有机硅橡胶及其品质管理方法、电缆或管及其品质管理方法以及层叠结构体及其制造方法与流程

1.本发明涉及有机硅橡胶及其品质管理方法、电缆或管及其品质管理方法以及层叠结构体及其制造方法。


背景技术：

2.以往，已知聚氯乙烯(pvc)的拉曼光谱因紫外线暴露而变化(非专利文献1)。根据非专利文献1，认为通过紫外线暴露而在聚氯乙烯中生成c-c键和c＝c键，与这些键对应的峰出现在拉曼光谱中。
3.因此，通过调查拉曼光谱的与c-c键和c＝c键对应的峰的强度，能够诊断聚氯乙烯的因紫外线暴露引起的分子水平的结构变化(变质)的程度。
4.现有技术文献
5.专利文献
6.非专利文献1：国际公开第2016/031063号


技术实现要素：

7.发明所要解决的课题
8.用于医疗设备用的电缆、管的绝缘体材料等的有机硅橡胶是对紫外线的耐性高、即使利用紫外线照射实施杀菌也不会如聚氯乙烯那样发生变色这样的优异的材料。另一方面，由于即使因紫外线暴露而导致变质进行，也不会发生变色，因此存在难以通过目视确认变质程度的问题。另外，由于有机硅橡胶因紫外线曝光而变质的机理是未知的，因此利用其他方法进行耐用年数诊断也是困难的。因此，如果能够通过非专利文献1所记载的方法，基于拉曼散射测定来诊断变质程度，则在有机硅橡胶的品质管理中非常有用。
9.然而，拉曼光谱是否因紫外线暴露而变化、或者在变化的情况下哪个峰如何变化，是根据作为测定对象的物质而不同的。因此，无法使用非专利文献1中记载的聚氯乙烯的拉曼光谱的信息来对聚氯乙烯以外的物质进行拉曼光谱的评价。
10.本发明的目的在于提供一种能够使用拉曼散射测定来诊断因紫外线暴露引起的有机硅橡胶的变质程度的有机硅橡胶的品质管理方法、利用该有机硅橡胶的品质管理方法的层叠结构体的制造方法及电缆或管的品质管理方法以及有机硅橡胶的变质程度少的有机硅橡胶、层叠结构体及电缆或管。
11.用于解决课题的手段
12.本发明以解决上述课题为目的，提供一种有机硅橡胶的品质管理方法，包括：测定工序，对有机硅橡胶照射激光并测定拉曼光谱；和诊断工序，基于所述拉曼光谱中的归属于si-o3伸缩振动的第一峰的强度和包含归属于c-c-o对称伸缩振动的峰的第二峰的强度中的至少任一方，诊断所述有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。
13.发明效果
14.根据本发明，能够提供一种能使用拉曼散射测定来诊断因紫外线暴露引起的有机硅橡胶的变质程度的有机硅橡胶的品质管理方法、利用该有机硅橡胶的品质管理方法的层叠结构体的制造方法及电缆或管的品质管理方法以及有机硅橡胶的变质程度少的有机硅橡胶、层叠结构体及电缆或管。
附图说明
15.图1是有机硅橡胶的结构式。
16.图2中的(a)～(c)是分散于微粒分散有机硅橡胶内部的微粒的材料的结构式。
17.图3是本实施方式涉及的层叠结构体的垂直截面图。
18.图4是示意性表示本实施方式涉及的探头电缆的构成的俯视图。
19.图5是沿图4所示的a-a线切断的探头电缆的截面图。
20.图6中(a)～(c)分别是本实施方式涉及的医疗用管的径向的截面图。
21.图7的(a)是将uv﹣c波长区域的紫外线以照度1.2～1.3mw/cm2照射0～800小时后的有机硅橡胶的拉曼光谱。图7的(b)为将紫外线照射800小时后的有机硅橡胶的表面的利用光学显微镜得到的观察图像。
22.图8的(a)是表示有机硅橡胶中的峰a1、a2、a4的积分强度相对于峰a3的积分强度的比值(积分强度比)的图表。图8的(b)是表示峰a1、a2、a4的峰高度相对于峰a3的峰高度的比值(峰高度比)的图表。
23.图9的(a)是将uv﹣c波长区域的紫外线以照度1.2～1.3mw/cm2照射0～800小时后的有机硅橡胶的拉曼光谱。图9的(b)是将紫外线照射800小时后的微粒分散有机硅橡胶的表面的利用光学显微镜得到的观察图像。
24.图10的(a)是表示微粒分散有机硅橡胶中的峰b1、b2、b4的积分强度相对于峰b3的积分强度的比值(积分强度比)的图表。图10的(b)是表示峰b1、b2、b4的峰高度相对于峰b3的峰高度的比值(峰高度比)的图表。
25.符号说明
26.1：层叠结构体，10：第一层，11：第二层，20：探头电缆，23：护套，24：被膜，40a、40b、40c：医疗用管，41：管主体，42：外侧被膜，43：内侧被膜。
具体实施方式
27.[实施方式]
[0028]
(有机硅橡胶的特性)
[0029]
图1是有机硅橡胶的结构式。有机硅橡胶是有机硅树脂的一种，例如能够用作能够与医疗设备连接的探头电缆、插入导管的管等绝缘体的材料。
[0030]
如上所述，有机硅橡胶与以往作为医疗用途中使用的电缆、管的材料而通常使用的聚氯乙烯相比，在对紫外线的耐性高、即使利用紫外线照射实施杀菌也几乎不变色这方面更优异。然而，另一方面，有机硅橡胶由于即使因紫外线暴露的影响而产生脆化等变质，也不会如聚氯乙烯那样变色，因此难以通过目视来诊断因紫外线暴露引起的变质程度。
[0031]
另外，有机硅橡胶通过使有机硅树脂微粒、二氧化硅(氧化硅)微粒等含si微粒分散在其内部，从而能够抑制表面的发粘(粘性)，提高滑动性(顺滑性)。因此，通过将在不含
微粒的有机硅橡胶上层叠分散有含si微粒的有机硅橡胶并覆盖其表面，能够抑制有机硅橡胶部件的表面的发粘，提高滑动性。以下，将该分散有含si微粒的有机硅橡胶称为微粒分散有机硅橡胶。
[0032]
即，微粒分散有机硅橡胶具有作为母材的有机硅橡胶和分散在该有机硅橡胶中的含si微粒。微粒是有机硅树脂微粒、二氧化硅微粒或混合了这2种的微粒。上述微粒优选具有比母体高的硬度(例如，以肖氏(硬度计a)硬度计为1.1倍左右以上的硬度)。
[0033]
在此，微粒分散有机硅橡胶中所含的微粒的平均粒径例如为1μm以上10μm以下。需要说明的是，本技术说明书中的“平均粒径”是指通过激光衍射散射法测定的粒径。另外，微粒分散有机硅橡胶中所含的微粒的质量％例如为10质量％以上60质量％以下。微粒分散有机硅橡胶由于包含多个微粒，因此在表面形成凹凸形状。因此，微粒分散有机硅橡胶与表面不具有凹凸形状的有机硅橡胶相比，与接触物的接触面积变小，滑动性变高。
[0034]
图2的(a)～(c)是分散于微粒分散有机硅橡胶内部的微粒的材料的结构式。图2(a)表示有机硅树脂的结构式，图2(b)表示二氧化硅的结构式。另外，作为参考，在图2(c)中示出有机硅橡胶的结构式。
[0035]
有机硅橡胶与有机硅树脂的主要不同点在于结构式中所含的反应基(例如甲基)的数量。如图2的(a)～(c)所示，有机硅橡胶的结构式中所含的反应基的数量多于有机硅树脂的结构式中所含的反应基的数量，而且，二氧化硅中不含反应基。由于具有反应基的数量越多则越软、越少则越硬的特性，因此在有机硅橡胶、有机硅树脂、二氧化硅中，二氧化硅的硬度最高，有机硅树脂的硬度次之，有机硅橡胶的硬度最低。另外，关于质量，二氧化硅的质量最大，有机硅树脂的质量次之，有机硅橡胶的质量最小。
[0036]
在此，从抑制微粒分散有机硅橡胶与接触物接触时的表面凹凸的变形的观点出发，最优选硬度高的二氧化硅，其次优选有机硅树脂。这是因为，在通过接触物对微粒分散有机硅橡胶的表面施加按压压力时，微粒的硬度越高，则越能够抑制凹凸的变形。由此，能够抑制与接触物的接触面积的增加，维持滑动性。
[0037]
另一方面，二氧化硅如上述那样质量大，因此二氧化硅微粒在微粒分散有机硅橡胶的制造过程中容易在作为母材的液态有机硅橡胶中沉降，与有机硅橡胶微粒、有机硅树脂微粒相比，难以分散于有机硅橡胶中。因此，从提高微粒分散有机硅橡胶中的分散的均匀性的观点出发，优选使用由有机硅橡胶、有机硅树脂构成的微粒。
[0038]
因此，为了兼顾微粒分散有机硅橡胶与接触物接触时的滑动性的维持和微粒在作为母材的有机硅橡胶中的分散均匀性，最优选使用有机硅树脂微粒作为分散于微粒分散有机硅橡胶中的微粒。
[0039]
(有机硅橡胶的质量管理方法)
[0040]
根据本实施方式的有机硅橡胶的品质管理方法，能够使用拉曼散射测定来诊断因紫外线暴露引起的变质程度，管理有机硅橡胶和微粒分散有机硅橡胶的品质。另外，根据拉曼散射测定，能够在保持有机硅橡胶和微粒分散有机硅橡胶的原本姿态的状态下，诊断因紫外线暴露引起的变质程度。
[0041]
在此，有机硅橡胶和微粒分散有机硅橡胶的紫外线暴露包括：出于杀菌等目的有意地照射紫外线而导致的暴露；在放出有紫外线的特殊环境下使用而导致的暴露；在受到直射日光的环境下进行制造、保管而导致的暴露等。
[0042]
另外，有机硅橡胶和微粒分散有机硅橡胶的因紫外线暴露引起的变质例如是脆化等劣化，根据本实施方式涉及的有机硅橡胶的品质管理方法，也可以使用拉曼散射测定来诊断因紫外线暴露引起的劣化的程度，管理有机硅橡胶和微粒分散有机硅橡胶的品质。
[0043]
本实施方式涉及的有机硅橡胶的品质管理方法例如在应用于不含含si微粒的有机硅橡胶的情况下，包括：测定工序，对有机硅橡胶照射激光，测定拉曼光谱；以及诊断工序，基于测定得到的拉曼光谱中的归属于si-o3伸缩振动的第一峰的强度和包含归属于游离醇(叔醇)的c-c-o对称伸缩振动的峰的第二峰的强度中的至少任一方，诊断有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。在此，本实施方式中的拉曼光谱的峰的强度是指积分强度或峰高度。
[0044]
第一峰是在拉曼光谱中在600cm-1
以上660cm-1
以下的范围内取最大强度的峰。另外，第二峰是在拉曼光谱中在730cm-1
以上770cm-1
以下的范围内取最大强度的峰。需要说明的是，第一峰和第二峰的位置可以根据测定时的有机硅橡胶的温度等而在上述波数范围内移位。
[0045]
第二峰有可能不是归属于c-c-o对称伸缩振动的单独的峰，而是归属于c-c-o对称伸缩振动的峰与归属于si-c伸缩的峰的合成峰。
[0046]
本技术发明人等发现，通过使有机硅橡胶暴露于紫外线，从而上述的第一峰、第二峰的强度增加。认为这是由于通过紫外线暴露，在有机硅橡胶中生成包含si-o3键、c-c-o键的新的分子结构。因此，基于第一峰的强度和第二峰的强度中的至少任一方，能够诊断有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。
[0047]
在上述的诊断工序中，作为第一峰和第二峰的强度的基准，可以使用归属于在有机硅橡胶的紫外线暴露前后强度几乎不变化的sic2伸缩振动的第三峰。即，基于拉曼光谱中的第一峰的强度相对于归属于sic2伸缩振动的第三峰的强度的比值和所述第二峰的强度相对于所述第三峰的强度的比值中的至少任一方，能够诊断有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。第三峰在660cm-1
以上730cm-1
以下的范围内取最大强度。
[0048]
具体而言，例如，根据在测定温度20℃的条件下测定的拉曼光谱中的第一峰的积分强度相对于第三峰的积分强度的比值是否为0.23以下的结果，能够诊断有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。在该情况下，也可以将其用作有机硅橡胶的品质合格与否的判定基准，在第一峰的积分强度相对于第三峰的积分强度的比值为0.23以下的情况下判定为合格，在大于0.23的情况下判定为不合格。
[0049]
另外，根据在测定温度20℃的条件下测定的拉曼光谱中的第二峰的积分强度相对于第三峰的积分强度的比值是否为0.02以下的结果，能够诊断有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。在该情况下，也可以将其用作有机硅橡胶的品质合格与否的判定基准，在第二峰的积分强度相对于第三峰的积分强度的比值为0.02以下的情况下判定为合格，在大于0.02的情况下判定为不合格。
[0050]
另外，根据在测定温度20℃的条件下测定的拉曼光谱中的第一峰的峰高度相对于第三峰的峰高度的比值是否为0.18以下的结果，能够诊断有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。在该情况下，也可以将其用作有机硅橡胶的品质合格与否的判定基准，在第一峰的峰高度相对于第三峰的峰高度的比值为0.18以下的情况下判定为合格，在大于0.18的情况下判定为不合格。
[0051]
另外，根据在测定温度20℃的条件下测定的拉曼光谱中的第二峰的峰高度相对于第三峰的峰高度的比值是否为0.023以下的结果，能够诊断有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。在该情况下，也可以将其用作有机硅橡胶的品质合格与否的判定基准，在第二峰的峰高度相对于第三峰的峰高度的比值为0.023以下的情况下判定为合格，在大于0.023的情况下判定为不合格。
[0052]
在此，第一～第三峰的积分强度、峰高度是利用由使用pseudo-voigt函数、lorentz函数、gauss分布函数等统计分布函数的拟合解析得到的峰轮廓来计算的，在对峰轮廓进行背景校正之后求出。背景校正是为了除去被认为不是由有机硅橡胶的分子结构引起的、来源于产生荧光、照射激光的瑞利及米氏散射光、照射激光以外的干扰光等不可避免的光的背景的影响而实施的，通过从上述的峰轮廓减去由使用多项式函数、样条函数等的拟合解析求出的背景轮廓(基线)来进行。另外，求出第一～第三峰的积分强度时的积分范围是上述峰轮廓与背景轮廓的2个交点之间的范围。
[0053]
另外，第一峰的积分强度相对于第三峰的积分强度的比值的下限值为0.201，第一峰的峰高度相对于第三峰的峰高度的比值的下限值为0.127。需要说明的是，各下限值是有机硅橡胶未暴露于紫外线的状态下的值。另外，在有机硅橡胶未暴露于紫外线的状态下，第二峰的积分强度及峰高度大致为零，因此第二峰的积分强度相对于第三峰的积分强度的比值的下限值与第二峰的峰高度相对于第三峰的峰高度的比值的下限值为零。
[0054]
另外，本实施方式的有机硅橡胶的品质管理方法在应用于微粒分散有机硅橡胶的情况下，包括：测定工序，对微粒分散有机硅橡胶照射激光，测定拉曼光谱；以及诊断工序，基于测定得到的拉曼光谱中的包含归属于si-ch3横摆振动的峰的第一峰的强度和包含归属于游离醇(叔醇)的c-c-o对称伸缩振动的峰的第二峰的强度中的至少任一方，诊断微粒分散有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。
[0055]
第一峰是在拉曼光谱中在770cm-1
以上850cm-1
以下的范围内取最大强度的峰。另外，第二峰是在拉曼光谱中在730cm-1
以上770cm-1
以下的范围内取最大强度的峰。需要说明的是，第一峰和第二峰的位置可以根据测定时的微粒分散有机硅橡胶的温度等而在上述波数范围内移位。
[0056]
第一峰有可能不是归属于si-ch3横摆振动的单独的峰，而是归属于si-ch3横摆振动的峰与归属于c-si-c伸缩的峰的合成峰。另外，第二峰有可能不是归属于c-c-o对称伸缩振动的单独的峰，而是归属于c-c-o对称伸缩振动的峰与归属于si-c伸缩的峰的合成峰。
[0057]
本技术发明人等发现，通过使上述的微粒分散有机硅橡胶暴露于紫外线，从而上述的第一峰、第二峰的强度增加。认为这是由于通过紫外线暴露，在微粒分散有机硅橡胶中生成包含si-ch3键、c-c-o键的新的分子结构。因此，基于第一峰的强度和第二峰的强度中的至少任一方，能够诊断微粒分散有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。
[0058]
在微粒分散有机硅橡胶中，由于在有机硅橡胶中分散有含si微粒(有机硅树脂微粒、二氧化硅微粒或混合了这2种的微粒)，因此以si为基础的氧化物、有机系物质混合存在。而且，认为通过紫外线暴露而导致它们局部地反应，从而第一峰、第二峰的强度增加。
[0059]
在上述的诊断工序中，作为第一峰和第二峰的强度的基准，可以使用归属于在微粒分散有机硅橡胶的紫外线暴露前后强度几乎不变化的sic2伸缩振动的第三峰。即，基于拉曼光谱中的第一峰的强度相对于归属于sic2伸缩振动的第三峰的强度的比值和所述第
二峰的强度相对于所述第三峰的强度的比值中的至少任一方，能够诊断微粒分散有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。第三峰在660cm-1
以上730cm-1
以下的范围内取最大强度。
[0060]
具体而言，例如，根据在测定温度20℃的条件下测定的拉曼光谱中的第一峰的积分强度相对于第三峰的积分强度的比值是否为2.1以下的结果，能够诊断微粒分散有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。在该情况下，也可以将其用作微粒分散有机硅橡胶的品质合格与否的判定基准，在第一峰的积分强度相对于第三峰的积分强度的比值为2.1以下的情况下判定为合格，在大于2.1的情况下判定为不合格。
[0061]
另外，根据在测定温度20℃的条件下测定的拉曼光谱中的第二峰的积分强度相对于第三峰的积分强度的比值是否为1.3以下的结果，能够诊断微粒分散有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。在该情况下，也可以将其用作微粒分散有机硅橡胶的品质合格与否的判定基准，在第二峰的积分强度相对于第三峰的积分强度的比值为1.3以下的情况下判定为合格，在大于1.3的情况下判定为不合格。
[0062]
另外，根据在测定温度20℃的条件下测定的拉曼光谱中的第一峰的峰高度相对于第三峰的峰高度的比值是否为0.94以下的结果，能够诊断微粒分散有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。在该情况下，也可以将其用作微粒分散有机硅橡胶的品质合格与否的判定基准，在第一峰的峰高度相对于第三峰的峰高度的比值为0.94以下的情况下判定为合格，在大于0.94的情况下判定为不合格。
[0063]
另外，根据在测定温度20℃的条件下测定的拉曼光谱中的第二峰的峰高度相对于第三峰的峰高度的比值是否为0.71以下的结果，能够诊断微粒分散有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。在该情况下，也可以将其用作微粒分散有机硅橡胶的品质合格与否的判定基准，在第二峰的峰高度相对于第三峰的峰高度的比值为0.71以下的情况下判定为合格，在大于0.71的情况下判定为不合格。
[0064]
在此，第一～第三峰值的峰高度、积分强度是利用由使用pseudo-voigt函数、lorentz函数、gauss分布函数等统计分布函数的拟合解析得到的峰轮廓来计算的，在对峰轮廓进行背景校正之后求出。背景校正是为了除去被认为不是由微粒分散有机硅橡胶的分子结构引起的、来源于产生荧光、照射激光的瑞利及米氏散射光、照射激光以外的干扰光等不可避免的光的背景的影响而实施的，通过从上述的峰轮廓减去由使用多项式函数、样条函数等的拟合解析求出的背景轮廓(基线)来进行。另外，求出第一～第三峰的积分强度时的积分范围是上述峰轮廓与背景轮廓的2个交点之间的范围。
[0065]
需要说明的是，第一峰的积分强度相对于第三峰的积分强度的比值的下限值为1.0，第一峰的峰高度相对于第三峰的峰高度的比值的下限值为0.46。需要说明的是，各下限值是微粒分散有机硅橡胶未暴露于紫外线的状态下的值。另外，第二峰的积分强度相对于第三峰的积分强度的比值的下限值为0.23，第二峰的峰高度相对于第三峰的峰高度的比值的下限值为0.185。需要说明的是，各下限值为微粒分散有机硅橡胶未暴露于紫外线的状态下的值。
[0066]
(有机硅橡胶)
[0067]
根据本实施方式，作为因紫外线暴露引起的变质少的有机硅橡胶，能够提供通过上述的有机硅橡胶的品质管理方法来管理品质的有机硅橡胶或微粒分散有机硅橡胶。
[0068]
本实施方式的有机硅橡胶例如满足下述第一条件和第二条件中的至少任一方，第
一条件：照射激光而得到的拉曼光谱中的归属于si-o3伸缩振动的第一峰的强度相对于归属于sic2伸缩振动的第三峰的强度的比值为0.23以下，第二条件：包含归属于c-c-o对称伸缩振动的峰的第二峰的强度相对于第三峰的强度的比值为0.02以下。以下，将该有机硅橡胶称为有机硅橡胶a。
[0069]
本实施方式涉及的其他有机硅橡胶例如为微粒分散有机硅橡胶，满足下述第一条件和第二条件中的至少任一方，第一条件：照射激光而得到的拉曼光谱中的包含归属于si-ch3横摆振动的峰的第一峰的强度相对于归属于sic2伸缩振动的第三峰的强度的比值为2.1以下，第二条件：包含归属于c-c-o对称伸缩振动的峰的第二峰的强度相对于第三峰的强度的比值为1.3以下。以下，将该有机硅橡胶称为有机硅橡胶b。
[0070]
(层叠结构体及其制造方法)
[0071]
如上所述，微粒分散有机硅橡胶与不含微粒的有机硅橡胶相比，表面的滑动性优异。另一方面，不含微粒的有机硅橡胶由于为单一原材料的构成，因此与微粒分散有机硅橡胶相比，在致密性、平滑性等方面优异。因此，对于电缆、管等而言，优选使用在有机硅橡胶上层叠有微粒分散有机硅橡胶的构成。
[0072]
图3是本实施方式涉及的层叠结构体1的垂直截面图。层叠结构体1是在由有机硅橡胶构成的第一层10上层叠有由微粒分散有机硅橡胶构成的第二层11而得到的结构体，通过第二层11抑制了表面的发粘，提高了滑动性。另外，层叠结构体1中的第一层10和第二层11中的至少任一方由通过上述有机硅橡胶的品质管理方法来管理品质的有机硅橡胶或微粒分散有机硅橡胶构成。
[0073]
需要说明的是，作为第二层11中使用的微粒分散有机硅橡胶的母材，可以使用加成反应型的有机硅橡胶涂布剂或缩合反应型的有机硅橡胶涂布剂。特别是，从与由有机硅橡胶构成的第一层10的密合性和耐磨耗性的观点出发，优选使用加成反应型的有机硅橡胶涂布剂。
[0074]
即，层叠结构体1例如具有由有机硅橡胶构成的第一层10和层叠在第一层10上的由微粒分散有机硅橡胶构成的第二层11，满足下述第一条件和第二条件中的至少任一方，第一条件：第一层10的有机硅橡胶为上述的有机硅橡胶a，第二条件：第二层11的微粒分散有机硅橡胶为上述的有机硅橡胶b。
[0075]
为了通过第二层11确保层叠结构体1的表面的滑动性，第二层11的厚度优选为15μm以上。另外，第二层11也可以层叠于第一层10的两面。
[0076]
层叠结构体1可以根据其用途而采取各种形态。例如，在用于电缆、管的绝缘体的情况下，成型为管状，在用于高紫外线耐性的恒温室用片材等的情况下，成型为片状。
[0077]
另外，本实施方式涉及的层叠结构体1的制造方法例如包括：形成由有机硅橡胶构成的第一层10的工序；和将由微粒分散有机硅橡胶构成的第二层11层叠于第一层10的工序，满足下述第一条件和第二条件中的至少任一方，第一条件：第一层10的有机硅橡胶是通过上述的本实施方式涉及的有机硅橡胶的品质管理方法诊断了因紫外线暴露引起的变质程度的有机硅橡胶，第二条件：第二层11的微粒分散有机硅橡胶是通过上述的本实施方式的有机硅橡胶的品质管理方法诊断了因紫外线暴露引起的变质程度的有机硅橡胶。
[0078]
(电缆及管)
[0079]
本实施方式的层叠结构体1可以适合用作电缆中使用的绝缘体，特别是医疗用途
中使用的电缆的绝缘体。
[0080]
近年来，对于在医疗用途中使用的电缆，作为护套材料，正在研究使用耐热性、耐化学药品性优异的有机硅橡胶。然而，如上所述，有机硅橡胶具有滑动性差的问题。因此，在将有机硅橡胶用于电缆的护套材料的情况下，产生电缆容易与其他部件钩挂并且在电缆表面也容易附着尘埃这样的问题。
[0081]
特别是，若电缆容易与其他部件钩挂，则例如在与超声波摄像装置等医疗设备连接的探头电缆中，操作变得困难。这是因为，在超声波摄像装置中，会一边使与探头电缆连接的超声波探头在人体上移动一边进行检查，因此，若探头电缆容易与其他电缆、衣服等钩挂，则无法顺畅地移动超声波探头。因此，对于医疗用途中使用的电缆而言，期望不发粘、表面的滑动性良好。
[0082]
本实施方式涉及的层叠结构体1具有滑动性优异的第二层11，因此使用层叠结构体1能够制造表面的滑动性优异的电缆。以下，作为具有由层叠结构体1构成的绝缘体的电缆的一例，对能够与医疗设备连接的探头电缆进行说明。
[0083]
图4是示意性表示本实施方式所涉及的探头电缆20的结构的俯视图。如图4所示，在探头电缆20的一个端部，经由保护该一个端部的保护罩31安装有与超声波探头连接的超声波探头端子32。另外，在探头电缆20的另一端部安装有与超声波摄像装置的主体部连接的连接器33。
[0084]
图5是沿着图4所示的a-a线切断的探头电缆20的截面图。在探头电缆20的内部收纳有例如以多根同轴电缆为代表的电线21，以覆盖该多根电线21的方式设置有编织屏蔽件等屏蔽件22。并且，以覆盖屏蔽件22的方式设置有护套23。
[0085]
并且，在本实施方式的探头电缆20中，形成有覆盖上述护套23的周围且与护套23密合的被膜24。并且，在被膜24的周围经由粘接剂25安装有保护罩31。粘接剂25例如是有机硅系粘接剂、环氧系粘接剂。
[0086]
探头电缆20的护套23和被膜24分别由层叠结构体1的第一层10和第二层11构成。即，在探头电缆20中，使用层叠结构体1作为护套23和被膜24。通过使用由滑动性优异的第二层11构成的被膜24，能够抑制由护套23的表面的发粘引起的探头电缆20的钩挂。被膜24的厚度例如为3μm以上100μm以下。
[0087]
接着，对本实施方式中的探头电缆20的制造方法的一例进行说明。首先，将多根(例如100根以上)电线21一并捆扎。然后，以覆盖捆扎的多根电线21的方式形成屏蔽件22。
[0088]
接着，以覆盖屏蔽体22的方式依次形成层叠结构体1的第一层10和第二层11，形成护套23和被膜24。护套23例如可通过使用挤出机的挤出成型来形成。被膜24例如可通过浸渍法、喷涂法、辊涂法等来形成。在浸渍法中，通过将形成至护套23的探头电缆20穿过液态的被膜材料中并拉起，从而在护套23的表面形成被膜24。该浸渍法在所形成的被膜24的膜厚的均匀性方面比喷涂法、辊涂法优异。
[0089]
由于在浸渍法中使用的液状的被膜材料中含有微粒，因此被膜24由作为母材的有机硅橡胶和分散于该有机硅橡胶的微粒构成。此时，通过调整液态被膜材料中所含的微粒的含量，能够控制被膜24中所含的微粒的含量。
[0090]
另外，本实施方式的层叠结构体1可以适合用作管(中空管)中使用的绝缘体，特别是导管等医疗用途中使用的管的绝缘体。
[0091]
图6的(a)～(c)分别是本实施方式涉及的医疗用管的径向的截面图。图6(a)所示的医疗用管40a在管主体41的外表面41a具备外侧被膜42。图6(b)所示的医疗用管40b在管主体41的内表面41b具备内侧被膜43。图6(c)所示的医疗用管40c在管主体41的外表面41a和内表41b分别具备外侧被膜42和内侧被膜43。
[0092]
医疗用管40a、40b、40c的管主体41由层叠结构体1的第一层10构成，外侧被膜42和内侧被膜43由层叠结构体1的第二层11构成。
[0093]
如医疗用管40a、40b、40c所例示的那样，本实施方式涉及的管具备管主体41、覆盖管主体41的外表面41a的外侧被膜42、覆盖管主体41的内表面41b的内侧被膜43、或者外侧被膜42和内侧被膜43这两者，管主体41由层叠结构体1的第一层10构成，外侧被膜42和内侧被膜43由层叠结构体1的第二层11构成。
[0094]
本实施方式涉及的管的内表面、外表面的滑动性优异，因此，例如在如导管等医疗用管等那样向管内插入器具来使用的情况下，能够顺畅地插拔器具。此外，本实施方式涉及的管能够用于内窥镜手术器用管套件、超声波手术器用管套件、血液分析器用管、氧浓缩器内配管、人工透析血液回路、人工心肺回路、气管内管等。
[0095]
(电缆或管的质量管理方法)
[0096]
根据本实施方式，能够使用上述的有机硅橡胶的品质管理方法来诊断绝缘体因紫外线暴露引起的变质程度，实施具有由有机硅橡胶或微粒分散有机硅橡胶构成的绝缘体的电缆或管、或者探头电缆20、医疗用管40a、40b、40c那样的具有由有机硅橡胶和微粒分散有机硅橡胶层叠而成的层叠结构体1构成的绝缘体的电缆及管的品质管理。
[0097]
即，在管理具有由有机硅橡胶构成的绝缘体的电缆或管的品质的情况下，如上所述，能够通过拉曼散射测定来诊断有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度，从而管理电缆或管的品质。
[0098]
另外，在管理具有由微粒分散有机硅橡胶构成的绝缘体的电缆或管的品质的情况下，如上所述，能够通过拉曼散射测定来诊断微粒分散有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度，从而管理电缆或管的品质。
[0099]
这样，根据本实施方式的电缆或管的品质管理方法，能够诊断有机硅橡胶和微粒分散有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度，管理品质。因此，例如，通过定量地掌握反复实施紫外线照射杀菌的电缆或管的经时劣化，从而能够准确地管理预期寿命、可靠度。
[0100]
需要说明的是，在对露出于电缆或管的表面的有机硅橡胶或微粒分散有机硅橡胶(例如，探头电缆20的被膜24、医疗用管40a、40c的外侧被膜42)进行诊断的情况下，能够将电缆或管以原样的状态设置于拉曼散射测定装置，以非破坏的方式进行测定。在对没有在电缆或管的表面露出的有机硅橡胶或微粒分散有机硅橡胶(例如，探头电缆20的护套23、医疗用管40a、40b、40c的管主体41、内侧被膜43)进行诊断的情况下，例如切开电缆或管而进行测定。
[0101]
另外，通过使用能够自由地移动激光照射部和散射光受光部的枪型的拉曼散射测定装置，从而即使是未加工的长条的电缆或管等在通常的测定装置中难以测定的电缆或管，也能够在原样的状态下进行测定。在该情况下，例如对于卷绕于卷轴等的状态的电缆或管，也能够一边使卷轴旋转一边进行测定。
[0102]
(实施方式的效果)
[0103]
根据上述实施方式，通过使用拉曼散射测定，能够实施难以通过目视进行诊断的、有机硅橡胶和微粒分散有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质的诊断，并管理其品质。另外，能够实施由电缆、管的有机硅橡胶、微粒分散有机硅橡胶构成的绝缘体的因紫外线暴露引起的变质的诊断，并管理其品质。
[0104]
另外，通过实施该有机硅橡胶和微粒分散有机硅橡胶的品质管理，从而能够提供因紫外线暴露引起的变质少的有机硅橡胶、微粒分散有机硅橡胶、有机硅橡胶与微粒分散有机硅橡胶层叠而成的层叠结构体，进而，能够提供具有未产生因紫外线暴露引起的变质的有机硅橡胶、微粒分散有机硅橡胶作为绝缘体的电缆和管。
[0105]
另外，上述实施方式的有机硅橡胶的品质管理方法、电缆或管的品质管理方法、层叠结构体的制造方法等也能够应用于使用灵活运用机器学习、人工智能(ai)等来分析数据的材料信息学(mi)的材料开发中。
[0106]
实施例1
[0107]
首先，准备加工成片状的上述本实施方式涉及的有机硅橡胶，实施拉曼散射测定。拉曼散射测定使用nanophoton株式会社制的raman force standard vis-nir-hs，在如下条件下实施：激光波长为532nm、分光器的入射狭缝的宽度为50μm、衍射光栅的刻线数为300gr/mm(测定波数范围的中心波数为2450cm-1
)、nd滤光器的减弱后的光量相对于激光最大光量之比的值(减弱比)为220/255、测定温度为20℃。
[0108]
图7(a)是将uv﹣c波长区域的紫外线以照度1.2～1.3mw/cm2照射0～800小时后的有机硅橡胶的拉曼光谱。拉曼光谱中，在600cm-1
以上660cm-1
以下的范围内取最大强度的峰为峰a1，在730cm-1
以上770cm-1
以下的范围内取最大强度的峰为峰a2，在660cm-1
以上730cm-1
以下的范围内取最大强度的峰为峰a3，在770cm-1
以上850cm-1
以下的范围内取最大强度的峰为峰a4。这些拉曼光谱中的约640cm-1
的峰a1是起因于si-o3伸缩振动的峰，约750cm-1
的峰a2是起因于c-c-o对称伸缩振动的峰，约710cm-1
的峰a3是起因于sic2伸缩振动的峰，约795cm-1
的峰a4是起因于si-ch3横摆振动的峰。
[0109]
图7(b)是将紫外线照射800小时后的有机硅橡胶的表面的利用光学显微镜得到的观察图像。图7(b)中的黑圆点表示拉曼散射测定的观察位置(激光照射位置)，该观察位置与将紫外线照射0小时(未照射)、400小时、658小时后的观察位置相同。
[0110]
图8(a)是表示有机硅橡胶中的峰a1、a2、a4的积分强度相对于峰a3的积分强度的比值(积分强度比)的图表。图8(b)是表示峰a1、a2、a4的峰高度相对于峰a3的峰高度的比值(峰高度比)的图表。在下面的表1中示出图8(a)的各标绘点的数值，在表2中示出图8(b)的各标绘点的数值。
[0111]
[表1]
[0112][0113]
[表2]
[0114][0115]
根据图8(a)、图8(b)，峰a1的积分强度比和峰高度比在紫外线的照射时间超过658小时时开始增加。由此可以确认，随着有机硅橡胶因紫外线暴露而变质，峰a1的积分强度比和峰高度比增加。
[0116]
作为本实施例中的紫外线的照射时间之一的658小时是通过观察裂纹产生的目视试验而导出的、有机硅橡胶因紫外线暴露而开始变质的时间。紫外线的照射时间为658小时时的峰a1的积分强度比和峰高度比(用虚线r1表示)分别约为0.23和0.18，因此可以将它们用作用于诊断有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度的基准值。
[0117]
需要说明的是，有机硅橡胶的裂纹不一定在因紫外线暴露而开始变质时产生。因此，在上述的目视试验中，反复进行多个实验，将最短的裂纹产生时间作为因紫外线暴露而开始变质的时间。另外，有机硅橡胶的裂纹不一定在因紫外线暴露而开始变质时产生这一事实意味着，通过裂纹的产生来诊断有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度是困难的。
[0118]
另外，根据图8(a)、图8(b)，峰a2的积分强度比和峰高度比随着紫外线的照射时间的增加而增加。由此可以确认，随着有机硅橡胶因紫外线暴露而变质，峰a2的积分强度比和峰高度比增加。
[0119]
紫外线的照射时间为658小时时的峰a2的积分强度比和峰高度比(用虚线r2表示)分别为约0.02和0.023，因此可以将它们用作用于诊断有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度的基准值。
[0120]
另一方面，根据图8(a)、图8(b)，无法确认到峰a4的积分强度比和峰高度比随着紫外线的照射时间的增加而明显增加。
[0121]
实施例2
[0122]
首先，准备在由有机硅橡胶构成的第一层10上层叠有由微粒分散有机硅橡胶构成的第二层11的片状的上述本实施方式涉及的层叠结构体1，对于由微粒分散有机硅橡胶构成的表面实施拉曼散射测定。这里，作为构成第二层11的微粒分散有机硅橡胶的母材，使用
加成反应型的有机硅橡胶涂布剂，作为微粒分散有机硅橡胶中所含的含si微粒，使用有机硅树脂微粒。该橡胶涂布剂以有机硅树脂微粒相对于第二层11(被膜)的比例成为55质量％的方式进行调整。另外，拉曼散射测定的条件与上述实施例1的条件相同。
[0123]
图9(a)是将uv﹣c波长区域的紫外线以照度1.2～1.3mw/cm2照射0～800小时后的有机硅橡胶的拉曼光谱。拉曼光谱中，在770cm-1
以上850cm-1
以下的范围内取最大强度的峰为峰b1，在730cm-1
以上770cm-1
以下的范围内取最大强度的峰为峰b2，在660cm-1
以上730cm-1
以下的范围内取最大强度的峰为峰b3，在600cm-1
以上660cm-1
以下的范围内取最大强度的峰为峰b4。这些拉曼光谱中的约795cm-1
的峰b1是起因于si-ch3横摆振动的峰，约745cm-1
的峰b2是起因于c-c-o对称伸缩振动的峰，约710cm-1
的峰b3是起因于sic2伸缩振动的峰，约620cm-1
的峰b4是起因于si-o3伸缩振动的峰。
[0124]
图9(b)是将紫外线照射800小时后的微粒分散有机硅橡胶的表面的利用光学显微镜得到的观察图像。图9(b)中的黑圆点表示拉曼散射测定的观察位置，该观察位置与将紫外线照射0小时(未照射)、400小时、658小时后的观察位置相同。
[0125]
图10(a)是表示微粒分散有机硅橡胶中的峰b1、b2、b4的积分强度相对于峰b3的积分强度的比值(积分强度比)的图表。图10(b)是表示峰b1、b2、b4的峰高度相对于峰b3的峰高度的比值(峰高度比)的图表。在下面的表3中示出图10(a)的各标绘点的数值，在表4中示出图10(b)的各标绘点的数值。
[0126]
[表3]
[0127][0128]
[表4]
[0129][0130]
根据图10(a)、图10(b)，峰b1的积分强度比和峰高度比在紫外线的照射时间超过400小时时开始增加。由此可以确认，随着微粒分散有机硅橡胶因紫外线暴露而变质，峰b1的积分强度比和峰高度比增加。
[0131]
作为上述紫外线的照射时间之一的658小时是通过观察裂纹产生的目视试验而导出的、微粒分散有机硅橡胶因紫外线暴露而开始变质的时间。紫外线的照射时间为658小时
时的峰b1的积分强度比和峰高度比(用虚线r1表示)分别为约2.1和0.94，因此可以将它们用作用于诊断微粒分散有机硅橡胶的因紫外线暴露引起的变质程度的基准值。
[0132]
需要说明的是，与有机硅橡胶的裂纹同样地，微粒分散有机硅橡胶的裂纹不一定在因紫外线暴露而开始变质时产生。因此，在上述的目视试验中，反复进行多个实验，将最短的裂纹产生时间作为因紫外线暴露而开始变质的时间。另外，微粒分散有机硅橡胶的裂纹不一定在因紫外线暴露而开始变质时产生这一事实意味着，通过裂纹的产生来诊断微粒分散有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度是困难的。
[0133]
另外，根据图10(a)、图10(b)，峰b2的积分强度比和峰高度比在紫外线的照射时间超过400小时时开始上升。由此可以确认，随着微粒分散有机硅橡胶因紫外线暴露而变质，峰a2的积分强度比和峰高度比增加。
[0134]
紫外线的照射时间为658小时时的峰b2的积分强度比和峰高度比(用虚线r2表示)分别约为1.3和0.71，因此可以将它们用作用于诊断微粒分散有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度的基准值。
[0135]
另一方面，根据图10(a)、图10(b)，无法确认到峰b4的积分强度比和峰高度比随着紫外线的照射时间的增加而增加。
[0136]
(实施方式的总结)
[0137]
接着，对于从以上说明的实施方式掌握的技术思想，引用实施方式中的附图标记等进行记载。但是，以下的记载中的各符号等并不将权利要求书中的构成要素限定于实施方式中具体示出的部件等。
[0138]
[1]一种有机硅橡胶的品质管理方法，包括：
[0139]
测定工序，对有机硅橡胶照射激光，测定拉曼光谱；和
[0140]
诊断工序中，基于所述拉曼光谱中的归属于si-o3伸缩振动的第一峰的强度和包含归属于c-c-o对称伸缩振动的峰的第二峰的强度中的至少任一方，诊断所述有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。
[0141]
[2]根据上述[1]所述的有机硅橡胶的品质管理方法，其中，在所述诊断工序中，基于所述拉曼光谱中的所述第一峰的强度相对于归属于sic2伸缩振动的第三峰的强度之比的值和所述第二峰的强度相对于所述第三峰的强度之比的值中的至少任一方，诊断紫外线暴露对所述有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度的影响。
[0142]
[3]根据上述[2]所述的有机硅橡胶的品质管理方法，其中，
[0143]
所述第一峰是在所述拉曼光谱中在600cm-1
以上660cm-1
以下的范围内取最大强度的峰，所述第二峰是在所述拉曼光谱中在730cm-1
以上770cm-1
以下的范围内取最大强度的峰，所述第三峰是在所述拉曼光谱中在660cm-1
以上730cm-1
以下的范围内取最大强度的峰。
[0144]
[4]根据上述[2]或[3]所述的有机硅橡胶的品质管理方法，其中，在所述诊断工序中，根据所述第一峰的积分强度相对于所述第三峰的积分强度的比值是否为0.23以下的结果，来诊断所述有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。
[0145]
[5]根据上述[2]～[4]中任一项所述的有机硅橡胶的品质管理方法，其中，
[0146]
在上述诊断工序中，根据上述第二峰的积分强度相对于上述第三峰的积分强度的比值是否为0.02以下的结果，来诊断所述有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。
[0147]
[6]一种有机硅橡胶的品质管理方法，包括：
[0148]
测定工序，对分散有含si微粒的有机硅橡胶照射激光，测定拉曼光谱；和
[0149]
诊断工序中，基于所述拉曼光谱中的包含归属于si-ch3横摆振动的峰的第一峰的强度和包含归属于c-c-o对称伸缩振动的峰的第二峰的强度中的至少任一方，诊断分散有所述微粒的有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。
[0150]
[7]根据上述[6]所述的有机硅橡胶的品质管理方法，其中，在所述诊断工序中，基于所述拉曼光谱中的所述第一峰的强度相对于归属于sic2伸缩振动的第三峰的强度的比值和所述第二峰的强度相对于所述第三峰的强度的比值中的至少任一方，诊断分散有所述微粒的有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。
[0151]
[8]根据上述[7]所述的有机硅橡胶的品质管理方法，其中，
[0152]
所述第一峰是在所述拉曼光谱中在770cm-1
以上850cm-1
以下的范围内取最大强度的峰，所述第二峰是在所述拉曼光谱中在730cm-1
以上770cm-1
以下的范围内取最大强度的峰，所述第三峰是在所述拉曼光谱中在660cm-1
以上730cm-1
以下的范围内取最大强度的峰。
[0153]
[9]根据上述[7]或[8]所述的有机硅橡胶的品质管理方法，其中，在所述诊断工序中，根据所述第一峰的积分强度相对于所述第三峰的积分强度的比值是否为2.1以下的结果，来诊断分散有所述微粒的有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。
[0154]
[10]根据上述[7]～[9]中任一项所述的有机硅橡胶的品质管理方法，其中，在所述诊断工序中，根据所述第二峰的积分强度相对于所述第三峰的积分强度的比值是否为1.3以下的结果，来诊断分散有所述微粒的有机硅橡胶因紫外线暴露引起的变质程度。
[0155]
[11]一种层叠结构体1的制造方法，包括：形成由有机硅橡胶构成的第一层10的工序；和将由分散有含si微粒的有机硅橡胶构成的第二层11层叠于所述第一层10的工序，
[0156]
所述制造方法满足下述第一条件和第二条件中的至少任一方，
[0157]
第一条件：所述第一层10的所述有机硅橡胶是通过上述[1]～[5]中任一项所述的有机硅橡胶的品质管理方法诊断了因紫外线暴露引起的变质程度的有机硅橡胶，
[0158]
第二条件：所述第二层11的分散有所述微粒的有机硅橡胶是通过上述[6]～[10]中任一项所述的有机硅橡胶的品质管理方法诊断了因紫外线暴露引起的变质程度的有机硅橡胶。
[0159]
[12]一种电缆20或管40a、40b、40c的品质管理方法，所述电缆或管具有由有机硅橡胶构成的绝缘体，其中，通过上述[1]～[5]中任一项所述的有机硅橡胶的品质管理方法，来诊断所述绝缘体因紫外线暴露引起的变质程度。
[0160]
[13]一种电缆20或管40a、40b、40c的品质管理方法，所述电缆或管具有由分散有含si微粒的有机硅橡胶构成的绝缘体，其中，通过上述[6]～[10]中任一项所述的有机硅橡胶的品质管理方法，来诊断所述绝缘体因紫外线暴露引起的变质程度。
[0161]
[14]一种有机硅橡胶，其满足下述第一条件和第二条件中的至少任一方，
[0162]
第一条件：照射激光而得到的拉曼光谱中的归属于si-o3伸缩振动的第一峰的强度相对于归属于sic2伸缩振动的第三峰的强度的比值为0.23以下，
[0163]
第二条件：包含归属于c-c-o对称伸缩振动的峰的第二峰的强度相对于所述第三峰的强度的比值为0.02以下。
[0164]
[15]根据上述[14]所述的有机硅橡胶，其中，
[0165]
所述第一峰是在所述拉曼光谱中在600cm-1
以上660cm-1
以下的范围内取最大强度
的峰，所述第二峰是在所述拉曼光谱中在730cm-1
以上770cm-1
以下的范围内取最大强度的峰，所述第三峰是在所述拉曼光谱中在660cm-1
以上730cm-1
以下的范围内取最大强度的峰。
[0166]
[16]一种有机硅橡胶，其是分散有含si微粒的有机硅橡胶，且满足下述第一条件和第二条件中的至少任一方，
[0167]
第一条件：照射激光而得到的拉曼光谱中的包含归属于si-ch3横摆振动的峰的第一峰的强度相对于归属于sic2伸缩振动的第三峰的强度的比值为2.1以下，
[0168]
第二条件：包含归属于c-c-o对称伸缩振动的峰的第二峰的强度相对于所述第三峰的强度的比值为1.3以下。
[0169]
[17]根据上述[16]所述的有机硅橡胶，其中，
[0170]
所述第一峰是在所述拉曼光谱中在770cm-1
以上850cm-1
以下的范围内取最大强度的峰，所述第二峰是在所述拉曼光谱中在730cm-1
以上770cm-1
以下的范围内取最大强度的峰，所述第三峰是在所述拉曼光谱中在660cm-1
以上730cm-1
以下的范围内取最大强度的峰。
[0171]
[18]一种层叠结构体1，具有由有机硅橡胶构成的第一层、和层叠于所述第一层且由分散有含si微粒的有机硅橡胶构成的第二层，并且所述层叠结构体满足下述第一条件和第二条件中的至少任一方，
[0172]
第一条件：所述第一层的所述有机硅橡胶是上述[14]或[15]所述的有机硅橡胶的，
[0173]
第二条件：所述第二层的分散有所述微粒的有机硅橡胶是上述[16]或[17]所述的有机硅橡胶。
[0174]
[19]一种电缆20或管40a、40b、40c，其具有由上述[18]所述的层叠结构体1构成的绝缘体。
[0175]
以上，对本发明的实施方式以及实施例进行了说明，但本发明并不限定于上述实施方式以及实施例，在不脱离发明的主旨的范围内能够实施各种变形。另外，上述记载的实施方式以及实施例并不限定权利要求书所涉及的发明。另外，应该注意的是，实施方式以及实施例中说明的特征的组合的全部不一定是用于解决发明的课题的手段所必须的。