一种采样电路、电路板以及电子设备的制作方法

摘要: 本技术涉及信号采样,尤其涉及一种采样电路、电路板以及电子设备。背景技术:1、对于现有的仪器仪表类产品,需要在越来越宽的测量范围下满足精度要求,目前市面上的仪器仪...
一种采样电路、电路板以及电子设备的制作方法

本技术涉及信号采样,尤其涉及一种采样电路、电路板以及电子设备。

背景技术:

1、对于现有的仪器仪表类产品,需要在越来越宽的测量范围下满足精度要求,目前市面上的仪器仪表类产品对较大的信号进行采样时,通常具备较高的精度,但对于小信号进行采样时,由于噪声和采样分辨率的影响,难以保持数据的高精度测量,使得现有的仪器仪表类产品精确采样的范围比较局限,对于小信号的采样精度不高。

2、因此,对于仪器仪表类产品,如何提高小信号的采样精度是需要解决的重要问题。

技术实现思路

1、本技术提供一种采样电路、电路板以及电子设备,以提高小信号的采样精度。

2、第一方面,本技术提供一种采样电路,所述采样电路包括:电压采样电路、电流采样电路和主控电路;

3、所述电压采样电路的输入端用于接入交流电压信号,所述电压采样电路的输出端与所述主控电路的第一采样端电连接;所述电流采样电路的输入端用于接入交流电流信号,所述电流采样电路的输出端与所述主控电路的第二采样端电连接;所述电压采样电路的控制端与所述主控电路的第一控制端电连接,所述电流采样电路的控制端与所述主控电路的第二控制端电连接;

4、所述电压采样电路,用于对所述交流电压信号进行采样,得到采样电压;

5、所述电流采样电路,用于对所述交流电流信号进行采样,得到采样电流;

6、所述主控电路,用于根据接收到的所述采样电压和当前电压采样模式,输出第一控制信号,以使所述电压采样电路根据所述第一控制信号调整放大倍数;还用于根据接收到的所述采样电流和当前电流采样模式,输出第二控制信号,以使所述电流采样电路根据所述第二控制信号调整放大倍数,其中,所述电压采样模式包括:大电压采样模式和小电压采样模式,所述电流采样模式包括:大电流采样模式和小电流采样模式。

7、在一种可能的设计中,所述电压采样电路包括:第一同相放大电路和第一倍数调整电路;所述电流采样电路包括:第二同相放大电路和第二倍数调整电路;

8、所述第一同相放大电路,用于对所述交流电压信号进行采样,得到所述采样电压;

9、所述第一倍数调整电路,用于根据所述第一控制信号,调整所述电压采样电路的放大倍数;

10、所述第二同相放大电路,用于对所述交流电流信号进行采样,得到所述采样电流;

11、所述第二倍数调整电路,用于根据所述第二控制信号,调整所述电流采样电路的放大倍数。

12、在一种可能的设计中,所述第一同相放大电路包括:第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第一电容、第二电容以及第一运算放大器;所述第一倍数调整电路包括:第一p型mos管、第五电阻以及第六电阻;

13、所述第一电阻的第一端作为所述电压采样电路的输入端,用于接入所述交流电压信号,所述第一电阻的第二端与所述第一运算放大器的同相输入端电连接;

14、所述第二电阻的第一端分别与所述第一运算放大器的输出端、所述第四电阻的第二端电连接,所述第二电阻的第二端与所述第二电容的第一端电连接,并作为所述电压采样电路的输出端,用于输出所述采样电压;

15、所述第三电阻的第一端与所述第一p型mos管的源极电连接,并接入参考电压,所述第三电阻的第二端分别与所述第四电阻的第一端、所述第五电阻的第二端、所述第一运算放大器的反相输入端电连接;

16、所述第五电阻的第一端与所述第一p型mos管的漏极电连接,所述第一p型mos管的栅极与所述第六电阻的第一端电连接,所述第六电阻的第二端用于接入所述第一控制信号;

17、所述第一电容的第一端与所述第一运算放大器的电源端电连接,用于接入电源电压;

18、所述第一电容的第二端、所述第二电容的第二端、所述第一运算放大器的接地端均接地。

19、在一种可能的设计中,所述第二同相放大电路包括:第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻、第十一电阻、第十二电阻、第十三电阻、第三电容以及第二运算放大器;所述第二倍数调整电路包括:第二p型mos管、第十二电阻以及第十三电阻;

20、所述第七电阻的第一端与所述第九电阻的第一端电连接,并作为所述电流采样电路的输入端,用于接入所述交流电流信号,所述第七电阻的第二端与所述第二运算放大器的同相输入端电连接;

21、所述第八电阻的第一端分别与所述第二运算放大器的输出端、所述第十一电阻的第二端电连接,所述第八电阻的第二端与所述第三电容的第一端电连接,并作为所述电流采样电路的输出端,用于输出所述采样电流;

22、所述第十电阻的第一端分别与所述第九电阻的第二端、所述第二p型mos管的源极电连接,并接入所述参考电压,所述第十电阻的第二端分别与所述第十一电阻的第一端、所述第十二电阻的第二端、所述第二运算放大器的反相输入端电连接;

23、所述第十二电阻的第一端与所述第二p型mos管的漏极电连接,所述第二p型mos管的栅极与所述第十三电阻的第一端电连接,所述第十三电阻的第二端用于接入所述第二控制信号;

24、所述第三电容的第二端接地。

25、在一种可能的设计中,信号采样电路包括:所述电压采样电路和所述电流采样电路;控制信号包括:所述第一控制信号和所述第二控制信号;

26、在所述控制信号为高电平时,所述信号采样电路按照第一放大倍数进行放大;

27、在所述控制信号为低电平时,所述信号采样电路按照第二放大倍数进行放大;

28、其中,所述第一放大倍数小于所述第二放大倍数。

29、在一种可能的设计中,交流信号包括:所述交流电压信号和所述交流电流信号;

30、在所述控制信号为高电平时,所述信号采样电路按照所述第一放大倍数进行放大,以使所述信号采样电路采样第一电压范围的所述交流信号;其中,所述第一电压范围为:有效值的第一百分比区间,所述第一百分比区间为第一百分比至百分之百,所述有效值为所述交流信号的最大有效值;

31、在所述控制信号为低电平时,所述信号采样电路按照所述第二放大倍数进行放大,以使所述信号采样电路采样第二电压范围的所述交流信号;其中,所述第二电压范围为:所述有效值的第二百分比区间,所述第二百分比区间为小于所述第一百分比。

32、在一种可能的设计中,采样信号包括:所述采样电压和所述采样电流;

33、向所述信号采样电路施加第一校准信号时,主控电路,用于将所述控制信号设置为高电平,并将所述采样信号作为第一参考值进行校准,其中,所述第一校准信号为:取值为百分之百的所述有效值的所述交流信号;

34、向所述信号采样电路施加第二校准信号时,主控电路,用于将所述控制信号设置为低电平,并将所述采样信号作为第二参考值进行校准,其中,所述第二校准信号为:取值为所述第一百分比的所述有效值的所述交流信号。

35、在一种可能的设计中,所述主控电路,具体用于若当前所述控制信号为高电平,在所述采样信号小于所述第一参考值的第二百分比时,将所述控制信号由高电平切换为低电平;若当前所述控制信号为低电平,在所述采样信号大于所述第二参考值的第三百分比时,将所述控制信号由低电平切换为高电平;

36、其中,所述第二百分比小于所述第三百分比,且所述第二百分比小于所述第一百分比,所述第三百分比大于所述第一百分比。

37、第二方面,本技术提供一种电路板,包括:如第一方面所述的采样电路。

38、第三方面,本技术提供一种电子设备,包括:如第二方面所述的电路板。

39、本技术实施例的有益效果:

40、在本技术实施例中,采样电路包括:电压采样电路、电流采样电路和主控电路,电压采样电路的输入端用于接入交流电压信号,电压采样电路的输出端与主控电路的第一采样端电连接;电流采样电路的输入端用于接入交流电流信号,电流采样电路的输出端与主控电路的第二采样端电连接;电压采样电路的控制端与主控电路的第一控制端电连接,电流采样电路的控制端与主控电路的第二控制端电连接。电压采样电路,用于对交流电压信号进行采样,得到采样电压。电流采样电路,用于对交流电流信号进行采样,得到采样电流。主控电路,用于根据接收到的采样电压和当前电压采样模式,输出第一控制信号,以使电压采样电路根据第一控制信号调整放大倍数;还用于根据接收到的采样电流和当前电流采样模式,输出第二控制信号,以使电流采样电路根据第二控制信号调整放大倍数,其中,电压采样模式包括:大电压采样模式和小电压采样模式,电流采样模式包括:大电流采样模式和小电流采样模式。主控电路根据采样电压、采样电流以及当前电压采样模式、当前电流采样模式,输出第一控制信号和第二控制信号,以使电压采样电路和电流采样电路对应的调整自身的放大倍数,通过对不同大小的信号采用不同的放大倍数,能够提高小信号的采样精度,同时确保大信号的采样精度,进而实现对信号的精确测量。