一种残膜回收机防缠绕挑膜装置的制 一种秧草收获机用电力驱动行走机构

作业装置的压接机构的制作方法

2022-02-24 16:34:27 来源:中国专利 TAG:


1.本发明涉及一种可使作业件确实压接电子元件,以提升作业品质及节省成本的压接机构。


背景技术:

2.在现今,电子元件的接点日趋繁多,由数个增加到数十个不等,相对地,测试装置的测试座也必须因应配置相同数量的探针,以电性接触电子元件的接点;由于探针的内部具有弹簧,为使电子元件的接点与测试座的探针确实电性接触,测试装置利用一下压具以预设下压力压接电子元件,令电子元件压缩探针的弹簧,但下压具的下压力的过与不及都将影响测试品质,例如测试座具有数十支探针时,下压具即必须以较大的下压力重压电子元件,以确保电子元件的数十个接点确实接触测试座的数十支探针,进而避免电子元件被误判为不良品。
3.请参阅图1,测试装置于机台11配置电性连接的电路板12及测试座13,测试座13配置有数十支探针131,以供承置及测试电子元件14;另于测试座13上方配置一由移动臂15驱动位移的压接器16,压接器16的内部设有膜片161、气室162及下压具163,于气体供应设备(图未示出)对气室162注入气体后,膜片161即向下凸伸变形,并顶推下压具163作z方向向下位移而压接电子元件14,使电子元件14于测试座13内执行测试作业;然而,当测试座13的数十支探针131的弹簧(图未示出)被压缩时,数十支探针131即会对电子元件14产生一较大的反作用力,此一较大的反作用力经由电子元件14而顶推压接器16整组作z方向反向位移,导致压接器16会无法以预设下压力压接电子元件14,以致电子元件14的部份接点无法确实接触测试座13的探针131,进而影响电子元件的测试品质。


技术实现要素:

4.本发明的目的在于:提供一种作业装置的压接机构,解决现有技术中存在的上述技术问题。
5.为实现上述目的,本发明采用的技术方案是:
6.一种作业装置的压接机构,其特征在于,包含:
7.压接单元:包含第一活动件、第二活动件、驱动源及作业件,该第一活动件及该第二活动件沿作业轴线作相对配置,该第一活动件供装配该作业件,该作业件供对电子元件执行预设作业,该驱动源供驱动该第一活动件及该第二活动件作反向位移;
8.限位单元:包含作动具及限位件,该作动具装配于该压接单元的该第二活动件,以供该第二活动件驱动沿该作业轴线作反向位移,该限位件设于该作动具,以于该限位件承挡受限时,能够限位该作业件沿该作业轴线反向位移。
9.所述的作业装置的压接机构,其中,该压接单元的该第一活动件沿该作业轴线设有容置空间,以供容置该第二活动件,该驱动源包含气室及通气道,该第二活动件与该第一活动件的该容置空间内底面间形成该气室,该通气道设于该第一活动件或该第二活动件,
以供输入气体于该气室。
10.所述的作业装置的压接机构,其中,该限位单元的该作动具设有至少一第一构件,以装配于该第二活动件,该第一构件供装配该限位件。
11.所述的作业装置的压接机构,其中,该限位单元的该作动具包含第一构件、第二构件及第三构件,该第一构件装配于该第二活动件,该第二构件装配于该第一构件,该第三构件装配于该第二构件,该第三构件供装配该限位件。
12.所述的作业装置的压接机构,其中,该压接单元的该第一活动件设有具有导孔的套合块,该导孔供穿置该第二构件。
13.所述的作业装置的压接机构,其中,还包含调整单元,以供微调该作业件,该调整单元包含第一调整件、第二调整件及连接件,该第一调整件设有第一浮接部,该第二调整件设有第二浮接部,该第二浮接部与该第一浮接部作相互配合,该连接件连接该第二调整件及该作动具或该第二活动件。
14.所述的作业装置的压接机构,其中,还包含复归单元,该复归单元于该第一调整件设有盖板,该盖板与该作动具或该第二活动件间配置第一弹性件。
15.所述的作业装置的压接机构,其中,还包含复归单元,该复归单元于该作动具与该第一活动件间配置至少一第二弹性件。
16.所述的作业装置的压接机构,其中,还包含至少一挡掣部件,该挡掣部件设于作业器、台板或机架,以供挡掣该限位单元的该限位件。
17.所述的作业装置的压接机构,其中,还包含至少一挡掣部件,该挡掣部件装配于作业器、台板或机架,以供挡掣该限位单元的该限位件。
18.本发明的优点一,提供一种作业装置的压接机构,包含压接单元及限位单元,压接单元于一第一活动件与一第二活动件间设有驱动源,以驱动第一活动件与第二活动件沿作业轴线作反向位移,第一活动件的底部装配作业件,作业件以供压接电子元件,限位单元于一作动具装配至少一限位件,作动具并由压接单元的第二活动件驱动同步位移,于限位件承挡受限后,而可经第二活动件限位相对配置的第一活动件,以防止作业件沿作业轴线退缩位移,使作业件确实压接电子元件执行预设作业,进而提升作业品质。
19.本发明的优点二,提供一种作业装置的压接机构,其压接单元以一驱动源驱动第一活动件与第二活动件沿作业轴线作反向位移,令第一活动件与第二活动件分别带动作业件及限位单元的作动具作反向位移,进而有效缩减驱动用元件及易于组装,不仅利于空间配置,更加节省成本。
20.本发明的优点三,提供一种作业装置的压接机构,更包含调整单元,调整单元的第一调整件及第二调整件设有相互配合的第一浮接部及第二浮接部,第二调整件并以连接件连接作动具或第二活动件,利用作动具或第二活动件经连接件带动第二调整件作一浮动位移(如x方向、y方向或水平角度θ)而解除卡掣,以使第一活动件可带动作业件作浮动位移,进而微调作业件的位置,使作业件精准压接电子元件,进而提高使用效能。
附图说明
21.图1是现有作业装置的测试座及压接器的使用示意图。
22.图2是本发明压接机构第一实施例的剖视图。
23.图3是本发明压接机构第一实施例的侧视图。
24.图4是本发明压接机构第一实施例应用于测试装置的示意图。
25.图5是本发明压接机构的使用示意图(一)。
26.图6是本发明压接机构的使用示意图(二)。
27.图7是本发明压接机构的使用示意图(三)。
28.图8是本发明压接机构第二实施例的示意图。
29.附图标记说明:[现有技术]机台11;电路板12;测试座13;探针131;电子元件14;移动臂15;压接器16;膜片161;气室162;下压具163;[本发明]第一活动件21;第一表面211;容置空间212;装配面213;套合块214;导孔215;气室216;通气道217;延伸部218;让位部219;第二活动件22;第二表面221;连接面222;作业件23;下压部231;挡面232;第一定位部件233;第二电路板234;第二探针235;作动具24;第一构件241;第二构件242;第三构件243;限位件25;第一调整件26;第一浮接部261;容置槽262;底板263;第一通孔264;第二调整件27;第二浮接部271;第二通孔272;连接件28;第一弹性件29;盖板30;第二弹性件31;立柱32;卡抵块33;作业轴线l;机架40;测试装置50;第一电路板51;测试座52;第一探针521;承挡面522;第二定位部件523;挡掣部件524;台板60;电子元件70。
具体实施方式
[0030]
为使对本发明作更进一步的了解,兹举一较佳实施例并配合图式,详述如后:
[0031]
请参阅图2、图3,本发明压接机构包含压接单元及限位单元,并视作业需求,更包含调整单元、复归单元。
[0032]
压接单元包含第一活动件21、第二活动件22、驱动源及作业件23,第一活动件21可为一缸本体或面板,而沿作业轴线l位移,并于第一表面211沿作业轴线l凹设有容置空间212,及以相对第一表面211的一面作为装配面213,于本实施例,第一活动件21为一缸本体,另于第一活动件21的侧方设有套合块214,套合块214开设有导孔215。
[0033]
第二活动件22与第一活动件21沿作业轴线l作相对配置,第二活动件22可沿作业轴线l作反向位移,更进一步,第二活动件22可为面板、活塞或膜片,于本实施例,第二活动件22为一活塞,并可位移地装配于第一活动件21的容置空间212,第二活动件22的第二表面221与容置空间212的内底面间形成一气室216,另第二活动件22以相对第二表面221的一面作为连接面222。
[0034]
驱动源以供驱动第一活动件21及第二活动件22作反向位移,更进一步,驱动源可为气囊、压电元件或包含气室及通气道,只要可驱动第一活动件21及第二活动件22作反向位移均可,不受限于本实施例。例如驱动源为气囊,可直接装配连结于第一活动件21的第一表面211与第二活动件22的第二表面221,于气囊充气膨胀时,以驱动第一活动件21及第二活动件22作反向位移,而可省略第一活动件21的容置空间212及气室216;例如驱动源包含气室及通气道,气室设于第一活动件21的容置空间212内底面与第二活动件22的第二表面221间,通气道可设于第一活动件21或第二活动件22,通气道将气体输入于气室,以驱动第一活动件21及第二活动件22作反向位移。于本实施例,驱动源包含气室216及通气道217,气室216位于第一活动件21的容置空间212内底面与第二活动件22的第二表面221间,通气道217位于第一活动件21,其一端相通气室216,另一端连通供气设备(图未示出)及气压检知
器,以输入气体至气室216。
[0035]
作业件23装配于第一活动件21,以对电子元件执行预设作业,更进一步,作业件23可为下压具、测试具、热压具或打印具;例如作业件23为一下压具,以对电子元件执行压接作业;例如作业件23为一测试具,并装配测试模块(包含电路板及探针),以对电子元件执行测试作业;例如作业件23为一热压具,并装配加热件,以对电子元件执行热压作业。于本实施例,作业件23为一下压具,装配于第一活动件21的装配面213,并设有至少一下压部231,以对电子元件执行压接作业,又下压部231可视作业需求而配置温控器(图未示出),温控器可为致冷晶片或加热件等。另作业件23于下压部231的周侧设有挡面232及第一定位部件233,挡面232的位置高度高于下压部231,并于挡面232凸设有为定位销的第一定位部件233。
[0036]
限位单元包含作动具24及限位件25,作动具24装配于压接单元的第二活动件22,以供第二活动件22驱动沿作业轴线l作反向位移;更进一步,作动具24包含至少一第一构件241,以装配于第二活动件22,装配方式可为锁固或跨置等方式,均可供第二活动件22带动第一构件241同步位移;于本实施例,作动具24包含第一构件241、第二构件242及第三构件243,更进一步,第一构件241、第二构件242及第三构件243可为一体成型或各别为独立构件;于本实施例,作动具24的第一构件241、第二构件242及第三构件243各别为独立构件,第一构件241为一面板,并呈水平配置锁固于第二活动件22的连接面222,第二构件242为呈z轴向配置的导杆,其一端组装于第一构件241,另一端穿伸出第一活动件21的导孔215,以供第一活动件21沿第二构件242平稳位移,第三构件243为一呈y方向配置的架体,并组装于第二构件242的另一端,使得第二活动件22可带动第一构件241、第二构件242及第三构件243同步反向位移。
[0037]
限位件25设于作动具24,以于限位件25承挡受限时,而可经第二活动件22限位相对配置的第一活动件21,以防止作业件23退缩位移;更进一步,限位件25与作动具24可一体成型或各别为独立元件,限位件25可呈x方向或z方向设于作动具24;例如限位件25可为一面板,并呈x方向配置于作动具24的第三构件243;例如限位件25可为一l型件,并呈z方向配置于作动具24的第一构件241或第三构件243,当限位件25配置于第一构件241,作动具24可省略第三构件243。
[0038]
调整单元包含第一调整件26、第二调整件27及连接件28,更包含第一弹性件29及盖板30,第一调整件26设有第一浮接部261,第二调整件27设有第二浮接部271,第二浮接部271与第一浮接部261作相互配合,更进一步,第一浮接部261与第一调整件26可一体成型或各别为独立元件,例如第一调整件26可一体成型一为弧凸块的第一浮接部261;例如第一调整件26可装配一具有为珠体的第一浮接部261的面板;第二浮接部271与第二调整件27也可一体成型或各别为独立元件;另第二浮接部271与第一浮接部261可呈相互配合的弧形或v形,其形状只要于第二调整件27未浮动时,可使第一调整件26及第二调整件27相互配合卡掣,也无不可。连接件28连接第二调整件27与作动具24或第二活动件22,利用作动具24或第二活动件22经连接件28带动第二调整件27作一浮动位移(如x方向、y方向或水平角度θ)而解除卡掣,以使第一活动件21可带动作业件23作浮动位移,进而微调作业件23的位置,使作业件23精准压接电子元件。
[0039]
于本实施例,第一调整件26为一面板,并固设于机架40,且与作动具24的第一构件
241具有适当间距,第一调整件26于相对第二活动件22的位置设有容置槽262,容置槽262的底板263开设有第一通孔264,以供穿置第二调整件27,第一调整件26于底板263设有复数个为弧凸块的第一浮接部261。第二调整件27为一面板,并位于第一调整件26的容置槽262,且与容置槽262间具有适当的移动间距,第二调整件27于相对应第一调整件26的第一浮接部261的位置设有呈弧槽的第二浮接部271,于未作动状态,第二调整件27以本身的自重或第一构件241或第二活动件22的自重,令第二浮接部271贴合卡掣于第一调整件26的第一浮接部261。连接件28为一栓具,并锁接第二调整件27及第一构件241,连接件28可由第一构件241驱动而沿作业轴线l位移,以带动第二调整件27的第二浮接部271脱离第一浮接部261或沿第一浮接部261作浮动位移而解除卡掣,使第二活动件22带动第一活动件21及作业件23作浮动位移(如x方向、y方向或水平角度θ),进而微调作业件23的摆置位置或摆置角度。
[0040]
复归单元于第一调整件26与作动具24或第二活动件22间配置第一弹性件29,以带动作动具24复位。于本实施例,第二调整件27开设有第二通孔272,供穿置第一弹性件29,第一弹性件29的一端顶抵于作动具24的第一构件241,另一端顶抵一锁固于第一调整件26的盖板30,以带动作动具24复位。
[0041]
复归单元另于作动具24与第一活动件21间配置至少一第二弹性件31,以带动第一活动件21复位;于本实施例,复归单元于第一活动件21的二相对套合块214间设有延伸部218,延伸部218设有呈凹槽的让位部219,复归单元于作动具24的第三构件243相对应让位部219的位置设有立柱32,立柱32穿套第二弹性件31及卡抵块33,卡抵块33的一面顶抵于第一活动件21的延伸部218,以顶撑第一活动件21,卡抵块33的另一面顶抵于第二弹性件31。
[0042]
请参阅图4,本发明压接机构应用于作业装置,作业装置设置至少一作业器,于本实施例,作业装置为一测试装置50,测试装置50于一台板60(如抽屉板)配置一为测试器的作业器,测试器包含电性连接的第一电路板51及具第一探针521的测试座52,测试座52以顶面作为承挡面522,以供承抵作业件23的挡面232,测试座52于相对应作业件23的第一定位部件233的位置设有为定位孔的第二定位部件523,测试座52以供承置及测试电子元件70。
[0043]
然测试时序,压接机构的限位件25于承挡受限后,可限位第二活动件22及第一活动件21,至于挡掣限位件25的设计可视作业需求,而于测试座52、台板60或机架40上,且相对于限位件25的位置设有至少一挡掣部件;例如限位件25呈x方向配置时,可于测试座52或台板60相对应限位件25的位置设有一为挡片的挡掣部件;例如限位件25呈z方向配置时,可于机架40相对应限位件25的位置设有一为挡槽的挡掣部件,前述举例设计均可挡掣限位件25,不受限于本实施例。
[0044]
于本实施例,测试座52于相对限位件25的位置设有一呈x方向配置且为挡片的挡掣部件524,挡掣部件524与测试座52可一体成型或各别为独立元件,作动具24于未作动状态,可使限位件25与挡掣部件524具有适当间距。
[0045]
请参阅图5、图6、图7,压接单元的通气道217输入气体至第一活动件21的气室216,由于第一活动件21及第二活动件22可位移作动,利用气室216内的气体分别推动第一活动件21及第二活动件22沿作业轴线l作反向位移,第一活动件21即带动作业件23同步作z方向向下位移,若作业件23的第一定位部件233与测试座52的第二定位部件523具有微小位差,作业件23的第一定位部件233无法顺畅插入于测试座52的第二定位部件523,而会顶抵于测试座52的承挡面522。
[0046]
作业件23受测试座52的承挡面522的抵挡,气室216内的气体无法推动作业件23继续向下位移,由于气室216内持续输入气体,气体即会推动第二活动件22沿作业轴线l作z方向反向向上位移,第二活动件22顶推作动具24及连接件28同步作z方向向上位移,作动具24并以第一构件241顶压第一弹性件29,连接件28即带动第二调整件27作z方向向上浮动,以解除第二调整件27的第二浮接部271与第一调整件26的第一浮接部261间的卡掣,第二活动件22即可利用第二调整件27的第二浮接部271沿第一调整件26的第一浮接部261作x方向浮动位移,而带动第一活动件21及作业件23作x方向位移,以微调作业件23的位置,使作业件23的第一定位部件233对位测试座52的第二定位部件523。
[0047]
然而,作动具24作z方向向上位移时,并以第三构件243带动限位件25同步位移,令限位件25抵顶于测试座52的挡掣部件524,以限位作动具24,由于作动具24连接第二活动件22,也同步限位第二活动件22,在气室216保持一定预设气压的要件下,气室216的气体即顶推第一活动件21沿作业轴线l作z方向向下位移,第一活动件21带动作业件23同步向下位移,使作业件23的第一定位部件233插入于测试座52的第二定位部件523,并使第一活动件21承受气室216的气体向下推力,而有效防止第一活动件21及作业件23沿作业轴线l反向位移,不仅可使作业件23的下压部231顺利压接电子元件70,更可使作业件23确实以预设下压力压接电子元件70,进而提高测试品质。
[0048]
因此,本发明压接机构利用压接单元的单一驱动源不仅驱动第一活动件21与第二活动件22作反向位移,并利用第二活动件22作反向位移时带动作动具24及限位件25同步位移,以于限位件25承挡受限后,而限位第一活动件21及作业件23,进而使作业件23确实压接电子元件,并可节省成本及利于装置空间配置;又于第二活动件22反向位移时,可搭配调整单元,以微调作业件23的位置,使作业件23准确压接电子元件,进而提高使用效能。
[0049]
请参阅图8,本发明压接机构的第二实施例,其大致结构相同或近似第一实施例,第二实施例与第一实施例的差异在于作业件23的下压部231装配测试模块,测试模块包含第二电路板234及复数支第二探针235,以供测试具双面接点的电子元件,压接单元搭配调整单元而可微调作业件23的位置,不仅使作业件23确实以预设下压力压接电子元件,并可使第二探针235精准对位接触电子元件的接点,进而提高测试品质。
再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

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