钎探孔探测仪及探测方法与流程

技术特征：
1.一种钎探孔探测仪，其特征在于，包括：支撑架；可调底座，设于所述支撑架上；安装架，固定于所述可调底座上；探管，滑动穿过所述安装架及所述可调底座，该探管上标有刻度；金属检测杆，可螺旋升降地设置于所述探管内；可视探头，设于所述金属探测杆的下端；以及显示装置，设于所述安装架上；该显示装置连接于所述可视探头，用以接收、储存并显示该可视探头所获取的影像信息。2.根据权利要求1所述的钎探孔探测仪，其特征在于，所述可调底座包括一第一托盘和一第二托盘，所述第一托盘与所述第二托盘之间设有若干调平螺旋。3.根据权利要求2所述的钎探孔探测仪，其特征在于，所述第一托盘面向所述第二托盘的一面设有若干螺纹孔，所述螺纹孔连接所述调平螺旋，所述调平螺旋通过轴承与所述第二托盘固定连接。4.根据权利要求1所述的钎探孔探测仪，其特征在于，所述安装座上设有调节手柄，该调节手柄与所述探管传动连接，用以控制该探管的升降。5.根据权利要求1所述的钎探孔探测仪，其特征在于，所述安装架上还设有把手。6.根据权利要求1所述的钎探孔探测仪，其特征在于，还包括蓄电池，所述蓄电池连接于所述显示装置且可拆卸地固定于所述安装架上。7.一种探测方法，其特征在于，利用如权利要求1至6中任一项所述的钎探孔探测仪进行基础持力层中不良地质层的探测，包括如下步骤：对准钎探孔固定支撑架并调平可调底座；记录入孔前探管上的刻度数值h1；转动调节手柄以使探管进入钎探孔；通过探头获取钎探孔内的实时影像信息；当探管到达基础持力层中不良地质层上边缘时，记录此时探管上的刻度数值h2，据此确定不良地质层上边缘的深度为h2
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h1；当探管到达基础持力层中不良地质层下边缘时，记录此时探管上的刻度数据h3，据此确定基础持力层中不良地质层下边缘的深度为h3
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h1；根据上述刻度数据h3和h2确定基础持力层中不良地质层的厚度为h3
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h2。8.根据权利要求7所述的探测方法，其特征在于，所述通过探头获取钎探孔内的实时影像信息包括：控制探管内的金属检测杆螺旋下降，以使所述探头伸出所述探管并获取周边360度的实时影像信息。

技术总结
本发明公开了一种钎探孔探测仪，它包括：支撑架；可调底座，设于所述支撑架上；安装架，固定于所述可调底座上；探管，滑动穿过所述安装架及所述可调底座，该探管上标有刻度；金属检测杆，可螺旋升降地设置于所述探管内；可视探头，设于所述金属探测杆的下端；以及显示装置，设于所述安装架上；该显示装置连接于所述可视探头，用以接收、储存并显示该可视探头所获取的影像信息。本发明钎探孔探测仪可以获取基础持力层中不良地质层的精确数据及影像信息。此外，本发明还提供一种钎探孔探测仪及探测方法，可以精确探明基础持力层中不良地质层的规模。的规模。的规模。


技术研发人员：杨林
受保护的技术使用者：中国五冶集团有限公司
技术研发日：2021.06.25
技术公布日：2021/11/2