一种NTC产品的耐久性测试系统的制作方法

一种ntc产品的耐久性测试系统
技术领域
1.本发明属于ntc测试领域，具体地涉及一种ntc产品的耐久性测试系统。


背景技术：

2.ntc(negative temperature coefficient)热敏电阻是指随温度上升电阻呈指数关系减小、具有负温度系数的热敏电阻，利用这一特性既可制成测温、温度补偿和控温组件，又可以制成功率型组件，抑制电路的浪涌电流等。
3.ntc产品测试包括型式实验和ul认证实验，ul认证实验包括耐久性测试。在进行ntc产品的耐久性测试时，测试回路中会设有负载电阻和电容，负载电阻用于模拟负载的阻抗，电容用于模拟负载的容抗。为了便于调节测试电流大小，负载电阻的阻值需可调节。现有的阻值可调节的负载电阻都是采用滑动变阻器来实现，其存在的缺点是：调节精度低，要调到所需阻值，有时候需反复来回滑动微调，调节不方便、速度慢，且安全性低。
4.此外，现有的进行ntc产品耐久性测试的测试装置都是在工作台上搭建而成的，整个测试装置线路较杂乱，测试安全性低，测试效果也容易受干扰。


技术实现要素：

5.本发明的目的在于提供一种ntc产品的耐久性测试系统用以解决上述存在的技术问题。
6.为实现上述目的，本发明采用的技术方案为：一种ntc产品的耐久性测试系统，包括电源、测试设备和电阻箱，电源、测试设备和电阻箱依次电连接构成测试回路，测试设备用于安装待测试的ntc产品而使待测试的ntc产品接入测试回路中，电阻箱内设有负载电阻单元，用于提供测试回路中的负载电阻，电阻箱上设有拨动开关，用于调节负载电阻单元的阻值大小。
7.进一步的，所述负载电阻单元包括多个子负载电阻，拨动开关的数量与子负载电阻的数量相同，多个子负载电阻分别与多个拨动开关一一串联后再并联设置。
8.进一步的，所述测试设备包括柜体，柜体设有测试腔室，测试腔室设有可打开的第一腔门，测试腔室内设有测试工装，测试工装用于固定待测试的ntc产品而使待测试的ntc产品接入测试回路中。
9.更进一步的，所述测试工装设有固定结构，固定结构包括接线端子，接线端子用于将待测试的ntc产品的引脚锁紧在测试工装上而使待测试的ntc产品接入测试回路中。
10.进一步的，所述测试回路还包括电容和泄放电阻，电容和负载电阻并联设置，泄放电阻与电容并联设置，柜体还设有第一电气腔室，第一电气腔室设有可打开的第二腔门，电容与泄放电阻可拆卸地设置在第一电气腔室内。
11.更进一步的，所述第一电气腔室内设有第一安装支架，泄放电阻可拆卸地固定在第一安装支架上而接在测试回路中，可拆卸的固定连接方式可以是螺纹连接、卡扣连接等。
12.进一步的，所述第一电气腔室内设有第二安装支架，第二安装支架设有插槽，电容
可拆卸地插设在插槽内而接在测试回路中。
13.进一步的，所述柜体内还设有第二电气腔室，第二电气腔室设有主控电路，主控电路用于控制测试回路的通断。
14.更进一步的，所述柜体还设有开门检测机构，开门检测机构用于检测第一腔门的开关状态并传输给主控电路进行测试回路的通断控制。
15.进一步的，所述电源的数量为两个，两个电源的输出电压不同。
16.本发明的有益技术效果：
17.本发明可以实现ntc产品的耐久性测试，通过拨动开关来调节负载电阻的大小，调节方便、快速，调节精度高，安全性高，且整个系统结构紧凑简洁。
附图说明
18.为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
19.图1为本发明具体实施例的结构图；
20.图2为本发明具体实施例的电阻箱的结构图；
21.图3为本发明具体实施例的测试设备的结构图；
22.图4为本发明具体实施例的测试设备的打开状态图；
23.图5为本发明具体实施例的测试工装的结构图；
24.图6为本发明具体实施例的电容的固定结构图；
25.图7为本发明具体实施例的泄放电阻的固定结构图；
26.图8为本发明具体实施例的测试回路的电路图；
27.图9为本发明具体实施例的负载电阻单元的电路图；
28.图10为本发明另一实施例的结构图。
具体实施方式
29.为进一步说明各实施例，本发明提供有附图。这些附图为本发明揭露内容的一部分，其主要用以说明实施例，并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理。配合参考这些内容，本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本发明的优点。图中的组件并未按比例绘制，而类似的组件符号通常用来表示类似的组件。
30.现结合附图和具体实施方式对本发明进一步说明。
31.如图1-9所示，一种ntc产品的耐久性测试系统，包括电源1、测试设备2和电阻箱3，电源1、测试设备2和电阻箱3依次电连接构成测试回路，测试设备2用于安装待测试的ntc产品4而使待测试的ntc产品4接入测试回路中，电阻箱3内设有负载电阻单元，用于提供测试回路中的负载电阻rload，以模拟负载的阻抗，电阻箱上设有拨动开关31，用于调节负载电阻单元的阻值大小。通过拨动开关31来调节负载电阻rload的大小，调节方便、快速，调节精度高，且安全性高。
32.具体的，负载电阻单元包括多个子负载电阻，拨动开关31的数量与子负载电阻的
数量相同，多个子负载电阻分别与多个拨动开关31一一串联后再并联设置，但并不限于此。通过拨动不同的拨动开关，将不同的子负载电阻接入测试回路中，从而调节负载电阻rload的电阻大小，进而调节测试回路中的电流大小。子负载电阻和拨动开关31的数量越多，可调节的测试回路的电流档位越多，精度可以做得越高。
33.图7示出了子负载电阻和拨动开关31的数量为8个的电路结构图，8个子负载电阻分别为rload1-rload8，8个拨动开关31分别为k1-k8，拨动开关k1-k8可以单独使用形成8个档位电流调节，也可以组合使用，形成更多电流档位调节。当然，在一些实施例中，子负载电阻和拨动开关31的数量也可少于8个，也可以多于8个，具体根据实际需要进行设定。
34.多个子负载电阻的阻值可以相同，也可以不同，具体阻值可以根据实际情况进行选择。
35.本具体实施例中，电阻箱3为长方体结构，拨动开关31设置在电阻箱3的前侧面的面板上，结构紧凑，操作方便，但并不限于此。
36.本具体实施例中，测试设备2包括柜体21，柜体21设有测试腔室22，测试腔室22设有可打开的第一腔门221，测试腔室22内设有测试工装25，测试工装25用于固定待测试的ntc产品4而使待测试的ntc产品4接入测试回路中。
37.通过设置测试腔室22，且测试腔室22设置可打开的第一腔门221，既便于拆装待测试的ntc产品4，又可以使待测试的ntc产品4处于封闭空间内，不易受外界环境干扰，测试效果好。
38.本具体实施例中，柜体21为长方体结构，使得结构合理紧凑，但并不限于此，在一些实施例中，柜体21的结构可以根据实际情况进行设置。
39.本具体实施例中，测试腔室22设置在柜体21的右上部，结构更合理，使用更便捷，但并不限于此，在一些实施例中，测试腔室22也可以设置在柜体21的其它位置。
40.本具体实施例中，测试工装25设有固定结构，固定结构包括可锁紧的接线端子251，接线端子251用于将待测试的ntc产品4的引脚锁紧在测试工装25上而使待测试的ntc产品4电连接入测试回路中。采用该固定结构，结构简单，拆装便捷，固定效果好，但并不以此为限，在一些实施例中，固定结构也可以采用现有的其它固定结构来实现。优选的，接线端子为陶瓷材质。
41.优选的，本实施例中，固定结构的数量为多个，用于将多个待测试的ntc产品4的固定在测试工装25上而使多个待测试的ntc产品4串联并接入测试回路中，如图5中示意了串联固定3个待测试的ntc产品4。固定结构设置多个，可以一次测试多个ntc产品，提高测试效率。
42.本具体实施例中，第一腔门221设有透明的观察窗222，便于观察测试腔室22内部的情况，使用更简便。
43.进一步的，测试回路还包括电容c1和泄放电阻rb，电容c1用于模拟负载的容抗，电容c1和负载电阻rload并联后串接在测试回路中，泄放电阻rb与电容c1并联设置，用于对电容c1的电量进行泄放，更具体电路如图8所示，其中，sw1为开关，b1为整流桥，d1为二极管，此已是较常规的测试回路，不再细说，但并不以此为限。
44.柜体21还设有第一电气腔室23，第一电气腔室23设有可打开的第二腔门231，电容c1与泄放电阻rb可拆卸地设置在第一电气腔室23内，采用该结构，不仅方便更换电容c1和/
或泄放电阻rb，从而可以适用于不同规格的ntc产品的测试，适用性广，且将电容c1和泄放电阻rb与待测试的ntc产品4分隔开，不会影响待测试的ntc产品4，测试效果更好。
45.本具体实施例中，第一电气腔室23设置在柜体21的下部，结构更合理紧凑，但并不限于此，在一些实施例中，第一电气腔室23也可以设置在柜体21的其它位置。
46.本具体实施例中，第一电气腔室23内设有第一安装支架26，泄放电阻rb通过螺丝(图中未示出)锁付在第一安装支架26上进行电连接而串接在测试回路中，采用该固定结构，不仅拆装简便，且固定效果好，提高电接触性能，但并不以此为限，在一些实施例中，泄放电阻rb也可以采用现有的其它可拆卸固定方式，如卡扣连接等进行固定安装。
47.本具体实施例中，第一电气腔室23内设有第二安装支架27，第二安装支架27设有插槽271，电容c1可拆卸地插设在插槽271内进行电连接而串接在测试回路中，易于实现，拆装便捷，但并不限于此，在一些实施例中，电容c1也可以采用现有的其它可拆卸固定方式进行固定安装。
48.本具体实施例中，柜体21内还设有第二电气腔室24，第二电气腔室24设有主控电路，主控电路用于控制测试回路的通断以进行耐久性测试。主控电路可以采用plc控制器等来实现。
49.第二电气腔室24设有设有可打开的第三腔门241，便于主控电路的安装和维护，第二电气腔室24设置在测试腔室22的左侧(即柜体21的左上部)，整体结构更紧凑合理，但并不限于此。
50.进一步的，本具体实施例中，柜体21还设有开门检测机构28，开门检测机构28用于检测第一腔门221的开关状态并传输给主控电路进行测试回路的通断控制，实现第一腔门221被打开时，测试回路断电，进一步提高安全性。
51.本具体实施例中，开门检测机构28设置在第一腔门221内侧，可以采用微动开关、接近传感器等来实现。
52.进一步的，本具体实施例中，还设有触摸屏29，触摸屏29与主控电路连接，触摸屏29用于显示相关信息和进行测试参数(如通电时间，通电次数等)设定。
53.本具体实施例中，触摸屏29设置在柜体21的前侧面且对应于第二电气腔室24，结构紧凑合理，但并不限于此。
54.进一步的，本具体实施例中，柜体21的前侧面还设有电流表200，电流表200用于显示流过测试回路的电流值，便于直观地知道测试回路的电流大小。
55.本具体实施例中，电流表200设置在触摸屏9的上方，使得整体结构紧凑合理，但并不以此为限。
56.本具体实施例中，电源1为交流电源，但并不限于此。优选的，电源1的数量为两个，两个电源1的输出电压不同，分别为120v和240v，但并不以此为限，使得工作电压可选，提高适用性，且也可以由两个电源1共同供电，降低电源1的负荷，提高安全性和可靠性。当然，两个电源1工作频率也可以不同，如分别为50hz和60hz等。
57.在一些实施例中，电源1的数量可以是1个或多于2个。
58.进一步的，测试工装25、负载电阻单元、电容c1和泄放电阻rb的数量均为多个，本具体实施例中，测试工装25、负载电阻单元、电容c1和泄放电阻rb的数量均为9个，9个测试工装25、负载电阻单元、电容c1和泄放电阻rb分别一一对应连接形成9个独立的测试回路，
都由电源1进行供电，可以同时进行9组ntc产品测试，提升测试效率。当然，在一些实施例中，测试工装25、负载电阻单元、电容c1和泄放电阻rb的数量可以根据实际需要进行设定。
59.多个负载电阻单元的档位可以相同，也可以不同，以适用更多的不同测试需求。
60.优选的，本具体实施例中，电阻箱3与测试设备2分开设置。电阻箱3散热大，将其与测试设备2分开设置，不会影响测试腔室22的环境温度，测试效果更好。
61.测试时，打开第一腔门221，将待测试的ntc产品4固定在测试工装25上而进入测试回路中，关上第一腔门221，通过触摸屏29设置好测试参数后，启动测试，主控电路根据设定的测试参数相应地控制测试回路的通断以对待测试的ntc产品4进行耐久性测试，其测试原理已是非常成熟的现有技术，此不再细说。
62.当然，在一些实施例中，该ntc产品的耐久性测试系统还可以包括辅测试设备5，如图10所示(图中的辅测试设备5只是简单示意)，辅测试设备5与测试设备的结构大致相同，区别在于辅测试设备5的测试腔室的环境与测试设备2的测试腔室22的环境不同，如辅测试设备5的测试腔室的环境为高低温环境，测试设备2的测试腔室22的环境为常温环境等，辅测试设备5与测试设备2通过切换开关进行切换与电源1和电阻箱3电连接，从而实现不同测试条件的测试回路。
63.本发明可以实现ntc产品的耐久性测试，通过拨动开关来调节负载电阻的大小，调节便捷，调节精度高，安全性高，且整个系统结构紧凑简洁。
64.尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本发明，但所属领域的技术人员应该明白，在不脱离所附权利要求书所限定的本发明的精神和范围内，在形式上和细节上可以对本发明做出各种变化，均为本发明的保护范围。