钎探孔探测仪及探测方法与流程

1.本发明涉及建筑工程应用技术领域，具体涉及一种钎探孔探测仪及探测方法。


背景技术：

2.土木工程行业建筑地基与基础工程施工质量对于整个建筑物结构安全起到十分重要的作用，基础持力层能否满足设计各项指标是决定地基与基础工施工质量关键所在。因此，对基础持力层的检测、探测就十分重要。基础持力层受特殊地质情况影响，如最具代表的贵州独特的喀斯特溶岩地貌的影响，地下溶洞、裂隙、土洞、破碎带强发育，其基础持力层完整性是否满足设计要求将存在很多不可预见的不良地质层情况。所以对基础持力层的检测要做到真实、准确，做到万无一失。因此，为了确保施工质量、结构安全，对基础持力层钎探孔进行二次探测相关仪器的研发十分重要，通过二次探测得到十分准确的数据为对不良地质层情况处理方案提供决定性数据。


技术实现要素：

3.针对以上技术问题，本发明提供一种钎探孔探测仪，以获取基础持力层中不良地质层的精确数据及影像信息。此外，本发明还提供一种探测方法，以精确探明基础持力层中不良地质层的规模。
4.为实现上述目的，根据本发明的一方面，提供一种钎探孔探测仪，其包括：
5.支撑架；
6.可调底座，设于所述支撑架上；
7.安装架，固定于所述可调底座上；
8.探管，滑动穿过所述安装架及所述可调底座，该探管上标有刻度；
9.金属检测杆，可螺旋升降地设置于所述探管内；
10.可视探头，设于所述金属探测杆的下端；以及
11.显示装置，设于所述安装架上；该显示装置连接于所述可视探头，用以接收、储存并显示该可视探头所获取的影像信息。
12.在本发明的一实施方式中，所述可调底座包括一第一托盘和一第二托盘，所述第一托盘与所述第二托盘之间设有若干调平螺旋。
13.在本发明的一实施方式中，所述第一托盘面向所述第二托盘的一面设有若干螺纹孔，所述螺纹孔连接所述调平螺旋，所述调平螺旋通过轴承与所述第二托盘固定连接。
14.在本发明的一实施方式中，所述安装座上设有调节手柄，该调节手柄与所述探管传动连接，用以控制该探管的升降。
15.在本发明的一实施方式中，所述安装架上还设有把手。
16.在本发明的一实施方式中，所述的钎探孔探测仪还包括蓄电池，所述蓄电池连接于所述显示装置且可拆卸地固定于所述安装架上。
17.本发明钎探孔探测仪可以获取基础持力层中不良地质层的精确数据及影像信息，
据此可以对钎探报告关于基础持力层中不良地质层的厚度等数据进行准确复核，从而准确评估钎探报告的真实性、可靠性。
18.根据本发明的另一方面，提供一种探测方法，它利用如上所述的钎探孔探测仪进行基础持力层中不良地质层的探测，具体包括如下步骤：
19.对准钎探孔固定支撑架并调平可调底座；
20.记录入孔前探管上的刻度数值h1；
21.转动调节手柄以使探管进入钎探孔；
22.通过探头获取钎探孔内的实时影像信息；
23.当探管到达基础持力层中不良地质层上边缘时，记录此时探管上的刻度数值h2，据此确定不良地质层上边缘的深度为h2
‑
h1；
24.当探管到达基础持力层中不良地质层下边缘时，记录此时探管上的刻度数据h3，据此确定不良地质层下边缘的深度为h3
‑
h1；
25.根据上述刻度数据h3和h2确定不良地质层的厚度为h3
‑
h2。
26.在本发明的一实施方式中，所述通过探头获取钎探孔内的实时影像信息包括：
27.控制探管内的金属检测杆螺旋下降，以使所述探头伸出所述探管并获取周边360度的实时影像信息。
28.本发明可以精确探明基础持力层中不良地质层的规模，如溶洞、裂隙的横向发育深度，从而可以十分精确的计算出溶洞、裂隙的体积。
附图说明
29.此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
30.图1是本发明一实施例中钎探孔探测仪的结构示意图；以及
31.图2为图1所示钎探孔探测仪的局部放大图。
32.附图标记
[0033]1ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
支撑架
[0034]2ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
可调底座
[0035]
21
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
第一托盘
[0036]
22
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
第二托盘
[0037]
23
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
调平螺旋
[0038]3ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
安装架
[0039]
31
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
调节手柄
[0040]
32
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把手
[0041]4ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
探管
[0042]5ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
金属检测杆
[0043]6ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
显示装置
[0044]7ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
蓄电池
具体实施方式
[0045]
现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施方式。相反，提供这些实施方式使得本发明将全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略对它们的重复描述。需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
[0046]
图1是本发明一实施例中钎探孔探测仪的结构示意图；以及图2为图1所示钎探孔探测仪的局部放大图。根据本发明的一方面，提供一种钎探孔探测仪。如图1和2所示，该钎探孔探测仪包括：支撑架1，可调底座2、安装架3、探管4、金属检测杆5、可视探头及显示装置6。所述可调底座2设于所述支撑架1上；所述安装架3固定于所述可调底座2上；所述探管4滑动穿过所述安装架3及所述可调底座2，该探管4上标有刻度；所述金属检测杆5可螺旋升降地设置于所述探管4内；所述可视探头设于所述金属探测杆的下端；以及所述显示装置6设于所述安装架3上；该显示装置6连接于所述可视探头，用以接收、储存并显示该可视探头所获取的影像信息。
[0047]
本发明钎探孔探测仪可以获取基础持力层中不良地质层的精确数据及影像信息，据此对钎探报告中基础持力层中不良地质层的相关数据进行准确复核，从而准确判断钎探报告的真实性、可靠性。
[0048]
如图2所示，所述可调底座2可以包括一第一托盘21和一第二托盘22，所述第一托盘21与所述第二托盘22之间设有若干调平螺旋23。进一步地，所述第一托盘21面向所述第二托盘22的一面设有若干螺纹孔，所述螺纹孔连接所述调平螺旋23，所述调平螺旋23通过轴承与所述第二托盘22固定连接。具体而言，即调平螺旋23可以在第一托盘21上的螺纹孔内上下移动，进而带动第二托盘22相对于第一托盘21上下移动，从而将第二托盘22调整至水平状态。所述调平螺旋23通过轴承与所述第二托盘22固定连接，通过将调平螺旋23旋入或者旋出第一托盘21上的螺纹孔来对第二托盘22进行调平作业。
[0049]
如图1、2所示，所述安装座上可以设有调节手柄31，该调节手柄31与所述探管4传动连接，用以控制该探管4的升降。本领域技术人员可以理解的是，该调节手柄31既可以通过绳索控制所述探管4的升降，也可以通过一转轴连接于一齿轮，同时在所述探管4的外壁沿其长度方向设置齿条，使所述齿轮啮合于该齿条，从而通过转动所述齿轮控制所述探管4的升降。此外，本领域技术人员还应当理解的是，所述金属探测杆的外壁可以设有外螺纹，所述探管4的可以设有内螺纹，所述金属探测杆据此与所述探管4螺纹连接，从而实现相对所述探管4螺旋升降。当然，这仅是本发明的一种可行实施方式，并非以此限定本发明的保护范围。
[0050]
请继续参阅图2，所述安装架3上还可以设有把手32。所述把手32的设置使得该钎孔探测仪便于携带和使用。进一步地，所述的钎探孔探测仪还可以包括蓄电池7，所述蓄电池7连接于所述显示装置6且可拆卸地固定于所述安装架3上。该蓄电池可以用作所述显示装置的电源，以及为可视探头的照明供电。由此可以增加该钎孔探测仪使用的灵活性和可
靠性。
[0051]
本发明所提出的钎探孔探测仪具有结构简单，高效实用的特点。该钎探孔探测仪的使用方法主要包括：固定好所述支撑架1，调平所述可调底座2，通过人工转动调节手柄31以使探管4缓慢落入钎探孔内，通过金属检测杆5端部的可视探头将钎孔内的画面实时地传输至显示装置6。检测人员通过对照先前形成的钎探记录，当探头将要接近不良地质层时，缓慢转动调节手柄31使探头对准不良地质层上边缘，记录此时探管4上的第一个刻度数据，继续转动调节手柄31直至探头下落至不良地质层下边缘，记录此时探管4上的第二个刻度数据。据此，不良地质层的厚度为两次记录数据之差，将该差值与钎探报告进行对比以复核基础持力层中不良地质层的厚度，从而准确的判断钎探报告的真实性和可靠性。当不良地质层为溶洞时，可以将探管4停留在溶洞内，然后再转动探管4内的金属探测杆使其带动可视探头旋出探管4的下端，通过可视探头可以对溶洞进行360度旋转观测从而探明溶洞规模。
[0052]
总而言之，本发明可以获取基础持力层中不良地质层的精确数据及影像信息，据此对钎探报告中基础持力层中不良地质层的相关数据进行准确复核，从而准确判断钎探报告的真实性、可靠性。
[0053]
根据本发明的另一方面，提供一种探测方法，请参阅图1和2，它利用如上所述的钎探孔探测仪进行基础持力层中不良地质层的探测，该探测方法具体包括如下步骤：
[0054]
s100，对准钎探孔固定支撑架1并调平可调底座2。
[0055]
s200，记录入孔前探管4上的刻度数值h1。
[0056]
s300，转动调节手柄31以使探管4进入钎探孔。
[0057]
s400，通过探头获取钎探孔内的实时影像信息。
[0058]
s500，当探管4到达基础持力层中不良地质层上边缘时，记录此时探管4上的刻度数值h2，据此确定不良地质层上边缘的深度为h2与h1的差值。
[0059]
s600，当探管4到达基础持力层中不良地质层下边缘时，记录此时探管4上的刻度数据h3，据此确定不良地质层下边缘的深度为h3与h1的差值。
[0060]
s700，根据上述刻度数据h3和h2确定不良地质层的厚度为h3与h2的差值。
[0061]
本发明可以精确探明基础持力层中不良地质层的规模，如溶洞、裂隙的横向发育深度，从而可以十分精确的计算出溶洞、裂隙的体积。
[0062]
在本发明的一实施方式中，所述通过探头获取钎探孔内的实时影像信息包括：控制探管4内的金属检测杆5螺旋下降，以使所述探头伸出所述探管4并获取周边360度的实时影像信息。由此，结合探管的所显示的刻度数据，可以精确探明溶洞规模。
[0063]
具体而言，在入孔探测前应对照钎探报告的数据获知基础持力层中不良地质层的具体位置，具体可以通过钎探记录计算出不良地质层的位置，本发明所述不良地质层包括基础持力层中可能存在的泥夹层、溶洞、土洞、裂隙等。入孔探测前，记录探管4上的刻度数值h1，然后缓慢的转动调节把手32以使探头匀速进入钎探孔。通过探管4内金属检测杆5前端的可视探头获取的影像信息，在显示装置6上可以十分清晰的观看到孔壁的地质情况。当探头进入不良地质层上边缘时，记录此时探管4的刻度数值h2，开启显示装置6的录像功能，然后使金属检测杆5带动探头做360度旋转匀速下探动作，当探头到达不良地质层下端时记录此时探管4上的刻度数据h3。通过记录的数据可以得知不良地质层的上端位于探孔顶端
标高以下h2
‑
h1深度处，不良地质层下端位于探孔顶端标高以下h3
‑
h1处，其不良地质层厚度为h3
‑
h2。为了更精确地探明不良地质层的情况，可在其上下边缘之间来回往复做探测动作，以获取该范围内的多组深度数据及影像信息。此外，通过可视探头可以探明不良地质层如溶洞、裂隙的横向发育深度，从而可以十分精确的计算出溶洞、裂隙的体积。
[0064]
总而言之，利用本发明的提出的钎探孔探测仪可以十分精确的探明基础持力层中不良地质层的各项数据，如位置、大小、岩质或土质等情况。同时通过可视探头所获取的影像信息可以为不良地质层的处理方案提供有力的证据支撑。可以进一步探明、核实基础持力层地质情况，得出最真实、最准确的数据，为应对基础持力层中不良地质层所提出的处理方案提供决定性数据、视频材料支撑，进而为建设项目增值。
[0065]
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。