一种多芯片器件用拉伸试验装置的制作方法

本技术涉及芯片器件拉伸试验，特别是涉及一种多芯片器件用拉伸试验装置。

背景技术：

1、现有公告号为cn 222800504 u的一种用于多芯片器件的拉伸试验装置，在工作时，通过粘结剂将器件基板粘接到拉伸平台的活动平台上，然后将若干个拉伸模具套放到对应的sip芯片的外围，其中拉伸模具的内壁粘贴透明胶带等不易被粘结的物质，便于粘结剂固化后拆除；接着向拉伸模具内浇注环氧类粘结剂成水平面，再将拉伸连接块固定于粘结剂上；待粘结剂固化后，将拉伸模具拆除；松开螺母，移动活动平台，调节待拉伸的sip芯片与拉伸机的上夹头的相对位置，使得待拉伸的sip芯片位于上夹头的正下方；将拉伸杆的下端固定连接在对应的拉伸连接块上，通过拉伸机的上夹头夹持住拉伸杆的上端，组成拉伸加载链，继而进行拉伸操作；完成当前sip芯片的拉伸试验；卸下拉伸杆，再调节下一个sip芯片的相对位置，再安装拉伸杆并执行拉伸操作。重复以上步骤，依次完成剩余sip芯片的拉伸试验。然而上述装置在对不同位置的芯片进行拉伸前的位置调整时，需要对螺栓上的螺母进行松开，位置调整后再次将螺母锁紧，其操作过程麻烦，且在锁紧过程中，可能出现活动平台的位置移动，进而造成拉伸垂直度变化，给使用造成了不便。

技术实现思路

1、本实用新型的目的就在于为了解决上述问题而提供一种多芯片器件用拉伸试验装置。

2、本实用新型通过以下技术方案来实现上述目的：

3、一种多芯片器件用拉伸试验装置，包括拉伸机本体、拉伸模具及拉伸连接组件，拉伸机本体上设置有上夹头和下夹头，拉伸连接组件包括设置在拉伸模具内的拉伸连接块，拉伸连接块上连接有拉伸杆，拉伸连接组件还包括调整组件，调整组件上设置有锁紧组件；调整组件包括横向调整件和纵向调整件，纵向调整件位于横向调整件上侧，横向调整件下端固定有连接杆；横向调整件包括固定架，固定架上横向开设有上下贯穿的通槽，固定架上横向设置有横向丝杠，横向丝杠上安装有横向调整架，横向调整架下端设置有插入通槽内的凸台，纵向调整件包括设置在横向调整架上的纵向丝杠和滑轨，纵向丝杠和滑轨上安装有支撑台，锁紧组件分别安装在支撑台和横向调整架上。

4、进一步设置：支撑台侧壁和横向调整架的前壁上均开设有凹槽，锁紧组件安装在该凹槽内，锁紧组件包括转动设置在该凹槽内的安装轴，安装轴上固定有凸轮，凸轮侧壁上固定有手柄，凸轮下侧竖直设置有的顶紧杆，顶紧杆上端设置有圆顶，顶紧杆上位于凹槽内侧套设有弹簧。

5、进一步设置：支撑台上的顶紧杆与支撑台滑动连接，横向调整架上的顶紧杆与横向调整架滑动连接。

6、进一步设置：通槽平行设置有两处，横向调整架下端安装有限位板，限位板上端面与固定架下端面平齐。

7、进一步设置：横向丝杠与固定架转动连接，横向丝杠一端设置有手轮，横向丝杠与横向调整架螺纹连接，横向调整架与固定架滑动连接。

8、进一步设置：纵向丝杠与横向调整架转动连接，支撑台与纵向丝杠螺纹连接，支撑台与滑轨滑动连接，纵向丝杠前端设置有手轮。

9、进一步设置：连接杆靠近下夹头一端和拉伸杆靠近上夹头一端均设置为方向状。

10、与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

11、通过调整组件和锁紧组件的设置，使横向调整件的横向丝杠带动横向调整架在通槽限位下移动，同时纵向调整件的纵向丝杠转动带动支撑台在滑轨限位下移动，对待测试的sip芯片位置进行调整，之后通过锁紧组件对支撑台的横向位置和纵向位置进行锁紧固定，便于对位置调整固定，提高了操作的效率。

1.一种多芯片器件用拉伸试验装置，包括拉伸机本体、拉伸模具（1）及拉伸连接组件，所述拉伸机本体上设置有上夹头和下夹头，所述拉伸连接组件包括设置在所述拉伸模具（1）内的拉伸连接块（7），所述拉伸连接块（7）上连接有拉伸杆（8），其特征在于：所述拉伸连接组件还包括调整组件，所述调整组件上设置有锁紧组件；所述调整组件包括横向调整件和纵向调整件，所述纵向调整件位于所述横向调整件上侧，所述横向调整件下端固定有连接杆（6）；所述横向调整件包括固定架（2），所述固定架（2）上横向开设有上下贯穿的通槽（21），所述固定架（2）上横向设置有横向丝杠（22），所述横向丝杠（22）上安装有横向调整架（23），所述横向调整架（23）下端设置有插入所述通槽（21）内的凸台，所述纵向调整件包括设置在所述横向调整架（23）上的纵向丝杠（25）和滑轨（26），所述纵向丝杠（25）和所述滑轨（26）上安装有支撑台（27），所述锁紧组件分别安装在所述支撑台（27）和所述横向调整架（23）上。

2.根据权利要求1所述的一种多芯片器件用拉伸试验装置，其特征在于：所述支撑台（27）侧壁和所述横向调整架（23）的前壁上均开设有凹槽，所述锁紧组件安装在该凹槽内，所述锁紧组件包括转动设置在该凹槽内的安装轴（31），所述安装轴（31）上固定有凸轮（32），所述凸轮（32）侧壁上固定有手柄（33），所述凸轮（32）下侧竖直设置有的顶紧杆（34），所述顶紧杆（34）上端设置有圆顶（35），所述顶紧杆（34）上位于凹槽内侧套设有弹簧（36）。

3.根据权利要求2所述的一种多芯片器件用拉伸试验装置，其特征在于：所述支撑台（27）上的所述顶紧杆（34）与所述支撑台（27）滑动连接，所述横向调整架（23）上的所述顶紧杆（34）与所述横向调整架（23）滑动连接。

4.根据权利要求1所述的一种多芯片器件用拉伸试验装置，其特征在于：所述通槽（21）平行设置有两处，所述横向调整架（23）下端安装有限位板（24），所述限位板（24）上端面与所述固定架（2）下端面平齐。

5.根据权利要求4所述的一种多芯片器件用拉伸试验装置，其特征在于：所述横向丝杠（22）与所述固定架（2）转动连接，所述横向丝杠（22）一端设置有手轮，所述横向丝杠（22）与所述横向调整架（23）螺纹连接，所述横向调整架（23）与所述固定架（2）滑动连接。

6.根据权利要求1所述的一种多芯片器件用拉伸试验装置，其特征在于：所述纵向丝杠（25）与所述横向调整架（23）转动连接，所述支撑台（27）与所述纵向丝杠（25）螺纹连接，所述支撑台（27）与所述滑轨（26）滑动连接，所述纵向丝杠（25）前端设置有手轮。

7.根据权利要求1所述的一种多芯片器件用拉伸试验装置，其特征在于：所述连接杆（6）靠近下夹头一端和所述拉伸杆（8）靠近上夹头一端均设置为方向状。