为单信号输出、单信号输出模式下是否需要测试bop/brp；配置二轴线圈矢量合成磁场扫描，获取参数配置中的各项参数，若磁场扫描方式为旋转扫描，则x轴方向磁场为最大磁场值*sinα*a，y轴磁场为最大磁场值*cosα*a，内循环次数为a次，a从0开始，间隔为1递增，循环次数为角度α从0~2pi范围除以步进角度；若磁场扫描方式不是旋转扫描，则x轴方向磁场为最大磁场值*sinα，y轴磁场为最大磁场值*cosα；判断待测磁开关是否为单路输出，若待测磁开关为单路输出，则继续是否记录bop/brp，若需要记录bop/brp，则开始寻找bop/brp；若待测磁开关是双路输出，则计算磁开关的输出线性精度。
12.作为本发明的一种实施方式，所述磁开关测试方法还包括功能测试方法，所述功能测试方法包括：驱动能力测试，进行驱动能力测试时，完成硬件电路的搭建，驱动采集设备测试待测磁开关的mos管驱动电压能力，读取返回电压值并与系统设置的电压阈值比较判断后进行显示，测试完成后初始化数字电源及relay状态；静态电流测试，进行静态电流测试时，完成硬件电路的搭建，驱动采集设备测试待测磁开关的静电电流，读取返回电流值并与系统设置的电流阈值比较判断后进行显示，测试完成后初始化数字电源及relay状态；磁场扫描测试，进项磁场扫描测试时，获取用户设置的第三组参数并调用设置的第三组参数，将设置的第三组参数转换为字符串指令，循环输出信号至磁场驱动电源以控制磁场，同时驱动灌拉电流源输出第一电流，每次输出信号给所述磁场驱动电源后再发送采集指令至采集设备并读取输出返回值，直到完成0gs~最大磁场强度~0gs的一个周期扫描，寻找bop/brp，并对读取的磁场当前值实时显示，测试完成后初始化磁场、数字电源和灌拉电流源。
13.根据本发明的又一个方面，采用如下技术方案：一种磁开关测试装置，包括：上述的磁开关测试系统。
14.作为本发明的一种实施方式，所述磁开关测试装置包括基于labview的测试平台和labview驱动仪器；所述基于labview的测试平台具有数据采集模块、数据处理模块、通信模块及测试显示界面；所述labview驱动仪器与所述基于labview的测试平台连接，所述labview驱动仪器用于在测试待测磁开关时，驱动测试模块工作，并驱动数据采集模块采集待测磁开关的驱动能力、静态电流及bop/brp，并将测试结果进行显示；所述测试模块包括硬件电路测试板，所述硬件电路测试板上设置有亥姆霍兹线圈和芯片无磁底座，所述待测磁开关插入所述芯片无磁底座。
15.本发明的有益效果在于：本发明提出的磁开关测试系统、方法及装置，可测试磁开关的多种性能，提高工作效率，节省开发时间。
16.本发明提供的基于labview的磁开关测试方法包括验证性测试，可以对测试动作进行选择，进而配置不同的磁场扫描方式，从磁场方向、到磁场测试步进步长、到磁场返回点，根据用户选择的测试动作进行测试，传统霍尔磁开关近需做单一磁场测试，而amr磁开关由于能感测平面内360
°
磁场，故本发明根据amr磁开关的特性模拟实际应用场景对其进行测试，可以得出amr磁开关在不同磁场扫描方式下的开关特性，便于为后端客户使用提供参考。
17.本发明提供的基于labview的磁开关测试方法包括常规的功能测试，还包括验证性测试和二维磁场测试，验证性测试和二维磁场测试与功能测试是并行结构，无需对现有的霍尔磁开关测试系统的结构做大量修改，只需新增验证性测试和二维磁场测试并行结构即可，节省了开发时间。
附图说明
18.图1为本发明一实施例中基于labview的磁开关测试装置的原理框图。
19.图2为本发明一实施例中基于labview的磁开关测试方法中功能测试流程图。
20.图3为本发明一实施例中功能测试界面显示图。
21.图4为本发明一实施例中数据分析界面显示图。
22.图5为本发明一实施例中基于labview的磁开关测试方法中验证性测试的流程图。
23.图6为本发明一实施例中验证性测试界面显示图。
24.图7为本发明一实施例中选择运行次序的方法流程图。
25.图8为本发明一实施例中基于labview的磁开关测试方法中二维磁场测试的流程图。
26.图9为本发明一实施例中二维磁场测试界面显示图。
27.图10为本发明一实施例中磁开关输出线性精度的计算方法流程图。
28.图11为本发明一实施例中验证性测试模块的组成示意图。
29.图12为本发明一实施例中二维磁场测试模块的组成示意图。
30.图13为本发明一实施例中功能测试模块的组成示意图。
具体实施方式
31.下面结合附图详细说明本发明的优选实施例。
32.为了进一步理解本发明，下面结合实施例对本发明优选实施方案进行描述，但是应当理解，这些描述只是为进一步说明本发明的特征和优点，而不是对本发明权利要求的限制。
33.该部分的描述只针对几个典型的实施例，本发明并不仅局限于实施例描述的范围。相同或相近的现有技术手段与实施例中的一些技术特征进行相互替换也在本发明描述和保护的范围内。
34.说明书中各个实施例中的步骤的表述只是为了方便说明，本技术的实现方式不受步骤实现的顺序限制。说明书中的“连接”既包含直接连接，也包含间接连接。
35.图1示出了本发明实施例提供的一种基于labview的磁开关测试装置，包括基于labview的测试平台和labview驱动仪器；其中，所述基于labview的测试平台具有数据采集模块、数据处理模块、通信模块及测试显示界面；所述labview驱动仪器与所述基于labview的测试平台连接，所述labview驱动仪器用于在测试待测磁开关时，驱动测试模块工作，并驱动数据采集模块采集待测磁开关的驱动能力、静态电流及bop/brp，并将测试结果进行显示。
36.在本发明的一实施例中，所述测试模块包括硬件电路测试板，硬件电路经继电器连接labview驱动仪器，当labview驱动仪器控制继电器闭合，则硬件电路得电工作，所述硬件电路测试板上设置有亥姆霍兹线圈和芯片无磁底座，所述待测磁开关插入所述芯片无磁底座。
37.在本发明的一实施例中，所述基于labview的磁开关测试装置还包括灌拉电流源、数字电源和线圈驱动电源，具体地，所述灌拉电流源为待测磁开关提供第一电流或第二电流，所述第一电流为正电流，第二电流为负电流；所述数字电源为待测磁开关提供工作电压；所述线圈驱动电源为亥姆霍兹线圈提供工作电流，通过labview驱动仪器控制线圈驱动电源输出不同的电流值，以便使亥姆霍兹线圈产生不同的磁场强度。
38.在一实施例中，数据采集模块采用的是数字万用表，数字万用表将采集的待测磁开关的输出信号经数据采集卡输出给labview测试平台。
39.本发明提供了一种磁开关测试系统（如可以是基于labview的磁开关测试系统），可应用于上述的磁开关测试装置，该磁开关测试系统包括功能测试模块（如图2和图3所示）、验证性测试模块（如图5和图6所示）、二维磁场测试模块（如图8和图9所示）。
40.图2中，open-short.vi表示开短路测试，用于测试磁开关引脚在完成封装后有没有开路或短路的情况；current.vi表示静态电流测试，用于测试磁开关芯片的静态功耗；图2、图5及图8中，bop/brp find.vi表示寻找芯片的bop/brp，从采集到的输出信号后用于分析寻找磁开关芯片切换点；数据display.vi表示数据显示，将采集到的数据以及分析得到的切换点信息进行实时显示；rs232表示串行通信，gpib表示并行通信。
41.图11为本发明一实施例中验证性测试模块的组成示意图；请参阅图11，在本发明的一实施例中，所述验证性测试模块包括：测试动作选择单元11、第一组参数设置单元12、第一运行单元13及第一测试结果显示单元14。
42.所述测试动作选择单元11用于选择待测试动作，所述测试动作选择单元可选择的待测试动作包括正向磁化、反向磁化、正向磁场扫描、反向磁场扫描、先正后反磁场扫描和/或先反后正磁场扫描。磁场有双极性，先正后反磁场扫描、先反后正磁场扫描中，正代表磁场系数为正，反则代表磁场系数为负。先正后反磁场扫描指先进行磁场系数为正的磁场扫描，后进行磁场系数为负的磁场扫描；先反后正磁场扫描指先进行磁场系数为负的磁场扫描，后进行磁场系数为正的磁场扫描。
43.所述第一组参数设置单元12用于设置测试所需的第一组参数，所述第一组参数包括是否找到切换点即返回、bop上限、bop下限、brp上限和brp下限。
44.所述第一运行单元13根据选择的测试动作和设置的第一组参数运行相应的指令；所述第一测试结果显示单元14用于显示验证性测试结果，所述验证性测试结果包括不同磁场扫描方式下的bop值和brp值。
45.图12为本发明一实施例中二维磁场测试模块的组成示意图；请参阅图12，在本发明的一实施例中，所述二维磁场测试模块包括：第二组参数设置单元21、参数配置单元22、第二运行单元23及第二测试结果显示单元24。
46.所述第二组参数设置单元21用于设置测试所需的第二组参数，所述第二组参数包括测试角度、步进角度、最大磁场强度、是否单路输出、是否记录bop/brp和是否旋转扫描。所述参数配置单元22根据所述第二组参数设置单元21设置的第二组参数生成簇类型文件。
47.所述第二运行单元23用以根据设置的第二组参数运行相应的指令；所述第二测试结果显示单元24用于显示二维磁场测试结果，所述二维磁场测试结果包括当前测试角度、当前输出1、当前输出2、x轴磁场和y轴磁场。
48.在一实施例中，所述第二测试结果显示单元24还包括磁开关的输出线性精度，当待测磁开关是双路输出时，对磁开关的输出线性精度进行显示。
49.图13为本发明一实施例中功能测试模块的组成示意图；请参阅图13，在本发明的一实施例中，所述功能测试模块包括：第三组参数设置单元31、第三运行单元32、第三测试结果显示单元33。
50.所述第三组参数设置单元31用于设置测试所需的第三组参数，所述第三组参数包括磁场方向选择、测试项目选择、bop阈值范围、brp阈值范围、bhys阈值范围、磁场系数、磁场最大值、静电电路标准值和待测磁开关工作电压值。
51.所述第三运行单元32用以根据设置的第三组参数运行相应的指令；所述第三测试结果显示单元33用于显示磁场当前值、bop、brp、bhys、输出电压和静态电流。
52.所述磁开关测试系统还可以包括数据分析模块，所述数据分析模块在测试结束后将测试数据更新到波形图表，勾选布尔控件可实时自动筛选曲线的显示和隐藏。
53.所述磁开关测试系统还可以包括数据存储模块，如图4所示，所述数据存储模块在测试完成后将输出曲线、配置信息及测试数据进行存储。
54.本发明还提供一种基于labview的磁开关测试方法，应用于上述的磁开关测试系统，包括验证性测试方法（如图5和图6所示），所述验证性测试方法包括：【步骤a1】选择待测试动作；可选择的待测试动作包括正向磁化、反向磁化、正向磁场扫描、反向磁场扫描、先正后反磁场扫描和/或先反后正磁场扫描中的至少一种；设置测试所需的第一组参数，所述第一组参数包括是否找到切换点即返回、bop上限、bop下限、brp上限和brp下限。
55.【步骤a2】根据选择的测试动作和设置的第一组参数运行相应的指令。
56.【步骤a3】显示验证性测试结果，所述验证性测试结果包括不同磁场扫描方式下的bop值和brp值。
57.所述步骤a1具体包括：选择运行次序，如图7所示，根据列表框已有的测试动作配置测试内容和顺序，利用事件结构读取列表框属性节点，触发事件设置为按钮控件值改变或列表框鼠标双击事件。生成状态机枚举列表，根据选择的测试序列生成状态机循环结构的枚举数据，作为循环的输入。
58.图7为本发明一实施例中选择运行次序的方法流程图；请参阅图7，在本发明一实施例中，选择运行次序的步骤具体包括：步骤d1、创建可选动作和已选动作控件引用数组，根据“双击动作”事件触发选择
所引用控件在数组中索引值。
59.步骤d2、索引值输入选择结构，结构内容为事件触发true信号。
60.步骤d3、进入按键添加或删减动作事件。
61.步骤d4、创建选择添加和选择删除控件引用数组，根据案件“值改变”属性触发按键引用数组的索引值。
62.步骤d5、根据索引进入对应选择结构，“0”分支为读取可选动作itemnames 及value属性写入已选动作数组，
ꢀ“
1”分支为读取已选动作itemnames 及value，删除当前value值，删除后数组写入已选动作数组。
63.步骤d6、已选动作itemnames属性输出数组送入验证性测试状态机结构。
64.图7中，true信号为事件结构触发信号，true为布尔值，为“真”的意思。如果是
ꢀ“
假”就不触发事件。itemnames表示列表框“列表项名称”属性；value表示列表框“值”属性。
65.所述步骤a2具体包括：配置磁场返回点磁场扫描，首先需先调用磁场返回点信息，配置为找到bop/brp即返回或到达最大磁场返回，读取用户设置的参数并调用设置的参数，将用户设置的参数转换为字符串指令，循环输出信号至磁场驱动电源以控制磁场，每次输出信号至磁场驱动电源后再发送采集指令至采集设备并读取输出返回值，直到完成0gs~磁场返回点~0gs的一个周期扫描，此时完成状态机的第一个枚举值测试序列，然后移位寄存器会读取第二个枚举值进行下次扫描直至所有测试序列均完成。
66.所述步骤a3具体包括：对应的bop/brp会以二维数组形式显示在表格控件中，测试完成后初始化磁场及数字电源。
67.在本发明的一实施例中，磁开关测试方法还包括二维磁场测试方法（如图8和图9所示），所述二维磁场测试方法包括：【步骤b1】参数配置，获取用于设置的第二组参数，将参数统一放在簇类型文件中，所述簇类型文件包含dbl类型、布尔类型以及字符串类型，dbl类型设置值有二维磁场扫描角度、步进角度和最大磁场强度，布尔类型包含判断是否需要进行旋转扫描测试、是否芯片为单信号输出、单信号输出模式下是否需要测试bop/brp。
68.【步骤b2】配置二轴线圈矢量合成磁场扫描，获取参数配置中的各项参数，若磁场扫描方式为旋转扫描，则x轴方向磁场为最大磁场值*sinα*a，y轴磁场为最大磁场值*cosα*a，内循环次数为a次，a从0开始，间隔为1递增，循环次数为角度α从0~2pi范围除以步进角度；若磁场扫描方式不是旋转扫描，则x轴方向磁场为最大磁场值*sinα，y轴磁场为最大磁场值*cosα。
69.需要说明的是，角度α是磁场的扫描角度，例如需要在芯片45
°
方向扫描-30gs~30gs的磁场，这个45
°
就是角度α，角度α可以根据实际测试需要进行设置。
70.在一实施例中，所述二维磁场测试方法还可以包括判断待测磁开关是否为单路输出，若待测磁开关为单路输出，则继续是否记录bop/brp，若需要记录bop/brp，则开始寻找bop/brp；若待测磁开关是双路输出，按照图10所示流程图计算磁开关的输出线性精度。
71.图10为本发明一实施例中磁开关输出线性精度的计算方法流程图；请参阅图10，在本发明的一实施例中，磁开关的输出线性精度的计算方法具体包括：步骤e1、将out1out2 数组求和取平均，原数组每元素减平均值作为新元素存入数组。
72.步骤e2、atn2反正切（两个输入） 计算，除以2pi，乘以180转化为弧度，结果送入for循环。
73.步骤e3、判断是否为首次循环；若是则转至步骤e4，否则转至步骤e5。
74.步骤e4、数据存入移位寄存器等待下次循环使用。
75.步骤e5、当前值减移位寄存器的绝对值是否大于150；若是则转至步骤e6，否则转至步骤e7。
76.步骤e6、原值加180；转至步骤e8。
77.步骤e7、原值不变；转至步骤e8。
78.步骤e8、新值更新至angle数组，与0~360的xi数组组成二维数组。
79.步骤e9、对计算出的角度数组数据进行线性拟合（可利用最小二乘法），容差0.0001。
80.步骤e10、输出线性拟合的斜率和截距，for循环依次读出angle数组和xi数组，xi数组元素乘以斜率加截距在减去angle元素，结果取绝对值。结果放入精度数组，取数组最大值即为芯片输出线性精度。
81.图10中，out1指双路输出磁开关输出通道1输出的数据，out2指双路输出磁开关输出通道2输出的数据；atn2指arctan（x，y）函数，反正切三角函数；pi指圆周率π；angle数组指将out1和out2经过atn2函数计算后的角度数组；xi数组指磁场角度设定值的数组。
82.在本发明的一实施例中，所述二维磁场测试方法还包括功能测试方法，所述功能测试方法包括：【步骤c1】驱动能力测试，进行驱动能力测试时，完成硬件电路的搭建，驱动采集设备测试待测磁开关的mos管驱动电压能力，读取返回电压值并与系统设置的电压阈值比较判断后进行显示，测试完成后初始化数字电源及relay状态。
83.【步骤c2】静态电流测试，进行静态电流测试时，完成硬件电路的搭建，驱动采集设备测试待测磁开关的静电电流，读取返回电流值并与系统设置的电流阈值比较判断后进行显示，测试完成后初始化数字电源及relay状态。
84.【步骤c3】磁场扫描测试，进项磁场扫描测试时，获取用户设置的第三组参数并调用设置的第三组参数，将设置的第三组参数转换为字符串指令，循环输出信号至磁场驱动电源以控制磁场，同时驱动灌拉电流源输出第一电流，每次输出信号给所述磁场驱动电源后再发送采集指令至采集设备并读取输出返回值，直到完成0gs~最大磁场强度~0gs的一个周期扫描，寻找bop/brp，并对读取的磁场当前值实时显示，测试完成后初始化磁场、数字电源和灌拉电流源。
85.在一实施例中，本实施例中寻找bop/brp的方法包括：获取用户设置的参数；将每次读取的当前磁开关的输出值与上次读取的磁开关的输出值进行比较；若输出值超出设置的阈值范围，则判断此时磁开关的输出值是工作点还是释放点，并记录当前的磁场值；对当前的工作点和释放点进行显示。
86.在一实施例中，本实施例提供的bop/brp寻找方法还包括将bop与bop阈值范围比较，将brp与brp阈值范围比较，若bop/brp超出bop阈值范围/brp阈值范围，则将此时的bop/brp文本框改变颜色或字体加粗。
87.综上所述，本发明提出的磁开关测试系统、方法及装置，可测试磁开关的多种性
能，提高工作效率，节省开发时间。
88.在本发明的一种使用场景中，可以为amr磁开关提供全项目测试，在现有霍尔磁开关测试系统的基础上新增验证性测试和二维磁场测试，验证性测试和二维磁场测试与常规的功能测试并行，无需对现有霍尔磁开关测试系统做大量修改，节省开发时间，本实施例提供的基于labview的磁开关测试系统、方法既可以做常规功能测试，也可以模拟实际使用场景对amr磁开关进行多种磁场扫描方式测试，便于后端客户使用。
89.需要注意的是，本技术可在软件和/或软件与硬件的组合体中被实施；例如，可采用专用集成电路(asic)、通用目的计算机或任何其他类似硬件设备来实现。在一些实施例中，本技术的软件程序可以通过处理器执行以实现上文步骤或功能。同样地，本技术的软件程序(包括相关的数据结构)可以被存储到计算机可读记录介质中；例如，ram存储器，磁或光驱动器或软磁盘及类似设备。另外，本技术的一些步骤或功能可采用硬件来实现；例如，作为与处理器配合从而执行各个步骤或功能的电路。
90.流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。
91.本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。
92.在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、
ꢀ“
示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
93.以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
94.这里本发明的描述和应用是说明性的，并非想将本发明的范围限制在上述实施例中。实施例中所涉及的效果或优点可因多种因素干扰而可能不能在实施例中体现，对于效果或优点的描述不用于对实施例进行限制。这里所披露的实施例的变形和改变是可能的，对于那些本领域的普通技术人员来说实施例的替换和等效的各种部件是公知的。本领域技术人员应该清楚的是，在不脱离本发明的精神或本质特征的情况下，本发明可以以其它形式、结构、布置、比例，以及用其它组件、材料和部件来实现。在不脱离本发明范围和精神的情况下，可以对这里所披露的实施例进行其它变形和改变。