一种触摸屏导电膜接触式电测设备的制作方法

1.本发明涉及触控显示模组技术领域，具体地说是一种触摸屏导电膜接触式电测设备。


背景技术：

2.触摸屏(touchscreen)又称为“触控屏”、“触控面板”，是一种可接收触头等输入讯号的感应式液晶显示装置，当接触了屏幕上的图形按钮时，屏幕上的触觉反馈系统可根据预先编程的程式驱动各种连结装置，可用以取代机械式的按钮面板，并借由液晶显示画面制造出生动的影音效果。触摸屏作为一种最新的电脑输入设备，它是目前最简单、方便、自然的一种人机交互方式。它赋予了多媒体以崭新的面貌，是极富吸引力的全新多媒体交互设备。
3.目前触摸屏是由tx触控膜和rx触控膜贴合而成，且为了形成窄边框产品，设计了多段测试位。现有的电测机通常采用单测试压头的方式，电测机无法满足测试要求或者测试效率低，需要一种兼容各种尺寸和多段测试的电测设备。例如，附图1中，tx触控膜有4段测试位，rx触控膜有3段测试位，此触控膜从23寸至110寸都有产品，现有电测设备无法满足测试。
4.因此，提供一种触摸屏导电膜接触式电测设备，以解决现有触控屏测试所存在的问题，对其应用推广具有重要意义。


技术实现要素：

5.有鉴于此，本技术的目的在于提供一种触摸屏导电膜接触式电测设备，以适用不同规格尺寸触摸屏且多段测试位的电测试，提高测试效率。
6.为了达到上述目的，本技术提供如下技术方案。
7.一种触摸屏导电膜接触式电测设备，包括工作台、用于放置触摸屏的载板、设置在工作台上方的固定架、设置在固定架上的tx测试组件和rx测试组件；
8.所述tx测试组件和rx测试组件相对工作台能够同时实现横向和纵向的移动，进而实现与触摸屏导电膜测试位的对位；
9.所述tx测试组件包括tx测试压头和tx短路棒，所述rx测试组件包括rx测试压头和rx短路棒。
10.优选地，所述固定架上设置有移动支架，移动支架相对固定架能够滑动；所述tx测试组件设置在移动支架上，tx测试组件相对移动支架能够滑动；
11.所述固定架一侧设置有滑动轨道，所述rx测试压头设置在滑动轨道上，且相对滑动轨道能够移动。
12.优选地，所述移动支架包括第一移动支架和第二移动支架，所述tx测试压头、tx短路棒通过安装架分别固定在第一移动支架和第二移动支架上。
13.优选地，所述安装架包括支撑板、第一气缸，所述第一气缸固定在支撑板下方，第
一气缸能够带动tx测试压头和/或tx短路棒实现上下移动；
14.所述支撑板上设置有第二滑槽，所述移动支架上设置有与第二滑槽相对应的第二滑轨，以实现安装架相对移动支架的滑动。
15.优选地，所述第一气缸下方设置有第一连接板，第一连接板下方设置有微调机构，所述tx测试压头和/或tx短路棒安装在微调机构下方，以实现对位时tx测试压头和/或tx短路棒位置和角度的微调。
16.优选地，所述支撑板一侧设置有固定板，固定板下方设置有ccd相机，通过ccd相机和微调机构的配合实现靶标对位。
17.优选地，所述支撑板位于开口侧设置有挡块，所述挡块设置在第二滑槽的一侧，挡块内设置有螺纹孔，螺纹孔内设置有螺栓，通过拧紧螺栓顶住第二滑轨实现支撑板在移动支架上位置的固定。
18.优选地，该电测设备还包括滑动架，滑动架包括横梁、立柱，横梁的两端通过立柱固定在工作台上；所述rx短路棒通过滑套固定在横梁上；
19.所述立柱下方设置有第三滑槽，所述工作台上设置有与第三滑槽相对应的第一导轨，以实现滑动架相对工作台的移动。
20.优选地，所述固定架的支脚下方均设置有与第一导轨相对应的第四滑槽，以实现固定架相对工作台的移动；
21.所述第一导轨的两端均设置有限位块，限位块用于限定固定架两端移动的位置。
22.优选地，所述载板上方设置有等间距分布的真空吸附嘴，通过真空吸附原理吸附固定触摸屏；所述载板下方设置有载板滑槽，工作台上设置有与载板滑槽相对应的载板导轨，以实现载板相对工作台的移动。
23.本发明所获得的有益技术效果：
24.1)本发明解决了现有电测机无法满足触摸屏导电膜的测试要求或者测试效率低的问题，通过采用多段可移动的测试压头和短路棒，能够实现不同型号触摸屏导电膜的电测试，大大提高测试效率。
25.2)本发明中每个测试压头和短路棒均可以实现横向和纵向的调整，实现不同型号触摸屏导电膜测试需求的切换；固定架采用矩形支架结构，移动过程中不会出现倾斜或晃动，整体结构稳定性高；测试压头能够通过微调机构实现位置和角度的调节，缩短靶标对位时间，从而提高测试效率。
26.3)本发明中tx测试压头、tx短路棒、rx测试压头、rx短路棒的数量可以为1个或1个以上，以满足现有多段测试位触摸屏的电测需求，大大提高电测设备的适用性；载板通过真空吸附原理吸附固定触控膜，载板带触控膜通过载板导轨进入测试区，可以实现工作台上放料区和测试区的分离，便于自动上下料。
27.上述说明仅是本技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本技术的技术手段，从而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本技术的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下以本技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
28.根据下文结合附图对本技术具体实施例的详细描述，本领域技术人员将会更加明了本技术的上述及其他目的、优点和特征。
附图说明
29.为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在所有附图中，类似的元件或部分一般由类似的附图标记标识。附图中，各元件或部分并不一定按照实际的比例绘制。
30.图1是现有技术中tx触控膜和rx触控膜的结构示意图；
31.图2是本公开一种实施例中触摸屏导电膜接触式电测设备的结构示意图1；
32.图3是本公开一种实施例中触摸屏导电膜接触式电测设备的结构示意图2；
33.图4是附图2的俯视图；
34.图5是附图2的右视图；
35.图6是本公开一种实施例中安装架的结构示意图；
36.图7是本公开一种实施例中滑套、第二气缸、第二连接板的连接结构示意图。
37.在以上附图中：100、工作台；110、第一导轨；120、限位块；130、载板导轨；140、限位板；200、载板；210、载板滑槽；300、固定架；310、滑动轨道；320、第一移动支架；330、第二移动支架；331、第二滑轨；400、安装架；410、支撑板；420、第一气缸；430、第二滑槽；440、第一连接板；450、微调机构；460、固定板；470、ccd相机；480、挡块；490、螺栓；510、tx测试压头；520、tx短路棒；610、rx测试压头；620、rx短路棒；710、横梁；720、立柱；730、滑套；740、第二气缸；750、第二连接板。
具体实施方式
38.为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。在下面的描述中，提供诸如具体的配置和组件的特定细节仅仅是为了帮助全面理解本技术的实施例。因此，本领域技术人员应该清楚，可以对这里描述的实施例进行各种改变和修改而不脱离本技术的范围和精神。另外，为了清楚和简洁，实施例中省略了对已知功能和构造的描述。
39.应该理解，说明书通篇中提到的“一个实施例”或“本实施例”意味着与实施例有关的特定特征、结构或特性包括在本技术的至少一个实施例中。因此，在整个说明书各处出现的“一个实施例”或“本实施例”未必一定指相同的实施例。此外，这些特定的特征、结构或特性可以任意适合的方式结合在一个或多个实施例中。
40.此外，本技术可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身并不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。
41.本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，a和/或b，可以表示：单独存在a，单独存在b，同时存在a和b三种情况，本文中术语“/和”是描述另一种关联对象关系，表示可以存在两种关系，例如，a/和b，可以表示：单独存在a，单独存在a和b两种情况，另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”关系。
42.本文中术语“至少一种”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三
种关系，例如，a和b的至少一种，可以表示：单独存在a，同时存在a和b，单独存在b这三种情况。
43.还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含。
44.如附图2-5所示，一种触摸屏导电膜接触式电测设备，包括工作台100、用于放置触摸屏的载板200、设置在工作台100上方的固定架300、设置在固定架300上的tx测试组件和rx测试组件。
45.所述tx测试组件和rx测试组件相对工作台100能够同时实现横向和纵向的移动，进而实现与触摸屏导电膜测试位的对位。
46.所述tx测试组件包括tx测试压头510和tx短路棒520，所述rx测试组件包括rx测试压头610和rx短路棒620。
47.所述载板200上方设置有等间距分布的真空吸附嘴，通过真空吸附原理吸附固定触摸屏；所述载板200下方设置有载板滑槽210，工作台100上设置有与载板滑槽210相对应的载板导轨130，以实现载板200相对工作台100的移动，方便实现工作台100上放料区和测试区的分离，便于自动上下料，大大提高测试效率。
48.进一步的，所述工作台100的两侧均设置有限位板140，限位板140用于限定载板200移动的位置，有效防止载板200脱离工作台100。
49.所述固定架300上设置有移动支架，移动支架相对固定架300能够滑动；所述tx测试组件设置在移动支架上，tx测试组件相对移动支架能够滑动。
50.所述固定架300一侧设置有滑动轨道310，所述rx测试压头610设置在滑动轨道310上，且相对滑动轨道310能够移动。
51.进一步的，所述移动支架的两端均设置有第一滑槽，所述固定架300上设置有与第一滑槽相对应的第一滑轨，以实现移动支架相对固定架300的滑动。
52.所述移动支架包括第一移动支架320和第二移动支架330，所述tx测试压头510、tx短路棒520通过安装架400分别固定在第一移动支架320和第二移动支架330上。
53.进一步的，所述rx测试压头610通过安装架400固定在滑动轨道310上，安装架400能够相对滑动轨道310移动，进而实现rx测试压头610位置的调整。
54.进一步的，所述固定架300为可拆卸结构，方便进行第一移动支架320和第二移动支架330的安装，调整安装架400的数量，进而调整tx测试压头510、tx短路棒520的安装数量，提高电测试效率。
55.在一个实施例中，如附图6所示，所述安装架400包括支撑板410、第一气缸420，所述第一气缸420固定在支撑板410下方，第一气缸420能够带动tx测试压头510和/或tx短路棒520实现上下移动。
56.所述支撑板410上设置有第二滑槽430，所述移动支架上设置有与第二滑槽430相对应的第二滑轨331，以实现安装架400相对移动支架的滑动。
57.进一步的，所述第一气缸420下方设置有第一连接板440，第一连接板440下方设置有微调机构450，所述tx测试压头510和/或tx短路棒520安装在微调机构450下方，以实现对
位时tx测试压头510和/或tx短路棒520位置和角度的微调，即xyθ的微调，从而实现靶标对位。
58.进一步的，所述支撑板410一侧设置有固定板460，固定板460下方设置有ccd相机470，通过ccd相机470和微调机构450的配合实现靶标对位。
59.可替换的，所述载板200的下方设置有微调机构450，方便实现靶标对位。
60.在一个实施例中，所述支撑板410位于开口侧设置有挡块480，所述挡块480设置在第二滑槽430的一侧，挡块480内设置有螺纹孔，螺纹孔内设置有螺栓490，通过拧紧螺栓490顶住第二滑轨331实现支撑板410在移动支架上位置的固定。
61.该电测设备还包括滑动架，滑动架包括横梁710、立柱720，横梁710的两端通过立柱720固定在工作台100上；所述rx短路棒620通过滑套730固定在横梁710上。
62.所述立柱720下方设置有第三滑槽，所述工作台100上设置有与第三滑槽相对应的第一导轨110，以实现滑动架相对工作台100的移动。
63.进一步的，所述tx测试压头510、tx短路棒520、rx测试压头610及rx短路棒620的数量可以为任意数量，根据触摸屏导电膜的测试需求进行调整。
64.进一步的，如附图7所示，所述滑套730套设在横梁710上，且能够相对横梁710移动；滑套730下方设置有第二气缸740，第二气缸740下方设置有第二连接板750，所述rx短路棒620固定在第二连接板750上。
65.进一步的，所述固定架300的支脚下方均设置有与第一导轨110相对应的第四滑槽，以实现固定架300相对工作台100的移动，方便实现固定架300和工作台100相对位置的调整。
66.所述第一导轨110的两端均设置有限位块120，限位块120用于限定固定架300两端移动的位置。
67.上述触摸屏导电膜接触式电测设备的工作原理：载板200接收并吸附触控膜，载板200带触控膜通过载板导轨130进入测试区。
68.当测试tx触控膜：
69.初始调整阶段：根据触摸屏型号(例如附图1中的产品)，滑动第一移动支架320和tx测试压头510，从而使得两个tx测试压头510对应tx触控膜t01和t02测试位，滑动第二移动支架330和tx短路棒520，从而使得两个tx短路棒520移动到tx触控膜t02和t03测试位。
70.自动测试阶段：两个tx测试压头510下压，测试测试位相邻pin的电阻，以测试tx通道的短路，测试结束，两个tx短路棒520下压，测试测试位每个pin与短路棒的电阻，以测试tx通道的断路。
71.其中，tx的两个短路棒可以也设置成tx测试压头510，直接一次性测试测试位的相邻pin电阻和每个pin与短路棒的电阻。
72.当测试rx触控膜：
73.初始调整阶段，根据型号(例如附图1中的产品)，将三个rx测试压头610移动到rx触控膜r01、r02和r03测试位，并将rx短路棒620移动到测试位的对侧。
74.自动测试阶段，三个rx测试压头610下压，测试测试位相邻pin的电阻，以测试rx通道的短路，测试结束，rx短路棒620下压，测试测试位每个pin与短路棒的电阻，以测试rx通道的断路。
75.需要说明的是，本实施例中tx测试压头510、tx短路棒520、rx测试压头610、rx短路棒620的数量可以为任意数量，即可以为1个或1个以上，本发明技术方案所保护的范围并不限定于本实施例中的数量。
76.以上所述仅为本发明的优选实施例而已，其并非因此限制本发明的保护范围，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，通过常规的替代或者能够实现相同的功能在不脱离本发明的原理和精神的情况下对这些实施例进行变化、修改、替换、整合和参数变更均落入本发明的保护范围内。