用于观察微米颗粒和纳米颗粒的设备及方法与流程

技术特征：
1.一种使用显微镜(1)获得颗粒集合的图像的方法，所述颗粒集合经由所述显微镜(1)与数码相机(3)共轭，所述颗粒集合包括未由所述显微镜(1)分辨出的纳米颗粒以及由所述显微镜(1)分辨出的微米颗粒，其中，所述颗粒由光源(2)照射，并且其中，所述光源(2)经由所述显微镜(1)照射所述数码相机(3)，所述方法包括以下步骤：通过所述光源(2)使由所述数码相机(3)记录的图像过度曝光，以在所记录的图像中向观察者显示关于所述纳米颗粒的光强度变化；并且数字校正所记录的图像的过度曝光，以在所记录的图像中向所述观察者显示关于所述纳米颗粒的光强度变化的同时显示关于所述微米颗粒的光强度变化。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述纳米颗粒包括病毒，并且其中，所述微米颗粒包括病毒聚集体。3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述过度曝光的数字校正经由所述图像的直方图的变换获得。4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述图像的直方图的变换是所述图像的直方图的拉伸。5.根据权利要求3所述的方法，其中，所述图像的直方图的变换是所述图像的直方图的平移。6.根据权利要求4所述的方法，其中，所述图像的直方图的拉伸是线性的。7.根据权利要求4所述的方法，其中，所述图像的直方图的拉伸是非线性的。8.根据权利要求3所述的方法，其中，所述图像的直方图的变换包括所述图像的直方图的拉伸以及所述图像的直方图的平移。9.一种成像设备，包括显微镜(1)、光源(2)以及数码相机(3)，所述成像设备被配置为使用所述显微镜(1)获得颗粒集合的图像，所述颗粒集合经由所述显微镜(1)与所述数码相机(3)共轭，所述颗粒集合包括未由所述显微镜(1)分辨出的纳米颗粒以及由所述显微镜(1)分辨出的微米颗粒，其中，所述颗粒由所述光源(2)照射，其中，所述光源(2)经由所述显微镜(1)照射所述数码相机(3)，并且其中，所述光源(2)具有的光强度足以使经由所述显微镜(1)由所述数码相机(3)记录的图像过度曝光并且导致在所记录的图像中向观察者显示关于经由所述显微镜(1)与所述数码相机(3)共轭的纳米颗粒的光强度变化，所述设备还包括用于校正由所述相机(3)记录的图像的过度曝光的数字装置，以在所记录的图像中向所述观察者显示关于所述纳米颗粒的光强度变化的同时显示关于所述微米颗粒的光强度变化。

技术总结
本发明涉及一种使用显微镜(1)获得颗粒集合的图像的方法，颗粒集合经由显微镜(1)与数码相机(3)共轭，颗粒集合包括未由显微镜(1)分辨出的纳米颗粒以及由显微镜(1)分辨出的微米颗粒，其中颗粒由光源(2)照射，其中光源(2)经由显微镜(1)照射数码相机(3)。该方法包括以下步骤：


技术研发人员：M
受保护的技术使用者：米利亚德公司
技术研发日：2020.03.10
技术公布日：2021/11/24