具有实时中断验证功能的记忆体验证系统及方法与流程

1.本发明涉及一种验证系统及方法，特别涉及一种具有实时中断验证功能的记忆体验证系统及方法。


背景技术：

2.传统验证通用闪存(universal flash storage,ufs,以下简称ufs)的方式，是将所述ufs设置在测试平台上，透过所述测试平台使用uboot(universal boot loader)的方式对所述ufs进行验证程序，以验证所述ufs是否有问题。
3.然而，上述对所述ufs的验证方式，一旦在验证过程中发生异常时，将造成所述验证程序无法停止，导致检测人员只能被迫关闭所述测试平台的电源，以中止所述验证程序的执行，但是关闭所述测试平台的同时，会导致存储在所述测试平台的寄存器中的相关异常记录信息同时被清除，使得检测人员无法实时地确认异常原因，造成验证上的麻烦、复杂以及没效率。


技术实现要素：

4.有鉴于上述现有技术所存在的问题，本发明的主要目的是提供一种具有实时中断验证功能的记忆体验证系统及方法，通过在验证所述ufs的过程中，若发生异常时，则实时地中断验证的过程，并且实时地记录异常原因供检测人员实时确认，以改善验证麻烦及提升效率。
5.为了达成上述目的所采取的技术手段，令前述具有实时中断验证功能的记忆体验证方法，主要应用在测试用电子装置，所述测试用电子装置包括处理器及待测记忆体，所述处理器耦接所述待测记忆体，并且由所述处理器执行验证程序，所述验证程序包括以下步骤：
6.执行初始化程序，以完成所述测试用电子装置的初始化；
7.执行检测程序，以对所述待测记忆体进行检测；
8.判断对所述待测记忆体进行检测状态是否满足异常条件；
9.若是，则执行中断跳脱程序，以中断所述检测程序并产生异常记录信息。
10.可选地，当上述步骤执行至“执行初始化程序，以完成所述测试用电子装置的初始化”的步骤，更进一步包括以下次步骤：
11.完成所述测试用电子装置的初始化；
12.取得返回程序地址信息；
13.存储所述返回程序地址信息，并且接续执行“执行检测程序，以对所述待测记忆体进行检测”的步骤。
14.可选地，当上述步骤执行至“执行检测程序，以对所述待测记忆体进行检测”的步骤，所述处理器发送一个以上检测触发讯号给所述待测记忆体，并且等待接收待测记忆体对应回传的一个以上检测回馈信息。
15.可选地，当上述步骤执行至“判断对所述待测记忆体进行检测状态是否满足异常条件”的步骤，所述处理器判断是否接收到所述检测回馈信息，若否，所述处理器判断满足所述异常条件。
16.可选地，进一步的，当所述处理器发送所述检测回馈信息后，所述处理器计时等待回馈时间，于计时到达所述等待回馈时间未接收到所述检测回馈信息，所述处理器判断满足所述异常条件。
17.可选地，进一步的，当上述步骤执行“若是，则执行中断跳脱程序，以中断所述检测程序并产生异常记录信息”的步骤后，所述验证程序进一步还包括以下步骤：
18.读取所述返回程序地址信息，并且回到上述“执行检测程序，以对所述待测记忆体进行检测”的步骤。
19.根据上述方法可知，当所述处理器判断对所述待测记忆体检测状态满足所述异常条件时，则代表在检测所述待测记忆体的过程中发生异常，此时所述处理器实时地执行所述中断跳脱程序，以实时地中断所述检测程序，并且产生及存储所述异常记录信息供检测人员实时地查看异常原因，避免因为在检测所述待测记忆体的过程中发生异常时，因为无法暂停、终止所述验证程序而被迫必须要将所述测试用电子装置关机，造成记录所述异常原因的相关信息遗失，导致验证麻烦没效率的问题，以达到降低验证复杂度并且提升确认异常的实时性、效率性及便利性的目的。
20.为了达成上述目的所采取的另一技术手段，令前述具有实时中断验证功能的记忆体验证系统包括：
21.测试用电子装置，其包括：
22.待测记忆体；
23.处理器，具有寄存器，所述处理器耦接所述待测记忆体，所述处理器对所述待测记忆体执行验证程序；
24.其中，所述处理器执行初始化程序，以初始化所述测试用电子装置，所述处理器取得所述寄存器内的返回程序地址信息，所述处理器执行检测程序以对所述待测记忆体进行检测，所述处理器判断对所述待测记忆体检测状态是否满足异常条件，若是，所述处理器执行中断跳脱程序以中断所述检测程序，并产生异常记录信息，所述处理器根据所述返回程序地址信息返回至执行所述验证程序。
25.可选地，所述处理器发送一个以上的检测触发讯号给所述待测记忆体，以对所述待测记忆体进行检测，并且等待接收所述待测记忆体对应回传的一个以上检测回馈信息；当所述处理器未接收到所述检测回馈信息，则判断满足所述异常条件。
26.可选地，当所述处理器发送所述检测触发讯号给所述待测记忆体时，所述处理器计时等待回馈时间，并且于计时到达所述等待回馈时间未接收到所述检测回馈信息，则判断满足所述异常条件。
27.可选地，所述测试用电子装置为行动装置、平板计算机或智能型手机。
28.根据上述系统可知，由所述处理器先执行所述初始化程序，以初始化所述测试用电子装置的相关装置参数信息，使所述测试用电子装置被设定为可开始进行验证的状态，所述处理器根据所述寄存器中对应所述验证程序当前执行时的程序地址，取得所述返回程序地址信息并且存储，所述处理器接着执行所述检测程序，以对所述待测记忆体进行检测，
所述处理器则根据对所述待测记忆体检测状态判断满足所述异常条件时，则实时地执行所述中断跳脱程序以中断所述检测程序，并且产生及存储所述异常记录信息，以供检测人员确认，同时所述处理器还根据所述返回程序地址信息对应返回至所述验证程序，方便执行后续的检测，以达到降低验证复杂度并且提升确认异常的实时性、效率性及便利性的目的。
29.为使能更进一步了解本发明的特征及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，但是此说明与所附附图仅用来说明本发明，而非对本发明的权利范围作任何的限制。
附图说明
30.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
31.图1是本发明较佳实施例的系统架构方块图；
32.图2是本发明较佳实施例的方法流程图；
33.图3是本发明较佳实施例的另一方法流程图；
34.图4是本发明较佳实施例的又一方法流程图。
35.附图标记
36.10 测试用电子装置
37.11 处理器
38.111 寄存器
39.12 待测记忆体
40.13 存储单元
41.s31、s311、s312、s313 步骤
42.s32、s33、s34、s35、s36 步骤
具体实施方式
43.关于本发明具有实时中断验证功能的记忆体验证系统的较佳实施例，请参考图1所示，包括测试用电子装置10，所述测试用电子装置10包括处理器11、待测记忆体12及存储单元13，所述处理器11分别耦接所述待测记忆体12及所述存储单元13，所述处理器11具有寄存器111，以存储程序的相关参数、程序执行的地址信息等，其中上述程序包含验证程序；在本实施例中，所述测试用电子装置10的例子可包含(但不限于)：行动装置、平板计算机、智能型手机、桌面计算机、笔记本电脑等。待测记忆体12的例子可包含(但不限于)：各种嵌入式(embedded)存储装置(诸如符合ufs或emmc规格的嵌入式存储装置)。于另一实施例中，待测记忆体12可拆卸地装设在测试用电子装置10中，待测记忆体12的例子可包含(但不限于)：可携式存储装置(诸如符合sd/mmc、cf、ms、xd或ufs标准的记忆卡)、固态硬盘(solid state drive,ssd)。存储单元13可以随机存取内存(random access memory,ram)来实施，例如静态随机存取内存(static ram,sram)或动态随机存取内存(dynamic ram,dram)，其中所述随机存取内存可用来提供存储空间给处理器11，以暂时地存储数据，但本发明不限
于此。
44.进一步地，在本实施例中，所述测试用电子装置10要对所述待测记忆体12进行例如功能验证、健康验证时，由所述处理器11执行验证程序，以对所述待测记忆体12进行验证，所述验证程序的过程包括初始化程序及检测程序并且如下说明。
45.首先，所述处理器11执行所述初始化程序，以初始化所述测试用电子装置10，其中，所述处理器11将所述测试用电子装置10的装置参数设定为初始值，使所述测试用电子装置10被设定为可开始验证所述待测记忆体12的准备状态。当完成所述测试用电子装置10的初始化后，所述处理器11从所述寄存器111中根据所述验证程序执行至当前的程序地址(也就是完成所述初始化程序后的程序地址)，取得返回程序地址信息，并且存储在所述存储单元13中。在本实施例中，所述返回程序地址信息可作为所述处理器11在执行所述验证程序的过程中，返回所述验证程序完成所述初始化程序后的程序地址，具体而言，可于所述处理器11执行完所述检测程序后，并且确认检测的结果有异常时，根据所述返回程序地址信息返回至所述验证程序完成初始化后的参考地址，并且若后续有其它相关程序需执行时，则从根据所述返回程地址信息开始再次接续执行所述验证程序的后续步骤。
46.进一步的，所述处理器11要存储所述返回程序地址信息的时候，需要先暂停所述验证程序的执行，所以所述处理器11会执行初始化完成暂时中断程序，以先暂停执行所述验证程序，此时，所述处理器11从所述寄存器111中取得所述返回程序地址信息并存储在所述存储单元13中，并且接续执行所述验证程序的后续步骤。
47.当所述处理器11存储所述返回程序地址信息后，所述处理器11接续执行检测程序，以对所述待测记忆体12进行检测。所述处理器11根据对所述待测记忆体12的检测状态判断是否满足异常条件，若是，所述处理器11执行中断跳脱程序以中断所述检测程序，并且所述处理器11产生异常记录信息并存储在所述存储单元13中后，所述处理器11根据所述返回程序地址信息返回至所述验证程序，也就是返回至完成初始化并且开始执行所述检测程序之前，以供进行后续检测，或者供检测人员根据所述异常记录信息，适应性调整对应的检测程序，以便于检测人员得以更方便、准确的方式对所述待测记忆体12进行合适的验证。
48.在本实施例中，前述的检测状态指，当所述处理器11执行所述检测程序时，会对应发送一个以上的检测触发讯号给所述待测记忆体12，并且等待接收所述待测记忆体12对应回传的一个以上检测回馈信息，以对所述待测记忆体12进行循环式的反复检测，以期完整的验证所述待测记忆体12的功能，并且所述处理器11会持续判断在检测状态是否接收到所述检测回馈信息，若否，则代表所述处理器11未接收到所述检测回馈信息，则所述处理器11判断满足所述异常条件，并且执行所述中断跳脱程序以中断所述检测程序；当所述处理器11接收到所述检测回馈信息则输出验证完成信息。
49.在本实施例中，所述处理器11进一步的会在发送所述检测触发讯号给所述待测记忆体12时，计时等待回馈时间，当计时到达所述等待回馈时间后未收到所述检测回馈信息，则判断满足所述异常条件，借此还可避免讯号传递的延迟造成误判断的风险，进而更进一步的提升验证的准确性。
50.当所述处理器11执行所述中断跳脱程序以中断所述检测程序后，所述处理器11则对应产生异常记录信息并且存储在所述存储单元13中，以供检测人员确认，在本实施例中，为了能够更顺畅且便于执行所述验证程序，以确认所述待测记忆体12的状态，所述处理器
11根据存储在所述存储单元13内的返回程序地址信息返回至所述验证程序，以回到所述验证程序完成初始化并且开始执行所述检测程序之前，并且检测人员可根据所述异常记录信息适应性调整所述检测程序或更换新的待测记忆体12，以供后续检测。在本实施例中，所述异常记录信息包括程序异常原因信息或内存异常原因信息。
51.根据上述内容，本发明进一步归纳出具有实时中断验证功能的记忆体验证方法，请参考图1、2所示，适用于测试用电子装置10，所述测试用电子装置10包括相耦接的处理器11及待测记忆体12，并且由所述处理器11可执行验证程序，以对所述待测记忆体12进行验证，所述验证程序包括以下步骤：
52.执行初始化程序(s31)，执行所述初始化程序用以完成所述测试用电子装置10的初始化；
53.执行检测程序(s32)，执行所述检测程序用以对所述待测记忆体进行检测；
54.判断对所述待测记忆体进行检测状态是否满足异常条件(s33)；
55.若是，则执行中断跳脱程序，并产生异常记录信息(s34)；若否，则输出验证完成信息(s35)；其中，前述当执行所述中断跳脱程序时，用以中断所述检测程序，并且产生对应的所述异常记录信息。
56.当上述执行到“执行初始化程序(s31)”的步骤时，请参考图3所示，进一步包括以下次步骤：
57.完成所述测试用电子装置的初始化(s311)；
58.取得返回程序地址信息(s312)；
59.存储所述返回程序地址信息(s313)，并且接续执行“执行检测程序(s32)”的步骤。
60.当上述步骤执行至“执行检测程序(s32)”的步骤，所述处理器11对应发送一个以上的检测触发讯号给所述待测记忆体12，并且等待接收所述待测记忆体12对应回传的一个以上检测回馈信息。
61.当上述步骤执行至“判断对所述待测记忆体进行检测状态是否满足异常条件(s33)”的步骤，所述处理器11判断是否接收到所述检测回馈信息，若否，所述处理器11判断满足所述异常条件，则接续执行“若是，执行中断跳脱程序，并产生异常记录信息(s34)”的步骤，若是判断接收到所述检测回馈信息，则继续执行所述检测程序，或者完成所述检测程序，并且执行“输出验证完成信息(s35)”的步骤；其中，所述处理器11判断是否满足所述异常条件的时候，进一步所述处理器11于发送所述检测触发讯号给所述待测记忆体12后还计时等待回馈时间，并且当计时到达所述等待回馈时间后还未收到所述检测回馈信息，判断满足所述异常条件。
62.当上述步骤执行“若是，则执行中断跳脱程序，并产生异常记录信息(s34)”的步骤后，请参考图4所示，所述验证程序进一步还包括以下步骤：
63.读取所述返回程序地址信息(s36)，并且回到上述“执行检测程序(s32)”的步骤。
64.根据上述内容，本发明通过所述处理器11对所述待测记忆体12验证的过程中，若发生异常(如所述验证程序的执行错误、所述待测记忆体12的故障)时，所述处理器11实时地执行所述中断跳脱程序，以停止对所述待测记忆体的验证，并且实时地输出、记录对应地常记录信息，供检测人员确认，借此改善传统在验证过程中发生异常时，因为验证程序无法中断而被迫必须要切断检测所述待测记忆体12的测试平台的电源，造成记录的异常原因消
失而无法被查询的问题，以达到降低验证复杂度，并提升异常原因确认的实时性、效率性及便利性的目的。
65.以上所述仅为本发明的实施例，其并非用以局限本发明的专利范围。