一种内存信号质量评估方法、系统及装置与流程

1.本发明涉及存储领域，特别是涉及一种内存信号质量评估方法、系统及装置。


背景技术：

2.目前，对于ddr(double data rate，双倍速率)内存，通常采用示波器探头点测内存信号的方式来测试内存信号的质量。但是，这种方法受制于测试人员的手法和测试设备，容易影响测试结果的准确性；且示波器、探头等物理设备的价格昂贵，导致测试成本较高。
3.因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域的技术人员目前需要解决的问题。


技术实现要素：

4.本发明的目的是提供一种内存信号质量评估方法、系统及装置，通过软件层面评估内存信号质量，不依靠示波器、探头等物理设备，更加方便和节省成本，且评估准确性较高。
5.为解决上述技术问题，本发明提供了一种内存信号质量评估方法，包括：
6.在内存初始化之后，确定所述内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围；
7.将所述读写参考电平值从所述第一取值范围内按照预设第一步进值依次取值，并将所述读写时序电平值从所述第二取值范围内按照预设第二步进值依次取值，且分别在不同取值的所述读写参考电平值和所述读写时序电平值下对所述内存进行读/写操作；
8.根据所有所述读/写操作的整体成功情况，相应评估所述内存的读/写信号质量。
9.优选地，将所述读写参考电平值从所述第一取值范围内按照预设第一步进值依次取值，并将所述读写时序电平值从所述第二取值范围内按照预设第二步进值依次取值，且分别在不同取值的所述读写参考电平值和所述读写时序电平值下对所述内存进行读/写操作，包括：
10.将所述读写参考电平值从所述第一取值范围的最大值开始，按照预设第一步进值依次取值，直至取到所述第一取值范围的最小值；
11.以每次所述读写参考电平值的取值为基础，将所述读写时序电平值从所述第二取值范围的最小值开始，按照预设第二步进值依次取值，直至取到所述第二取值范围的最大值，并分别在不同取值的所述读写时序电平值下对所述内存进行读/写操作。
12.优选地，所述预设第一步进值和所述预设第二步进值的确定过程，包括：
13.预先设置第一步进值、第二步进值与评估准确度要求之间的步进准确度对应关系；
14.根据所述步进准确度对应关系，确定与所述内存的实际评估准确度要求对应的所述预设第一步进值及所述预设第二步进值。
15.优选地，在内存初始化之后，确定所述内存的读写参考电平值对应的第一取值范
围及读写时序电平值对应的第二取值范围，包括：
16.通过定制bios，使所述内存所在的系统主板开机后停止在所述内存的初始化过程结束后，以进入确定所述内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围的步骤。
17.优选地，所述内存信号质量评估方法还包括：
18.以所述读写时序电平值为横坐标、以所述读写参考电平值为纵坐标，分别建立读信号图和写信号图；其中，在任一取值的所述读写参考电平值和所述读写时序电平值下，若读操作失败，则将所述读信号图上对应的取值区域标记为失败区域、若写操作失败，则将所述写信号图上对应的取值区域标记为失败区域。
19.优选地，所述内存信号质量评估方法还包括：
20.分别在所述读信号图和所述写信号图的中心区域划分出第一信号标准区域，并在所述第一信号标准区域的外围区域划分出第二信号标准区域；
21.则根据所有所述读/写操作的整体成功情况，相应评估所述内存的读/写信号质量，包括：
22.在目标信号图上，若所述失败区域在所述第二信号标准区域的外围，则确定所述内存的目标信号质量为高质量；其中，所述目标信号图为所述读信号图或所述写信号图；
23.若所述失败区域在所述第一信号标准区域的外围且与所述第二信号标准区域有重合区域，则确定所述内存的目标信号质量为中等质量；
24.若所述失败区域与所述第一信号标准区域和所述第二信号标准区域均有重合区域，则确定所述内存的目标信号质量为低质量。
25.优选地，所述内存信号质量评估方法还包括：
26.将所述目标信号图上的失败区域、第一信号标准区域及第二信号标准区域分别标记为不同颜色。
27.为解决上述技术问题，本发明还提供了一种内存信号质量评估系统，包括：
28.确定模块，用于在内存初始化之后，确定所述内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围；
29.读写模块，用于将所述读写参考电平值从所述第一取值范围内按照预设第一步进值依次取值，并将所述读写时序电平值从所述第二取值范围内按照预设第二步进值依次取值，且分别在不同取值的所述读写参考电平值和所述读写时序电平值下对所述内存进行读/写操作；
30.评估模块，用于根据所有所述读/写操作的整体成功情况，相应评估所述内存的读/写信号质量。
31.优选地，所述内存信号质量评估系统还包括：
32.建立模块，用于以所述读写时序电平值为横坐标、以所述读写参考电平值为纵坐标，分别建立读信号图和写信号图；其中，在任一取值的所述读写参考电平值和所述读写时序电平值下，若读操作失败，则将所述读信号图上对应的取值区域标记为失败区域、若写操作失败，则将所述写信号图上对应的取值区域标记为失败区域。
33.为解决上述技术问题，本发明还提供了一种内存信号质量评估装置，包括：
34.存储器，用于存储计算机程序；
35.处理器，用于在执行所述计算机程序时实现上述任一种内存信号质量评估方法的步骤。
36.本发明提供了一种内存信号质量评估方法，在内存初始化之后，确定内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围；将读写参考电平值从第一取值范围内按照预设第一步进值依次取值，并将读写时序电平值从第二取值范围内按照预设第二步进值依次取值，且分别在不同取值的读写参考电平值和读写时序电平值下对内存进行读/写操作；根据所有读/写操作的整体成功情况，相应评估内存的读/写信号质量。可见，本技术通过软件层面评估内存信号质量，不依靠示波器、探头等物理设备，更加方便和节省成本，且评估准确性较高。
37.本发明还提供了一种内存信号质量评估系统及装置，与上述质量评估方法具有相同的有益效果。
附图说明
38.为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
39.图1为本发明实施例提供的一种内存信号质量评估方法的流程图；
40.图2为本发明实施例提供的一种以读写时序电平值为横坐标、以读写参考电平值为纵坐标的读/写信号图；
41.图3为本发明实施例提供的一种读/写信号图上的标准区域图；
42.图4为本发明实施例提供的一种完整的读/写信号图的生成过程图；
43.图5为本发明实施例提供的一种现有技术方案的测试点示意图；
44.图6为本发明实施例提供的一种改进方案的测试点示意图；
45.图7为本发明实施例提供的一种内存信号质量评估系统的结构示意图。
具体实施方式
46.本发明的核心是提供一种内存信号质量评估方法、系统及装置，通过软件层面评估内存信号质量，不依靠示波器、探头等物理设备，更加方便和节省成本，且评估准确性较高。
47.为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
48.请参照图1，图1为本发明实施例提供的一种内存信号质量评估方法的流程图。
49.该内存信号质量评估方法包括：
50.步骤s1：在内存初始化之后，确定内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围。
51.具体地，本技术在内存初始化之后，确定内存的读写参考电平值(vref level)对
应的取值范围(称为第一取值范围)，并确定内存的读写时序电平值(timing level)对应的取值范围(称为第二取值范围)。
52.步骤s2：将读写参考电平值从第一取值范围内按照预设第一步进值依次取值，并将读写时序电平值从第二取值范围内按照预设第二步进值依次取值，且分别在不同取值的读写参考电平值和读写时序电平值下对内存进行读/写操作。
53.具体地，本技术将内存的读写参考电平值从第一取值范围内按照预设第一步进值依次取值，并将内存的读写时序电平值从第二取值范围内按照预设第二步进值依次取值。比如，内存的读写参考电平值及读写时序电平值的取值范围均为﹣5～ 5，预设第一步进值和预设第二步进值均为1，则内存的读写参考电平值及读写时序电平值的取值均包括﹣5、﹣4、﹣3
……
3、4、5(这只是一种实施例，至于具体的取值范围和步进值大小的设置根据实际情况设定)。
54.基于此，本技术在内存的读写参考电平值取某一值、读写时序电平值取某一值的情况下，对内存进行读/写操作，从而实现分别在不同取值的读写参考电平值和读写时序电平值下对内存进行读/写操作，以为后续评估内存的读/写信号质量提供依据。
55.步骤s3：根据所有读/写操作的整体成功情况，相应评估内存的读/写信号质量。
56.具体地，本技术在所有取值的读写参考电平值和读写时序电平值下，均对内存进行读/写操作，得到所有取值下的读/写操作结果(成功或失败)，然后根据所有读/写操作的整体成功情况，相应评估内存的读/写信号质量，即根据所有读操作的整体成功情况评估内存的读信号质量，根据所有写操作的整体成功情况评估内存的写信号质量。可以理解的是，在所有读操作中，成功的读操作越多，内存的读信号质量越好；在所有写操作中，成功的写操作越多，内存的写信号质量越好。
57.本发明提供了一种内存信号质量评估方法，在内存初始化之后，确定内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围；将读写参考电平值从第一取值范围内按照预设第一步进值依次取值，并将读写时序电平值从第二取值范围内按照预设第二步进值依次取值，且分别在不同取值的读写参考电平值和读写时序电平值下对内存进行读/写操作；根据所有读/写操作的整体成功情况，相应评估内存的读/写信号质量。可见，本技术通过软件层面评估内存信号质量，不依靠示波器、探头等物理设备，更加方便和节省成本，且评估准确性较高。
58.在上述实施例的基础上：
59.作为一种可选的实施例，将读写参考电平值从第一取值范围内按照预设第一步进值依次取值，并将读写时序电平值从第二取值范围内按照预设第二步进值依次取值，且分别在不同取值的读写参考电平值和读写时序电平值下对内存进行读/写操作，包括：
60.将读写参考电平值从第一取值范围的最大值开始，按照预设第一步进值依次取值，直至取到第一取值范围的最小值；
61.以每次读写参考电平值的取值为基础，将读写时序电平值从第二取值范围的最小值开始，按照预设第二步进值依次取值，直至取到第二取值范围的最大值，并分别在不同取值的读写时序电平值下对内存进行读/写操作。
62.具体地，本技术将内存的读写参考电平值从第一取值范围的最大值开始，按照预设第一步进值依次取值，直至取到第一取值范围的最小值，比如，内存的读写参考电平值的
取值范围为﹣5～ 5，预设第一步进值为1，则内存的读写参考电平值从大到小取值为5、4、3
……
﹣3、﹣4、﹣5。
63.本技术将内存的读写时序电平值从第二取值范围的最小值开始，按照预设第二步进值依次取值，直至取到第二取值范围的最大值，比如，内存的读写时序电平值的取值范围为﹣5～ 5，预设第二步进值为1，则内存的读写时序电平值从小到大取值为﹣5、﹣4、﹣3
……
3、4、5。
64.基于此，本技术以每次读写参考电平值的取值为基础，分别在不同取值的读写时序电平值下对内存进行读/写操作，比如，在读写参考电平值取5的基础上，读写时序电平值从﹣5按照步进值1一直取值到5，并分别在11个取值的读写时序电平值下对内存进行读/写操作。在读写参考电平值取其它值时与取5时同理(这只是一种实施例，至于具体的取值范围和步进值大小的设置根据实际情况设定)，从而实现在所有取值的读写参考电平值和读写时序电平值下，均对内存进行读/写操作。作为一种可选的实施例，预设第一步进值和预设第二步进值的确定过程，包括：
65.预先设置第一步进值、第二步进值与评估准确度要求之间的步进准确度对应关系；
66.根据步进准确度对应关系，确定与内存的实际评估准确度要求对应的预设第一步进值及预设第二步进值。
67.具体地，考虑到步进值越小，内存信号质量评估结果越准确，所以本技术提前设置第一步进值、第二步进值与评估准确度要求之间的步进准确度对应关系，然后根据步进准确度对应关系，确定与内存的实际评估准确度要求对应的预设第一步进值及预设第二步进值。
68.作为一种可选的实施例，在内存初始化之后，确定内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围，包括：
69.通过定制bios，使内存所在的系统主板开机后停止在内存的初始化过程结束后，以进入确定内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围的步骤。
70.具体地，考虑到在内存所在的系统的bios(basic input output system，基本输入输出系统)程序里包含用于初始化内存的内存参考代码，所以本技术通过定制bios，使内存所在的系统主板开机后停止在内存的初始化过程结束后，以进入确定内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围的步骤，即进入内存信号质量评估。
71.作为一种可选的实施例，内存信号质量评估方法还包括：
72.以读写时序电平值为横坐标、以读写参考电平值为纵坐标，分别建立读信号图和写信号图；其中，在任一取值的读写参考电平值和读写时序电平值下，若读操作失败，则将读信号图上对应的取值区域标记为失败区域、若写操作失败，则将写信号图上对应的取值区域标记为失败区域。
73.进一步地，本技术还以读写时序电平值为横坐标、以读写参考电平值为纵坐标，分别建立内存对应的读信号图和写信号图，如图2所示。如图2所示的verf level不包含单位，只代表量化后的量级大小。比如，将取值范围分成
‑
n～ n，每个格大小可能是10mv，也可能
是20mv(timing level也是相同道理)。
74.需要说明的是，在任一取值的读写参考电平值和读写时序电平值下，若读操作失败，则将读信号图上对应的取值区域标记为失败区域，比如，以n＝5为例(n也可取其它值，与n取5原理相同)，在读写参考电平值取5、读写时序电平值取﹣5的情况下，若读操作失败，则将读信号图上对应的取值区域(读写参考电平值取5、读写时序电平值取﹣5的区域，即作为读信号图的图2的最左上角方框区域)标记为失败区域。在任一取值的读写参考电平值和读写时序电平值下，若写操作失败，则将写信号图上对应的取值区域标记为失败区域，比如，以n＝5为例，在读写参考电平值取5、读写时序电平值取﹣5的情况下，若写操作失败，则将写信号图上对应的取值区域(读写参考电平值取5、读写时序电平值取﹣5的区域，即作为写信号图的图2的最左上角方框区域)标记为失败区域。
75.作为一种可选的实施例，内存信号质量评估方法还包括：
76.分别在读信号图和写信号图的中心区域划分出第一信号标准区域，并在第一信号标准区域的外围区域划分出第二信号标准区域；
77.则根据所有读/写操作的整体成功情况，相应评估内存的读/写信号质量，包括：
78.在目标信号图上，若失败区域在第二信号标准区域的外围，则确定内存的目标信号质量为高质量；其中，目标信号图为读信号图或写信号图；
79.若失败区域在第一信号标准区域的外围且与第二信号标准区域有重合区域，则确定内存的目标信号质量为中等质量；
80.若失败区域与第一信号标准区域和第二信号标准区域均有重合区域，则确定内存的目标信号质量为低质量。
81.具体地，本技术对读信号图和写信号图均进行如下操作(以目标信号图进行说明)：在目标信号图的中心区域划分出第一信号标准区域，并在第一信号标准区域的外围区域划分出第二信号标准区域，如图3所示。
82.基于此，内存的读/写信号质量的评估原理为：在读信号图上，若失败区域在第二信号标准区域的外围，则确定内存的读信号质量为高质量(如图4生成的信号图对应的信号质量为高质量)；若失败区域在第一信号标准区域的外围且与第二信号标准区域有重合区域，则确定内存的读信号质量为中等质量；若失败区域与第一信号标准区域和第二信号标准区域均有重合区域，则确定内存的读信号质量为低质量。同理，在写信号图上，若失败区域在第二信号标准区域的外围，则确定内存的写信号质量为高质量；若失败区域在第一信号标准区域的外围且与第二信号标准区域有重合区域，则确定内存的写信号质量为中等质量；若失败区域与第一信号标准区域和第二信号标准区域均有重合区域，则确定内存的写信号质量为低质量。
83.作为一种可选的实施例，内存信号质量评估方法还包括：
84.将目标信号图上的失败区域、第一信号标准区域及第二信号标准区域分别标记为不同颜色。
85.具体地，本技术还可将读信号图上的失败区域、第一信号标准区域及第二信号标准区域分别标记为不同颜色，将写信号图上的失败区域、第一信号标准区域及第二信号标准区域分别标记为不同颜色。
86.需要说明的是，本技术的内存信号质量评估方法可应用于服务器产品中。服务器
主板上cpu(中央处理器)与内存交互，可利用cpu编程实现上述任一种内存信号质量评估方法的步骤。对比现有技术和本技术的方案：测试点分为读信号测试点和写信号测试点，如图5所示，对于现有技术，读测试点和写测试点均在内存条上；如图6所示，对于本技术，信号的抓取和分析都由软件在cpu和内存条上的内存颗粒芯片内部进行，是信号传输的最终端，测量更加准确。
87.另外，本技术的技术方案可以应用于arm(advanced risc machines，risc微处理器)、x86、mips(microprocessor without interlocked piped stages architecture，采取精简指令集的处理器架构)等平台，只需要在对应平台合理定制和优化bios，即可进行平台上内存信号质量的评估。
88.请参照图7，图7为本发明实施例提供的一种内存信号质量评估系统的结构示意图。
89.该内存信号质量评估系统包括：
90.确定模块1，用于在内存初始化之后，确定内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围；
91.读写模块2，用于将读写参考电平值从第一取值范围内按照预设第一步进值依次取值，并将读写时序电平值从第二取值范围内按照预设第二步进值依次取值，且分别在不同取值的读写参考电平值和读写时序电平值下对内存进行读/写操作；
92.评估模块3，用于根据所有读/写操作的整体成功情况，相应评估内存的读/写信号质量。
93.作为一种可选的实施例，内存信号质量评估系统还包括：
94.建立模块，用于以读写时序电平值为横坐标、以读写参考电平值为纵坐标，分别建立读信号图和写信号图；其中，在任一取值的读写参考电平值和读写时序电平值下，若读操作失败，则将读信号图上对应的取值区域标记为失败区域、若写操作失败，则将写信号图上对应的取值区域标记为失败区域。
95.本技术提供的质量评估系统的介绍请参考上述质量评估方法的实施例，本技术在此不再赘述。
96.本技术还提供了一种内存信号质量评估装置，包括：
97.存储器，用于存储计算机程序；
98.处理器，用于在执行计算机程序时实现上述任一种内存信号质量评估方法的步骤。
99.本技术提供的质量评估装置的介绍请参考上述质量评估方法的实施例，本技术在此不再赘述。
100.还需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
101.对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其他实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。