一种基于BIM的测绘放样装置的制作方法

技术特征：
1.一种基于bim的测绘放样装置，其特征在于，所述装置包括：支撑基座；角度调节基座，所述角度调节基座设置于所述支撑基座上，所述角度调节基座用于承载固定测绘仪；调节机构，所述调节机构设置于所述支撑基座上，所述调节机构用于调节所述装置的高度和水平度；固定吸盘，所述固定吸盘设置于所述支撑基座正下方；以及伸缩连接机构，所述伸缩连接机构一端与所述固定吸盘连通，所述伸缩连接机构另一端与所述支撑基座固定。2.根据权利要求1所述的一种基于bim的测绘放样装置，其特征在于，所述角度调节基座包括：转动轴，所述转动轴转动设置于所述支撑基座上，所述转动轴与所述支撑基座具有阻尼；以及固定座，所述固定座固定于所述转动轴远离所述支撑基座一端。3.根据权利要求1所述的一种基于bim的测绘放样装置，其特征在于，所述伸缩连接机构包括：连接柱，所述连接柱固定于所述支撑基座上；阀芯，所述阀芯固定于所述连接柱远离所述支撑基座一端，所述阀芯外径大于所述连接柱；支撑套，所述支撑套与所述阀芯滑动连接，所述支撑套远离所述连接柱一端与所述固定吸盘连通；以及限位吸附组件，所述限位吸附组件固定于所述支撑套内，所述限位吸附组件位于所述支撑套远离所述阀芯一端；所述支撑套位于所述阀芯一侧设置有泄压口。4.根据权利要求3所述的一种基于bim的测绘放样装置，其特征在于，所述限位吸附组件包括：支撑杆，所述支撑杆固定于所述支撑套远离所述阀芯一端；定位块，所述定位块固定于所述支撑杆靠近所述阀芯一侧；以及第二吸附磁铁，所述第二吸附磁铁固定于所述支撑杆外侧；所述阀芯设置有与所述定位块配合的定位槽，所述定位槽内设置有与所述第二吸附磁铁配合的第一吸附磁铁。5.根据权利要求1所述的一种基于bim的测绘放样装置，其特征在于，所述调节机构包括：连接杆，所述连接杆均匀布设于所述支撑基座上；长度调节组件，所述长度调节组件一端与所述连接杆铰接；以及支撑脚，所述支撑脚与所述长度调节组件远离所述连接杆的一端铰接。6.根据权利要求5所述的一种基于bim的测绘放样装置，其特征在于，所述长度调节组件包括：滑杆，所述滑杆与所述连接杆铰接；
滑套，所述滑套与所述滑杆滑动连接，所述滑套远离所述滑杆的一端与所述支撑脚滑动连接；以及紧固件，所述紧固件用于固定所述滑套和所述滑杆。7.根据权利要求5所述的一种基于bim的测绘放样装置，其特征在于，所述支撑脚固定连接有防滑垫。

技术总结
本实用新型适用于测绘技术领，提供了一种基于BIM的测绘放样装置，所述装置包括：支撑基座；角度调节基座，所述角度调节基座设置于所述支撑基座上，所述角度调节基座用于承载固定测绘仪；调节机构，所述调节机构设置于所述支撑基座上，所述调节机构用于调节所述装置的高度和水平度；固定吸盘，所述固定吸盘设置于所述支撑基座正下方；以及伸缩连接机构，所述伸缩连接机构一端与所述固定吸盘连通，所述伸缩连接机构另一端与所述支撑基座固定，实现体调节高度的同时，通过压强变化对面清洁，然后进行吸附固定，使装置不易倾倒。使装置不易倾倒。使装置不易倾倒。


技术研发人员：唐小卫 杜圣华 王涛 陈州 孙伟 陈萌 龚凯威
受保护的技术使用者：升维科技有限公司
技术研发日：2021.06.16
技术公布日：2021/11/21