具有双通道的电路板测试设备的制作方法

1.本发明涉及测试设备领域，特别涉及一种具有双通道的电路板测试设备。


背景技术：

2.电路板投入使用前，需要对电路板进行测试。工作人员需要确保电路板上的每个元件都正常后方可使用电路板。
3.电路板的测试由测试设备进行测试。测试设备代替了人工测试，节省了人工成本。且测试设备测试的精度也比人工测试的精度高。目前，测试设备在测试完一块电路板之后，需要对电路板进行下料，然后重新上料待测试的电路板。这种测试设备等待电路板下料以及重新上料待测试的电路板的时间长，测试设备的测试效率低。
4.故需要提供一种具有双通道的电路板测试设备来解决上述技术问题。


技术实现要素：

5.本发明提供一种具有双通道的电路板测试设备，其通过设置第一输送装置以及第二输送装置，并使用第一输送装置以及第二输送装置交替输送电路板，以解决现有技术中的测试设备多存在结构设计不够合理，测试设备等待电路板下料以及重新上料待测试的电路板的时间长，测试设备的测试效率低的问题。
6.为解决上述技术问题，本发明的技术方案为：一种具有双通道的电路板测试设备，用于测试电路板；所述具有双通道的电路板测试设备包括：
7.设备机架；
8.测试机构，与所述设备机架连接，用于测试电路板；以及，
9.输送机构，与所述设备机架连接，且位于所述测试机构的下方，用于输送电路板；
10.其中，所述输送机构包括：
11.第一输送装置，与所述设备机架连接，用于输送电路板；以及，
12.第二输送装置，与所述设备机架连接，且位于所述第一输送装置的下方，用于输送电路板；
13.所述第一输送装置以及所述第二输送装置用于交替输送电路板。
14.在本发明中，所述第一输送装置包括：
15.第一滑轨，以及，
16.第一输送盘，其位于所述第一滑轨上，与所述第一滑轨滑动连接，用于承放电路板；所述第一输送盘的运动轨迹上包括：第一上料位以及第一下料位；
17.所述第二输送装置包括：
18.第二滑轨，其位于所述第一滑轨的下方；以及，
19.第二输送盘，其位于所述第二滑轨上，与所述第二滑轨滑动连接，用于承放电路板；所述第二输送盘的运动轨迹上包括：第二上料位以及第二下料位；
20.所述第一输送装置处于所述第一上料位与所述第二输送装置处于第二上料位时，
所述第一输送装置与所述第二输送装置在所述设备机架上的竖直投影重合，所述第一输送装置处于所述第一下料位与所述第二输送装置处于第二下料位时，所述第一输送装置与所述第二输送装置在所述设备机架下的竖直投影重合。
21.在本发明中，所述第一滑轨包括：
22.第一轨道，与所述设备机架连接，以及，
23.第二轨道，其位于所述第一轨道的一侧，与所述设备机架连接；所述第一滑轨与所述第二滑轨共同用于输送第一输送盘；
24.所述第二滑轨包括：
25.第三轨道，与所述设备机架连接，以及，
26.第四轨道，其位于所述第三轨道的一侧，与所述设备机架连接；所述第一滑轨与所述第二滑轨共同用于输送第二输送盘；
27.所述第一滑轨的高度高于所述第二滑轨的高度，所述第三轨道位于所述第一轨道以及所述四轨道之间，所述第四轨道位于所述第二轨道以及所述第三轨道之间。
28.在本发明中，所述第一输送盘包括：
29.第一承载部，其位于所述第一输送盘的中部，用于承载电路板；以及，
30.第一连接部，其位于所述第一输送盘的外围，与所述第一滑轨连接；所述第一承载部上设有第一限位块，所述第一限位块用于限位电路板；
31.所述第二输送盘包括：
32.第二承载部，其位于所述第二输送盘的中部，用于承载电路板；以及，
33.第二连接部，其位于所述第二输送盘的外围，与所述第二滑轨连接；所述第二承载部上设有第二限位块，所述第二限位块用于限位电路板；所述第二承载部与所述第二承载部的结构相同。
34.在本发明中，所述第一承载部上设有多个连接孔，所述第一限位块通过所述连接孔与所述第一承载部连接。
35.在本发明中，所述第一承载部的两端设有第一夹取槽；所述第二承载部的两端设有第二夹取槽。
36.在本发明中，所述测试机构包括：
37.调度装置，与所述设备机架连接；
38.固定装置，与所述调度装置连接，位于所述输送机构的上方，用于固定电路板；所述固定装置包括用于固定至少两个不平行的面的固定件；以及，
39.测试装置，与所述固定装置连接，用于测试电路板。
40.在本发明中，所述固定装置包括：
41.连接块，与所述测试机构连接，所述连接块的内部中空，形成伸缩室；
42.第一固定件，与所述连接块连接；所述第一固定件延伸至所述伸缩室内，用于下压固定电路板；
43.构造块，位于所述第一固定件的下方，与所述第一固定件连接；
44.弹簧，其位于所述连接块与所述构造块之间，设置在所述第一固定件的外围；所述弹簧的一端与所述连接块的底部的底面连接，另一端与所述构造块的底部的顶面连接，用于复位所述第一固定件；
45.第二固定件，其位于所述构造块的一侧，用于固定电路板；所述第二固定件包括：
46.压实部，与所述构造块连接，以及，
47.连接部，其一端与所述连接块连接，另一端与所述压实部连接，用于带动所述压实部下压。
48.在本发明中，所述测试装置包括：
49.竖向测试器，其位于所述构造块的下方，与所述构造块连接；以及，
50.斜向测试器，其位于所述第二固定件的下方，与所述第二固定件连接。
51.在本发明中，测试机构包括初始状态、第二工作状态以及第三工作状态；
52.当所述测试机构处于初始状态时，所述压实部的延伸线与所述连接部的延伸线的夹角为a度，所述压实部的延伸线与所述构造块的延伸线的夹角为b度，所述竖向测试器远离电路板，所述斜向测试器远离电路板；
53.当所述测试机构处于第一工作状态时，所述压实部的延伸线与所述连接部的延伸线的夹角为a度，所述压实部的延伸线与所述构造块的延伸线的夹角为b度，所述竖向测试器与电路板连接，所述斜向测试器远离电路板；
54.当所述测试机构处于第三工作状态时，所述压实部的延伸线与所述连接部的延伸线的夹角为e度，所述压实部的延伸线与所述构造块的延伸线的夹角为f度，所述竖向测试器与电路板连接，所述斜向测试器与电路板连接；
55.其中180>a>e且b<f<180。
56.本发明相较于现有技术，其有益效果为：本发明的具有双通道的电路板测试设备，其通过设置第一输送装置以及第二输送装置，并使用第一输送装置以及第二输送装置交替输送电路板。该设备减少了电路板下料以及重新上料待测试的电路板的时间，该设备的测试效率高，解决了现有技术中的测试设备多存在结构设计不够合理，测试设备等待电路板下料以及重新上料待测试的电路板的时间长，测试设备的测试效率低的问题。
附图说明
57.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面对实施例中所需要使用的附图作简单的介绍，下面描述中的附图仅为本发明的部分实施例相应的附图。
58.图1为本发明的具有双通道的电路板测试设备的优选实施例的结构示意图。
59.图2为本发明的具有双通道的电路板测试设备的优选实施例的正视图。
60.图3为本发明的具有双通道的电路板测试设备的优选实施例中的输送机构的结构示意图。
61.图4为本发明的具有双通道的电路板测试设备的优选实施例中的第一输送盘的结构示意图。
62.图5为本发明的具有双通道的电路板测试设备的优选实施例中的第二输送盘的结构示意图。
63.图6为本发明的具有双通道的电路板测试设备的优选实施例中的测试机构的结构示意图。
64.图7为本发明的具有双通道的电路板测试设备的优选实施例中的测试机构的初始状态示意图。
65.图8为本发明的具有双通道的电路板测试设备的优选实施例中的测试机构的第一工作状态示意图。
66.图9为本发明的具有双通道的电路板测试设备的优选实施例中的测试机构的第二工作状态示意图。
67.附图标记：设备机架1、测试机构2、调度装置21、测试装置22、竖向测试器221、斜向测试器222、固定装置23、连接块231、第一固定件232、构造块233、弹簧234、第二固定件235、压实部2351、连接部2352、输送机构3、第一输送装置31、第一滑轨311、第一轨道3111、第二轨道3112、第一输送盘312、第一承载部3121、连接孔3121a、第一限位块3121b、第一连接部3122、第二输送装置32、第二滑轨321、第三轨道3211、第四轨道3212、第二输送盘322、第二承载部3221、第二连接部3222。
具体实施方式
68.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
69.在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。
70.本发明术语中的“第一”“第二”等词仅作为描述目的，而不能理解为指示或暗示相对的重要性，以及不作为对先后顺序的限制。
71.请结合图1、图2，如下对本发明提供的一种能解决以上技术问题的具有双通道的电路板测试设备进行详细阐述：
72.本发明提供的具有双通道的电路板测试设备的优选实施例为：一种具有双通道的电路板测试设备，用于测试电路板。具有双通道的电路板测试设备包括：设备机架1、测试机构2以及输送机构3。测试机构2与设备机架1连接，用于测试电路板。输送机构3与设备机架1连接，且位于测试机构2的下方，用于输送电路板。
73.其中，输送机构3包括：第一输送装置31以及第二输送装置32。第一输送装置31与设备机架1连接，用于输送电路板。第二输送装置32与设备机架1连接，且位于第一输送装置31的下方，用于输送电路板。第一输送装置31以及第二输送装置32用于交替输送电路板。
74.本发明的具有双通道的电路板测试设备通过设置第一输送装置31以及第二输送装置32，并使用第一输送装置31以及第二输送装置32交替输送电路板。具有双通道的电路板测试设备减少了电路板下料以及重新上料待测试的电路板的时间，具有双通道的电路板测试设备的测试效率高，解决了现有技术中的测试设备多存在结构设计不够合理，测试设备等待电路板下料以及重新上料待测试的电路板的时间长，测试设备的测试效率低的问题。
75.请结合图3、图4、图5，如下对本发明中的输送机构3进行详细阐述：
76.输送机构3包括：第一输送装置31以及第二输送装置32。第一输送装置31包括：第一滑轨311以及一第输送盘。第一输送盘312位于第一滑轨311上，与第一滑轨311滑动连接，用于承放电路板。第一输送盘312的运动轨迹上包括：第一上料位以及第一下料位。
77.第二输送装置32包括：第二滑轨321以及第二输送盘322。第二滑轨321位于第一滑
轨311的下方。第二输送盘322位于第二滑轨321上，与第二滑轨321滑动连接，用于承放电路板。第二输送盘322的运动轨迹上包括：第二上料位以及第二下料位。
78.第一输送装置31处于第一上料位与第二输送装置32处于第二上料位时，第一输送装置31与第二输送装置32在设备机架1上的竖直投影重合，第一输送装置31处于第一下料位与第二输送装置32处于第二下料位时，第一输送装置31与第二输送装置32在设备机架1下的竖直投影重合。第一输送装置31于第二输送装置32的设置，便于测试机构2对电路板进行测试。
79.此外，第一滑轨311包括：第一轨道3111以及第二轨道3112。第一轨道3111与设备机架1连接。第二轨道3112位于第一轨道3111的一侧，与设备机架1连接。第一滑轨311与第二滑轨321共同用于输送第一输送盘312。
80.第二滑轨321包括：第三轨道3211以及第四轨道3212。第三轨道3211与设备机架1连接。第四轨道3212位于第三轨道3211的一侧，与设备机架1连接。第一滑轨311与第二滑轨321共同用于输送第二输送盘322；
81.第一滑轨311的高度高于第二滑轨321的高度，第三轨道3211位于第一轨道3111以及四轨道之间，第四轨道3212位于第二轨道3112以及第三轨道3211之间。第一滑轨311于第二滑轨321独立设置，不会受到同步装置的限制，使输送机构3更加灵活。
82.在本方案中，第一输送盘312包括：第一承载部3121以及第一连接部3122。第一承载部3121位于第一输送盘312的中部，用于承载电路板。第一连接部3122位于第一输送盘312的外围，与第一滑轨311连接。第一承载部3121上设有第一限位块3121b，第一限位块3121b用于限位电路板。
83.第二输送盘322包括：第二承载部3221以及第二连接部3222。第二承载部3221位于第二输送盘322的中部，用于承载电路板。第二连接部3222位于第二输送盘322的外围，与第二滑轨321连接。第二承载部3221上设有第二限位块，第二限位块用于限位电路板。第二承载部3221与第二承载部3221的结构相同。使用限位块限制电路板的位置，便于测试机构2测试电路板，进而提高测试的精准度。
84.可以理解的是，第一承载部3121上设有多个连接孔3121a，第一限位块3121b通过连接孔3121a与第一承载部3121连接。遇到不同规格的电路板，可通过调整第一限位块3121b的位置，对不同规格的电路板进行限位。提高了具有双通道的电路板测试设备的适用性。
85.此外，本方案中的第一输送盘312上设有第一夹取槽，第二输送盘322上设有第二夹取槽。第一夹取槽位于第一承载部3121的两端。第二承载部3221位于第二夹取槽的两端。第一夹取槽以及第二夹取槽的设置便于取下第一输送盘312以及第二输送盘322，进而便于工人对第一输送盘312以及第二输送盘322上下料。
86.请结合图6、图7、图8、图9，如下对本发明中的测试机构2进行详细阐述：
87.测试机构2包括：调度装置21、固定装置23以及测试装置22。调度装置21与设备机架1连接。固定装置23与调度装置21连接，位于输送机构3的上方，用于固定电路板。固定装置23包括用于固定至少两个不平行的面的固定件。测试装置22，与固定装置23连接，用于测试电路板。
88.使用固定装置23能够在测试电路板之前固定好电路板。固定装置23的设置，提高
了测试的精准度。设置用于固定至少两个不平行的面的固定件能够测试不规则形状的电路板，提高了具有双通道的电路板测试设备的适用性。
89.其中，固定装置23包括：连接块231、第一固定件232、构造块233、弹簧234以及第二固定件235。连接块231与测试机构2连接，连接块231的内部中空，形成伸缩室。第一固定件232与连接块231连接。第一固定件232延伸至伸缩室内，用于下压固定电路板。构造块233位于第一固定件232的下方，与第一固定件232连接。弹簧234位于连接块231与构造块233之间，设置在第一固定件232的外围。弹簧234的一端与连接块231的底部的底面连接，另一端与构造块233的底部的顶面连接，用于复位第一固定件232。第二固定件235其位于构造块233的一侧，用于固定电路板。第二固定件235包括：压实部2351以及连接部2352。压实部2351与构造块233连接。连接部2352的一端与连接块231连接，另一端与压实部2351连接，用于带动压实部2351下压。
90.测试装置22包括：竖向测试器221以及斜向测试器222。竖向测试器221位于构造块233的下方，与构造块233连接。斜向测试器222位于第二固定件235的下方，与第二固定件235连接。
91.在本方案中，测试机构2包括初始状态、第二工作状态以及第三工作状态；
92.当测试机构2处于初始状态时，压实部2351的延伸线与连接部2352的延伸线的夹角为a度，压实部2351的延伸线与构造块233的延伸线的夹角为b度，竖向测试器221远离电路板，斜向测试器222远离电路板；
93.当测试机构2处于第一工作状态时，压实部2351的延伸线与连接部2352的延伸线的夹角为a度，压实部2351的延伸线与构造块233的延伸线的夹角为b度，竖向测试器221与电路板连接，斜向测试器222远离电路板；
94.当测试机构2处于第三工作状态时，压实部2351的延伸线与连接部2352的延伸线的夹角为e度，压实部2351的延伸线与构造块233的延伸线的夹角为f度，竖向测试器221与电路板连接，斜向测试器222与电路板连接；
95.其中180>a>e且b<f<180。
96.本实施例的工作原理：将电路板上料至第一输送装置31上，第一输送装置31将电路板带到第一上料位的过程中，将电路板上料至第二输送装置32。位于第一输送装置31的电路板测试完毕进行下料并重新上料的过程中，第二输送装置32将电路板带到第二上料位。第一输送装置31与第二输送装置32往复交替输送电路板，提高了具有双通道的电路板测试设备测试电路板的效率。
97.测试机构2测试电路板时，测试装置22下降，第一固定件232下压，构造块233上的竖向测试器接触电路板，并初步固定电路板。随着测试装置22继续下降，第二固定件235转动，直到第二固定件235上的斜向测试器与电路板接触，完成固定。最后测试装置对电路板进行测试。
98.这样即完成了本优选实施例的具有双通道的电路板测试设备的测试过程。
99.本发明的具有双通道的电路板测试设备通过设置第一输送装置以及第二输送装置，并使用第一输送装置以及第二输送装置交替输送电路板。具有双通道的电路板测试设备减少了电路板下料以及重新上料待测试的电路板的时间，具有双通道的电路板测试设备的测试效率高，解决了现有技术中的测试设备多存在结构设计不够合理，测试设备等待电
路板下料以及重新上料待测试的电路板的时间长，测试设备的测试效率低的问题。
100.综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。