用于以光学方式检查容器的方法和装置与流程

1.本发明涉及用于以光学方式检查容器的方法和装置，分别具有权利要求1和10的前序部分的特征。


背景技术：

2.通常，这样的方法和装置用于检查容器的异物和/或缺陷。为此，将容器输送到具有照明单元和照相机的检查单元，使得容器可以被透射光或入射光检查。在该处理中，照明单元从平面发光表面发射光，其中光经由容器透射或反射，并且随后用照相机捕获作为至少一个照相机图像。随后，图像处理单元针对强度信息分析至少一个照相机图像，以便识别容器的异物和/或缺陷。
3.例如，这样的方法和装置用于空容器或已经灌装有产品的容器的侧壁、底部和/或灌装水平检查。
4.这里，通常用漫射发光表面检查容器，以识别异物，从而抑制例如照相机图像中的玻璃印记或水滴。异物可以是例如污染、产品残留物或标签残留物等。
5.相比之下，为了识别缺陷，采用以定向方式发射的发光表面来放大由此发生的照相机图像中的光的折射。例如，缺陷可以是容器的损坏，例如碎裂的玻璃。也可以想到，这些是缺陷地产生的诸如局部材料隆起等的材料点。
6.因此，为了能够同样容易地识别出异物和缺陷，通常采用具有照明单元的不同发射特性的两个不同的检查单元。
7.这里的缺点是，这需要相应的努力和安装空间来对容器进行光学检查。
8.从us 2013/0215261 a1可知用于识别玻璃制品中的缺陷的方法和适合于该方法的装置。为了增加对比度，其中提出了具有多个相对于彼此偏移的光图案的照明。
9.de 10 2014 220 598 a1公开了一种用于容器的透射光检查的检查装置，该检查装置具有将发光表面分割成至少两个主要水平分离的部分区域所用的装置，该部分区域可以选择性地开启和关闭，以用于容器的侧壁检查和/或封闭头检查。
10.us 6,304,323 b1公开了用于识别瓶子中的缺陷的方法。
11.ep 0 472 881 a2公开了用于以光学方式检查透明容器底面的系统和方法。
12.us 2008/0310701 a1公开了用于视觉检查对象的方法和装置。
13.ep 0 926 486 b1公开了使用红外和偏振可见光来以光学方式检查透明容器所用的方法。
14.de 10 2017 008 406 a1公开了用于检查容器中的杂质和三维容器结构的具有彩色照明的检查装置。为此，辐射源包括发射不同波长范围或不同强度的辐射的多个空间分离的辐射带。在装饰要素的情况下，以这种方式出现局部颜色对比，而在杂质的情况下，仅出现局部亮度对比，而不出现局部颜色对比。然而，在极少数情况下，缺陷可能无法与有色容器中的异物区分开来。


技术实现要素：

15.本发明的目的是提供用于以光学方式检查容器的方法和装置，通过该方法和装置，只需要较少的努力并且需要较小的安装空间就可以识别出异物和缺陷这两者。
16.为了实现该目的，本发明提供了用于以光学方式检查具有权利要求1所述的特征的容器的方法。在从属权利要求中陈述了本发明的有利实施例。
17.在申请人的大量调查中，发现由于与缺陷相关的容器表面的局部修改，光在缺陷处的折射方式与容器的未受损区域处的折射方式不同。因此，光经由缺陷从与未受损区域不同的发光表面的不同发射位置向照相机偏转。反之，对于异物来说，情况通常不是这样或者不太常见，因为例如，污染导致光的局部吸收，而在该过程中基本上不影响朝向照相机的光路。
18.通过基于偏振特性、强度特性和/或相位特性来对从发光表面发射的光进行局部编码并由照相机捕获该光，可以与发光表面的发射特性无关地针对照相机图像的图像点确定对应的光分量各自源自哪个发射位置。通过图像处理单元针对发射位置的位置信息分析来至少一个照相机图像，例如由于发射位置的局部修改，可以将缺陷与异物之间区分开。反之，还可以被分析强度信息，以便能够利用发光表面的优选漫射发射特性来特别好地识别异物对光的吸收。因此，利用根据本发明的方法，可以用一个单独的检查单元同样好地识别异物和缺陷这两者。通过用一个单独的检查单元来完成该处理，为此需要较小的安装空间。
19.用于以光学方式检查的方法可以在饮料处理厂中使用。该方法可以在容器制造方法、清洁方法、灌装和/或封闭方法的上游或下游。该方法可用于满瓶或空瓶检查机。例如，该方法可用于检查回收的可重复使用的容器。
20.可以提供容器来接收饮料、食品、卫生产品、糊状物、化学物、生物和/或药物产品。容器可以被实施为瓶子，特别被实施为塑料瓶或玻璃瓶。塑料瓶可以具体是pet、pen、hd-pe或pp瓶。容器同样可以是主要成分由例如甘蔗、小麦或玉米等的可再生资源组成的可生物降解的容器或瓶子。容器可以设置有盖子，例如冠形盖、螺旋盖或可撕开的盖等。同样，容器可以是空的，优选没有任何盖子。
21.可以想到，该方法用于容器的侧壁、底部、开口和/或内容物控制。异物可能是污染、产品残留物和/或标签残留物等。例如，缺陷可以是容器的损坏，例如碎裂的玻璃。也可以想到，缺陷是缺陷地产生的诸如局部材料隆起或渐缩等的材料点。
22.容器可以利用输送器作为容器流输送到检查单元。输送器可以包括圆盘输送带和/或直线输送器。例如，可以想到输送器包括输送带，容器在该输送带上以直立位置输送到照明单元和照相机之间的区域。可以想到在输送期间保持一个或若干个容器的容器(puk)。如果例如照明通过容器底部透射光并且照相机通过容器开口检查底部，则容器也可以由横向带保持输送。
23.照明单元可以用例如灯泡、荧光管或至少一个led等的至少一个光源来生成光。优选地，可以用led矩阵生成光，并向发光表面发射。发光表面可以大于容器的照相机视图。还可以想到，发光表面仅对容器的照相机视图的部分进行照明。发光表面可以部分或完全漫射地发射光。优选地，发光表面可以包括漫射屏，通过该漫射屏，光从至少一个光源向照相机平面且漫射地散射。发射位置在这里可以指发光表面的位置点或平面部分。可以想到，发光表面的发射位置彼此间连续地转变，使得偏振特性、强度特性和/或相位特性在发光表面
上连续变化。
24.照相机可以用镜头和图像传感器捕获容器至少之一以及经由该容器透射或反射的光。图像传感器可以是例如cmos或ccd传感器。可以想到，照相机利用数据接口将至少一个照相机图像发送到图像处理单元。可以想到，光由照明单元生成，随后透射通过容器，然后被照相机捕获。针对至少一个照相机图像的各个图像点，照相机可以分离捕获的透射或反射光的偏振特性、强度特性和/或相位特性。
25.图像处理单元可以用信号处理器以及/或者用cpu和/或gpu处理至少一个照相机图像。为此，还可以想到图像处理单元包括存储单元、例如网络接口等的一个或多个数据接口、显示单元和/或输入单元。可以想到，图像处理单元利用作为计算机程序产品存在于存储单元中的图像处理算法来分析至少一个照相机图像。
[0026]“从发光表面发射的光基于偏振特性、强度特性和/或相位特性被局部编码，并且被照相机捕获，使得在至少一个照相机图像中，发光表面的不同发射位置可以彼此区分”在这里可以意味着光以局部变化的方式从具有偏振特性、强度特性和/或相位特性的发光表面发射，使得具有偏振特性、强度特性和/或相位特性的不同发射位置各自被不同地编码，其中照相机在至少一个照相机图像中捕获偏振特性、强度特性和/或相位特性作为位置信息。
[0027]
可以想到，基于偏振特性、强度特性和/或相位特性，发射光的局部编码适应于任务，特别是适应于容器类型。例如，为此，局部编码光的边界可以适用于容器高度和/或宽度。换句话说，随着偏振特性、强度特性和/或相位特性而变化的发光表面区域可以可变地扩大或缩小。
[0028]
从发光表面发射的光可以在波长光谱的可见范围和/或不可见范围内发射。例如，可见光范围内的光可以是人眼可感知的，和/或在380nm-750nm的波长范围内。不可见范围可以是人眼不可感知的，和/或可以在uv或ir波长范围内。还可以想到，可见范围与不可见范围相结合。例如，对于棕色玻璃容器，光可以以红色和红外光波长从发光表面发射。
[0029]
偏振特性在这里可以意味着光从发光表面的不同发射位置发射，发射位置各自具有不同的偏振方向。例如，在发光表面的区域中，可以布置具有连续变化的偏振进程的偏振滤波器，或者多个具有不同取向的偏振滤波器，使得发射光的偏振局部变化。可以想到，照相机分离至少一个照相机图像中的偏振特性。为此，照相机可以包括例如各自具有一个不同取向的偏振滤波器的多个图像传感器，或者具有偏振滤波器矩阵的单个图像传感器。特别地，照相机可以包括索尼imx250mzr传感器。偏振特性在这里可以意味着线偏振特性、椭圆偏振特性和/或圆偏振特性。
[0030]
可以想到，图像处理单元分析至少一个照相机图像以获得发射位置的位置信息，从而额外地识别容器处的例如压花、玻璃印记和珍珠等的局部材料印记，并且/或者将局部材料印记与异物区分开。这样的材料印记可以用作例如装饰要素。图像处理单元可以针对发射位置的强度信息和位置信息来分析至少一个照相机图像，以将具有改变的位置信息和改变的强度信息的区域识别为容器边缘。因为在容器边缘处，光束的模糊和特别明显的偏转这两者都受到影响，因此可以特别容易地识别出容器边缘。例如，通过图像处理单元分析相对于周围区域具有偏离强度信息和偏离位置信息的第三局部区域的至少一个照相机图像，来得出容器边缘存在的结论。
[0031]
还可以想到，除了偏振特性、强度特性和/或相位特性之外，还利用波长特性对从发光表面发射的光进行局部编码。因此，例如，可以利用波长并利用偏振这两者对发射光进行局部编码。照相机然后可以分离至少一个照相机图像中的波长特性和偏振特性这两者。例如，为此，照相机可以包括索尼imx250myr传感器。
[0032]
强度特性在这里意味着光从发光表面的不同发射位置发射，发射位置各自具有不同的强度或强度进程。发射光的相位特性在这里意味着周期性强度进程被调制在发射光上，特别是正弦强度进程被调制在发射光上，其中周期性强度进程的相位对于不同发射位置是不同的。
[0033]
图像处理单元可以针对具有偏离周围区域的强度信息的第一局部区域分析至少一个照相机图像，以得出异物存在的结论。通过通常吸收光的缺陷，可以经由偏离的强度信息特别容易地在至少一个照相机图像中识别出缺陷。
[0034]
图像处理单元可以针对具有偏离周围区域的位置信息的第二局部区域来分析至少一个照相机图像，以得出缺陷存在的结论。通过容器的缺陷以不同于缺陷周围区域的方式偏转光，可以以这种方式特别容易地在至少一个照相机图像中识别出缺陷。例如，在至少一个照相机图像中，缺陷可以具有与周围区域的偏振信息不同的偏振信息。由此，人们可以得出光的折射相对于周围区域是不同的并且因此缺陷存在的结论。
[0035]
利用图像处理单元，可以针对偏振特性、强度特性和/或相位特性将至少一个照相机图像分成强度通道和光特性通道，其中图像处理单元基于强度通道识别异物，并且基于光特性通道识别缺陷。因此，可以特别容易地在两个通道中分别分析异物和缺陷。强度通道在这里可以表示针对相对亮度、绝对亮度或强度的通道。
[0036]
可以想到，光从发光表面的各自具有时间上不同的强度进程的发射位置发射，以将不同发射位置编码为强度特性和/或相位特性。因此，可以以特别可靠的方式检查具有不同颜色透明度的容器。可以想到，在这里，相位特性包括针对不同发射位置中的各个发射位置而不同的强度进程的时间偏移。“时间偏移”在这里可以指相对于基准信号的偏移。换句话说，强度进程可以包括强度序列或正弦强度进程，强度进程的时间偏移在相对于基准信号的不同发射位置处被不同地选择。可以想到，照相机捕获透射或反射到容器中的光的传播时间差，来确定相位特性。例如，已知用于此的照相机捕获各个图像点的光的传播时间，或者分别相对于基准信号的相位偏移。
[0037]
额外地或替代地，可以想到，强度特性包括强度进程的光强度时间序列对于不同发射位置而各自不同。例如，对于不同发射位置，各自可以选择发射光的不同强度序列。强度序列在这里可以意味着例如若干个时间上连续的时间段的序列，其中在各个时间段中，光被明亮地或黑暗地发射。
[0038]
此外，为了实现该目的，本发明提供了用于以光学方式检查容器的装置，该装置具有权利要求10所述的特征。在从属权利要求中陈述了本发明的有利实施例。
[0039]
通过将照明单元实施为发射从基于偏振特性、强度特性和/或相位特性被局部编码的发光表面发射的光，并且通过将照相机实施为与发光表面的发射特性无关地捕获被局部编码的光，可以针对照相机图像的图像点确定对应的光分量各自源自哪个发射位置。通过将图像处理单元实施为针对发射位置的位置信息来分析至少一个照相机图像，可以例如由于发射位置的局部修改而在缺陷和异物之间进行区分。反之，还可以分析强度信息，以便
能够利用优选漫射的发射特性来特别好地识别异物对光的吸收。因此，利用根据本发明的装置，可以用一个单独的检查单元同样好地识别异物和缺陷。通过用一个单独的检查单元来完成该处理，为此需要较小的安装空间。
[0040]
用于以光学方式检查容器的装置可以被实施为执行根据权利要求1至9中任一项所述的方法。该装置可以类似地包括上述特征，特别包括根据权利要求1至9中任一项所述的特征。
[0041]
用于以光学方式检查的装置可以布置在饮料处理厂内。饮料处理厂可以包括容器处理机，特别包括容器制造机、清洗器、灌装器、封闭器、贴标机、直接印刷机和/或包装机。可以想到，该装置与所提到的用于检查的容器处理机其中之一相关联。这里，该装置可用于满瓶或空瓶检查。可以想到，例如该装置用于检查回收的可重复使用的容器。
[0042]
照明单元可以被实施为利用偏振特性、强度特性和/或相位特性局部不同地发射光。例如，在发光表面的区域中，可以布置具有连续变化的偏振进程的偏振滤波器，或者具有不同取向的多个偏振滤波器，以使得发射光的偏振局部变化。
[0043]
可以想到，照明单元被实施为从发光表面的发射位置发射光，发射位置各自具有时间上不同的强度进程，以将不同发射位置编码为强度特性和/或相位特性。因此，可以特别可靠地检查不同颜色的容器。
[0044]
照相机可以被实施为以空间分辨的方式捕获偏振特性、强度特性和/或相位特性。例如，如上关于该方法所述，这可以经由偏振滤波器来完成，特别是经由偏振滤波器矩阵来完成。照相机可以实施为偏振照相机和/或传播时间照相机。因此，能够以空间分辨的方式用较少的努力捕获波长特性、偏振特性、强度特性和/或相位特性。特别地，照相机可以包括索尼imx250mzr或imx 250myr传感器。
附图说明
[0045]
下面将参照附图中所示的示例性实施例更详细地例示本发明的进一步特征和优点。在图中：
[0046]
图1以流程图的形式示出根据本发明的用于以光学方式检查容器的方法的示例性实施例；
[0047]
图2以透视图的形式示出根据本发明的用于以光学方式检查容器的装置的示例性实施例；
[0048]
图3示出图2的照明单元的发光表面的详细视图；
[0049]
图4a-图4b示出在检查异物和缺陷期间图2和图3的发光表面和照相机的侧视图；
[0050]
图5a示出根据图4a-图4b基于偏振特性检查异物和缺陷期间的照相机图像；
[0051]
图5b-图5c示出图5a的照相机图像i的强度通道g和光特性通道c；以及
[0052]
图6a-图6b示出图2的照明单元的另一实施例的详细视图，其中光从发光表面的各自具有时间上不同的强度进程的发射位置发射。
具体实施方式
[0053]
在图1中，根据本发明的用于检查容器2的方法100的示例性实施例被表示为流程图。将参考图2-图6b更详细地例示方法100：
[0054]
在图2中，根据本发明的用于以光学方式检查容器2的装置1的示例性实施例被表示为透视图。人们可以看到具有照明单元3和照相机4的检查单元10。在照明单元3和照相机4之间布置输送器5，输送器5在这里仅作为示例实施为被实现为输送带，容器2在该输送带上沿方向r在照明单元3和照相机4之间输送(步骤101)。作为示例，仅表示出一个正被检查的单个容器2。然而，容器2在输送器5上被输送为容器流，并且每个容器在照明单元3和照相机4之间被以光学方式检查。
[0055]
照明单元从平面发光表面30发射光，以通过容器2透射光(步骤102)。发射光经由容器2透射向照相机4(步骤104)。还可以想到，通过将照明单元3布置在照相机4的对面，光经由容器2被反射。将照相机4布置在检查单元10处，使得该照相机在至少一个照相机图像中捕获容器2以及经由容器2透射的光(步骤105)。
[0056]
照明单元3可以包括例如led矩阵，其将光发射到发光表面30上。例如，发光表面30可以被实施为漫射屏，以优选地以漫射方式发射led的光。此外，照明单元3基于偏振特性、强度特性和/或相位特性以局部编码的方式从发光表面30发射光(步骤103)。这将在下面参考图3和图6a-图6b中的示例性实施例进行更详细的说明。相应地，照相机4被实施为捕获局部编码的光，使得在至少一个照相机图像中，发光表面30的不同发射位置可以彼此区分(步骤106)。
[0057]
此外，可以观看图像处理单元6，通过该图像处理单元6针对强度信息来分析至少一个照相机图像，以便识别出容器的异物和/或缺陷(步骤107)。这可以通过例如本身已知的用于识别至少一个照相机图像中的局部变化的图像处理算法来完成。
[0058]
此外，图像处理单元6针对发射位置的位置信息来分析至少一个照相机图像，以便将缺陷与异物区分开(步骤108)。
[0059]
下面将参考图3-图6b更详细地例示方法100和装置1。
[0060]
在图3中，表示了图2的发光表面30的详细视图。详细地，可以看到发光表面30的基于偏振特性、强度特性和/或相位特性被局部编码的不同发射位置31至42。
[0061]
例如，是偏振特性使得不同发射位置31至42发射各自具有不同偏振方向的光。例如，可以想到，发射位置31发射偏振方向为0
°
的光，发射位置34发射偏振方向为45
°
的光，发射位置37发射偏振方向为90
°
的光，发射位置40发射偏振方向为135
°
的光。相应地，发射位置23、33、35、36、38、39的偏振方向以插值的方式位于这些偏振方向之间，或者发射位置41至42的偏振方向由这些偏振方向外推。照明表面上的偏振方向的分布是示例性的。偏振方向也可以体现为不连续，意味着偏振方向的突变或偏振方向的重复样式。
[0062]
在该实施例中，为了捕获不同发射位置31至42并将其作为位置信息存储在至少一个照相机图像中，照相机4被实施为具有索尼imx250mzr图像传感器的偏振照相机。
[0063]
在图4a-图4b中，表示了检查异物8和缺陷7期间的图2和3的发光表面30和照相机4的侧视图。在图4b中，示出了图4a的细节d。
[0064]
人们可以看到在横向轮廓上具有不同发射位置31至42的平面地发射的发光表面30。从这里，光朝着照相机4平面地发射，并因此透射通过容器2。容器2在这里由例如透明玻璃材料组成，使得光透射通过容器2。
[0065]
照相机4包括图像传感器41和镜头42，以在至少一个照相机图像中捕获容器2。可以想到，照相机4被实施为偏振照相机和/或传播时间照相机。
[0066]
还可以看到从发射位置39开始穿过容器2的光束s1。该光束撞击异物8，异物8吸收该光束的一部分能量。因此，与直接周围区域相比，异物8以降低的强度出现在照相机4的至少一个照相机图像中。通过异物不偏转光束s1，异物以与发射位置39的直接周围区域相同的偏振特性、强度特性和/或相位特性出现在至少一个照相机图像中。
[0067]
此外，可以看到光束s2，其从位置36开始，在缺陷7的周围区域中穿过容器2。这里，取决于容器2的材料，光仅被轻微吸收，使得至少一个照相机图像中的相应图像点以高强度以及发射位置36的偏振特性、强度特性和/或相位特性出现。此外，从图4b中还可以看出，光束s2在容器内壁22和容器外壁21相对于彼此以平面平行的方式延伸的点处穿过容器2。因此，取决于撞击的角度，光束s2仅经受轻微的偏移，然而方向没有改变。因此，相应的图像点在至少一个照相机图像中以高强度和发射位置36的偏振特性、强度特性和/或相位特性出现。
[0068]
相比之下，在图4b中可以看到，缺陷7包括容器外壁21处的局部缺口表面71、72。例如，这可能是由于碎裂造成的缺口。因此，光束s3、s4通过光的折射在局部缺口表面71、72处偏转。更准确地，光束s3从发射位置38发射，并且在其穿过容器2的过程中，通过光的折射在第一缺口表面71处朝向照相机4偏转。相比之下，光束s4从发射位置33开始穿过容器2，并且通过光的折射在第二缺口表面72处朝向照相机4偏转。因此，由于光的局部折射，在至少一个照相机图像中，缺陷7出现在与周围区域相比具有不同的偏振特性、强度特性和/或相位特性的缺口表面71、72处。
[0069]
图5a是更详细地表示的基于偏振特性检查异物8和缺陷7期间的照相机图像i。
[0070]
可以看到容器2出现在照相机图像i中的发光表面30的前面。还可以看到异物8被成像为模糊的第一局部区域8’。相比之下，缺陷7被成像为强度与直接周围区域的强度类似的第二局部区域7’，然而，因为如图4a所示光束被缺陷7局部偏转，因此该第二局部区域出现为具有发射位置33的位置信息33’的上部区域以及具有发射位置38的位置信息38’的下部区域。
[0071]
在图5b-图5c中，表示了图5a的照相机图像i的强度通道g和光特性通道c。针对偏振特性、强度特性和/或相位特性光特性，光特性通道c被提供。
[0072]
图2中表示的图像处理单元6最初将图5a中表示的照相机图像i分成强度通道g和光特性通道c。由于在该实施例中，发光表面基于偏振特性发射光，并且照相机4捕获偏振方向作为位置信息，所以光特性通道c是偏振通道。
[0073]
图像处理单元6随后利用偏离周围区域u1的强度信息，针对第一局部区域8’来分析照相机图像i的强度通道g，以得出异物8存在的结论。例如，这是通过用于识别亮度变化的滤波器来完成的。
[0074]
此外，图像处理单元6利用偏离周围区域u2的位置信息，针对第二局部区域7’来分析具有偏振的照相机图像i的光特性通道c。如图5c所示，缺陷7的局部区域7’出现为具有位置信息33’的上部区域以及具有位置信息38’的下部区域。相比之下，直接周围区域u2包括发射位置36的位置信息36’。因此，由于第二局部区域7’具有与其周围区域u2不同的位置信息33’、38’，因此缺陷7可以与异物8区分开。
[0075]
在识别出异物8和/或缺陷7之后，图像处理单元6分别生成容器2包括异物8或缺陷7的信号。基于该信号，可以控制开关，以例如在检查之后，排出相应的容器2，以用于再清洁
或回收。
[0076]
在图6a-图6b中，示出了图2的照明单元3的另一实施例的详细视图，其中光从发光表面30的各自具有时间上不同的强度进程的发射位置31至42发射。
[0077]
在图6a中，可以看到发射位置33以正弦强度进程50发射光，该正弦强度进程包括相对于时间基准或基准信号的时间偏移p1＝0。相比之下，发射位置39的强度进程也正弦延伸，然而，与时间基准或基准信号相比，该强度进程具有不同的时间偏移p2。两个发射位置33、39的强度进程在这里仅作为示例示出。然而，所有其他发射位置31、32、34至38、40至42也具有正弦强度进程，各个正弦强度进程具有不同的时间偏移。这对应于正弦时间变化的相应不同相位，使得从发光表面30发射的光基于相位特性被局部编码。
[0078]
为了在照相机图像中捕获不同发射位置31至42的不同相位或时间偏移，照相机4示出了经由容器2透射的光的传播时间差，以便确定照相机图像的各个图像点的相位特性。换句话说，照相机4在这里体现为传播时间照相机。可以想到，照相机针对图像点捕获各自相对于时间基准或基准信号的时间偏移。然后，该时间偏移对应于位置信息，然后如上所述，用图像处理单元6分析该位置信息，以便将缺陷7与异物8区分开。
[0079]
相对而言，在图6b中可以看到，光从发光表面30的各自具有不同强度进程52、53的发射位置31至42发射，其中强度进程52、53各自分别具有不同的强度级序列i1至i6或i7至i12。例如，第一强度进程52交替地具有两亮和两暗的强度级i1至i6。相比之下，第二强度进程53交替地具有一亮和一暗的强度级i7至i12。发射位置33和39的强度进程52、53在这里仅作为示例指出。换句话说，不同发射位置31至42各自发射不同强度级的时间序列，使得不同发射位置基于强度特性被编码。
[0080]
不同的强度进程52、53通过照相机4在照相机图像序列中被捕获，并且作为发射位置31至42的位置信息被图像处理单元6分析，以将缺陷7与异物8区分开。
[0081]
类比于图5a-图5c，在分析之后，第二局部区域7’具有偏离周围区域u2的对应于不同的位置信息的强度进程(或多个偏离的强度进程)，并且因此可以得出缺陷7存在的结论。
[0082]
通过将图1-图6b中的示例性实施例中的照明单元3实施为基于偏振特性、强度特性和/或相位特性以局部编码的方式发射从发光表面30发射的光，并且通过将照相机4实施为捕获局部编码的光，可以与发光表面30的发射特性无关地针对照相机图像的图像点来确定相应的光分量源自发射位置31至42中的哪一个。通过将图像处理单元6实施为针对发射位置31至42的局部信息来分析至少一个照相机图像，由于发射位置33、38的局部改变，因此例如可以在缺陷和异物之间进行区分。反之，还可以分析强度信息，以能够利用优选漫射的发射特性来特别好地识别异物7对光的吸收。因此，利用根据本发明的方法100或装置1，可以用一个单独的检查单元10同样好地识别异物7和缺陷8这两者。通过用一个单独的检查单元10完成该处理，为此需要较小的安装空间。
[0083]
将理解的是，在上述示例性实施例中提到的特征不限于这些特征的组合，也可以单独或以任何其他组合的形式出现。