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选相合闸装置运行状态检测方法及装置与流程

2022-02-23 02:04:39 来源:中国专利 TAG:


1.本技术涉及电力设备技术领域,特别是涉及一种选相合闸装置运行状态检测方法及装置。


背景技术:

2.特高压直流输电技术能够实现远距离、大功率能源输送,适合大型能源基地实现电力超大容量、超远距离外送及实现电力系统的非同步联网。因此,特 (超)高压直流输电技术在全国联网目标中发挥着不可取代的作用。
3.特高压直流换流站均装设有大容量高电压等级的交流滤波器和并联电容器,用以滤除换流器工作产生的大量谐波并满足大量无功需求。为减小合闸时对高压并联电容器的冲击,特高压直流换流站的滤波器和电容器断路器均装设了选相合闸装置,由于选相合闸装置的非同期合闸特征,在断路器合闸期间,会产生类似于交流系统不对称故障的零序电压,其中,直流输电控制系统的换相失败预测功能是通过检测交流系统的零序电压来判断交流系统是否存在故障,若系统零序电压达到一定值,控制系统将会增加逆变站的熄弧角,通过此措施防止交流系统扰动引起直流输电系统发生的换相失败。
4.选相合闸装置是一种用于断路器合闸相位控制的智能型控制设备,它可以针对不同对象选择暂态冲击最小的相位完成开关的合闸操作,减小合闸过程所产生的冲击,提高电气原件的使用寿命。交流滤波器是高压直流输电系统的重要组成部分之一。高压直流输电系统的换流器在运行时会消耗大量的无功功率,同时在交、直流侧产生大量谐波。因此,为了补偿无功功率以及滤除交流侧谐波,需要装设相应容量的交流滤波器。而交流滤波器需要随着直流功率的变化频繁地投入和切除。当交流滤波器投入时,因电容器上电压与母线电压不完全相同,将会在回路中产生合闸涌流,对系统造成冲击,引起避雷器频繁动作,直流换相失败,甚至设备受冲击后受损等。当前,大多数交流滤波器断路器均采用带选相合闸装置的断路器进行合闸,从而抑制在断路器合闸时产生的涌流,因此选相合闸装置的运行可靠性、稳定性将会影响到合闸的效果和直流系统的安全稳定性。
5.目前,国内外对选相合闸装置在持续运行后的现场工况检测和状态评估方面仍处于空白,对选相合闸装置的功能检测研究主要集中在触发策略仿真研究和基于交流系统录波图谱的分析研究中,这导致现场检修运维人员对设备的运行工况监测和评估缺乏有效的手段和方法。


技术实现要素:

6.基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种选相合闸装置运行状态检测方法及装置。
7.为了实现上述目的,一方面,本技术实施例提供了一种选相合闸装置运行状态检测方法,包括步骤:
8.在断路器满足合格条件的情况下,获取选相合闸装置的第一合闸延迟时间;第一
合闸延迟时间的起始时刻为选相合闸装置接到合闸命令的时刻,终止时刻为断路器接收到合闸触发信号的时刻;合闸触发信号为选相合闸装置在接到合闸命令后经选相合闸装置控制器发送至断路器的信号;
9.在第一合闸延迟时间满足预设值的条件下,获取选相合闸装置的合闸触发时间和第二合闸延迟时间,以及获取断路器的合闸时间;合闸触发时间的起始时刻为选相合闸装置接到合闸命令的时刻,终止时刻为选相合闸装置控制器发送合闸触发信号的时刻;合闸时间的起始时刻为断路器接收到合闸触发信号的时刻,终止时刻为断路器完成合闸动作的时刻;
10.分别对合闸触发时间、第二合闸延迟时间和合闸时间进行t检测分析,输出运行状态检测结果。
11.在其中一个实施例中,在断路器满足合格条件的情况下,获取选相合闸装置的第一合闸延迟时间的步骤之前,还包括步骤:
12.获取断路器的电参量数据;电参量数据为断路器在额定电压下测量得到的数据;电参量数据包括断口速度、分合闸时间和回路电阻值;
13.根据电参量数据与合格值的比较结果,确定是否获取第一合闸延迟时间。
14.在其中一个实施例中,根据电参量数据与合格值的比较结果,确定是否获取第一合闸延迟时间的步骤包括:
15.若电参量数据符合合格值,则获取第一合闸延迟时间;否则对断路器进行检查和处理并返回获取断路器的电参量数据的步骤。
16.在其中一个实施例中,在第一合闸延迟时间满足预设值的条件下,获取选相合闸装置的合闸触发时间和第二合闸延迟时间的步骤包括:
17.若第一合闸延迟时间符合预设值,则确定获取合闸触发时间和第二合闸延迟时间;否则调整第一合闸延迟时间并返回获取选相合闸装置的第一合闸延迟时间的步骤。
18.在其中一个实施例中,分别对合闸触发时间、第二合闸延迟时间和合闸时间进行t检测分析的步骤之前,还包括步骤:
19.获取选相合闸装置的合闸波形;合闸波形为选相合闸装置从接到合闸命令到断路器完成合闸动作的过程中输入的电压波形或电流波形,以及输出的电压波形或电流波形;
20.根据合闸触发时间、第二合闸延迟时间、合闸时间和合闸波形分别与相应的标准值的比较结果,确定是否进行t检测分析。
21.在其中一个实施例中,根据合闸触发时间、第二合闸延迟时间、合闸时间和合闸波形分别与相应的标准值的比较结果,确定是否进行t检测分析的步骤包括:
22.若合闸触发时间、第二合闸延迟时间、合闸时间和合闸波形均符合相应的标准值,则确定进行t检测分析;否则调整第一合闸延迟时间并返回获取选相合闸装置的第一合闸延迟时间的步骤。
23.在其中一个实施例中,分别对合闸触发时间、第二合闸延迟时间和合闸时间进行t检测分析,输出运行状态检测结果的步骤包括:
24.获取合闸触发时间的第一可信度、第二合闸延迟时间的第二可信度和合闸时间的第三可信度;合闸触发时间、第二合闸延迟时间和合闸时间均为在预设电压条件下断路器完成预设次数合闸动作过程中得到的;
25.在第一可信度、第二可信度和第三可信度均满足合格可信度的条件下,输出运行状态检测结果。
26.一种选相合闸装置运行状态检测装置,装置包括:
27.数据获取模块,用于在断路器满足合格条件的情况下,获取选相合闸装置的第一合闸延迟时间;第一合闸延迟时间的起始时刻为选相合闸装置接到合闸命令的时刻,终止时刻为断路器接收到合闸触发信号的时刻;合闸触发信号为选相合闸装置在接到合闸命令后经选相合闸装置控制器发送至断路器的信号;
28.还用于在第一合闸延迟时间满足预设值的条件下,获取选相合闸装置的合闸触发时间和第二合闸延迟时间,以及获取断路器的合闸时间;合闸触发时间的起始时刻为选相合闸装置接到合闸命令的时刻,终止时刻为选相合闸装置控制器发送合闸触发信号的时刻;合闸时间的起始时刻为断路器接收到合闸触发信号的时刻,终止时刻为断路器完成合闸动作的时刻;
29.检测分析模块,用于分别对合闸触发时间、第二合闸延迟时间和合闸时间进行t检测分析,输出运行状态检测结果。
30.一种计算机设备,包括存储器和处理器,存储器存储有计算机程序,处理器执行计算机程序时实现上述方法的步骤。
31.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现上述的方法的步骤。
32.上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点和有益效果:
33.本技术通过在获取的第一合闸延迟时间满足预设值的条件下对获取的合闸触发时间、第二合闸延迟时间以及合闸时间进行t检测分析,从而得到选相合闸装置的运行状态检测结果;本技术通过对合闸触发时间、第二合闸延迟时间以及合闸时间的检测处理,实现了断路器及其选相合闸装置的功能现场检测和评估,填补了国内外在现场无法检测选相合闸装置功能的空白。
附图说明
34.为了更清楚地说明本技术实施例或传统技术中的技术方案,下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
35.图1为一个实施例中选相合闸装置运行状态检测方法的流程示意图;
36.图2为一个实施例中选相合闸装置运行状态检测方法的具体流程示意图;
37.图3为一个实施例中选相合闸装置运行状态检测装置的结构框图。
具体实施方式
38.为了便于理解本技术,下面将参照相关附图对本技术进行更全面的描述。附图中给出了本技术的实施例。但是,本技术可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使本技术的公开内容更加透彻全面。
39.除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的技术领域的
技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本技术。
40.可以理解,本技术所使用的术语“第一”、“第二”等可在本文中用于描述各种元件,但这些元件不受这些术语限制。这些术语仅用于将第一个元件与另一个元件区分。
41.空间关系术语例如“在...下”、“在...下面”、“下面的”、“在...之下”、“在... 之上”、“上面的”等,在这里可以用于描述图中所示的一个元件或特征与其它元件或特征的关系。应当明白,除了图中所示的取向以外,空间关系术语还包括使用和操作中的器件的不同取向。例如,如果附图中的器件翻转,描述为“在其它元件下面”或“在其之下”或“在其下”元件或特征将取向为在其它元件或特征“上”。因此,示例性术语“在...下面”和“在...下”可包括上和下两个取向。此外,器件也可以包括另外地取向(譬如,旋转90度或其它取向),并且在此使用的空间描述语相应地被解释。
42.需要说明的是,当一个元件被认为是“连接”另一个元件时,它可以是直接连接到另一个元件,或者通过居中元件连接另一个元件。此外,以下实施例中的“连接”,如果被连接的对象之间具有电信号或数据的传递,则应理解为“电连接”、“通信连接”等。
43.在此使用时,单数形式的“一”、“一个”和“所述/该”也可以包括复数形式,除非上下文清楚指出另外的方式。还应当理解的是,术语“包括/包含”或“具有”等指定所陈述的特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的存在,但是不排除存在或添加一个或更多个其他特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的可能性。同时,在本说明书中使用的术语“和/或”包括相关所列项目的任何及所有组合。
44.选相合闸装置控制功能实现的关键是对断路器合闸时间的预测,一般合闸时间与电压过零点的偏差在1.5ms以内可以实现较好的合闸效果,但是断路器在长期运行过程中存在频繁分合动作造成的机械磨损和各类元器件的老化效应,从而导致断路器及其选相合闸装置机械特性和电气特性的变化,甚至出现选相合闸装置的合闸触发时间、合闸延迟时间随运行时间的延长而出现漂移的现象。
45.本技术提供的选相合闸装置运行状态检测方法,能够弥补选相合闸装置运维中存在的检测维护质量不高,评估方法不当的缺失,避免了以往选相合闸装置功能缺陷必须通过设备带电运行后并有效提取到电压或电流运行中系统录波信号后才能开展的弊端,同时可以将实验室模拟仿真后的选相合闸功能实现策略在现场进行实际测试,并可以根据测试结果进一步对仿真结果进行优化,从而为更好地考核和评估选相合闸装置在长期运行后的状态提供参考。
46.为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本技术进行进一步详细说明。应当理解,此处描述的具体实施例仅仅用以解释本技术,并不用于限定本技术。
47.在一个实施例中,如图1所示,提供了一种选相合闸装置运行状态检测方法,以该方法应用于一组三相双端口交流滤波器断路器为例,可以包括步骤:
48.步骤s110,在断路器满足合格条件的情况下,获取选相合闸装置的第一合闸延迟时间;第一合闸延迟时间的起始时刻为选相合闸装置接到合闸命令的时刻,终止时刻为断路器接收到合闸触发信号的时刻;合闸触发信号为选相合闸装置在接到合闸命令后经选相合闸装置控制器发送至断路器的信号;
49.步骤s120,在第一合闸延迟时间满足预设值的条件下,获取选相合闸装置的合闸触发时间和第二合闸延迟时间,以及获取断路器的合闸时间;合闸触发时间的起始时刻为选相合闸装置接到合闸命令的时刻,终止时刻为选相合闸装置控制器发送合闸触发信号的时刻;合闸时间的起始时刻为断路器接收到合闸触发信号的时刻,终止时刻为断路器完成合闸动作的时刻;
50.步骤s130,分别对合闸触发时间、第二合闸延迟时间和合闸时间进行t检测分析,输出运行状态检测结果。
51.具体而言,该交流滤波器断路器(以下简称断路器)已安装有选相合闸装置,且断路器控制电源回路、操作机构储能及控制回路均具备完成分闸、合闸、保护、储能、低压报警、放慢分等功能;同时该交流滤波器断路器可以是新投运或已运行一段时间;在一些示例中,本技术提供的选相合闸装置运行状态检测方法应用于处于停电状态的断路器。
52.当确认该断路器处于合格条件时,在选相合闸装置信号输入端注入典型模拟电压信号和模拟电流信号,在输出端检测合闸触发信号并获取第一合闸延迟时间;在一些示例中,模拟电压信号和模拟电流信号可以是按照选相合闸装置在投运前已由厂家设计调整好的三相分、合闸触发策略模拟的不同相位、幅值和波形的三相电压和三相电流信号,其中三相分、合闸触发策略(选相合闸策略)可以指选相合闸装置控制器接到合闸命令后考虑固有合闸时间、二次回路延时、预击穿时间以及其他补偿因素后计算得到实际合闸时间,并经过控制处理后把分相命令分别下发至断路器各相的操作线圈,从而实现控制断路器各相在理想相位分合的策略;
53.其中,上述合闸触发信号可以是选相合闸装置在接到合闸命令后经选相合闸装置控制器运用选相合闸策略处理后输出至断路器各相操作线圈的信号;相应地,合闸触发时间的起始时刻为选相合闸装置接到合闸命令的时刻,终止时刻为选相合闸装置控制器发送合闸触发信号的时刻;第一合闸延迟时间的起始时刻为选相合闸装置接到合闸命令的时刻,终止时刻为断路器各相操作线圈接收到合闸触发信号的时刻;
54.当上述第一合闸延迟时间满足预设值时,在选相合闸装置信号输入端再次注入典型模拟电压信号和模拟电流信号,在输出端获取合闸触发时间和第二合闸延迟时间,以及获取断路器的合闸时间;其中,合闸时间的起始时刻为断路器接收到合闸触发信号的时刻,终止时刻为断路器各相操作线圈完成合闸动作的时刻;
55.分别对上述获取的合闸触发时间、第二合闸延迟时间和合闸时间进行t检测分析,根据t检测分析的结果判断选相合闸装置动作是否合理,选相合闸策略是否符合选相合闸装置的预设要求,从而输出运行状态检测结果。
56.上述选相合闸装置运行状态检测方法,通过对获取的合闸触发时间、第二合闸延迟时间以及合闸时间进行t检测分析,从而得到选相合闸装置的运行状态检测结果,实现了断路器及其选相合闸装置功能的现场检测和评估,避免了以往选相合闸装置功能缺陷必须通过设备带电运行后进行排查的局限性,弥补了选相合闸装置运维中存在的检测维护质量不高,评估方法不当的缺陷,为更好的考核和评估选相合闸装置在长期运行后的状态提供参考。
57.在其中一个实施例中,在断路器满足合格条件的情况下,获取选相合闸装置的第一合闸延迟时间的步骤之前,还包括步骤:
58.获取断路器的电参量数据;电参量数据为断路器在额定电压下测量得到的数据;电参量数据包括断口速度、分合闸时间和回路电阻值;
59.根据电参量数据与合格值的比较结果,确定是否获取第一合闸延迟时间。
60.具体而言,在一些示例中,判断断路器是否满足合格条件,即检查断路器检测前状态,此时断路器已停电,并处于检修状态,同时断路器操作机构压力、 sf6气体压力均处于设备厂家要求的额定范围内,控制回路状态处于正常带电状态,相关操作机构自动储能功能正常;
61.获取的电参量数据是在控制回路额定电压下测量得到的,电参量数据可以是断路器三相各断口速度、分合闸时间和回路电阻值,其中,断口速度包括分闸速度和合闸速度;将电参量数据与设备厂家和相关规程要求的合格值进行比较,从而确定断路器是否满足合格条件。
62.该步骤的主要目的为在选相合闸装置检测前先确认断路器各项机械特性是否均处于良好可靠的状态,从而排除检测中因断路器本身存在机械特性缺陷而导致的检测结果不准确的情况。
63.在其中一个实施例中,根据电参量数据与合格值的比较结果,确定是否获取第一合闸延迟时间的步骤包括:
64.若电参量数据符合合格值,则获取第一合闸延迟时间;否则对断路器进行检查和处理并返回获取断路器的电参量数据的步骤。
65.具体而言,若电参量数据符合设备厂家和相关规程要求的合格值,则断路器设备为合格设备,可以进行后续的选相合闸装置检测流程;否则对电参量数据不合格的断路器设备进行检查和处理,通过调节操作机构行程、压力、继电器动作时间等方式将不合格电参量数据调整至满足设备厂家和相关规程的要求范围内。
66.在其中一个实施例中,在第一合闸延迟时间满足预设值的条件下,获取选相合闸装置的合闸触发时间和第二合闸延迟时间的步骤包括:
67.若第一合闸延迟时间符合预设值,则确定获取合闸触发时间和第二合闸延迟时间;否则调整第一合闸延迟时间并返回获取选相合闸装置的第一合闸延迟时间的步骤。
68.具体而言,当第一合闸延迟时间不符合预设值时,调整该第一合闸延迟时间,在一些示例中,当第一合闸延迟时间不符合预设值时还可以优化选相合闸装置的预测策略;第一合闸延迟时间调整结束或者优化预测策略结束后,重新获取选相合闸装置的第一合闸延迟时间。
69.在其中一个实施例中,分别对合闸触发时间、第二合闸延迟时间和合闸时间进行t检测分析的步骤之前,还包括步骤:
70.获取选相合闸装置的合闸波形;合闸波形为选相合闸装置从接到合闸命令到断路器完成合闸动作的过程中输入的电压波形或电流波形,以及输出的电压波形或电流波形;
71.根据合闸触发时间、第二合闸延迟时间、合闸时间和合闸波形分别与相应的标准值的比较结果,确定是否进行t检测分析。
72.具体而言,进行t检测分析之前,还需要获取选相合闸装置的合闸波形,合闸波形为选相合闸装置从接到合闸命令到断路器各相操作线圈断口完成合闸动作的整个过程中输入的电压波形或电流波形,以及输出的电压波形或电流波形;
73.从而判断上述合闸触发时间、第二合闸延迟时间、合闸时间和合闸波形是否符合其相应的标准值,根据比较结果从而确定是否进行t检测分析。
74.在其中一个实施例中,根据合闸触发时间、第二合闸延迟时间、合闸时间和合闸波形分别与相应的标准值的比较结果,确定是否进行t检测分析的步骤包括:
75.若合闸触发时间、第二合闸延迟时间、合闸时间和合闸波形均符合相应的标准值,则确定进行t检测分析;否则调整第一合闸延迟时间并返回获取选相合闸装置的第一合闸延迟时间的步骤。
76.具体地,若合闸触发时间、第二合闸延迟时间、合闸时间和合闸波形不符合其相应的标准值时,则调整上述第一合闸延迟时间或者优化选相合闸装置的预测策略;并在第一合闸延迟时间调整结束或者优化预测策略结束后返回获取选相合闸装置的第一合闸延迟时间的步骤。
77.在其中一个实施例中,分别对合闸触发时间、第二合闸延迟时间和合闸时间进行t检测分析,输出运行状态检测结果的步骤包括:
78.获取合闸触发时间的第一可信度、第二合闸延迟时间的第二可信度和合闸时间的第三可信度;合闸触发时间、第二合闸延迟时间和合闸时间均为在预设电压条件下断路器完成预设次数合闸动作过程中得到的;
79.在第一可信度、第二可信度和第三可信度均满足合格可信度的条件下,输出运行状态检测结果。
80.具体而言,预设电压条件可以是80%的额定电压条件、100%的额定电压条件及110%的额定电压条件,预设次数为若干次;在一些示例中,合闸触发时间、第二合闸延迟时间和合闸时间均可以是在控制回路电压分别为额定电压的80%、 100%及110%的条件下,且断路器完成合闸动作至少20次获得的数据,其中,在不同预设电压条件下可以累计获得至少60组合闸触发时间、第二合闸延迟时间和合闸时间的数据;
81.以60个合闸触发时间的数据为例,t检测分析的具体过程为:将获取的60 个合闸触发时间的数据依次降序排列,并将数列中最大合闸触发时间和最小合闸触发时间均编号为1,次大合闸触发时间和次小合闸触发时间均编号为2,依此类推,直至编号为30,同时设最大值为t
′i,最小值为ti,通过如下公式计算得到t
′i和ti的差值di:
82.di=t

i-ti83.其中,i表示编号,具体地,i=1、2、3、
……
、30;当i=1时,d1表示最大合闸触发时间和最小合闸触发时间的差值,当i=2时,d2表示次大合闸触发时间和次小合闸触发时间的差值,依此类推,计算至i=30结束;
84.t检测分析过程中差值di的标准偏差sd通过如下公式计算得到:
[0085][0086]
其中,n为i值中的最大值;
[0087]
从而合闸触发时间的第一可信度t可以通过如下公式计算得到:
[0088][0089]
同理,可以按照上述方法获得第二合闸延迟时间的第二可信度和合闸时间的第三可信度;
[0090]
当上述第一可信度、第二可信度和第三可信度均满足合格可信度,输出运行状态检测结果,在一些示例中,设置显著性水平为0.05,根据t表中数据可知,合格可信度t
40.05
为2.78,进一步地,第一可信度、第二可信度和第三可信度均小于合格可信度t
40.05
时,则判定选相合闸装置动作合理,且选相合闸策略符合选相合闸装置的设计要求,测试结果未出现漂移,否则判定该选相合闸装置功能实践中存在缺陷,选相合闸策略需要进一步优化,并调整断路器各相操作线圈中不符合相的操作机构压力和断口行程等,经调整后再次进行测试和评估,直至断路器各相合闸效果满足要求。
[0091]
上述选相合闸装置运行状态检测方法,不仅可实现分别对交流滤波器断路器本体和选相合闸装置本体的功能检测,还可以实现对整体功能的检测。
[0092]
为了更好地说明本技术,以上述选相合闸装置运行状态检测方法应用于已安装选相合闸装置的三相双端口交流滤波器断路器为例,提供了一个具体示例予以说明,如图2所示。
[0093]
应该理解的是,虽然图1-2的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,这些步骤可以以其它的顺序执行。而且,图1-2中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段,这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
[0094]
在一个实施例中,如图3所示,提供了一种选相合闸装置运行状态检测装置,装置可以包括:
[0095]
数据获取模块310,用于在断路器满足合格条件的情况下,获取选相合闸装置的第一合闸延迟时间;第一合闸延迟时间的起始时刻为选相合闸装置接到合闸命令的时刻,终止时刻为断路器接收到合闸触发信号的时刻;合闸触发信号为选相合闸装置在接到合闸命令后经选相合闸装置控制器发送至断路器的信号;
[0096]
还用于在第一合闸延迟时间满足预设值的条件下,获取选相合闸装置的合闸触发时间和第二合闸延迟时间,以及获取断路器的合闸时间;合闸触发时间的起始时刻为选相合闸装置接到合闸命令的时刻,终止时刻为选相合闸装置控制器发送合闸触发信号的时刻;合闸时间的起始时刻为断路器接收到合闸触发信号的时刻,终止时刻为断路器完成合闸动作的时刻;
[0097]
检测分析模块320,用于分别对合闸触发时间、第二合闸延迟时间和合闸时间进行t检测分析,输出运行状态检测结果。
[0098]
在其中一个实施例中,数据获取模块310还用于获取断路器的电参量数据;电参量数据为断路器在额定电压下测量得到的数据;电参量数据包括断口速度、分合闸时间和回
路电阻值;
[0099]
根据电参量数据与合格值的比较结果,确定是否获取第一合闸延迟时间。
[0100]
在其中一个实施例中,数据获取模块310还用于若电参量数据符合合格值,则获取第一合闸延迟时间;否则对断路器进行检查和处理并返回获取断路器的电参量数据的步骤。
[0101]
在其中一个实施例中,数据获取模块310还用于若第一合闸延迟时间符合预设值,则确定获取合闸触发时间和第二合闸延迟时间;否则调整第一合闸延迟时间并返回获取选相合闸装置的第一合闸延迟时间的步骤。
[0102]
在其中一个实施例中,数据获取模块310还用于获取选相合闸装置的合闸波形;合闸波形为选相合闸装置从接到合闸命令到断路器完成合闸动作的过程中输入的电压波形或电流波形,以及输出的电压波形或电流波形;
[0103]
根据合闸触发时间、第二合闸延迟时间、合闸时间和合闸波形分别与相应的标准值的比较结果,确定是否进行t检测分析。
[0104]
在其中一个实施例中,数据获取模块310还用于若合闸触发时间、第二合闸延迟时间、合闸时间和合闸波形均符合相应的标准值,则确定进行t检测分析;否则调整第一合闸延迟时间并返回获取选相合闸装置的第一合闸延迟时间的步骤。
[0105]
在其中一个实施例中,检测分析模块320还用于获取合闸触发时间的第一可信度、第二合闸延迟时间的第二可信度和合闸时间的第三可信度;合闸触发时间、第二合闸延迟时间和合闸时间均为在预设电压条件下断路器完成预设次数合闸动作过程中得到的;
[0106]
在第一可信度、第二可信度和第三可信度均满足合格可信度的条件下,输出运行状态检测结果。
[0107]
关于选相合闸装置运行状态检测装置的具体限定可以参见上文中对于选相合闸装置运行状态检测方法的限定,在此不再赘述。上述选相合闸装置运行状态检测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中,也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中,以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。需要说明的是,本技术实施例中对模块的划分是示意性的,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式。
[0108]
在一个实施例中,提供了一种计算机设备,该计算机设备可以是服务器。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口和数据库。其中,该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储电参量数据等。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种选相合闸装置运行状态检测方法。
[0109]
在一个实施例中,提供了一种计算机设备,该计算机设备可以是终端。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口、显示屏和输入装置。其中,该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部
的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种选相合闸装置运行状态检测方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏,该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层,也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板,还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
[0110]
在一个实施例中,提供了一种计算机设备,包括存储器和处理器,存储器存储有计算机程序,处理器执行计算机程序时实现上述选相合闸装置运行状态检测方法的步骤。
[0111]
在一个实施例中,提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现上述选相合闸装置运行状态检测方法的步骤。
[0112]
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中,该计算机程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,本技术所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用,均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(read-only memory,rom)、磁带、软盘、闪存或光存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(randomaccess memory,ram)或外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限,ram可以是多种形式,比如静态随机存取存储器(static random access memory,sram) 或动态随机存取存储器(dynamic random access memory,dram)等。
[0113]
在本说明书的描述中,参考术语“有些实施例”、“其他实施例”、“理想实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特征包含于本技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性描述不一定指的是相同的实施例或示例。
[0114]
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
[0115]
以上所述实施例仅表达了本技术的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本技术构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本技术的保护范围。因此,本技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。
再多了解一些

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