检测液晶基板玻璃直线度的方法、装置、系统和介质与流程

1.本公开涉及检测技术领域，具体地，涉及一种检测液晶基板玻璃直线度的方法、装置、系统和介质。


背景技术：

2.随着液晶基板玻璃的广泛应用，人们对液晶基板玻璃的质量要求日益提高，其中直线度是评价液晶基板玻璃边缘加工质量的一项重要指标，直线度的优劣直接反映了生产制程是否稳定可靠，对制程工艺也有较大影响。但目前在实际生产过程中，检测直线度时，均采用手动测量的方法，人工测量效率较低，所得数据精度较低。


技术实现要素：

3.本公开的目的是检测液晶基板玻璃直线度的方法、装置、系统和介质，以提高检测液晶基板玻璃直线度的效率，提高液晶基板玻璃直线度检测的精准度。
4.为了实现上述目的，本公开第一方面提供一种检测液晶基板玻璃直线度的方法，该方法包括：
5.获取图像采集装置采集到的所述液晶基板玻璃的边缘图像，其中，所述图像采集装置用于在朝向所述液晶基板玻璃的边缘的方向上进行图像采集；
6.根据所述边缘图像，确定多个边缘测量点的坐标；
7.根据所述坐标对所述边缘测量点进行拟合，以得到拟合直线；
8.根据在所述拟合直线一侧距离所述拟合直线最远的第一边缘测量点、以及在所述拟合直线另一侧距离所述拟合直线最远的第二边缘测量点，确定所述边缘的直线度。
9.可选地，所述图像采集装置用于在朝向所述液晶基板玻璃的边缘的方向上、沿所述边缘进行图像采集；相应地，所述边缘图像为多张。
10.可选地，所述根据所述坐标对所述边缘测量点进行拟合，以得到拟合直线，包括：
11.根据所述坐标、采用最小二乘法对所述边缘测量点进行拟合，以得到拟合直线。
12.可选地，所述根据在所述拟合直线一侧距离所述拟合直线最远的第一边缘测量点、以及在所述拟合直线另一侧距离所述拟合直线最远的第二边缘测量点，确定所述边缘的直线度，包括：
13.根据所述第一边缘测量点到所述拟合直线之间的距离、与所述第二边缘测量点到所述拟合直线之间的距离之和，确定所述边缘的直线度。
14.可选地，在确定出所述边缘的直线度后，所述方法还包括：
15.控制所述图像采集装置移动，以使所述图像采集装置在朝向所述液晶基板玻璃的另一边缘的方向上进行图像采集，直至确定出所述液晶基板玻璃的所有边缘的直线度。
16.可选地，该方法还包括：
17.根据两相邻边缘分别对应的拟合直线，确定所述两相邻边缘的直角度。
18.本公开第二方面提供一种检测液晶基板玻璃直线度的装置，该装置包括：
19.获取模块，用于获取图像采集装置采集到的所述液晶基板玻璃的边缘图像，其中，所述图像采集装置用于在朝向所述液晶基板玻璃的边缘的方向上进行图像采集；
20.第一确定模块，用于根据所述边缘图像，确定多个边缘测量点的坐标；
21.拟合模块，用于根据所述坐标对所述边缘测量点进行拟合，以得到拟合直线；
22.第二确定模块，用于根据在所述拟合直线一侧距离所述拟合直线最远的第一边缘测量点、以及在所述拟合直线另一侧距离所述拟合直线最远的第二边缘测量点，确定所述边缘的直线度。
23.可选地，所述拟合模块用于通过以下方式得到拟合直线：根据所述坐标、采用最小二乘法对所述边缘测量点进行拟合，以得到拟合直线。
24.可选地，所述第二确定模块用于通过以下方式确定所述边缘的直线度：根据所述第一边缘测量点到所述拟合直线之间的距离、与所述第二边缘测量点到所述拟合直线之间的距离之和，确定所述边缘的直线度。
25.可选地，所述装置还包括：控制模块，用于在所述第二确定模块确定出所述边缘的直线度后，控制所述图像采集装置移动，以使所述图像采集装置在朝向所述液晶基板玻璃的另一边缘的方向上进行图像采集，直至确定出所述液晶基板玻璃的所有边缘的直线度。
26.可选地，所述装置还包括：第三确定模块，用于根据两相邻边缘分别对应的拟合直线，确定所述两相邻边缘的直角度。
27.本公开第三方面提供一种检测液晶基板玻璃直线度的装置，包括：
28.存储器，其上存储有计算机程序；
29.控制器，所述计算机程序被控制器执行时，实现本公开第一方面所述方法的步骤。
30.本公开第四方面提供一种非暂时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现本公开第一方面所述方法的步骤。
31.本公开第五方面提供一种检测液晶基板玻璃直线度的系统，包括图像采集装置，用于在朝向所述液晶基板玻璃的边缘的方向上进行图像采集；检测装置，该检测装置为本公开第二方面所提供的装置或本公开第三方面所提供的装置。
32.通过上述技术方案，根据图像采集装置采集到的液晶基板玻璃的边缘图像，确定多个边缘测量点的坐标，根据边缘测量点的坐标对边缘测量点进行拟合，以得到拟合直线，确定拟合直线两侧距离拟合直线最远的第一边缘测量点和第二边缘测量点，以此确定边缘的直线度。如此，能够避免检测人员因个体差异及视觉误差导致测量精度较低的问题，并提高检测效率；其中第一边缘测量点和第二边缘测量点分别为拟合直线两侧距离拟合直线最远的点，获取其坐标，能够确定最大误差出现的具体位置，对改善生产制作工艺缺陷有指导意义，进一步提高液晶基板玻璃生产质量。
33.本公开的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
34.附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：
35.图1是本公开一示例性实施例提供的检测液晶基板玻璃直线度的方法的流程图；
36.图2是本公开一示例性实施例提供的检测液晶基板玻璃直线度的装置的框图；
37.图3是本公开另一示例性实施例提供的检测液晶基板玻璃直线度的装置的框图。
具体实施方式
38.以下结合附图对本公开的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本公开，并不用于限制本公开。
39.图1是本公开一示例性实施例提供的检测液晶基板玻璃直线度的方法的流程图。如图1所示，该方法可以包括s101至s104。
40.s101，获取图像采集装置采集到的液晶基板玻璃的边缘图像，其中，图像采集装置用于在朝向液晶基板玻璃的边缘的方向上进行图像采集。
41.示例性地，采用ccd(charge coupled device，电荷耦合元件)相机在朝向液晶基板玻璃的边缘的方向上采集图像，如将液晶基板玻璃水平放置后，ccd相机沿水平方向对液晶基板玻璃的边缘进行图像采集，获取边缘图像。
42.s102，根据边缘图像，确定多个边缘测量点的坐标。
43.示例性地，在采用ccd相机获取边缘图像后，沿液晶基板玻璃的放置方向建立坐标轴，每间隔一固定距离确定一边缘测量点坐标，选取其中任意一边缘测量点为坐标轴原点，并依次确定各边缘测量点坐标p1(x1，y1)，p2(x2，y2)，......，p
n
(x
n
，y
n
)。其中，n表示一边缘上的边缘测量点的总数。
44.s103，根据多个边缘测量点的坐标对边缘测量点进行拟合，以得到拟合直线。
45.s104，根据在拟合直线一侧距离拟合直线最远的第一边缘测量点、以及在拟合直线另一侧距离拟合直线最远的第二边缘测量点，确定边缘的直线度。
46.通过上述技术方案，根据图像采集装置采集到的液晶基板玻璃的边缘图像，确定多个边缘测量点的坐标，根据边缘测量点的坐标对边缘测量点进行拟合，以得到拟合直线，确定拟合直线两侧距离拟合直线最远的第一边缘测量点和第二边缘测量点，以此确定边缘的直线度。如此能够避免检测人员因个体差异及视觉误差导致测量精度较低的问题，并提高检测效率；其中第一边缘测量点和第二边缘测量点分别为拟合直线两侧距离拟合直线最远的点，获取其坐标，能够确定最大误差出现的具体位置，对改善生产制作工艺缺陷有指导意义，进一步提高液晶基板玻璃生产质量。
47.可选地，图像采集装置用于在朝向液晶基板玻璃的边缘的方向上、沿边缘进行图像采集；相应地，边缘图像为多张。
48.示例性地，采用ccd相机，可以确定水平方向为x轴方向，采用ccd相机沿x轴方向，每间隔10mm进行一次图像采集，根据获取的多张边缘图像，依次将边缘测量点具体确定为p1(0，0)，p2(10，y2)，......，p
n
(10(n
‑
1)，y
n
)。多次进行图像采集，确定边缘测量点的坐标，能够提高获取坐标精度，以提高直线度精度。
49.可选地，根据边缘测量点的坐标对边缘测量点进行拟合，以得到拟合直线，可以包括：
50.根据边缘测量点的坐标、采用最小二乘法对边缘测量点进行拟合，以得到拟合直线。
51.示例性地，根据确定的边缘测量点的坐标p1(x1，y1)，p2(x2，y2)，......，p
n
(x
n
，y
n
)，进行直线拟合的具体过程如下：
[0052][0053]
拟合直线方程为：y＝k
·
x b
[0054]
其中，为多个边缘测量点的横坐标平均值，为多个边缘测量点的纵坐标平均值，n为边缘测量点总数，i的取值范围为1至n，x
i
为第i个边缘测量点的横坐标，y
i
为第i个边缘测量点的纵坐标，k表示斜率，b表示截距。
[0055]
根据获取的边缘测量点坐标，利用最小二乘法能简便地求得拟合直线的方程，且误差较小，有效提高了拟合直线的精准度，以提高直线度精度。
[0056]
可选地，根据在拟合直线一侧距离拟合直线最远的第一边缘测量点、以及在拟合直线另一侧距离拟合直线最远的第二边缘测量点，确定边缘的直线度，包括：
[0057]
根据第一边缘测量点到拟合直线之间的距离、与第二边缘测量点到拟合直线之间的距离之和，确定边缘的直线度。例如，直线度＝第一边缘测量点到拟合直线之间的距离 第二边缘测量点到拟合直线之间的距离。
[0058]
示例性地，在得到拟合直线后，所有边缘测量点会分布在分别位于该拟合直线的两侧，第一边缘测量点和第二边缘测量点分别为拟合直线两侧距离拟合直线最远的点，根据二者距离之和确定直线度，则检测到的直线度为液晶基板玻璃的边缘最大误差，能更准确的判断液晶基板玻璃质量是否满足要求；根据第一边缘测量点和第二边缘测量点的坐标，能够确定最大误差出现的具体位置，对改善生产制作工艺缺陷有指导意义，进一步提高液晶基板玻璃生产质量。
[0059]
可选地，在确定出边缘的直线度后，上述方法还可以包括：
[0060]
控制图像采集装置移动，以使图像采集装置在朝向液晶基板玻璃的另一边缘的方向上进行图像采集，直至确定出液晶基板玻璃的所有边缘的直线度。
[0061]
可选地，上述方法还可以包括：
[0062]
根据两相邻边缘分别对应的拟合直线，确定两相邻边缘的直角度。
[0063]
示例性地，根据图1所示的方法，确定出液晶基板玻璃的所有边缘的直线度，能够判断该液晶基板玻璃是否符合质量要求，且在获取两相邻边缘直线度的过程中，根据两相邻边缘分别对应的拟合直线，确定两相邻边缘的直角度，能够进一步判断了该液晶基板玻璃是否符合质量要求。
[0064]
基于同一发明构思，本公开还提供一种检测液晶基板玻璃直线度的装置。图2是本公开一示例性实施例提供的检测液晶基板玻璃直线度的装置的框图。参照图2，该检测液晶基板玻璃直线度的装置200可以包括：
[0065]
获取模块201，用于获取图像采集装置采集到的液晶基板玻璃的边缘图像，其中，图像采集装置用于在朝向液晶基板玻璃的边缘的方向上进行图像采集；
[0066]
第一确定模块202，用于根据边缘图像，确定多个边缘测量点的坐标；
[0067]
拟合模块203，用于根据坐标对边缘测量点进行拟合，以得到拟合直线；
[0068]
第二确定模块204，用于根据在拟合直线一侧距离拟合直线最远的第一边缘测量点、以及在拟合直线另一侧距离拟合直线最远的第二边缘测量点，确定边缘的直线度。
[0069]
通过上述技术方案，根据图像采集装置采集到的液晶基板玻璃的边缘图像，确定多个边缘测量点的坐标，根据边缘测量点的坐标对边缘测量点进行拟合，以得到拟合直线，
确定拟合直线两侧距离拟合直线最远的第一边缘测量点和第二边缘测量点，以此确定边缘的直线度。如此能够避免检测人员因个体差异及视觉误差导致测量精度较低的问题，并提高检测效率；其中第一边缘测量点和第二边缘测量点分别为拟合直线两侧距离拟合直线最远的点，获取其坐标，能够确定最大误差出现的具体位置，对改善生产制作工艺缺陷有指导意义，进一步提高液晶基板玻璃生产质量。
[0070]
可选地，拟合模块203用于通过以下方式得到拟合直线：根据坐标、采用最小二乘法对边缘测量点进行拟合，以得到拟合直线。
[0071]
可选地，第二确定模块204用于通过以下方式确定边缘的直线度：根据第一边缘测量点到拟合直线之间的距离、与第二边缘测量点到拟合直线之间的距离之和，确定边缘的直线度。
[0072]
可选地，检测液晶基板玻璃直线度的装置200还包括：控制模块，用于在第二确定模块确定出边缘的直线度后，控制图像采集装置移动，以使图像采集装置在朝向液晶基板玻璃的另一边缘的方向上进行图像采集，直至确定出液晶基板玻璃的所有边缘的直线度。
[0073]
可选地，检测液晶基板玻璃直线度的装置200还包括：第三确定模块，用于根据两相邻边缘分别对应的拟合直线，确定两相邻边缘的直角度。
[0074]
关于上述实施例中的装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。
[0075]
图3是根据一示例性实施例示出的一种检测液晶基板玻璃直线度的装置300的框图。如图3所示，该检测液晶基板玻璃直线度的装置300可以包括：处理器301，存储器302。该检测液晶基板玻璃直线度的装置300还可以包括多媒体组件303，输入/输出(i/o)接口304，以及通信组件305中的一者或多者。
[0076]
其中，处理器301用于控制该检测液晶基板玻璃直线度的装置300的整体操作，以完成上述的检测液晶基板玻璃直线度的方法中的全部或部分步骤。存储器302用于存储各种类型的数据以支持在该检测液晶基板玻璃直线度的装置300的操作，这些数据例如可以包括用于在该检测液晶基板玻璃直线度的装置300上操作的任何应用程序或方法的指令，以及应用程序相关的数据，例如联系人数据、收发的消息、图片、音频、视频等等。该存储器302可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，例如静态随机存取存储器(static random access memory，简称sram)，电可擦除可编程只读存储器(electrically erasable programmable read
‑
only memory，简称eeprom)，可擦除可编程只读存储器(erasable programmable read
‑
only memory，简称eprom)，可编程只读存储器(programmable read
‑
only memory，简称prom)，只读存储器(read
‑
only memory，简称rom)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。多媒体组件303可以包括屏幕和音频组件。其中屏幕例如可以是触摸屏，音频组件用于输出和/或输入音频信号。例如，音频组件可以包括一个麦克风，麦克风用于接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器302或通过通信组件305发送。音频组件还包括至少一个扬声器，用于输出音频信号。i/o接口304为处理器301和其他接口模块之间提供接口，上述其他接口模块可以是键盘，鼠标，按钮等。这些按钮可以是虚拟按钮或者实体按钮。通信组件305用于该检测液晶基板玻璃直线度的装置300与其他设备之间进行有线或无线通信。无线通信，例如wi
‑
fi，蓝牙，近场通信(near field communication，简称nfc)，2g、3g、4g、nb
‑
iot、emtc、或其他5g等等，或它们
中的一种或几种的组合，在此不做限定。因此相应的该通信组件305可以包括：wi
‑
fi模块，蓝牙模块，nfc模块等等。
[0077]
在一示例性实施例中，检测液晶基板玻璃直线度的装置300可以被一个或多个应用专用集成电路(application specific integrated circuit，简称asic)、数字信号处理器(digital signal processor，简称dsp)、数字信号处理设备(digital signal processing device，简称dspd)、可编程逻辑器件(programmable logic device，简称pld)、现场可编程门阵列(field programmable gate array，简称fpga)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现，用于执行上述的检测液晶基板玻璃直线度的方法。
[0078]
在另一示例性实施例中，还提供了一种包括程序指令的计算机可读存储介质，该程序指令被处理器执行时实现上述的检测液晶基板玻璃直线度的方法的步骤。例如，该计算机可读存储介质可以为上述包括程序指令的存储器302，上述程序指令可由检测液晶基板玻璃直线度的装置300的处理器301执行以完成上述的检测液晶基板玻璃直线度的方法。
[0079]
在另一示例性实施例中，还提供一种计算机程序产品，该计算机程序产品包含能够由可编程的装置执行的计算机程序，该计算机程序具有当由该可编程的装置执行时用于执行上述的检测液晶基板玻璃直线度的方法的代码部分。
[0080]
本公开还提供一种检测液晶基板玻璃直线度的系统，包括图像采集装置，用于在朝向液晶基板玻璃的边缘的方向上进行图像采集；检测装置，该检测装置为本公开提供的检测液晶基板玻璃直线度的装置200，或本公开提供的检测液晶基板玻璃直线度的装置300。
[0081]
以上结合附图详细描述了本公开的优选实施方式，但是，本公开并不限于上述实施方式中的具体细节，在本公开的技术构思范围内，可以对本公开的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本公开的保护范围。
[0082]
另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合。为了避免不必要的重复，本公开对各种可能的组合方式不再另行说明。
[0083]
此外，本公开的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合，只要其不违背本公开的思想，其同样应当视为本公开所公开的内容。