一种PCB电路板元件测试工装的制作方法

一种pcb电路板元件测试工装
技术领域
1.本实用新型涉及pcb电路板元件测试技术领域，具体为一种pcb电路板元件测试工装。


背景技术：

2.目前的pcb电路板在装插元器件测试的过程中会有破损的问题存在，以及现有的pcb电路板元件测试探针为简单的杆状结构，当测试探针被升降结构下压时，直接将测试探针作用在pcb电路板元件上，从而容易导致pcb电路板元件的表面受损，降低了pcb电路板元件测试工装的使用性能。
3.本实用新型通过设计一种pcb电路板元件测试工装来解决存在的问题。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于提供一种pcb电路板元件测试工装，以解决上述背景技术中提出的问题。
5.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
6.一种pcb电路板元件测试工装，包括pcb电路板治具、pcb电路板、探针安装板和安装板，所述安装板通过连接杆连接在探针安装板的端面上，所述探针安装板底部的四角处分别设置定位销，所述定位销的内侧并且位于探针安装板的底部均匀设置有pcb电路板组件，所述pcb电路板的四角处并且与定位销的下方开设有定位孔，所述pcb电路板的迪比四角处设置有定位销柱，所述定位销柱的底部连接在pcb电路板治具上，所述pcb电路板组件包括连接柱、连接套筒和测试探针，所述连接柱连接在探针安装板上，所述连接柱外壁中间处设置有外螺纹段，所述外螺纹段的下方并且位于连接柱的外壁套接有连接套筒，所述连接套筒的内部并且位于连接柱的外壁套接有弹簧，所述连接套筒的底部连接有测试探针，所述pcb电路板治具的底部设置有pcb电路板治具支撑。
7.优选的，所述定位销的中垂线与定位孔的中垂线在同一条直线上，所述定位销与定位孔一一对应设置并且定位销与定位孔配合方式为间隙配合。
8.优选的，所述定位销柱与pcb电路板治具的连接结构为插拔结构并且可拆装。
9.优选的，所述连接柱与探针安装板的连接方式为螺纹连接并且可拆装，所述连接套筒的端口处开设有内螺纹段并且与外螺纹段的连接方式为螺纹连接。
10.优选的，所述弹簧设置在外螺纹段的下方，所述外螺纹段的外径大于弹簧的外径至少2mm。
11.优选的，所述连接套筒的内部与弹簧的配合方式为间隙配合，所述连接套筒的底部端口开设有内螺纹段并且与测试探针的连接方式为螺纹连接。
12.优选的，所述连接套筒的内腔为光滑腔体并且与外螺纹段的配合方式为间歇配合，所述连接柱与连接套筒的连接方式上下滑动连接。
13.与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
14.1、本实用新型中，通过设计对整个pcb电路板进行测试，解决了pcb电路板在装插元器件的过程中会有破损的问题，在所有元器件完成安装后，对pcb电路板进行完整测试，测试每个元器件是否损坏或者达不到实际的标定值，保证产品质量。
15.2、本实用新型中，通过设置弹簧缓冲结构，避免测试探针直接作用在pcb电路板上，解决了现有的pcb电路板元件测试探针为简单的杆状结构，当测试探针被升降结构下压时，直接将测试探针作用在pcb电路板元件上，从而容易导致pcb电路板元件的表面受损的问题，提高了pcb电路板元件测试工装的使用性能。
附图说明
16.图1为本实用新型整体立体结构示意图；
17.图2为本实用新型整体主视结构示意图；
18.图3为本实用新型pcb电路板组件部分爆炸结构示意图；
19.图4为本实用新型pcb电路板组件部分爆炸结构示意图；
20.图5为本实用新型连接套筒局部剖视结构示意图。
21.图中：1、pcb电路板治具；2、pcb电路板；3、探针安装板；4、安装板；5、连接杆；6、定位销；7、pcb电路板组件；8、定位孔；9、定位销柱；10、连接柱；11、连接套筒；12、测试探针；13、外螺纹段；14、弹簧；15、pcb电路板治具支撑。
具体实施方式
22.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例,基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
23.请参阅图1
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4，本实用新型提供一种技术方案：
24.一种pcb电路板元件测试工装，包括pcb电路板治具1、pcb电路板2、探针安装板3和安装板4，安装板4通过连接杆5连接在探针安装板3的端面上，探针安装板3底部的四角处分别设置定位销6，定位销6的内侧并且位于探针安装板3的底部均匀设置有pcb电路板组件7，pcb电路板2的四角处并且与定位销6的下方开设有定位孔8，pcb电路板2的迪比四角处设置有定位销柱9，定位销柱9的底部连接在pcb电路板治具1上，pcb电路板组件7包括连接柱10、连接套筒11和测试探针12，连接柱10连接在探针安装板3上，连接柱10外壁中间处设置有外螺纹段13，外螺纹段13的下方并且位于连接柱10的外壁套接有连接套筒11，连接套筒11的内部并且位于连接柱10的外壁套接有弹簧14，连接套筒11的底部连接有测试探针12，pcb电路板治具1的底部设置有pcb电路板治具支撑15。
25.本实用新型工装流程：使用时，将安装板4安装在升降结构的伸缩端，此时在定位销6的中垂线与定位孔8的中垂线在同一条直线上，定位销6与定位孔8一一对应设置并且定位销6与定位孔8配合方式为间隙配合以及定位销柱9与pcb电路板治具1的连接结构为插拔结构并且可拆装的作用下，将已经安装完成器件的pcb电路板放置在pcb电路板治具1上，如图1，对整个pcb电路板进行测试，此过程通过设计对整个pcb电路板进行测试，解决了pcb电路板在装插元器件的过程中会有破损的问题，在所有元器件完成安装后，对pcb电路板进行
完整测试，测试每个元器件是否损坏或者达不到实际的标定值，保证产品质量；
26.当安装板4受到升降结构下压时，带动测试探针12下移，当测试探针12作用在pcb电路板上时，在连接柱10与探针安装板3的连接方式为螺纹连接并且可拆装，连接套筒11的端口处开设有内螺纹段并且与外螺纹段13的连接方式为螺纹连接，弹簧14设置在外螺纹段13的下方，外螺纹段13的外径大于弹簧14的外径至少2mm，其中外螺纹段13起到挡块的作用，测试探针12受力向上移动，进而在连接套筒11的内腔为光滑腔体并且与外螺纹段13的配合方式为间歇配合，连接柱10与连接套筒11的连接方式上下滑动连接的作用下，推动连接套筒11向上移动，进而压缩连接套筒11内部的弹簧14，从而起到缓冲的作用，此过程通过设置弹簧缓冲结构，避免测试探针直接作用在pcb电路板上，解决了现有的pcb电路板元件测试探针为简单的杆状结构，当测试探针被升降结构下压时，直接将测试探针作用在pcb电路板元件上，从而容易导致pcb电路板元件的表面受损的问题，提高了pcb电路板元件测试工装的使用性能。
27.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。