高精度薄膜厚度检测装置的制作方法

摘要: 本技术涉及薄膜厚度检测,具体是高精度薄膜厚度检测装置。背景技术:1、在众多工业生产和科研领域,薄膜材料的应用极为广泛,如电子行业中的显示屏薄膜、包装行业的食品包...
高精度薄膜厚度检测装置的制作方法

本技术涉及薄膜厚度检测,具体是高精度薄膜厚度检测装置。

背景技术:

1、在众多工业生产和科研领域,薄膜材料的应用极为广泛,如电子行业中的显示屏薄膜、包装行业的食品包装薄膜、光学领域的光学薄膜等。薄膜的厚度作为其关键性能指标之一,对产品的质量和性能有着至关重要的影响。例如,在电子显示屏制造中,薄膜厚度的不均匀可能导致显示色彩偏差、亮度不均等问题;在食品包装领域,薄膜厚度不符合标准可能影响食品的保鲜效果和保质期。

2、现有专利公告号为cn216791150u,名称为一种精密型膜厚测试装置,包括测试台,在所述测试台的顶部铰接有一能够开启或者闭合的开合盖,在所述开合盖上通过一滑动结构安装有一能够与外部的计算机可拆卸连接的膜厚测试仪;在所述测试台的上端且位于所述膜厚测试仪的正下方开设有一贯穿该测试台的顶部用于放置外部的金属元素样品的放置槽,在所述放置槽上设有至少一个用于夹持固定外部的金属元素样品的固定结构。该实用新型具有能够对金属元素样品进行稳固的固定、在检测时金属元素样品不易因遭受外界环境因素影响而发生偏移、能够有效提高检测的效率以及精度的优点。

3、但是该测试装置的夹持结构为平面设计,而并非所有待测量的薄膜边缘都是平整的设计,薄膜边缘受氧化或日常维护不当均容易出现卷边或凹凸的情况,这种情况下该夹持结构在使用时容易出现夹持不稳定的情况。

4、因此,本实用新型提供一种高精度薄膜厚度检测装置。

技术实现思路

1、针对现有技术的不足,本实用新型提供了高精度薄膜厚度检测装置,旨在解决上述问题。

2、为实现以上目的,本实用新型通过以下技术方案予以实现:

3、一种高精度薄膜厚度检测装置,包括膜厚测试仪,所述膜厚测试仪顶端安装有四组自适应调节结构,四组所述自适应调节结构分设在所述膜厚测试仪顶端四角,每组所述自适应调节结构相互独立。

4、其中,所述自适应调节结构包括下部支撑结构,所述下部支撑结构包括安装座,所述安装座顶端居中开设有凹槽,所述安装座顶端一侧开设有贯穿的弧形槽,凹槽内固定连接有第一弹簧,所述第一弹簧顶端固定连接有支撑球,弧形槽的弧度与所述支撑球相适配。

5、优选的,所述自适应调节结构还包括上部支撑结构,所述上部支撑结构包括固定座,所述固定座后端下方开设有若干组调节槽,若干组所述调节槽为相互平行的等距设计,所述固定座前端顶部通过转轴转动连接有支撑板,所述支撑板位于所述支撑球的正上方,所述支撑板下方为弧形设计。

6、优选的,所述自适应调节结构还包括限位结构,所述限位结构包括滑块,所述滑块顶端后侧一体成型固定有凸块,所述滑块后端固定连接有第二弹簧,所述滑块前端为凸起的设计与所述调节槽相对应。

7、优选的,所述膜厚测试仪包括设备主体,所述设备主体顶端开设有滑槽和安装槽,所述滑槽和所述安装槽均设有四组且对称开设在所述设备主体顶端四角。

8、优选的,每组所述下部支撑结构均固定连接在对应的所述安装槽内部,每组所述上部支撑结构均纵向滑动在对应的所述滑槽内部一侧,所述第二弹簧远离所述滑块的一端固定在对应的所述滑槽内部另一侧。

9、优选的,所述设备主体为c1202薄膜测厚仪。

10、有益效果

11、本实用新型与现有技术相比具备以下有益效果:

12、1、本实用新型的自适应调节结构通过下部支撑结构的支撑球和上部支撑结构的弧形支撑板,能够适配各种不同形状的薄膜,尤其是异型薄膜,解决了常规平面夹持方式在适配异型薄膜时固定能力有限的问题。

13、2、本实用新型的四组相互独立的自适应调节结构分别对薄膜的四角进行夹持,能够确保薄膜在检测过程中保持稳定,避免因薄膜滑动或晃动而影响检测的准确性和稳定性,同时减少了对薄膜的损伤。

14、3、本实用新型上部支撑结构的高度可灵活调节,通过限位结构能够快速准确地将上部支撑结构调整到合适高度,以适配不同高度的薄膜,提高了装置的通用性和检测效率。

1.一种高精度薄膜厚度检测装置,包括膜厚测试仪(1),其特征在于,所述膜厚测试仪(1)顶端安装有四组自适应调节结构(2),四组所述自适应调节结构(2)分设在所述膜厚测试仪(1)顶端四角,每组所述自适应调节结构(2)相互独立,其中:

2.根据权利要求1所述的高精度薄膜厚度检测装置,其特征在于,所述自适应调节结构(2)还包括上部支撑结构(22),所述上部支撑结构(22)包括固定座(221),所述固定座(221)后端下方开设有若干组调节槽(222),若干组所述调节槽(222)为相互平行的等距设计,所述固定座(221)前端顶部通过转轴转动连接有支撑板(223),所述支撑板(223)位于所述支撑球(213)的正上方,所述支撑板(223)下方为弧形设计。

3.根据权利要求2所述的高精度薄膜厚度检测装置,其特征在于,所述自适应调节结构(2)还包括限位结构(23),所述限位结构(23)包括滑块(231),所述滑块(231)顶端后侧一体成型固定有凸块(232),所述滑块(231)后端固定连接有第二弹簧(233),所述滑块(231)前端为凸起的设计与所述调节槽(222)相对应。

4.根据权利要求3所述的高精度薄膜厚度检测装置,其特征在于,所述膜厚测试仪(1)包括设备主体(11),所述设备主体(11)顶端开设有滑槽(12)和安装槽(13),所述滑槽(12)和所述安装槽(13)均设有四组且对称开设在所述设备主体(11)顶端四角。

5.根据权利要求4所述的高精度薄膜厚度检测装置,其特征在于,每组所述下部支撑结构(21)均固定连接在对应的所述安装槽(13)内部,每组所述上部支撑结构(22)均纵向滑动在对应的所述滑槽(12)内部一侧,所述第二弹簧(233)远离所述滑块(231)的一端固定在对应的所述滑槽(12)内部另一侧。

6.根据权利要求5所述的高精度薄膜厚度检测装置,其特征在于,所述设备主体(11)为c1202薄膜测厚仪。