一种集成电路芯片生产加工处理系统的制作方法

1.本发明涉及芯片加工领域，具体涉及一种集成电路芯片生产加工处理系统。


背景技术：

2.集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步；集成电路芯片是包括一硅基板、至少一电路、一固定封环、一接地环及至少一防护环的电子元件，电路形成于硅基板上，电路具有至少一输出/输入垫。固定封环形成于硅基板上，并围绕电路及输出/输入垫。接地环形成于硅基板及输出/输入垫之间，并与固定封环电连接。防护环设置于硅基板之上，并围绕输出/输入垫，用以与固定封环电连接，在进行集成电路芯片生产加工过程中需要使用到集成电路芯片生产加工处理系统来进行集成电路芯片的生产加工，在集成电路芯片生产加工过程中，厂房内非工作人员进出过多容易造成芯片生产数据泄露，整个生成过程的安全状态不够好。
3.现有集成电路芯片生产加工处理系统，在使用过程中，安全性不够高，产品质量不够稳定，管理人员不能及时的解除风险排除故障，给集成电路芯片生产加工处理系统的使用带来了一定的影响，因此，提出一种集成电路芯片生产加工处理系统。


技术实现要素：

4.本技术实施例通过提供一种集成电路芯片生产加工处理系统，解决了现有集成电路芯片生产加工处理系统，在使用过程中，安全性不够高，产品质量不够稳定，管理人员不能及时的解除风险排除故障，给集成电路芯片生产加工处理系统的使用带来了一定的影响的技术问题，提升安全性和及时排除意外保证产品质量的目的，提供了一种集成电路芯片生产加工处理系统。
5.本发明是通过以下技术方案解决上述技术问题的，本发明包括人员采集模块、人员验证模块、人员数据库、环境信息采集模块、产品信息采集模块、数据导入模块、设备信息采集模块、数据接收模块、数据处理模块、产品评估模块、安全评估模块、总控模块与信息发送模块；所述人员采集模块用于采集进入到芯片生产加工厂房内的实时人员身份信息，所述人员数据库中预存了允许进入厂房人员的预存身份信息，所述人员验证模块接收人员身份信息，并从人员数据库中提取出预存身份信息进行比对处理生成人员比对信息；所述环境信息采集用于采集芯片生产加工厂房内的实时温度信息、湿度信息与空气信息；所述产品信息采集模块用于采集产品产量信息，产品影像信息与产品重量信息；
所述数据导入模块用于用户导入预设时长内的预估产量信息与产品质量信息；所述设备信息采集模块用于采集生产设备的运行时长信息与检修信息；所述数据接收模块用于接收人员比对信息、实时温度信息、湿度信息、空气信息、产品影像信息、产品重量信息、预估产量信息、产品质量信息、生产设备的运行时长信息与检修信息，并将人员比对信息、实时温度信息、湿度信息、空气信息、产品影像信息、产品重量信息、预估产量信息、产品质量信息、生产设备的运行时长信息与检修信息发送到数据处理模块；所述数据处理模块对人员比对信息、实时温度信息、湿度信息、空气信息、产品影像信息、产品重量信息、预估产量信息、产品质量信息、生产设备的运行时长信息与检修信息进行处理生成人员评估信息、厂房环境信息、产品比对信息与设备运行信息；所述人员评估信息包括出成功占比与失败占比，所述厂房环境信息包括环境异常信息与环境正常信息，所述产品比对信息包括重叠度、重量差记、单位产量、预估单位产量，所述设备运行信息包括检修比；所述人员评估信息、厂房环境信息与设备运行信息被发送到安全评估模块进行生产安全评估，生成生产安全评分信息；所述产品比对信息被发送到产品评估模块进行产品质量评估生成产品质量评估分与产量异常信息；所述生产安全评分信息、产品质量评估分与产量异常信息生成后总控模块控制信息发送模块将生产安全评分信息、产品质量评估分与产量异常信息发送到预设接收终端。
6.进一步在于,所述人员验证模块进行人员验证的具体过程如下：步骤一：提取出实时人员身份信息，进行实时人员身份信息先进行身份卡的识别，当被验证人员携带身份卡时，将其身份卡内的身份信息进行上传；步骤二：当身份卡内的身份信息与人员数据库中的预存人员信息中任意一个匹配成功时即验证通过，反之则验证失败；步骤三：当被验证人员未携带身份卡时，即采集其实时人脸信息，将其实时人脸信息与数据库中的预存人员信息中的人脸信息进行匹配处理，当出现任意一个匹配成功时即验证通过，反之则验证失败；步骤四：记录下验证成功次数、验证失败次数和总验证次数，验证成功次数、验证失败次数和总验证次数即为人员比对信息。
7.进一步在于,所述数据处理模块处理出人员评估信息的具体处理过程如下：s1：提取出采集到的人员比对信息从中提取出验证成功次数、验证失败次数和总验证次数，将验证成功次数标记为ka，将验证失败次数标记为kb，将总验证次数标记为kk；s2：计算出验证成功次数ka与总验证次数kk之间的比值得到成功占比kka，再计算出验证失败次数kb与总验证次数kk之间的比值得到失败占比kkb；s3：再计算出成功占比kka与失败占比kkb之间的比值kab，即人员评估信息。
8.进一步在于,所述厂房环境信息包括环境异常信息与环境正常信息，所述厂房环境信息的具体处理过程如下：提取出采集到的实时温度信息、湿度信息与空气信息，当实时温度信息、湿度信息均在正常值范围内，且空气信息中有害气体浓度小于预设值时即生成厂房环境信息，此时厂房环境信息为环境正常信息，当实时温度信息、湿度信息中存在任意
一个不在正常值范围内，或者空气信息中有害气体浓度超过预设值时即生成厂房环境信息，此时厂房环境信息为环境异常信息。
9.进一步在于,所述设备运行信息的具体处理过程如下：提取出采集到的生产设备的运行时长信息与检修信息，将设备运行时长信息标记为p，检修信息为预设时长内的检修次数，将检修信息标记为q，计算出检修信息q与设备运行时长信息p之间的比值得到检修比qp，即设备运行信息。
10.进一步在于,所述产品比对信息的具体处理过程如下：步骤一：提取出采集到的产品影像信息与产品重量信息，产品影像信息为从产品正上方向下拍摄的产品照片；步骤二：再提取出用户导入的预设产品信息，预设产品信息包括预设产品影像信息与预设产重量信息；步骤三：提取出产品影像信息与预设产品影像信息，将其进行重叠比对，得到重叠度；步骤四：再提取出产品重量信息与预设产品重量信息，计算出产品重量信息与预设产品重量信息之间的差值得到重量差；步骤五：设备运行预设时长后获取到实时产量信息，将其运行时长标记为t，将实时产量信息标记为g；步骤六：提取出用户上传的预设时长内的预估产量信息将其标记为w，计算出实时产量信息g与运行时长t之间的比值得到实时单位产量gt
比
，再计算出预估产量信息w与运行时长t之间的比值得到预估单位产量wt
比
；步骤七：重叠度、重量差记、单位产量gt
比
、预估单位产量wt
比
为产品比对信息。
11.进一步在于,所述生产安全评分信息的具体处理过程如下：步骤（1）：提取出获取到的人员评估信息、厂房环境信息与设备运行信息；步骤（2）：从人员评估信息中提取出成功占比与失败占比，处理出人员评估分m1，当成功占比大于失败占比时，人员评估分m1大于预设值a1，当成功占比等于失败占比时，人员评估分m1大于预设值a2，当成功占比小于失败占比时，人员评估分m1大于预设值a3，a1＞a2＞a3；步骤（3）：从厂房环境信息中提取出环境异常信息与环境正常信息，生成环境评分m2，当出现环境正常信息时，环境评分m2为b1，当出现环境异常信息时，环境评分m2为b2，b1＞b2；步骤（4）：从设备运行信息中提取出检修比，生成设备运行分m3，当检修比大于预设值时，设备运行分m3为c1，当检修比大于预设值时在预设值范围内时设备运行分m3为c2，当检修比小于预设值时，设备运行分m3为c3，c1＞c2＞c3；步骤（5）：为了突出厂房内人员身份变动的到的重要性现在赋予人员评估分m1一个修正值z1，赋予环境评分m2一个修正值z2，赋予设备运行分m3一个修正值z3，其中z1＞z3＞z2，z1 z3 z2=1；步骤（6）：通过公式m1*z1 m2*z2 m3*z3=mz
和
，即得到生成安全评分信息mz
和
。
12.进一步在于,所述产品质量评估分与产量异常信息的具体处理过程如下：步骤1）：提取出产品比对信息，从产品比对信息中提取出重叠度、重量差记、单位
产量、预估单位产量；步骤2）：将重叠度提取出，生成重叠评分u，当重叠度大于预设值时u即为d1，当重叠度小于预设值时u即为d2，d1＞0＞d2；步骤3）：将重量差提取出，生成重量差分y，当重量差大于或者小于预设值时，重量差分y为e1，当重量差为0时，重量差分y为e1为e2，e2＞0＞e1；步骤4）：赋予重量差分y一个修正值l1，赋予重叠评分u一个修正值l2，l1＞l2，l1 l2=1；步骤5）：通过公式y*l1 u*l2=yu，即产品质量评估分；步骤6）：计算出单位产量与预估单位产量之间的差值得到产量差，当产量差大于预设值或者小于预设值时即生成产量异常信息。
13.本发明相比现有技术具有以下优点：1、该集成电路芯片生产加工处理系统，通过在生成过程中，实时监测厂房内人员信息、环境信息与设备运行信息来及时发出不同的安全评级，有效的解决的现有技术中加工厂房内非工作人员进入过多、环境异常和设备异常导致的芯片数据泄露和环境异常设备异常导致的加工事故发生的问题，进而更好的提高了集成电路芯片生产加工厂房的安全，通过及时的发出评分信息，让管理人员能够更加快速的进行集成电路芯片生产加工的管控从而减少意外发生，提升了该系统安全性，让该系统更加值得推广使用；2、同时通过生成产品质量评分，来了解到生成出的芯片的质量，有效的解决现有技术中无法及时的发现产品质量状况，导致的产出产品质量差不达标的问题，让管理人员通过产品质量评分及时的了解到产品质量，及时的进行设备维护和设备检修保证产出产品的质量，更进一步的保证的该系统产出产品的品质；3、并且通过该系统的产量进行实时监测，在产量异常时及时的发出提示个信息，让管理人员及时在产量异常过多或异常过少时，及时的进行检修维护，排除问题，进而让该系统能够更得到更加及时的维护处理，在保证产品质量的同时，也保证了产量，让该系统更加值得推广使用。
附图说明
14.图1是本实施例中的系统功能框图；图2是本实施例中的身份验证流程图；图3是本实施例中的产品对比信息获取流程图。
具体实施方式
15.下面对本发明的实施例作详细说明，本实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本发明的保护范围不限于下述的实施例。
16.本技术实施例通过提供一种集成电路芯片生产加工处理系统，解决了现有技术中安全性不够好，质量不稳定的问题，实现了提升安全性和及时排除意外保证产品质量的技术效果。
17.如图1～3所示，本实施例提供一种技术方案：一种集成电路芯片生产加工处理系
统，包括人员采集模块、人员验证模块、人员数据库、环境信息采集模块、产品信息采集模块、数据导入模块、设备信息采集模块、数据接收模块、数据处理模块、产品评估模块、安全评估模块、总控模块与信息发送模块；所述人员采集模块用于采集进入到芯片生产加工厂房内的实时人员身份信息，所述人员数据库中预存了允许进入厂房人员的预存身份信息，所述人员验证模块接收人员身份信息，并从人员数据库中提取出预存身份信息进行比对处理生成人员比对信息，对进入厂房内人员进行验证，了解到各个人员的身份，在非工作人员进入过多时，也发出警示信息，警示管理人员，从而减少非工作人员进入到厂房内的状况发生，减少生产数据泄露的状况发生；所述环境信息采集用于采集芯片生产加工厂房内的实时温度信息、湿度信息与空气信息，采集芯片生产加工厂房内环境信息用于后续对厂房内安全进行评级；所述产品信息采集模块用于采集产品产量信息，产品影像信息与产品重量信息，采集产品信息用于后续对产品质量进行评估和对产量信息进行分析处理；所述数据导入模块用于用户导入预设时长内的预估产量信息与产品质量信息，用户根据实际生成需求导入预估产量信息与产品质量信息；所述设备信息采集模块用于采集生产设备的运行时长信息与检修信息，采集设备运行时长信息与检修信用于后续进行生产安全评估；所述数据接收模块用于接收人员比对信息、实时温度信息、湿度信息、空气信息、产品影像信息、产品重量信息、预估产量信息、产品质量信息、生产设备的运行时长信息与检修信息，并将人员比对信息、实时温度信息、湿度信息、空气信息、产品影像信息、产品重量信息、预估产量信息、产品质量信息、生产设备的运行时长信息与检修信息发送到数据处理模块；所述数据处理模块对人员比对信息、实时温度信息、湿度信息、空气信息、产品影像信息、产品重量信息、预估产量信息、产品质量信息、生产设备的运行时长信息与检修信息进行处理生成人员评估信息、厂房环境信息、产品比对信息与设备运行信息；所述人员评估信息包括出成功占比与失败占比，所述厂房环境信息包括环境异常信息与环境正常信息，所述产品比对信息包括重叠度、重量差记、单位产量、预估单位产量，所述设备运行信息包括检修比；所述人员评估信息、厂房环境信息与设备运行信息被发送到安全评估模块进行生产安全评估，生成生产安全评分信息；所述产品比对信息被发送到产品评估模块进行产品质量评估生成产品质量评估分与产量异常信息；所述生产安全评分信息、产品质量评估分与产量异常信息生成后总控模块控制信息发送模块将生产安全评分信息、产品质量评估分与产量异常信息发送到预设接收终端。
18.所述人员验证模块进行人员验证的具体过程如下：步骤一：提取出实时人员身份信息，进行实时人员身份信息先进行身份卡的识别，当被验证人员携带身份卡时，将其身份卡内的身份信息进行上传；步骤二：当身份卡内的身份信息与人员数据库中的预存人员信息中任意一个匹配成功时即验证通过，反之则验证失败；
步骤三：当被验证人员未携带身份卡时，即采集其实时人脸信息，将其实时人脸信息与数据库中的预存人员信息中的人脸信息进行匹配处理，当出现任意一个匹配成功时即验证通过，反之则验证失败；步骤四：记录下验证成功次数、验证失败次数和总验证次数，验证成功次数、验证失败次数和总验证次数即为人员比对信息；通过上述过程能够更加准确合理的进行人员身份验证，大大提高验证准确性。
19.所述数据处理模块处理出人员评估信息的具体处理过程如下：s1：提取出采集到的人员比对信息从中提取出验证成功次数、验证失败次数和总验证次数，将验证成功次数标记为ka，将验证失败次数标记为kb，将总验证次数标记为kk；s2：计算出验证成功次数ka与总验证次数kk之间的比值得到成功占比kka，再计算出验证失败次数kb与总验证次数kk之间的比值得到失败占比kkb；s3：再计算出成功占比kka与失败占比kkb之间的比值kab，即人员评估信息；通过上述过程获取到人员评估信息方便后续进行生成安全评估。
20.所述厂房环境信息包括环境异常信息与环境正常信息，所述厂房环境信息的具体处理过程如下：提取出采集到的实时温度信息、湿度信息与空气信息，当实时温度信息、湿度信息均在正常值范围内，且空气信息中有害气体浓度小于预设值时即生成厂房环境信息，此时厂房环境信息为环境正常信息，当实时温度信息、湿度信息中存在任意一个不在正常值范围内，或者空气信息中有害气体浓度超过预设值时即生成厂房环境信息，此时厂房环境信息为环境异常信息。
21.所述设备运行信息的具体处理过程如下：提取出采集到的生产设备的运行时长信息与检修信息，将设备运行时长信息标记为p，检修信息为预设时长内的检修次数，将检修信息标记为q，计算出检修信息q与设备运行时长信息p之间的比值得到检修比qp，即设备运行信息；通过上述过程获取到了更加准确的设备运行信息，以便于后续进行生产安全评分信息。
22.所述产品比对信息的具体处理过程如下：步骤一：提取出采集到的产品影像信息与产品重量信息，产品影像信息为从产品正上方向下拍摄的产品照片；步骤二：再提取出用户导入的预设产品信息，预设产品信息包括预设产品影像信息与预设产重量信息；步骤三：提取出产品影像信息与预设产品影像信息，将其进行重叠比对，得到重叠度；步骤四：再提取出产品重量信息与预设产品重量信息，计算出产品重量信息与预设产品重量信息之间的差值得到重量差；步骤五：设备运行预设时长后获取到实时产量信息，将其运行时长标记为t，将实时产量信息标记为g；步骤六：提取出用户上传的预设时长内的预估产量信息将其标记为w，计算出实时产量信息g与运行时长t之间的比值得到实时单位产量gt
比
，再计算出预估产量信息w与运行时长t之间的比值得到预估单位产量wt
比
；
步骤七：重叠度、重量差记、单位产量gt
比
、预估单位产量wt
比
为产品比对信息；通过上述过程获取到更加准确的产品比对信息，方便后续对产品质量进行评估。
23.所述生产安全评分信息的具体处理过程如下：步骤（1）：提取出获取到的人员评估信息、厂房环境信息与设备运行信息；步骤（2）：从人员评估信息中提取出成功占比与失败占比，处理出人员评估分m1，当成功占比大于失败占比时，人员评估分m1大于预设值a1，当成功占比等于失败占比时，人员评估分m1大于预设值a2，当成功占比小于失败占比时，人员评估分m1大于预设值a3，a1＞a2＞a3；步骤（3）：从厂房环境信息中提取出环境异常信息与环境正常信息，生成环境评分m2，当出现环境正常信息时，环境评分m2为b1，当出现环境异常信息时，环境评分m2为b2，b1＞b2；步骤（4）：从设备运行信息中提取出检修比，生成设备运行分m3，当检修比大于预设值时，设备运行分m3为c1，当检修比大于预设值时在预设值范围内时设备运行分m3为c2，当检修比小于预设值时，设备运行分m3为c3，c1＞c2＞c3；步骤（5）：为了突出厂房内人员身份变动的到的重要性现在赋予人员评估分m1一个修正值z1，赋予环境评分m2一个修正值z2，赋予设备运行分m3一个修正值z3，其中z1＞z3＞z2，z1 z3 z2=1；步骤（6）：通过公式m1*z1 m2*z2 m3*z3=mz
和
，即得到生成安全评分信息mz
和
；通过在生成过程中，实时监测厂房内人员信息、环境信息与设备运行信息来及时发出不同的安全评级，有效的解决的现有技术中加工厂房内非工作人员进入过多、环境异常和设备异常导致的芯片数据泄露和环境异常设备异常导致的加工事故发生的问题，进而更好的提高了集成电路芯片生产加工厂房的安全，通过及时的发出评分信息，让管理人员能够更加快速的进行集成电路芯片生产加工的管控从而减少意外发生，让该系统更加值得推广使用。
24.所述产品质量评估分与产量异常信息的具体处理过程如下：步骤1）：提取出产品比对信息，从产品比对信息中提取出重叠度、重量差记、单位产量、预估单位产量；步骤2）：将重叠度提取出，生成重叠评分u，当重叠度大于预设值时u即为d1，当重叠度小于预设值时u即为d2，d1＞0＞d2；步骤3）：将重量差提取出，生成重量差分y，当重量差大于或者小于预设值时，重量差分y为e1，当重量差为0时，重量差分y为e1为e2，e2＞0＞e1；步骤4）：赋予重量差分y一个修正值l1，赋予重叠评分u一个修正值l2，l1＞l2，l1 l2=1；步骤5）：通过公式y*l1 u*l2=yu，即产品质量评估分；步骤6）：计算出单位产量与预估单位产量之间的差值得到产量差，当产量差大于预设值或者小于预设值时即生成产量异常信息；通过该系统的产量进行实时监测，在产量异常时及时的发出提示个信息，让管理人员及时在产量异常过多或异常过少时，及时的进行检修维护，排除问题，进而让该系统能够更得到更加及时的维护处理，在保证产品质量的同时，也保证了产量，让该系统更加值得
推广使用。
25.综上，本发明在使用时，芯片生产加工厂房中人员采集模块采集进入到芯片生产加工厂房内的实时人员身份信息，人员数据库中预存了允许进入厂房人员的预存身份信息，人员验证模块接收人员身份信息，并从人员数据库中提取出预存身份信息进行比对处理生成人员比对信息，对进入厂房内人员进行验证，了解到各个人员的身份，在非工作人员进入过多时，也发出警示信息，警示管理人员，从而减少非工作人员进入到厂房内的状况发生，减少生产数据泄露的状况发生，环境信息采集采集芯片生产加工厂房内的实时温度信息、湿度信息与空气信息，采集芯片生产加工厂房内环境信息后续对厂房内安全进行评级，产品信息采集模块采集产品产量信息，产品影像信息与产品重量信息，采集产品信息后续对产品质量进行评估和对产量信息进行分析处理，数据导入模块用户导入预设时长内的预估产量信息与产品质量信息，用户根据实际生成需求导入预估产量信息与产品质量信息，设备信息采集模块采集生产设备的运行时长信息与检修信息，采集设备运行时长信息与检修信后续进行生产安全评估，数据接收模块进行数据接收并将接收到的数据发送到数据处理模块进行处理，数据处理模块处理出人员评估信息、厂房环境信息、产品比对信息与设备运行信息，人员评估信息、厂房环境信息与设备运行信息被发送到安全评估模块进行生产安全评估，生成生产安全评分信息，产品比对信息被发送到产品评估模块进行产品质量评估生成产品质量评估分与产量异常信息，生产安全评分信息、产品质量评估分与产量异常信息生成后总控模块控制信息发送模块将生产安全评分信息、产品质量评估分与产量异常信息发送到预设接收终端。
26.此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
27.在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
28.尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。