一种用于LED芯片检测的夹持固定装置的制作方法

一种用于led芯片检测的夹持固定装置
技术领域
1.本实用新型涉及芯片检测技术领域，具体为一种用于led芯片检测的夹持固定装置。


背景技术：

2.发光二极管，简称为led，是一种常用的发光器件，通过电子与空穴复合释放能量发光，它在照明领域应用广泛，led芯片主要是用来让led连接电路。
3.led芯片检测时，需要对芯片的硬度进行检测，但是现已有的检测装置在对芯片硬度检测时，往往是将芯片直接放到检测台上直接检测，导致芯片在检测时发生移动，不利于芯片的检测。
4.因此，亟需一种用于led芯片检测的夹持固定装置，来解决led芯片在检测时移动的问题。


技术实现要素：

5.(一)解决的技术问题
6.针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种用于led芯片检测的夹持固定装置，具备方便固定检测芯片的优点，解决了led芯片在检测时移动的问题。
7.(二)技术方案
8.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于led芯片检测的夹持固定装置，包括支撑台，所述支撑台顶部固定连接有检测盒，所述检测盒内部设置有夹持机构，所述支撑台顶部固定连接有支撑板，所述支撑板正面固定连接有显微镜本体，所述支撑板正面固定连接有保护箱，所述保护箱内部设置有检测机构。
9.支撑台主要是支撑顶部的结构，检测盒主要是通过内部的结构对芯片进行固定，支撑板主要支撑显微镜本体和显微镜本体。
10.所述夹持机构包括检测盒内壁活动连接的第一转动杆，所述第一转动杆螺纹连接有连接套，所述连接套一端固定连接有伸缩杆，所述伸缩杆一侧固定连接有第一固定板，所述第一固定板内表面活动连接有第二固定板。
11.检测人员将芯片放到支撑块上后，检测人员通过转动第一转动杆，第一转动杆转动使得连接套带动伸缩杆移动，当连接套向靠近分隔块的方向移动时，伸缩杆带动分隔块卡紧芯片，通过检测人员可以转动螺纹杆，螺纹杆带动第二固定板进行上下移动，使得第二固定板卡在芯片的顶部，通过夹持机构，第一固定板的来回移动，使得对称的两组夹持结构，可以固定长度不同的芯片，通过第二固定板的上下移动，可以夹持不同厚度的芯片，使得检测装置可以对不同型号的芯片进行检测
12.优选的，所述检测盒内底壁固定连接有支撑块，所述第一转动杆外表面固定连接有分隔块。
13.支撑块主要是放置芯片，分隔块主要是分隔分隔块两侧的固定结构，分隔块两侧
第一转动杆上的螺纹结构相反，便于带动两组对称的固定结构。
14.优选的，所述第一转动杆外表面活动连接有固定套，所述固定套一侧与检测盒内表面固定连接。
15.优选的，所述伸缩杆插接有支撑杆，所述支撑杆一侧与检测盒内表面固定连接，所述第二固定板内表面活动连接有螺纹杆，所述螺纹杆与第一固定板螺纹连接。
16.优选的，所述检测机构包括保护箱内顶壁固定连接有电机，所述电机底部固定连接有第二转动杆。
17.优选的，所述第二转动杆贯穿有分隔板，所述分隔板外侧与保护箱内表面固定连接，所述第二转动杆螺纹连接有升降板，所述升降板正面固定连接有检测杆，所述检测杆底部固定连接有检测头。
18.电机带动第二转动杆进行转动，第二转动杆与升降板螺纹连接，第二转动杆在转动时升降板能够升降，升降板带动检测杆进行升降，当检测杆向下移动时，检测杆带动检测头按压芯片，对芯片的硬度进行检测，检测头由较坚硬的材料组成，分隔板主要是支撑电机和第二转动杆，分隔板底部设置有两组杆件，使得升降板不会自转。
19.优选的，所述检测杆一侧固定连接有连接板，所述连接板背面固定连接有指示杆，所述指示杆外表面固定连接有固定杆，所述固定杆贯穿有固定块。
20.与现有技术相比，本实用新型提供了一种用于led芯片检测的夹持固定装置，具备以下有益效果：
21.1、该用于led芯片检测的夹持固定装置，通过夹持机构，具体的是检测人员将芯片放到支撑块上后，检测人员通过转动第一转动杆，第一转动杆转动使得连接套带动伸缩杆移动，当连接套向靠近分隔块的方向移动时，伸缩杆带动分隔块卡紧芯片，通过检测人员可以转动螺纹杆，螺纹杆带动第二固定板进行上下移动，使得第二固定板卡在芯片的顶部，通过夹持机构，第一固定板的来回移动，使得对称的两组夹持结构，可以固定长度不同的芯片，通过第二固定板的上下移动，可以夹持不同厚度的芯片，使得检测装置可以对不同型号的芯片进行检测。
22.2、该用于led芯片检测的夹持固定装置，通过检测机构，具体的是检测人员通过启动电机，电机带动第二转动杆进行转动，第二转动杆与升降板螺纹连接，第二转动杆在转动时升降板能够升降，升降板带动检测杆进行升降，当检测杆向下移动时，检测杆带动检测头按压芯片，对芯片的硬度进行检测，同时可以通过显微镜本体对芯片进行观察，当通过显微镜本体观察到芯片有裂缝时，停止电机的运行，同时也可以通过指示杆观察检测杆下降的高度，可以通过高度的对比分析出芯片的硬度。
附图说明
23.图1为本实用新型检测装置整体结构示意图；
24.图2为1中a处放大图；
25.图3为本实用新型第一固定板内部结构正视图；
26.图4为本实用新型检测机构右视图；
27.图5为图1中b处放大图。
28.其中：1、支撑台；2、检测盒；211、第一转动杆；212、连接套；213、伸缩杆；214、第一
固定板；215、第二固定板；216、支撑块；217、分隔块；218、固定套；219、支撑杆；220、螺纹杆；3、支撑板；4、显微镜本体；5、保护箱；511、电机；512、第二转动杆；513、分隔板；514、升降板；515、检测杆；516、检测头；517、连接板；518、指示杆；519、固定杆；520、固定块。
具体实施方式
29.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
30.请参阅图1-5，一种用于led芯片检测的夹持固定装置，包括支撑台1，支撑台1顶部固定连接有检测盒2，检测盒2内部设置有夹持机构，支撑台1顶部固定连接有支撑板3，支撑板3正面固定连接有显微镜本体4，支撑板3正面固定连接有保护箱5，保护箱5内部设置有检测机构。
31.通过上述技术方案，支撑台1主要是支撑顶部的结构，检测盒2主要是通过内部的结构对芯片进行固定，支撑板3主要支撑显微镜本体4和显微镜本体4，显微镜本体4主要是对芯片进行观察，显微镜是由一个透镜或几个透镜的组合构成的一种光学仪器，主要用于放大微小物体成为人的肉眼所能看到的仪器，显微镜本体4内部线路结构为现已有技术，保护箱5主要是保护内部的结构。
32.具体的，夹持机构包括检测盒2内壁活动连接的第一转动杆211，第一转动杆211螺纹连接有连接套212，连接套212一端固定连接有伸缩杆213，伸缩杆213一侧固定连接有第一固定板214，第一固定板214内表面活动连接有第二固定板215。
33.通过上述技术方案，检测人员将芯片放到支撑块216上后，检测人员通过转动第一转动杆211，第一转动杆211转动使得连接套212带动伸缩杆213移动，当连接套212向靠近分隔块217的方向移动时，伸缩杆213带动分隔块217卡紧芯片，通过检测人员可以转动螺纹杆220，螺纹杆220带动第二固定板215进行上下移动，使得第二固定板215卡在芯片的顶部，通过夹持机构，第一固定板214的来回移动，使得对称的两组夹持结构，可以固定长度不同的芯片，通过第二固定板215的上下移动，可以夹持不同厚度的芯片，使得检测装置可以对不同型号的芯片进行检测。
34.具体的，检测盒2内底壁固定连接有支撑块216，第一转动杆211外表面固定连接有分隔块217。
35.通过上述技术方案，支撑块216主要是放置芯片，分隔块217主要是分隔分隔块217两侧的固定结构，分隔块217两侧第一转动杆211上的螺纹结构相反，便于带动两组对称的固定结构。
36.具体的，第一转动杆211外表面活动连接有固定套218，固定套218一侧与检测盒2内表面固定连接。
37.通过上述技术方案，固定套218主要是固定第一转动杆211，让第一转动杆211能够转动。
38.具体的，伸缩杆213插接有支撑杆219，支撑杆219一侧与检测盒2内表面固定连接，第二固定板215内表面活动连接有螺纹杆220，螺纹杆220与第一固定板214螺纹连接。
39.通过上述技术方案，支撑杆219主要是支撑伸缩杆213能够来回的滑动，螺纹杆220通过轴承与第二固定板215进行连接，螺纹杆220与第一固定板214螺纹连接，使得螺纹杆220在转动中带动第二固定板215上下移动。
40.具体的，检测机构包括保护箱5内顶壁固定连接有电机511，电机511底部固定连接有第二转动杆512。
41.通过上述技术方案，电机511内部线路结构为现已有技术，主要是带动第二转动杆512的转动。
42.具体的，第二转动杆512贯穿有分隔板513，分隔板513外侧与保护箱5内表面固定连接，第二转动杆512螺纹连接有升降板514，升降板514正面固定连接有检测杆515，检测杆515底部固定连接有检测头516。
43.通过上述技术方案，电机511带动第二转动杆512进行转动，第二转动杆512与升降板514螺纹连接，第二转动杆512在转动时升降板514能够升降，升降板514带动检测杆515进行升降，当检测杆515向下移动时，检测杆515带动检测头516按压芯片，对芯片的硬度进行检测，检测头516由较坚硬的材料组成，分隔板513主要是支撑电机511和第二转动杆512，分隔板513底部设置有两组杆件，使得升降板514不会自转。
44.具体的，检测杆515一侧固定连接有连接板517，连接板517背面固定连接有指示杆518，指示杆518外表面固定连接有固定杆519，固定杆519贯穿有固定块520。
45.通过上述技术方案，连接板517主要是连接检测杆515和指示杆518，检测杆515通过连接板517带动指示杆518进行上下的移动，使得指示杆518指示支撑板3一侧的刻度，方便确定检测装置的升降高度，可以通过高度的对比分析出芯片的硬度，固定块520主要是固定固定杆519，固定杆519与指示杆518固定连接，防止指示杆518晃动。
46.在使用时，检测人员将芯片放到支撑块216上后，检测人员通过转动第一转动杆211，第一转动杆211转动使得连接套212带动伸缩杆213移动，当连接套212向靠近分隔块217的方向移动时，伸缩杆213带动分隔块217卡紧芯片，通过检测人员可以转动螺纹杆220，螺纹杆220带动第二固定板215进行上下移动，使得第二固定板215卡在芯片的顶部，通过夹持机构，第一固定板214的来回移动，使得对称的两组夹持结构，可以固定长度不同的芯片，通过第二固定板215的上下移动，可以夹持不同厚度的芯片，使得检测装置可以对不同型号的芯片进行检测。
47.检测人员通过启动电机511，电机511带动第二转动杆512进行转动，第二转动杆512与升降板514螺纹连接，第二转动杆512在转动时升降板514能够升降，升降板514带动检测杆515进行升降，当检测杆515向下移动时，检测杆515带动检测头516按压芯片，对芯片的硬度进行检测，同时可以通过显微镜本体4对芯片进行观察，当通过显微镜本体4观察到芯片有裂缝时，停止电机511的运行，同时也可以通过指示杆518观察检测杆515下降的高度，可以通过高度的对比分析出芯片的硬度，固定块520主要是固定固定杆519，固定杆519与指示杆518固定连接，防止指示杆518晃动。
48.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。