一种过流保护测试方法、装置、设备及可读存储介质与流程

1.本发明涉及服务器领域，特别是涉及一种过流保护测试方法，本发明还涉及一种过流保护测试装置、设备及计算机可读存储介质。


背景技术：

2.服务器主板和其他板卡在开发阶段需要针对主板的电源设计方案进行测试，在测试过程中，需要对待测主板上的vr(voltage adjustment，电压调节)芯片进行电流保护的验证，来保证主板的供电稳定性，具体需要验证vr芯片真实的ocp(over current protection，过流保护)触发点，然而现有技术中在进行过流保护测试时，通常需要工作人员手动调节负载大小以便对各个等级的电流进行测试，测试效率较低，并且还可能因为长时间的测试触发vr芯片的otp(over temperature protection，过温保护)从而误将过此时的电流值当做ocp触发点，测试准确性较差。
3.因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域技术人员目前需要解决的问题。


技术实现要素：

4.本发明的目的是提供一种过流保护测试方法，本技术应用于处理器中，工作效率较高，且能够准确地找到过流保护触发值，提高了测试准确性；本发明的另一目的是提供一种过流保护测试装置、设备及计算机可读存储介质，本技术应用于处理器中，工作效率较高，且能够准确地找到过流保护触发值，提高了测试准确性。
5.为解决上述技术问题，本发明提供了一种过流保护测试方法，应用于处理器，包括：
6.通过电子负载控制待测主板中的待测电压调节vr芯片的输出电流从基准电流值开始以预设步幅递增；
7.监测所述待测vr芯片触发断路保护时产生的断路保护信号；
8.在所述断路保护信号为过温保护类型时，在预设时长后通过所述电子负载控制所述待测vr芯片的输出电流从触发过温保护瞬间的电流值开始以所述预设步幅递增，并执行所述监测所述待测vr芯片触发断路保护时产生的断路保护信号的步骤；
9.在所述断路保护信号为过流保护类型时，将所述待测vr芯片触发过流保护瞬间的电流值作为过流保护触发值。
10.优选地，所述监测所述待测vr芯片触发断路保护时产生的断路保护信号包括：
11.通过通信装置对所述待测主板中的各个所述待测vr芯片进行寻址，确定出各个所述待测vr芯片的通信地址；
12.响应于通过人机交互装置接收到的选择指令，对所述选择指令指定的所述通信地址对应的所述待测vr芯片触发断路保护时产生的断路保护信号进行监测。
13.优选地，所述通信装置包括：
14.与所述处理器连接的控制芯片，用于在所述处理器的控制下通过寻址芯片获取各个所述待测vr芯片的通信地址，并将获取到的所述通信地址传输至所述处理器，以便所述处理器通过自身以及所述寻址芯片实现与指定的所述通信地址对应的vr芯片的通信；
15.分别与所述控制芯片以及各个所述待测vr芯片连接的所述寻址芯片。
16.优选地，所述通信装置还包括与所述控制芯片连接的提示装置；
17.所述监测所述待测vr芯片触发断路保护时产生的断路保护信号之后，该过流保护测试方法还包括：
18.通过所述控制芯片控制所述提示装置提示所述断路保护信号的具体类型。
19.优选地，所述提示装置为发光二极管。
20.优选地，所述在所述断路保护信号为过流保护类型时，将所述待测vr芯片触发过流保护瞬间的电流值作为过流保护触发值具体为：
21.在所述断路保护信号为过流保护类型时，通过示波器获取所述待测vr芯片触发过流保护瞬间的电流波形图并从所述电流波形图中确定出过流保护触发值和/或通过所述通信装置接收所述待测vr芯片触发过流保护前最后发送的自身输出电流的电流值并将其作为所述过流保护触发值。
22.优选地，该过流保护测试方法还包括：
23.通过所述通信装置获取所述待测vr芯片发送的自身的实时温度值；
24.在所述断路保护信号为过温保护类型时，将当前接收到的实时温度值作为过温保护触发值。
25.为解决上述技术问题，本发明还提供了一种过流保护测试装置，应用于处理器，包括：
26.控制模块，用于通过电子负载控制待测主板中的待测电压调节vr芯片的输出电流从基准电流值开始以预设步幅递增；
27.监测模块，用于监测所述待测vr芯片触发断路保护时产生的断路保护信号；
28.执行模块，用于在所述断路保护信号为过温保护类型时，在预设时长后通过所述电子负载控制所述待测vr芯片的输出电流从触发过温保护瞬间的电流值开始以所述预设步幅递增，并执行所述监测所述待测vr芯片触发断路保护时产生的断路保护信号的步骤；
29.记录模块，用于在所述断路保护信号为过流保护类型时，将所述待测vr芯片触发过流保护瞬间的电流值作为过流保护触发值。
30.为解决上述技术问题，本发明还提供了一种过流保护测试设备，包括：
31.存储器，用于存储计算机程序；
32.处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上所述过流保护测试方法的步骤。
33.为解决上述技术问题，本发明还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述过流保护测试方法的步骤。
34.本发明提供了一种过流保护测试方法，本技术中的处理器可以通过电子负载控制待测主板中的待测vr芯片的输出电流从基准电流值开始以预设步幅递增，在此过程中可以对待测vr芯片触发断路保护时产生的断路保护信号进行监测，一旦发现属于过温保护触发断路，便可以在预设时长(待测vr芯片冷却)后通过电子负载控制待测vr芯片的输出电流从
触发过温保护瞬间的电流值开始以预设步幅递增，从而继续进行测试，直至待测vr芯片触发过流保护并记录过流保护触发值，由于本技术应用于处理器中，工作效率较高，且能够准确地找到过流保护触发值，提高了测试准确性。
35.本发明还提供了一种过流保护测试装置、设备及计算机可读存储介质，具有如上过流保护测试方法相同的有益效果。
附图说明
36.为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
37.图1为本发明提供的一种过流保护测试方法的流程示意图；
38.图2为本发明提供的一种通信装置的结构示意图；
39.图3为本发明提供的一种过流保护测试装置的结构示意图；
40.图4为本发明提供的一种过流保护测试设备的结构示意图。
具体实施方式
41.本发明的核心是提供一种过流保护测试方法，本技术应用于处理器中，工作效率较高，且能够准确地找到过流保护触发值，提高了测试准确性；本发明的另一核心是提供一种过流保护测试装置、设备及计算机可读存储介质，本技术应用于处理器中，工作效率较高，且能够准确地找到过流保护触发值，提高了测试准确性。
42.为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
43.请参考图1，图1为本发明提供的一种过流保护测试方法的流程示意图，该过流保护测试方法包括：
44.s101：通过电子负载控制待测主板中的待测电压调节vr芯片的输出电流从基准电流值开始以预设步幅递增；
45.具体的，考虑到如上背景技术中的技术问题，为了一方面实现过流保护触发点的精确测量，另一方面提升过流保护触发点测试工作的工作效率，本技术中的处理器可以在通过电子负载控制待测主板中的待测vr芯片的输出电流从基准电流值开始以预设步幅递增的过程中，对待测vr芯片触发断路保护时产生的断路保护信号进行监测，根据断路保护信号的两种不同类型相应的做出动作，因此本步骤首先要做的就是通过电子负载控制待测主板中的待测电压调节vr芯片的输出电流从基准电流值开始以预设步幅递增，由于本步骤应用于处理器中，因此直接提升了过流保护测试工作的工作效率。
46.其中，基准电流值以及预设步幅均可以自主设置，对其数值本发明实施例在此不做限定。
47.s102：监测待测vr芯片触发断路保护时产生的断路保护信号；
48.具体的，由于待测vr芯片加载时间越长发热情况越严重，因此断路保护也有可能是otp触发的，在otp触发断路的情况下便不能够将彼时的电流值作为ocp的触发值，为了区分这两种不同的情况，因此本步骤中首先要监测待测vr芯片触发断路保护时产生的断路保护信号，以便根据断路保护信号的具体类型做出相应的处置。
49.s103：在断路保护信号为过温保护类型时，在预设时长后通过电子负载控制待测vr芯片的输出电流从触发过温保护瞬间的电流值开始以预设步幅递增，并执行监测待测vr芯片触发断路保护时产生的断路保护信号的步骤；
50.具体的，由于在触发过温保护时待测vr芯片的温度过高，因此本技术中可以等待预设时长以便待测vr芯片再次投入测试时不会轻易因为温度过高而再次触发过温保护，之后便可以通过电子负载控制待测vr芯片的输出电流从触发过温保护瞬间的电流值开始以预设步幅递增，并执行监测待测vr芯片触发断路保护时产生的断路保护信号的步骤，以便继续寻找过流保护的触发值。
51.其中，预设时长可以进行自主设置，例如可以为5分钟等，本发明实施例在此不做限定。
52.s104：在断路保护信号为过流保护类型时，将待测vr芯片触发过流保护瞬间的电流值作为过流保护触发值。
53.具体的，如果断路保护信号为过流保护类型，那么便可以直接将待测vr芯片触发过流保护瞬间的电流值作为过流保护触发值，至此便寻找到了准确的ocp触发值。
54.本发明提供了一种过流保护测试方法，本技术中的处理器可以通过电子负载控制待测主板中的待测vr芯片的输出电流从基准电流值开始以预设步幅递增，在此过程中可以对待测vr芯片触发断路保护时产生的断路保护信号进行监测，一旦发现属于过温保护触发断路，便可以在预设时长(待测vr芯片冷却)后通过电子负载控制待测vr芯片的输出电流从触发过温保护瞬间的电流值开始以预设步幅递增，从而继续进行测试，直至待测vr芯片触发过流保护并记录过流保护触发值，由于本技术应用于处理器中，工作效率较高，且能够准确地找到过流保护触发值，提高了测试准确性。
55.在上述实施例的基础上：
56.作为一种优选的实施例，监测待测vr芯片触发断路保护时产生的断路保护信号包括：
57.通过通信装置对待测主板中的各个待测vr芯片进行寻址，确定出各个待测vr芯片的通信地址；
58.响应于通过人机交互装置接收到的选择指令，对选择指令指定的通信地址对应的待测vr芯片触发断路保护时产生的断路保护信号进行监测。
59.具体的，本技术中实现监测待测vr芯片触发断路保护时产生的断路保护信号的具体方式为先与待测vr芯片实现通信，然后再控制待测vr芯片将自身的断路保护信号发送过来，从而实现了对于断路保护信号的监测，且可以在人机交互装置的控制下自主地选定多个待测vr芯片中的待测vr芯片进行监测。
60.其中，人机交互装置可以为多种类型，例如可以为计算机上的键鼠等，本发明实施例在此不做限定。
61.为了更好地对本发明实施例进行说明，请参考图2，图2为本发明提供的一种通信
装置的结构示意图，作为一种优选的实施例，通信装置包括：
62.与处理器连接的控制芯片，用于在处理器的控制下通过寻址芯片获取各个待测vr芯片的通信地址，并将获取到的通信地址传输至处理器，以便处理器通过自身以及寻址芯片实现与指定的通信地址对应的vr芯片的通信；
63.分别与控制芯片以及各个待测vr芯片连接的寻址芯片。
64.具体的，在测试过程中，本技术可以应用于个人电脑的处理器中，并在个人电脑上安装gui(graphical user interface，图形用户界面)操作界面，并通过usb(universal serial bus，通用串行总线)接口连接到图2的控制芯片上，寻址芯片则可以通过i2c通信连接至待测主板上的待测vr芯片。
65.具体的，测试过流保护需要使用的设备有供电电源，继电器，电子负载、示波器等设备，可以通过继电器(使用直流电源控制)控制供电电源是否为主板供电，将待测主板的待测vr芯片输出端正负极分别连接到电子负载正负极，通过探棒将待测vr芯片的输出电压及输出电流在示波器上显示出来。在个人电脑上，打开gui操作界面，寻址到待测芯片地址，点击开始自动化测试，自动校准探棒至电压电流显示在示波器界面中，然后电子负载从基准电流值imax开始设定拉载，按照基准电流值百分之五的预设变化幅度依次提升，直至触发断路保护。
66.具体的，本发明实施例中的通信装置具有结构简单以及成本低等优点。
67.当然，除了该具体构造外，通信装置还可以为其他具体类型，本发明实施例在此不做限定。
68.作为一种优选的实施例，通信装置还包括与控制芯片连接的提示装置；
69.监测待测vr芯片触发断路保护时产生的断路保护信号之后，该过流保护测试方法还包括：
70.通过控制芯片控制提示装置提示断路保护信号的具体类型。
71.具体的，为了便于工作人员在第一时间得到断路保护的触发类型，本发明实施例中可以在监测到断路保护信号之后，通过控制芯片控制提示装置提示断路保护信号的具体类型，以便工作人员获知具体情况。
72.作为一种优选的实施例，提示装置为发光二极管。
73.具体的，发光二极管具有体积小、价格低以及寿命长等优点。
74.当然，除了发光二极管外，提示装置还可以为其他类型，本发明实施例在此不做限定。
75.作为一种优选的实施例，在断路保护信号为过流保护类型时，将待测vr芯片触发过流保护瞬间的电流值作为过流保护触发值具体为：
76.在断路保护信号为过流保护类型时，通过示波器获取待测vr芯片触发过流保护瞬间的电流波形图并从电流波形图中确定出过流保护触发值和/或通过通信装置接收待测vr芯片触发过流保护前最后发送的自身输出电流的电流值并将其作为过流保护触发值。
77.具体的，本发明实施例中获取待测vr芯片具体电流值的途径有两种，一是可以通过示波器持续获取待测vr芯片的电流信号波形图，并且控制示波器在发现电流信号消失的瞬间截取彼时的电流波形图发送给处理器，另一种方式可以通过与待测vr芯片的通信来持续获取其输入输出电压以及输入输出电流，在待测vr芯片触发过流保护前最后接收到的输
出电流值便为过流保护触发值。
78.当然，通过示波器还可以对待测vr芯片的电压波形进行监测。
79.作为一种优选的实施例，该过流保护测试方法还包括：
80.通过通信装置获取待测vr芯片发送的自身的实时温度值；
81.在断路保护信号为过温保护类型时，将当前接收到的实时温度值作为过温保护触发值。
82.具体的，考虑到vr芯片本身可以对自身的实时温度进行监测，因此可以通过通信装置从待测vr芯片获取实时温度值，在断路保护信号为过温保护类型时便可以将当前接收到的实时温度值作为过温保护触发值，从而实现了对于过温保护触发值的测试。
83.请参考图3，图3为本发明提供的一种过流保护测试装置的结构示意图，应用于处理器，该过流保护测试装置包括：
84.控制模块31，用于通过电子负载控制待测主板中的待测电压调节vr芯片的输出电流从基准电流值开始以预设步幅递增；
85.监测模块32，用于监测待测vr芯片触发断路保护时产生的断路保护信号；
86.执行模块33，用于在断路保护信号为过温保护类型时，在预设时长后通过电子负载控制待测vr芯片的输出电流从触发过温保护瞬间的电流值开始以预设步幅递增，并执行监测待测vr芯片触发断路保护时产生的断路保护信号的步骤；
87.记录模块34，用于在断路保护信号为过流保护类型时，将待测vr芯片触发过流保护瞬间的电流值作为过流保护触发值。
88.对于本发明实施例中过流保护测试装置的介绍请参照前述的过流保护测试方法的实施例，本发明实施例在此不再赘述。
89.请参考图4，图4为本发明提供的一种过流保护测试设备的结构示意图，该过流保护测试设备包括：
90.存储器41，用于存储计算机程序；
91.处理器42，用于执行计算机程序时实现如前述实施例中过流保护测试方法的步骤。
92.对于本发明实施例中过流保护测试设备的介绍请参照前述的过流保护测试方法的实施例，本发明实施例在此不再赘述。
93.本发明还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如前述实施例中过流保护测试方法的步骤。
94.对于本发明实施例中计算机可读存储介质的介绍请参照前述的过流保护测试方法的实施例，本发明实施例在此不再赘述。
95.本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。还需要说明的是，在本说明书中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在
包括该要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
96.对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其他实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。