光学模组测试方法、装置、设备、系统及可读存储介质与流程

1.本技术涉及电子设备检测技术领域，特别是涉及一种光学模组测试方法、装置、设备、系统及可读存储介质。


背景技术：

2.光学模组广泛应用于手机、机器人、vr/ar以及各种智能视觉硬件市场等领域，随着光学模组产品需求的扩大，为了保证产品的良品率，提高用户的体验，光学模组的检测已成为生产过程中非常重要的一个环节。
3.传统的光学模组组装完成后需要进行烧录/调焦/功能测试等作业，作业时需要用测试治具进行测试，测试治具内设置有光源，光源发出的光照射到光学模组上，然后进行对光学模组的各项测试。由于每个治具中光源的背光值都不同，测试前必须对每个测试环境手动设置背光值，手动方式效率低，易出错，且无量产性，使用不便捷。


技术实现要素：

4.基于此，有必要针对传统的光学模组测试不便捷的问题，提供一种光学模组测试方法、装置、设备、系统及可读存储介质。
5.一种光学模组测试方法，包括以下步骤：
6.在预设参数范围内选取控制参数；
7.根据所述控制参数控制治具中的光源工作；所述光源和光学模组均设置于所述治具内，所述光源用于点亮光学模组；
8.检测所述光源的背光值，当所述背光值与所述光源的理想背光值的差异值在允许误差范围内时，将选取的控制参数作为目标控制参数；
9.根据所述目标控制参数发送点亮指令至所述光源并记录曝光计时起点，当检测到所述光学模组中的电流满足预设电流条件时记录曝光计时终点，根据所述计时起点和所述计时终点得到目标曝光时长；所述点亮指令用于控制所述光源根据所述目标控制参数点亮光学模组；
10.根据所述目标控制参数和所述目标曝光时长对光学模组进行测试。
11.在其中一个实施例中，所述根据所述控制参数控制治具中的光源工作之后，还包括：检测所述光源的背光值，当所述背光值与所述光源的理想背光值的差异值不在允许误差范围内时，返回所述在预设参数范围内选取控制参数。
12.该步骤可以循环执行，直至选取的控制参数对应的背光值与理想背光值在允许误差范围内，从而确保选到满足背光值需求的控制参数。
13.在其中一个实施例中，所述控制参数的类型为两种以上。根据多种类型的控制参数调节背光值可以提高调节的有效性。
14.在其中一个实施例中，所述预设参数范围为大于或等于预设控制参数下限值且小于或等于预设控制参数上限值的范围，所述在预设参数范围内选取控制参数，包括：在预设
参数范围内基于所述预设控制参数上限值和所述预设控制参数下限值，按照二分法选取控制参数。
15.当预设参数范围为大于或等于预设控制参数下限值且小于或等于预设控制参数上限值的范围时，可以限定控制参数的选取范围，从而简化选取工作量，提高工作效率。按照二分法选取控制参数可以提高选取控制参数的工作效率，有利于快速选取到符合需求的控制参数。
16.在其中一个实施例中，所述根据所述目标控制参数发送点亮指令至所述光源并记录曝光计时起点，当检测到所述光学模组中的电流满足预设电流条件时记录曝光计时终点，根据所述计时起点和所述计时终点得到目标曝光时长之后，还包括：存储所述目标控制参数和所述目标曝光时长。
17.选取到符合要求的目标控制参数和目标曝光时长后，将该目标控制参数和目标曝光时长存储，当下次使用该治具时，可以直接调用存储的目标控制参数和目标曝光时长，采用存储的目标控制参数和目标曝光时长对光学模组进行测试，从而大大节约工作流程，提高工作效率，使用便捷。
18.在其中一个实施例中，所述在预设参数范围内选取控制参数之前，还包括：检测是否已经存储有控制参数和曝光时长；若是，则根据已经存在的控制参数和曝光时长对光学模组进行测试；若否，则执行所述在预设参数范围内选取控制参数的步骤。
19.当检测到已经存储有控制参数和曝光时长时，说明在本次测试之前已经对该治具进行了控制参数和曝光时长优化设置，则在本次测试时可直接根据已经存在的控制参数和曝光时长对光学模组进行测试，节约流程，当检测到没有存储有控制参数和曝光时长时，说明在本次测试之前并未对该治具进行控制参数优化设置，则执行后续步骤，进行控制参数和曝光时长设置，以确定符合需求的控制参数和曝光时长。
20.上述光学模组测试方法，首先在预设参数范围内选取控制参数，根据控制参数控制治具中的光源工作，然后检测此时光源的背光值，当光源的背光值与光源的理想背光值的差异值在允许误差范围内时，将选取的控制参数作为目标控制参数，再根据目标控制参数控制光源点亮光学模组，当检测到光学模组中的电流满足预设电流条件时，将对应的曝光时长作为目标曝光时长，根据目标控制参数和目标曝光时长对光学模组进行测试。由于选择的控制参数对应的背光值与该光源的理想背光值接近，根据该目标控制参数对应的光源的背光值对光学模组进行测试可以提高测试过程的有效性，采用自动确定目标背光值的方法避免了手动设置背光值的操作，降低了出错几率，且提高了模组的测试效率，具有量产型，使用便捷，根据目标曝光时长对光学模组进行测试可以使光学模组中的电流达到要求，说明光源提供的光亮足够，可以提高检测结果的准确性，从而提高了光学模组测试方法的使用可靠性。
21.一种光学模组测试装置，包括：
22.控制参数选取模块，用于在预设参数范围内选取控制参数；
23.光源控制模块，用于根据所述控制参数控制治具中的光源工作；所述光源和光学模组均设置于所述治具内，所述光源用于点亮光学模组；
24.目标控制参数获取模块，用于检测所述光源的背光值，当所述背光值与所述光源的理想背光值的差异值在允许误差范围内时，将选取的控制参数作为目标控制参数
25.目标曝光时长获取模块，用于根据所述目标控制参数发送点亮指令至所述光源并记录曝光计时起点，当检测到所述光学模组中的电流满足预设电流条件时记录曝光计时终点，根据所述计时起点和所述计时终点得到目标曝光时长；所述点亮指令用于控制所述光源根据所述目标控制参数点亮光学模组；
26.测试模块，用于根据所述目标控制参数和所述目标曝光时长对光学模组进行测试。
27.上述光学模组测试装置，首先在预设参数范围内选取控制参数，根据控制参数控制治具中的光源工作，然后检测此时光源的背光值，当光源的背光值与光源的理想背光值的差异值在允许误差范围内时，将选取的控制参数作为目标控制参数，再根据目标控制参数控制光源点亮光学模组，当检测到光学模组中的电流满足预设电流条件时，将对应的曝光时长作为目标曝光时长，根据目标控制参数和目标曝光时长对光学模组进行测试。由于选择的控制参数对应的背光值与该光源的理想背光值接近，根据该目标控制参数对应的光源的背光值对光学模组进行测试可以提高测试过程的有效性，采用自动确定目标背光值的方法避免了手动设置背光值的操作，降低了出错几率，且提高了模组的测试效率，具有量产型，使用便捷，根据目标曝光时长对光学模组进行测试可以使光学模组中的电流达到要求，说明光源提供的光亮足够，可以提高检测结果的准确性，从而提高了光学模组测试方法的使用可靠性。
28.一种光学模组测试设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。
29.上述光学模组测试设备，首先在预设参数范围内选取控制参数，根据控制参数控制治具中的光源工作，然后检测此时光源的背光值，当光源的背光值与光源的理想背光值的差异值在允许误差范围内时，将选取的控制参数作为目标控制参数，再根据目标控制参数控制光源点亮光学模组，当检测到光学模组中的电流满足预设电流条件时，将对应的曝光时长作为目标曝光时长，根据目标控制参数和目标曝光时长对光学模组进行测试。由于选择的控制参数对应的背光值与该光源的理想背光值接近，根据该目标控制参数对应的光源的背光值对光学模组进行测试可以提高测试过程的有效性，采用自动确定目标背光值的方法避免了手动设置背光值的操作，降低了出错几率，且提高了模组的测试效率，具有量产型，使用便捷，根据目标曝光时长对光学模组进行测试可以使光学模组中的电流达到要求，说明光源提供的光亮足够，可以提高检测结果的准确性，从而提高了光学模组测试方法的使用可靠性。
30.一个或多个包含计算机可执行指令的非易失性计算机可读存储介质，当所述计算机可读存储介质中存储的所述计算机可执行指令被一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执行上述的方法。
31.上述包含计算机可执行指令的非易失性计算机可读存储介质，首先在预设参数范围内选取控制参数，根据控制参数控制治具中的光源工作，然后检测此时光源的背光值，当光源的背光值与光源的理想背光值的差异值在允许误差范围内时，将选取的控制参数作为目标控制参数，再根据目标控制参数控制光源点亮光学模组，当检测到光学模组中的电流满足预设电流条件时，将对应的曝光时长作为目标曝光时长，根据目标控制参数和目标曝光时长对光学模组进行测试。由于选择的控制参数对应的背光值与该光源的理想背光值接
近，根据该目标控制参数对应的光源的背光值对光学模组进行测试可以提高测试过程的有效性，采用自动确定目标背光值的方法避免了手动设置背光值的操作，降低了出错几率，且提高了模组的测试效率，具有量产型，使用便捷，根据目标曝光时长对光学模组进行测试可以使光学模组中的电流达到要求，说明光源提供的光亮足够，可以提高检测结果的准确性，从而提高了光学模组测试方法的使用可靠性。
32.一种光学模组测试系统，包括控制器和治具，所述治具中设置有光源，所述光源连接所述控制器，所述治具用于承载光学模组，所述光源用于点亮光学模组。
33.上述光学模组测试系统，首先在预设参数范围内选取控制参数，根据控制参数控制治具中的光源工作，然后检测此时光源的背光值，当光源的背光值与光源的理想背光值的差异值在允许误差范围内时，将选取的控制参数作为目标控制参数，再根据目标控制参数控制光源点亮光学模组，当检测到光学模组中的电流满足预设电流条件时，将对应的曝光时长作为目标曝光时长，根据目标控制参数和目标曝光时长对光学模组进行测试。由于选择的控制参数对应的背光值与该光源的理想背光值接近，根据该目标控制参数对应的光源的背光值对光学模组进行测试可以提高测试过程的有效性，采用自动确定目标背光值的方法避免了手动设置背光值的操作，降低了出错几率，且提高了模组的测试效率，具有量产型，使用便捷，根据目标曝光时长对光学模组进行测试可以使光学模组中的电流达到要求，说明光源提供的光亮足够，可以提高检测结果的准确性，从而提高了光学模组测试方法的使用可靠性。
附图说明
34.图1为一个实施例中光学模组测试方法的流程图；
35.图2为另一个实施例中光学模组测试方法的流程图；
36.图3为又一个实施例中光学模组测试方法的流程图。
具体实施方式
37.为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下通过实施例，并结合附图，对本发明进行更加全面的描述。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
38.在一个实施例中，请参见图1，提供一种光学模组测试方法，该方法的步骤可通过控制装置执行，该方法包括以下步骤：
39.步骤s100：在预设参数范围内选取控制参数。
40.控制参数的数据类型并不是唯一的，例如可以为光源电压或光源电流等参数，不同的控制参数对应的光源的背光值不一样。控制参数可以为一种参数，也可以为两种以上的参数，不同类型的控制参数对应不同的预设参数范围，预设参数范围可根据行业内技术人员总结的经验值确定。预设参数范围并不是唯一的，可以以该光源出厂时标定的各个参数为基准选择，例如当控制参数为控制电压时，预设参数范围可以为小于光源额定电压的2倍的范围。
41.步骤s120：根据控制参数控制治具中的光源工作。
42.其中，治具用于承载光学模组，光源用于点亮光学模组。选取到控制参数后，根据
控制参数控制光源工作，控制参数不同，光源的工作状态不一样，例如光源发出的光的亮度不一样，可根据调节控制参数控制光源。具体地，可由控制装置根据控制参数控制治具中的光源工作，对光学模组进行测试时，将光学模组放置在治具上，光源设置在治具中，选取好目标参数后，光源发出与选取的控制参数相应的光，照射到光学模组中，控制装置发出控制指令对光学模组进行测试，例如控制拍摄光学模组被点亮后的可见光照片，根据照片中的图像判断光学模组中的镜头有无坏点等缺陷。
43.步骤s140：检测光源的背光值，当背光值与光源的理想背光值的差异值在允许误差范围内时，将选取的控制参数作为目标控制参数。
44.光源的背光值是提高检测结果准确性的关键因素，背光值影响光线的亮度，光线过暗时，光学模组不能全部被点亮，拍摄到的图像不清晰，可能存在误检或漏检等情况，光线过亮时，拍摄到的图片极易失真，也会影响检测结果的准确性。不同的治具可能由不同的厂商制造，或为同一厂商制造的不同批次产品，因此不同的治具结构不同，治具中光源的理想背光值也不一样。在理想状态下，治具中光源的最大背光值对应的光线质量较好，因此理想背光值可以理解为最大背光值，将质量好的光线照射到光学模组上时有利于提高检测的准确性。理想背光值的取值并不是唯一的，不同的光源对应的理想背光值不一样，一般来说，理想背光值可以为1750。控制装置获取治具中光源的理想背光值，可以采集到适合当前治具的背光值，在后续对设置于该治具上的光学模组进行测试时，可以提高检测结果的准确性。
45.然后，控制装置检测与当前选取的控制参数对应的光源的背光值(下面称当前背光值)，具体可由其他器件检测到背光值后发送至控制装置，也可以由控制装置根据读取到的光源的相关参数分析得到与当前选取的控制参数对应的背光值。控制装置将与控制参数对应的背光值与理想背光值进行比较，若当前背光值与理想背光值的差异值在允许误差范围内时，说明当前背光值与理想背光值接近，当前背光值可以较好地点亮光学模组，将与当前背光值对应的控制参数作为目标控制参数可以满足光学模组的测试需求。差异值的类型并不是唯一的，在本实施例中，差异值为差值，当差异值为差值时，计算过程简单，且差值可以明显地表征两个值之间的差异。允许的误差范围的具体数值也不是唯一的，一般来说，允许的误差范围越小，当前背光值越接近理想背光值，允许的误差范围的具体取值还与差异值的类型相关，不同类型的差异值对应的允许的误差范围也不一样，以差异值为差值为例，允许的误差范围可以为50，当理想背光值的取值为1700时，若当前背光值在1650-1750的数值范围内时，认为当前背光值满足要求，则对应的控制参数可以作为目标控制参数。由于差异值的类型对应的允许的误差范围为工程师们多次使用的经验值，可以理解，在其他实施例中，具体的类型和数值范围也可以根据实际需求调整，只要本领域技术人员认为可以达到要求即可。
46.步骤s160：根据目标控制参数发送点亮指令至光源并记录曝光计时起点，当检测到光学模组中的电流满足预设电流条件时记录曝光计时终点，根据计时起点和计时终点得到目标曝光时长。
47.其中，点亮指令用于控制光源根据目标控制参数点亮光学模组。获取到目标控制参数后，发送点亮指令至光源并记录曝光时长，光源接收到点亮指令后，根据目标控制参数发出光，点亮光学模组并开始计时，作为曝光计时起点。由于光源在持续点亮光学模组的过
程中，随着测试时长延长，光会产生衰减，需要增加曝光时长才能使光亮满足测试需求。在光源根据目标控制参数点亮光学模组的过程中，光学模组中的器件可以将接收到的光转化为电，可以根据接收到的光的亮度不同产生不同大小的电流。控制装置持续获取光学模组中的电流值，当检测到光学模组中的电流满足预设电流条件时，说明此时光的亮度和时间可以满足测试需求，此时记录曝光计时终点，然后将曝光计时起点和曝光计时终点之间经历的时长作为目标曝光时长。进一步地，控制装置也可以按照预设时间间隔检测光学模组中的电流值，以节约控制流程。预设电流条件可根据经验值确定，只要本领域技术人员认为可以实现即可。
48.步骤s180：根据目标控制参数和目标曝光时长对光学模组进行测试。
49.确定好目标控制参数和目标曝光时长后，需要时可根据目标控制参数和目标曝光时长对光学模组进行测试。具体地，测试过程发生在确定目标参数和确定目标曝光时长的过程之后，可先将所有器件关机，在需要对光学模组进行测试时，将治具中的光源的背光值调到与目标控制参数对应的背光值，然后采用光源发出的光照亮光学模组并开始计时，达到目标曝光时长后控制装置发出控制指令对光学模组进行测试，例如控制拍摄光学模组被点亮后的可见光照片，根据照片中的图像判断光学模组中的镜头有无坏点等缺陷。根据目标控制参数和目标曝光时长对光学模组进行测试可以使曝光度和曝光时长满足要求，有利于拍摄完整且清晰的测试结果照片。理想背光值对应的待测模组的光学参数较好，由于目标控制参数对应的背光值与理想背光值接近，根据目标控制参数控制光源工作，从而对光学模组进行测试可以提高测试过程的有效性和测试结果的准确性，采用自动确定背光值的方法避免了手动设置背光值的操作，降低了出错几率，且提高了模组的测试效率，具有量产型，使用便捷。
50.在一个实施例中，步骤s120之后还包括步骤130。
51.步骤130：检测光源的背光值，当背光值与光源的理想背光值的差异值不在允许误差范围内时，返回步骤s100。
52.当与控制参数对应的光源的背光值与理想背光值的差异值不在允许误差范围内时，考虑当前选取的控制参数对应的背光值不佳，若采用当前选取的控制参数对应的背光值对光学模组进行测试，光线过暗或过亮，很有可能使测试得到图片不清晰或者失真，不能得到准确的测试结果。在这种情况下，返回步骤s100，重新在预设参数范围内选取控制参数，并将选取的控制参数对应的背光值与理想背光值进行比较，若此次选取的控制参数对应的背光值与理想背光值的差异值依然不在允许误差范围内时，则又执行步骤s100，依此循环，直至选取的控制参数对应的背光值与理想背光值在允许误差范围内时，执行步骤s160，跳出循环。该步骤可以循环执行，直至选取的控制参数对应的背光值与理想背光值在允许误差范围内，从而确保选到符合条件的控制参数对应的背光值。
53.控制参数的类型并不是唯一的，在一个实施例中，控制参数的类型为两个或两个以上，此时可以根据多种类型的控制参数点亮光源，调节光源的背光值，以提高光源背光值调节的有效性。进一步地，当控制参数的类型为两个以上时，可以一个一个参数调节，以控制参数包括电压和电流为例，可以在一定范围内先调节电压值，若所有的电压值对应的背光值都不满足要求，则调节电流值的大小，还可以增加其他类型的控制参数的调节，直到对应的背光值与理想背光值的差异值在允许温差范围内为止，从而提高了光源背光值调节的
有效性。
54.在一个实施例中，预设参数范围为大于或等于预设控制参数下限值且小于或等于预设控制参数上限值的范围，请参见图2，步骤s100包括步骤s102。
55.步骤s102：在预设参数范围内基于预设控制参数上限值和预设控制参数下限值，按照二分法选取控制参数。
56.当预设参数范围为大于或等于预设控制参数下限值且小于或等于预设控制参数上限值的范围时，可以限定预设控制参数的具体范围，从而简化选取工作量，提高工作效率。预设参数范围的具体取值并不是唯一的，可以为大于某个数值的范围或者小于某个数值的半开放区间，在本实施例中，预设参数范围为大于或等于预设控制参数下限值且小于或等于预设控制参数上限值的封闭区间，该范围同时限定了上下限值，由此确定的数值范围相对较小。预设控制参数下限值和预设控制参数上限值的具体取值并不是唯一的，在本实施例中，以控制参数为电压为例，预设控制参数下限值为0，预设控制参数上限值为光源额定电压的2倍，对应的预设参数范围为0-2倍额定电压。可以理解，在其他实施例中，预设控制参数下限值和预设控制参数上限值也可以为其他取值，只要本领域技术人员认为可以实现即可。
57.在预设参数范围内基于预设控制参数上限值和预设控制参数下限值，按照二分法选取控制参数具体为：不断把区间一分为二，将选取到的控制参数对应的背光值与理想背光值进行比较，以预设参数范围为0-4为例，第一步取0-4的中间值2，将2对应的背光值与理想背光值进行比较，如果2对应的背光值与理想背光值的差值小于0，说明2对应的背光值小于理想背光值，则在0至2之间取中间值1，将1对应的背光值与理想背光值进行比较，如果1对应的背光值与理想背光值的差依然小于0，则继续选择0与1的中间值0.5，并将0.5对应的背光值与理想背光值比较，以此类推。如果第一步取中间值2对应的背光值与理想背光值比较偏大，则在2至4之间取3，将3对应的背光值与理想背光值进行比较，如果还偏大则选3.5以此类推，最后就可以得到与符合要求的背光值对应的控制参数。按照二分法选取控制参数可以提高选取控制参数的工作效率，有利于快速选取到符合需求的控制参数。可以理解，在其他实施例中，也可以采用其他方法选取控制参数，只要本领域技术人员认为可以实现即可。
58.在一个实施例中，请参见图2，步骤s180之后还包括步骤s190。
59.步骤s190：存储目标控制参数和目标曝光时长。
60.选取到符合要求的目标控制参数和目标曝光时长后，将该目标控制参数和目标曝光时长存储，当下次使用该治具时，可以直接调用存储的目标控制参数和目标曝光时长，采用存储的目标控制参数和目标曝光时长对光学模组进行测试，从而大大节约工作流程，提高工作效率，使用便捷。
61.在一个实施例中，请参见图3，步骤s100之前还包括步骤s101。
62.步骤s101：检测是否已经存储有控制参数和曝光时长。
63.若否，则执行步骤s100，若是，则根据已经存在的控制参数和曝光时长对光学模组进行测试。在选取控制参数之前，首先检测是否已经存储有控制参数和曝光时长，当检测到已经存储有控制参数和曝光时长时，说明在本次测试之前已经对该治具进行了控制参数和曝光时长优化设置，则在本次测试时可直接根据已经存在的控制参数和曝光时长对光学模
组进行测试，节约流程。可扩展地，已经存储的控制参数和曝光时长可与不同的光源对应保存，光源类型不同，对应保存的目标控制参数和曝光时长也不一样，当光源变化时，调用变化后的光源对应的目标控制参数和曝光时长对光学模组进行测试，有利于提高测试结构的准确性。当检测到没有存储有控制参数和曝光时长时，说明在本次测试之前并未对该治具进行控制参数和曝光时长优化设置，则执行后续步骤，进行控制参数和曝光时长设置，以确定符合需求的控制参数和曝光时长。
64.上述光学模组测试方法，首先在预设参数范围内选取控制参数，根据控制参数控制治具中的光源工作，然后检测此时光源的背光值，当光源的背光值与光源的理想背光值的差异值在允许误差范围内时，将选取的控制参数作为目标控制参数，再根据目标控制参数控制光源点亮光学模组，当检测到光学模组中的电流满足预设电流条件时，将对应的曝光时长作为目标曝光时长，根据目标控制参数和目标曝光时长对光学模组进行测试。由于选择的控制参数对应的背光值与该光源的理想背光值接近，根据该目标控制参数对应的光源的背光值对光学模组进行测试可以提高测试过程的有效性，采用自动确定目标背光值的方法避免了手动设置背光值的操作，降低了出错几率，且提高了模组的测试效率，具有量产型，使用便捷，根据目标曝光时长对光学模组进行测试可以使光学模组中的电流达到要求，说明光源提供的光亮足够，可以提高检测结果的准确性，从而提高了光学模组测试方法的使用可靠性。
65.在一个实施例中，提供一种光学模组测试装置，包括控制参数选取模块、光源控制模块、目标控制参数获取模块、目标曝光时长获取模块和测试模块，控制参数选取模块用于在预设参数范围内选取控制参数，光源控制模块用于根据控制参数控制治具中的光源工作；光源和光学模组均设置于治具内，光源用于点亮光学模组；目标控制参数获取模块用于检测光源的背光值，当背光值与光源的理想背光值的差异值在允许误差范围内时，将选取的控制参数作为目标控制参数，目标曝光时长获取模块用于根据目标控制参数发送点亮指令至光源并记录曝光计时起点，当检测到光学模组中的电流满足预设电流条件时记录曝光计时终点，根据计时起点和计时终点得到目标曝光时长；点亮指令用于控制光源根据目标控制参数点亮光学模组，测试模块用于根据目标控制参数和目标曝光时长对光学模组进行测试。
66.在一个实施例中，光学模组测试装置还包括返回模块，返回模块用于在光源控制模块根据控制参数控制治具中的光源工作之后，检测光源的背光值，当背光值与光源的理想背光值的差异值不在允许误差范围内时，返回在预设参数范围内选取控制参数，返回在预设参数范围内选取控制参数。
67.在一个实施例中，光学模组测试装置还包括存储模块，存储模块用于在目标曝光时长根据目标控制参数发送点亮指令至光源并记录曝光计时起点，当检测到光学模组中的电流满足预设电流条件时记录曝光计时终点，根据计时起点和计时终点得到目标曝光时长之后，存储目标背光值和目标曝光时长。
68.在一个实施例中，光学模组测试装置还包括检测模块，检测模块用于在控制参数选取模块在预设参数范围内选取控制参数之前，检测是否已经存储有存在控制参数和曝光时长，若否，则由控制参数选取模块在预设参数范围内选取控制参数，若是，则根据已经存在的控制参数和曝光时长对光学模组进行测试。
69.关于光学模组测试装置的具体限定可以参见上文中对于光学模组测试方法的限定，在此不再赘述。上述光学模组测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
70.上述光学模组测试装置，首先在预设参数范围内选取控制参数，根据控制参数控制治具中的光源工作，然后检测此时光源的背光值，当光源的背光值与光源的理想背光值的差异值在允许误差范围内时，将选取的控制参数作为目标控制参数，再根据目标控制参数控制光源点亮光学模组，当检测到光学模组中的电流满足预设电流条件时，将对应的曝光时长作为目标曝光时长，根据目标控制参数和目标曝光时长对光学模组进行测试。由于选择的控制参数对应的背光值与该光源的理想背光值接近，根据该目标控制参数对应的光源的背光值对光学模组进行测试可以提高测试过程的有效性，采用自动确定目标背光值的方法避免了手动设置背光值的操作，降低了出错几率，且提高了模组的测试效率，具有量产型，使用便捷，根据目标曝光时长对光学模组进行测试可以使光学模组中的电流达到要求，说明光源提供的光亮足够，可以提高检测结果的准确性，从而提高了光学模组测试方法的使用可靠性。
71.在一个实施例中，提供一种光学模组测试设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述方法的步骤。
72.存储器可以包括易失性存储装置(volatile memory)，例如随机存取存储装置(random-access memory，ram)；存储装置也可以包括非易失性存储装置(non-volatile memory)，例如快闪存储装置(flash memory)，固态硬盘(solid-state drive，ssd)等；存储装置还可以包括上述种类的存储装置的组合。
73.处理器可以是中央处理器(central processing unit，cpu)。该处理器还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor，dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit，asic)、现成可编程门阵列(field-programmable gate array，fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
74.上述光学模组测试设备，首先在预设参数范围内选取控制参数，根据控制参数控制治具中的光源工作，然后检测此时光源的背光值，当光源的背光值与光源的理想背光值的差异值在允许误差范围内时，将选取的控制参数作为目标控制参数，再根据目标控制参数控制光源点亮光学模组，当检测到光学模组中的电流满足预设电流条件时，将对应的曝光时长作为目标曝光时长，根据目标控制参数和目标曝光时长对光学模组进行测试。由于选择的控制参数对应的背光值与该光源的理想背光值接近，根据该目标控制参数对应的光源的背光值对光学模组进行测试可以提高测试过程的有效性，采用自动确定目标背光值的方法避免了手动设置背光值的操作，降低了出错几率，且提高了模组的测试效率，具有量产型，使用便捷，根据目标曝光时长对光学模组进行测试可以使光学模组中的电流达到要求，说明光源提供的光亮足够，可以提高检测结果的准确性，从而提高了光学模组测试方法的使用可靠性。
75.在一个实施例中，提供一个或多个包含计算机可执行指令的非易失性计算机可读存储介质，当计算机可读存储介质中存储的计算机可执行指令被一个或多个处理器执行时，使得处理器执行上述方法。
76.上述包含计算机可执行指令的非易失性计算机可读存储介质，首先在预设参数范围内选取控制参数，根据控制参数控制治具中的光源工作，然后检测此时光源的背光值，当光源的背光值与光源的理想背光值的差异值在允许误差范围内时，将选取的控制参数作为目标控制参数，再根据目标控制参数控制光源点亮光学模组，当检测到光学模组中的电流满足预设电流条件时，将对应的曝光时长作为目标曝光时长，根据目标控制参数和目标曝光时长对光学模组进行测试。由于选择的控制参数对应的背光值与该光源的理想背光值接近，根据该目标控制参数对应的光源的背光值对光学模组进行测试可以提高测试过程的有效性，采用自动确定目标背光值的方法避免了手动设置背光值的操作，降低了出错几率，且提高了模组的测试效率，具有量产型，使用便捷，根据目标曝光时长对光学模组进行测试可以使光学模组中的电流达到要求，说明光源提供的光亮足够，可以提高检测结果的准确性，从而提高了光学模组测试方法的使用可靠性。
77.本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(read-only memory，rom)或随机存储记忆体(random access memory，ram)等。
78.在一个实施例中，提供一种光学模组测试系统，包括控制器、治具和光源，光源设置于治具内，并连接控制器，治具用于承载光学模组。
79.上述光学模组测试系统，首先在预设参数范围内选取控制参数，根据控制参数控制治具中的光源工作，然后检测此时光源的背光值，当光源的背光值与光源的理想背光值的差异值在允许误差范围内时，将选取的控制参数作为目标控制参数，再根据目标控制参数控制光源点亮光学模组，当检测到光学模组中的电流满足预设电流条件时，将对应的曝光时长作为目标曝光时长，根据目标控制参数和目标曝光时长对光学模组进行测试。由于选择的控制参数对应的背光值与该光源的理想背光值接近，根据该目标控制参数对应的光源的背光值对光学模组进行测试可以提高测试过程的有效性，采用自动确定目标背光值的方法避免了手动设置背光值的操作，降低了出错几率，且提高了模组的测试效率，具有量产型，使用便捷，根据目标曝光时长对光学模组进行测试可以使光学模组中的电流达到要求，说明光源提供的光亮足够，可以提高检测结果的准确性，从而提高了光学模组测试方法的使用可靠性。
80.以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
81.以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。