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一种晶片研磨烘干检测工作台的制作方法

2022-02-20 15:07:33 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种晶片研磨烘干检测工作台,包括底座,所述底座上设置有研磨机构、烘干区、取片区和检测区;其特征在于:所述烘干区包括烘干槽和吹风箱,所述吹风箱连接有出气管道,所述出气管道上并连有第一吹风管和第二吹风管,所述第一吹风管上连通有加热器和第一调节阀,所述第二吹风管上设置有第二调节阀;所述烘干槽内连通有若干上烘干管和下烘干管,所述上烘干管的出口设置在烘干槽的上部,所述下烘干管的出口设置在烘干槽的下部,所述上烘干管与第二吹风管连通,所述下烘干管与第一吹风管连通;所述检测区的底座上设置有聚光灯,所述取片区上设置有取片吸管,所述取片吸管连通有负压泵。2.根据权利要求1所述的一种晶片研磨烘干检测工作台,其特征在于:所述第一吹风管和第二吹风管上均设置有过滤网。3.根据权利要求2所述的一种晶片研磨烘干检测工作台,其特征在于:所述烘干槽上部的横截面积大于烘干槽下部的横截面积。4.根据权利要求1所述的一种晶片研磨烘干检测工作台,其特征在于:所述底座上设置有灯槽,所述灯槽的底部固定连接有灯座,所述灯座上铰接有灯柄,所述灯柄远离灯座的一端铰接有连接杆,所述连接杆远离灯柄的一端与聚光灯铰接。5.根据权利要求4所述的一种晶片研磨烘干检测工作台,其特征在于:所述烘干槽的底部设置有与烘干槽连通的通槽,所述通槽内滑动的设置有接水箱。6.根据权利要求4所述的一种晶片研磨烘干检测工作台,其特征在于:所述灯柄与灯座的铰接方式为球铰连接。

技术总结
本实用新型涉及晶片制造技术领域,公开了一种晶片研磨烘干检测工作台,包括底座,底座上设置有研磨机构、烘干区、取片区和检测区;烘干区包括烘干槽和吹风箱,吹风箱连接有出气管道,出气管道上并连有第一吹风管和第二吹风管,第一吹风管上连通有加热器和第一调节阀,第二吹风管上设置有第二调节阀;烘干槽内连通有若干上烘干管和下烘干管,上烘干管的出口设置在烘干槽的上部,下烘干管的出口设置在烘干槽的下部,上烘干管与第二吹风管连通,下烘干管与第一吹风管连通;检测区的底座上设置有聚光灯,取片区上设置有取片吸管,取片吸管连通有负压泵。本实用新型能够对研磨后的晶片进行烘干和检测,并且避免晶片的损坏,增加晶片的合格率。合格率。合格率。


技术研发人员:周一 毕洪伟 彭杰
受保护的技术使用者:威科赛乐微电子股份有限公司
技术研发日:2021.05.11
技术公布日:2022/1/14
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