1.本实用新型属于集成电路测试技术领域，具体地说，涉及一种可拆卸探针。
背景技术：
2.测试探针是应用于集成电路测试的一种测试连接电子元件。传统的测试探针由针管、弹簧和针头组成，针管为两端封闭的空心柱体结构，针头在针管内孔内可自由滑动，针头的一端设置于针管外用于对电路板进行检测，其另一端设置于针管内并与针管的封闭端通过弹簧连接。其中针管是以铜合金为材料表面镀金制成，弹簧主要由琴钢线和不锈钢线镀金制成，针头由铜合金或工具钢镀镍或镀金制成。
3.探针分top端和bottom端，top端一般用来进行电路板检测，bottom端用来与pcb板接触，起到传输电流和电信号的作用。传统的测试探针通常为整体结构，整体使用。测试时top端由于接触频繁更易损坏，对于探针而言，其某一零部件失效后会造成探针损坏报废，然而探针的其他零部件仍然能继续使用，探针的整体报废会造成极大的浪费。
技术实现要素：
4.本实用新型的目的是提供一种可拆卸探针，解决了现有测试探针为整体结构，某一零件失效后探针整体报废造成的极大浪费的问题。
5.为了解决上述技术问题，本实用新型公开了一种可拆卸探针，包括：
6.第一针管，为两端贯通的空心结构，第一针管内设有第一弹簧，第一针管的两端分别设置有第一针头和第一连接部，第一弹簧的一端与第一针头接触连接，第一弹簧的另一端固定在第一针管内壁上；
7.第二针管，为两端贯通的空心结构，第二针管内设有第二弹簧，第二针管的两端分别设置有第二针头和第二连接部，第二弹簧的一端与第二针头接触连接，第二弹簧的另一端与第二连接部接触连接，第一连接部与第二连接部之间卡接连接。
8.进一步地，第一针头的一端设置于第一针管内且在第一针管内自由滑动，第一针头的另一端位于第一针管外。
9.进一步地，第一连接部与第一针管为一体结构。
10.进一步地，第二针头的一端设置于第二针管内且在第二针管内自由滑动，第二针头的另一端位于第二针管外。
11.进一步地，第二连接部的一端设置于第二针管内且与第二针管之间点焊连接，第二连接部的另一端位于第二针管外且与第一连接部卡接连接。
12.进一步地，第一连接部的内径与第二连接部的外径相等。
13.进一步地，第一连接部为端部开口的空心结构，第一连接部上设有两个向内凹的卡件，第二连接部插入第一连接部的空心结构内且与两个卡件之间过盈配合。
14.与现有技术相比，本实用新型可以获得包括以下技术效果：
15.本实用新型公开了一种可拆卸探针，为两段式可拆卸连接，通过卡接的方式将第
一针管与第二针管连接，当其中一个针管损坏时，不需要将整个探针报废，只需要更换损坏的部分即可，解决了现有测试探针为整体结构，某一零件失效后探针整体报废造成的极大浪费的问题。
附图说明
16.此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本实用新型的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：
17.图1是本实用新型可拆卸探针的结构示意图；
18.图2是本实用新型可拆卸探针中第一针管与第二针管的拆解示意图。
19.图中，1、第一针管，2、第一弹簧，3、第一针头，4、第一连接部，5、卡件，6、第二针管，7、第二弹簧，8、第二针头，9、第二连接部。
具体实施方式
20.以下将配合实施例来详细说明本实用新型的实施方式，借此对本实用新型如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。
21.本实用新型公开了一种可拆卸探针，结构如图1和2所示，包括：
22.第一针管1，为两端贯通的空心结构，第一针管1内设有第一弹簧2，第一针管1的两端分别设置有第一针头3和第一连接部4，第一弹簧2的一端与第一针头3接触连接，第一弹簧2的另一端固定在第一针管1内壁上；
23.第二针管6，为两端贯通的空心结构，第二针管6内设有第二弹簧7，第二针管6的两端分别设置有第二针头8和第二连接部9，第二弹簧7的一端与第二针头8接触连接，第二弹簧7的另一端与第二连接部9接触连接，第一连接部4与第二连接部9之间卡接连接。
24.本实用新型公开的一种可拆卸探针，为两段式可拆卸连接，通过卡接的方式将第一针管1与第二针管6连接，当其中一个针管或针头损坏时，不需要将整个探针报废，只需要更换损坏的部分即可，解决了现有测试探针为整体结构，某一零件失效后探针整体报废造成的极大浪费的问题。
25.进一步地，第一针头3的一端设置于第一针管1内且在第一针管1内自由滑动，第一针头3的另一端位于第一针管1外；第一连接部4与第一针管1为一体结构。
26.进一步地，第二针头8的一端设置于第二针管6内且在第二针管6内自由滑动，第二针头8的另一端位于第二针管6外。第二连接部9的一端设置于第二针管6内且与第二针管6之间点焊连接，第二连接部9的另一端位于第二针管6外且与第一连接部4卡接连接，方便将第一针管1与第二针管6拆卸更换，避免造成浪费。
27.第一连接部4的内径与第二连接部9的外径相等，第一连接部4为端部开口的空心结构，第一连接部4上设有两个向内凹的卡件5，第二连接部9插入第一连接部4的空心结构内且与两个卡件5之间过盈配合。当第二连接部9插入到第一连接部4的空心结构内时，两个卡件5会给第二连接部9向内的压力，且卡件5与第二连接部9之间过盈配合，防止脱落，需要拆卸时只需将第二连接部拔出即可，实现了第一连接部4与第二连接部9的拆卸，且操作方便，避免造成浪费。
28.本实用新型可拆卸探针的原理：
29.利用本实用新型可拆卸探针进行集成电路测试时，若其中一个针管或针头损坏失效后，不需要将整个探针报废，只需要更换损坏的部分即可，由于第一针管1与第二针管6之间通过卡接连接，方便拆卸更换，解决了现有测试探针为整体结构，某一零件失效后探针整体报废造成的极大浪费的问题。
30.上述说明示出并描述了发明的若干优选实施例，但如前所述，应当理解发明并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述发明构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离发明的精神和范围，则都应在发明所附权利要求的保护范围内。
技术特征：
1.一种可拆卸探针，其特征在于，包括：第一针管，为两端贯通的空心结构，所述第一针管内设有第一弹簧，所述第一针管的两端分别设置有第一针头和第一连接部，所述第一弹簧的一端与所述第一针头接触连接，所述第一弹簧的另一端固定在所述第一针管内壁上；第二针管，为两端贯通的空心结构，所述第二针管内设有第二弹簧，所述第二针管的两端分别设置有第二针头和第二连接部，所述第二弹簧的一端与所述第二针头接触连接，所述第二弹簧的另一端与所述第二连接部接触连接，所述第一连接部与所述第二连接部之间卡接连接。2.根据权利要求1所述的可拆卸探针，其特征在于，所述第一针头的一端设置于所述第一针管内且在所述第一针管内自由滑动，所述第一针头的另一端位于所述第一针管外。3.根据权利要求1或2所述的可拆卸探针，其特征在于，所述第一连接部与所述第一针管为一体结构。4.根据权利要求1所述的可拆卸探针，其特征在于，所述第二针头的一端设置于所述第二针管内且在所述第二针管内自由滑动，所述第二针头的另一端位于所述第二针管外。5.根据权利要求1所述的可拆卸探针，其特征在于，所述第二连接部的一端设置于所述第二针管内且与所述第二针管之间点焊连接，所述第二连接部的另一端位于所述第二针管外且与所述第一连接部卡接连接。6.根据权利要求1所述的可拆卸探针，其特征在于，所述第一连接部的内径与所述第二连接部的外径相等。7.根据权利要求1所述的可拆卸探针，其特征在于，所述第一连接部为端部开口的空心结构，所述第一连接部上设有两个向内凹的卡件，所述第二连接部插入所述第一连接部的空心结构内且与两个所述卡件之间过盈配合。
技术总结
本实用新型公开了一种可拆卸探针，包括第一针管，第一针管内设有第一弹簧，第一针管的两端分别设置有第一针头和第一连接部，第一弹簧的一端与第一针头接触连接，第一弹簧的另一端固定在第一针管内壁上；第二针管，第二针管内设有第二弹簧，第二针管的两端分别设置有第二针头和第二连接部，第二弹簧的一端与第二针头接触连接，第二弹簧的另一端与第二连接部接触连接，第一连接部与第二连接部之间卡接连接。本实用新型为两段式可拆卸连接，通过卡接的方式将第一针管与第二针管连接，当其中一个针管损坏时，不需要将整个探针报废，只需更换损坏的探针即可，解决了现有测试探针为整体结构，某一零件失效后探针整体报废造成的极大浪费的问题。费的问题。费的问题。
技术研发人员：付盼红 张明海 申啸
受保护的技术使用者：渭南高新区木王科技有限公司
技术研发日：2021.03.04
技术公布日：2022/1/11
再多了解一些
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