一种用于测试电子元件的盐雾腐蚀实验箱的制作方法

技术特征：
1.一种用于测试电子元件的盐雾腐蚀实验箱，其特征在于：该一种用于测试电子元件的盐雾腐蚀实验箱包括试验箱主体(1)；所述试验箱主体(1)的前端下部铰链连接有一组翻转箱框(2)；所述翻转箱框(2)的右端面固定连接有一组转换驱动件(3)；所述翻转箱框(2)的内部滑动连接有一组转换滑动板(4)；转换驱动件(3)的活塞杆与转换滑动板(4)固定连接；所述转换滑动板(4)的前端面固定连接有一组旋转驱动件(5)；所述试验箱主体(1)内部上方滑动连接有一组上隔门组件(7)；所述试验箱主体(1)内部下方滑动连接有一组下隔门组件(8)；所述试验箱主体(1)的后方内部固定连接有一组隔门启闭驱动件(6)。2.如权利要求1所述一种用于测试电子元件的盐雾腐蚀实验箱，其特征在于：所述翻转箱框(2)还包括有导向件(201)，翻转箱框(2)的内侧上下端面内侧均设置有一组导向件(201)，转换滑动板(4)通过导向件(201)与翻转箱框(2)滑动连接。3.如权利要求1所述一种用于测试电子元件的盐雾腐蚀实验箱，其特征在于：所述旋转驱动件(5)还包括有电子元器件治具(501)，旋转驱动件(5)的转轴上同轴固定连接有一组电子元器件治具(501)。4.如权利要求1所述一种用于测试电子元件的盐雾腐蚀实验箱，其特征在于：所述上隔门组件(7)和下隔门组件(8)将试验箱主体(1)的内部分隔为右试验腔(101)和左试验腔(102)两个腔室。5.如权利要求1所述一种用于测试电子元件的盐雾腐蚀实验箱，其特征在于：所述隔门启闭驱动件(6)还包括有驱动齿轮(601)，隔门启闭驱动件(6)的转轴上同轴固定连接有一组驱动齿轮(601)，上隔门组件(7)还包括有上门从动齿条(701)，上隔门组件(7)的后部下方固定连接有一组上门从动齿条(701)，下隔门组件(8)还包括有下门从动齿条(801)，下隔门组件(8)的后部上方固定连接有一组下门从动齿条(801)，驱动齿轮(601)与上门从动齿条(701)啮合共同构成齿轮齿条传动机构，驱动齿轮(601)与下门从动齿条(801)啮合共同构成齿轮齿条传动机构，上门从动齿条(701)和下门从动齿条(801)分别位于驱动齿轮(601)的左右两侧。

技术总结
本实用新型提供一种用于测试电子元件的盐雾腐蚀实验箱，属于检测试验技术领域，以解决现有的盐雾试验一般是通过盐雾试验箱进行完成，在盐雾实验箱进行交变盐雾试验时，需要间歇性喷洒盐雾和增加温湿度，喷洒盐雾和增加温湿度速度时间较长，试验效率较低的问题，包括试验箱主体；所述试验箱主体的前端下部铰链连接有一组翻转箱框；所述翻转箱框的右端面固定连接有一组转换驱动件。本实用新型通过采用右试验腔和左试验腔，通过电子元器件交替进入右试验腔和左试验腔，实现电子元器件的交替试验，减少了盐雾喷洒和温湿度提升时间，试验效率更高，同时在试验中可以实现电子元器件的旋转，保证试验气体能够快速与电子元器件相接触，提高试验效率。提高试验效率。提高试验效率。


技术研发人员：乔森
受保护的技术使用者：森诺检测认证技术服务（深圳）有限公司
技术研发日：2020.12.22
技术公布日：2021/11/2