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一种用于提高玻璃表面物性的平面检测装置及其检测方法与流程

2022-02-20 04:58:17 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种用于提高玻璃表面物性的平面检测装置,包括:操作台;检测组件,安装在所述操作台上,被设置为进行对玻璃的检测工作;夹持组件,安装在所述操作台上,被设置为进行对玻璃的夹持工作;其特征在于,所述检测组件包括安装在所述操作台上的横向移动单元,以及安装在所述横向移动单元上的检测单元;所述检测单元包括检测架,固定安装在所述检测架上的灯光发射器,以及与所述检测架转动连接的灯光接收部;至少在灯光接收部呈水平放置时,灯光接收部接收灯光发射器发出的射线。2.根据权利要求1所述的一种用于提高玻璃表面物性的平面检测装置,其特征在于,所述操作台上还固定安装有运输组件,所述运输组件包括运输架;运输驱动单元,与所述运输架固定连接;运输传动单元,设置在所述运输架上。3.根据权利要求1所述的一种用于提高玻璃表面物性的平面检测装置,其特征在于,所述灯光接收部包括设置在所述检测架上的接收转轴,与所述接收固定连接的翻转板,以及设置在所述翻转板上的灯光接收器;所述灯光接收器与灯光发射器在同一直线上;所述检测架的侧部固定安装有旋转气缸,所述旋转气缸的输出端设有与所述接收转轴固定连接的接收输入轴。4.根据权利要求1所述的一种用于提高玻璃表面物性的平面检测装置,其特征在于,所述夹持组件包括固定安装在所述操作台上的竖向移动单元,以及安装在所述竖向移动单元上的夹持单元。5.根据权利要求4所述的一种用于提高玻璃表面物性的平面检测装置,其特征在于,所述夹持单元包括固定安装在所述竖向移动单元上的升降单元,以及与所述升降单元固定连接的夹具。6.根据权利要求4所述的一种用于提高玻璃表面物性的平面检测装置,其特征在于,所述竖向移动单元和横向移动单元为两组结构相同且呈垂直状态安装在所述操作台上的滑动单元;每组滑动单元包括滑动架,固定安装在所述操作台上且设置在运输架侧部;滑动驱动单元,与所述滑动架固定连接;滑动导向单元,与所述滑动架固定连接,用于导向滑动驱动单元。7.根据权利要求5所述的一种用于提高玻璃表面物性的平面检测装置,其特征在于,所述升降单元包括升降柱;升降驱动单元,固定安装在所述升降柱上;升降滑块,与所述升降驱动单元固定连接。8.根据权利要求7所述的一种用于提高玻璃表面物性的平面检测装置,其特征在于,所述夹具包括升降固定板,与升降滑块固定连接;夹取气缸,与所述升降固定板固定连接;夹取伸缩杆,共设计两组,分别设置在所述夹取气缸的两端;夹取臂,共设两组,分别与所夹取伸缩杆固定连接。
9.一种用于提高玻璃表面物性的平面检测装置的检测方法,其特征是,包括:步骤1、首先将玻璃放入运输组件内,通过运输驱动单元进带动运输传动单元进行转动,进而完成对玻璃的传送运输工作;步骤2、 通过夹持组件带动夹持单元进行完成对玻璃的夹持工作,首先通过升降单元带动夹具进行调整夹持高度,进而通过竖向移动单元带动夹具进行调整位置,进而完成对玻璃的夹持工作;步骤3、玻璃夹持后,通过竖向移动单元带动夹具进行移动至检测组件检测位置,通过调整灯光接收部呈水平放置,由旋转气缸带动接收输入轴进行转动,进而带动接收转轴进行转动,进而带动翻转板转动,进而带动灯光接收器进行转动,进而完成灯光接收器呈水平放置;步骤4、当灯光接收器呈水平放置后,启动灯光发射器,进行发射光线,进行照射放置在灯光发射器下方的玻璃,由于灯光发射器与灯光接收器在同一直线上,且玻璃与灯光发射器垂直,当玻璃两面呈平面时,灯光接收器将接收到灯光发射器发射光线的折射光线,而灯光发射器也在此时接收自身发射光线经过玻璃反射的光线,当玻璃任意一面具有弧度时,灯光接收器将接收不到灯光发射器发射光线经过玻璃的折射光或灯光发射器将接收不到自身发射光线经过玻璃反射的光线,进而通过灯光接收器及灯光发射器是否接收到折射光及反射光进行判断玻璃是否为平面状态;步骤5、而单一点的检测无法判定整个玻璃是否平整,此时通过横向移动单元带动灯光发射器和灯光接收器进行移动,同时配合竖向移动单元带动夹具进行移动,进而完成对玻璃多个位置进行检测,进而判断出玻璃是否平整。

技术总结
本发明公开了一种用于提高玻璃表面物性的平面检测装置及其检测方法,检测装置包括操作台、检测组件和夹持组件;检测组件包括安装在操作台上的横向移动单元和检测单元,同时还包括检测架、灯光发射器和灯光接收部;本发明设计灯光发射器和灯光接收部进行检测玻璃的平面;当玻璃两面呈平面时,灯光接收器将接收到灯光发射器发射光线的折射光线,而灯光发射器也在此时接收自身发射光线经过玻璃反射的光线,当玻璃任意一面具有弧度时,灯光接收器将接收不到灯光发射器发射光线经过玻璃的折射光或灯光发射器将接收不到自身发射光线经过玻璃反射的光线,进而通过灯光接收器及灯光发射器是否接收到折射光及反射光进行判断玻璃是否为平面状态。璃是否为平面状态。璃是否为平面状态。


技术研发人员:葛宋
受保护的技术使用者:苏州鑫格雅电子科技有限公司
技术研发日:2021.09.03
技术公布日:2022/1/10
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