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一种黑磷-二维电子气异质结忆阻器及其制备方法与流程

2021-12-01 02:04:00 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种黑磷

二维电子气异质结忆阻器,其特征在于,从下至上依次为钛酸锶衬底、二维异质结、金属电极、保护层及导线;所述二维异质结由二维黑磷薄片及二维电子气构成,所述二维黑磷薄片为异质结的p端,所述二维电子气为异质结的n端;所述二维黑磷薄片与所述二维电子气的界面处具有铁电特性;所述二维电子气由离子束轰击钛酸锶衬底得到;所述金属电极部分覆盖在二维黑磷薄片表面,所述金属电极与二维电子气区域无接触;所述导线穿过保护层连接金属电极及二维电子气所在的衬底表面。2.根据权利要求1所述的一种黑磷

二维电子气异质结忆阻器,其特征在于,所述金属电极的材料为金、银、铜中的一种。3.根据权利要求1所述的一种黑磷

二维电子气异质结忆阻器,其特征在于,所述保护层材料为聚甲基丙烯酸甲酯或聚醋酸乙烯酯。4.根据权利要求1所述的一种黑磷

二维电子气异质结忆阻器,其特征在于,所述保护层的厚度为0.2

10μm。5.根据权利要求1所述的一种黑磷

二维电子气异质结忆阻器,其特征在于,所述二维黑磷薄片的厚度为30

60nm。6.根据权利要求1~5任一项所述的一种黑磷

二维电子气异质结忆阻器的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)利用机械剥离法减薄黑磷,得到二维黑磷薄片并转移至钛酸锶衬底的上表面;(2)在二维黑磷薄片及衬底上表面涂覆光刻胶,进行第一次局部光刻,光刻结束后,对光刻区域进行磁控溅射制备金属薄膜,溅射结束后,去除光刻胶;(3)在金属薄膜、二维黑磷薄片及衬底的上表面涂覆一层光刻胶,进行第二次局部光刻,光刻结束后,对光刻区域进行离子束轰击,在轰击部位的衬底表面形成所述二维电子气,轰击结束后,去除光刻胶;(4)在整体器件的上表面涂覆保护层,固化后在金属薄膜及二维电子气所在的衬底表面焊接导线,得到所述黑磷

二维电子气异质结忆阻器。7.根据权利要求6所述的一种黑磷

二维电子气异质结忆阻器的制备方法,其特征在于,所述第一局部光刻区域覆盖二维黑磷薄片表面面积的1/4~2/3;所述第二局部光刻区域覆盖二维黑磷薄片表面面积的1/4~2/3;第一局部光刻区域与第二局部光刻区域不相交。8.根据权利要求6所述的一种黑磷

二维电子气异质结忆阻器的制备方法,其特征在于,步骤(1)中,所述机械剥离法减薄黑磷的具体操作为:将黑磷块体材料置于胶带上,进行3

5次黏贴剥离,获得二维黑磷薄片。9.根据权利要求6所述的一种黑磷

二维电子气异质结忆阻器的制备方法,其特征在于,步骤(3)中,离子束轰击的具体操作为:采用氩离子束在200~400v的轰击电压下,对光刻区域轰击5~15min。10.根据权利要求6所述的一种黑磷

二维电子气异质结忆阻器的制备方法,其特征在于,步骤(4)中,焊接导线的具体操作为:通过点焊针在保护层上施加压力,将导线穿透保护层压至金属薄膜及二维电极气所在的衬底表面。

技术总结
本发明公开了一种黑磷


技术研发人员:姜昱丞 马兴龙 高炬
受保护的技术使用者:苏州科技大学
技术研发日:2021.08.30
技术公布日:2021/11/30
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