一种显示面板的异物检测方法与流程

摘要: 本公开涉及异物检测,尤其涉及一种显示面板的异物检测方法。背景技术:1、在现代电子制造领域,尤其是显示面板(也称显示屏)生产工艺中,产品质量的稳定性与可靠性至关重...
一种显示面板的异物检测方法与流程

本公开涉及异物检测,尤其涉及一种显示面板的异物检测方法。

背景技术:

1、在现代电子制造领域,尤其是显示面板(也称显示屏)生产工艺中,产品质量的稳定性与可靠性至关重要。随着显示屏朝着更高分辨率、更轻薄以及多功能化方向迅猛发展,对于生产过程中的杂质管控要求也达到了前所未有的严苛程度。异物的存在是影响显示屏质量的关键因素之一。在生产过程中的各个加工环节,异物屡见不鲜。在众多常规应对策略中,通过点位进行机台匹配是常用手段之一。基于生产流程的精细记录以及先进的追踪系统,一旦发现异物出现的位置,便能迅速关联至对应的生产机台。另一种普遍采用的方法是打样解析异物成分来实现溯源。借助专业的微分析仪器,诸如扫描电子显微镜搭配能谱分析仪,或者利用傅里叶变换红外光谱仪等先进设备,对收集到的异物样本进行深入剖析。通过精准测定异物的元素组成、化学键特征等关键信息,反向追溯至原材料供应商、生产环节中的特定工艺步骤,甚至精确到某一批次的原材料或某一时间段内的加工操作,从而有的放矢地实施改进措施。

2、然而,现实生产场景中的异物问题错综复杂,现有的溯源方法存在诸多局限性。一方面,当前的分析技术仅支持对直径≥25μm的异物样本进行有效解析。当异物直径处于亚微米甚至纳米级别时,常规的电子显微镜难以聚焦清晰捕捉,能谱分析获取的信号微弱且极易被背景噪声淹没,无法为成分判定提供可靠依据,使得大量细微异物无法溯源。而且当液晶显示单元或有机发光二极管显示单元到达显示面板制程阶段,其内部的胶质对异物进行包裹,形成紧密的复合结构,在后续进行切片准备以便借助仪器深入解析时,胶质不仅严重阻碍了对异物的直接观测,导致成像模糊不清,而且在运用能谱分析等手段时,大量来自胶质自身的元素信号与异物信号相互混杂,干扰切片后的解析结果,最终使溯源结果失去意义。

3、此外,在显示屏生产全过程,从原材料表面的微量杂质吸附,到加工过程中使用的化学试剂残留,痕量的物质残留时有发生。痕量物质是指在化学和生物学中含量极低的物质,因此常规的检测技术也无法捕捉到并对其进行解析。

4、综上,由于当前检测技术的局限性,面对未达标准直径的异物或痕量物质残留,现有的检测手段无法全面、有效地覆盖所有质量隐患,因此亟待开发更为灵敏、精准的新型检测方法。

技术实现思路

1、有鉴于此,本公开的目的在于提出一种显示面板的异物检测方法,以解决异物直径未达检测标准或痕量物质残留导致的异物无法溯源的问题。

2、基于上述目的,本公开揭示一种显示面板的异物检测方法,具体包括以下步骤:

3、对待测样品的表面区域进行激光照射,获得第一特征光谱;

4、将所述第一特征光谱与预设标本库进行比较:

5、若所述第一特征光谱与所述预设标本库中的任一光谱一致,则将所述待测样品标定为正常样品;

6、若所述第一特征光谱与所述预设标本库中的所有光谱均不一致,则将所述待测样品标定为异常样品;

7、将所述异常样品的聚酰亚胺表面进行粗糙化处理,获得粗糙表面;

8、对所述粗糙表面进行表面增强拉曼散射检测,获得所述异常样品的拉曼光谱图;

9、将所述拉曼光谱图与所述谱图库进行对比分析,其包括

10、将所述拉曼光谱图进行预处理获得优化拉曼光谱图;

11、从所述优化拉曼光谱图中提取关键特征数据;

12、根据所述关键特征数据匹配谱图库中的已知光谱,以确定所述异物的成分。

13、进一步地,还包括以下步骤:

14、所述粗糙化处理包括初次粗糙化处理和二次粗糙化处理。

15、进一步地,所述初次粗糙化处理具体包括:

16、在所述异常样品的聚酰亚胺表面喷洒4,4-二氨基二苯甲烷和4,4-双邻苯二甲酸二酐的混合液,获得第一粗糙表面。

17、进一步地,所述混合液的浓度为4-6%;

18、优选地,所述混合液的浓度为5%。

19、进一步地,所述混合液覆盖所述异常样品的聚酰亚胺表面的时长为12-18分钟;

20、优选地,所述混合液覆盖所述异常样品的聚酰亚胺表面的时长为15分钟。

21、进一步地,所述二次粗糙化处理具体包括:

22、在所述第一粗糙表面的基础上,采用高压在氩气环境中对二氧化碳与乙炔的混合气体进行电离处理,获得离子束,利用所述离子束对异常样品的第一粗糙表面进行二次粗糙化,获得第二粗糙表面。

23、进一步地,所述高压为650-900v。

24、优选地,所述高压为700v。

25、进一步地,还包括:

26、在所述二次粗糙化处理后,采用原子力显微镜对第二粗糙表面进行形貌检测,若表面粗糙度的均方根值未达到50-80nm范围,则重复进行粗糙化处理步骤,直至满足要求。

27、进一步地,对所述粗糙表面进行表面增强拉曼散射检测,获得所述异常样品的拉曼光谱图具体包括:

28、优化激光参数,使用激光束聚焦照射第二粗糙表面,高精度光谱采集设备实时捕捉所述异常样本产生的拉曼光谱图。

29、与现有技术相比,本申请具有以下技术效果:

30、本申请提出的异物检测方法,通过对待测样品的表面(如聚酰亚胺的表面)进行粗糙化处理,使得聚酰亚胺表面的微观结构更为复杂,增大其表面积,显著增强其表面的拉曼效应,有效捕捉聚酰亚胺表面上的细微异物,提升能谱分析的准确性,实现对细微异物或痕量物质残留的精准检测和溯源,从而精准测定异物的元素组成、化学键特征等关键信息,反向追溯。

31、待测样品的表面(如聚酰亚胺的表面)进行初次粗糙化处理后又对其进行二次粗糙化处理,进一步细化微观结构,形成多层次凹凸表面,极大提升表面积和拉曼信号强度,确保对纳米级异物的有效捕捉,显著提高检测灵敏度和溯源精度。同时,大大提升了二次粗糙化处理的速度和效果,使得整体检测流程更为高效,显著缩短了溯源周期。

32、通过收集各类物品的谱图,构建起一个丰富且全面的谱图库,在sers检测过程中,凭借谱图库精准定位目标物质对应的特征峰。大量谱图储备能让检测系统提前熟悉各种可能出现的峰形、峰位与峰强组合模式,使得在实际检测时,即便存在微弱的干扰,也能迅速将目标峰从混杂的信号中识别出来,减少误判,极大提高了检测的准确性与可靠性。

1.一种显示面板的异物检测方法,其特征在于,具体包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的显示面板的异物检测方法,其特征在于,还包括以下步骤:

3.根据权利要求2所述的显示面板的异物检测方法,其特征在于,所述初次粗糙化处理具体包括:

4.根据权利要求3所述的显示面板的异物检测方法,其特征在于,

5.根据权利要求3或4所述的显示面板的异物检测方法,其特征在于,所述混合液覆盖所述异常样品的聚酰亚胺表面的时长为12-18分钟;

6.根据权利要求3所述的显示面板的异物检测方法,其特征在于,所述二次粗糙化处理具体包括:

7.根据权利要求6所述的显示面板的异物检测方法,其特征在于,

8.根据权利要求6所述的显示面板的异物检测方法,其特征在于,还包括:

9.根据权利要求1所述的显示面板的异物检测方法,其特征在于,对所述粗糙表面进行表面增强拉曼散射检测,获得所述异常样品的拉曼光谱图具体包括: